JPS62154624A - X線露光装置 - Google Patents

X線露光装置

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Publication number
JPS62154624A
JPS62154624A JP60294521A JP29452185A JPS62154624A JP S62154624 A JPS62154624 A JP S62154624A JP 60294521 A JP60294521 A JP 60294521A JP 29452185 A JP29452185 A JP 29452185A JP S62154624 A JPS62154624 A JP S62154624A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
variation
detector
ray
base
deflector
Prior art date
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Pending
Application number
JP60294521A
Other languages
English (en)
Inventor
Masaki Yamabe
山部 正樹
Yoshitaka Kitamura
北村 芳隆
Yasuo Furukawa
古川 泰男
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP60294521A priority Critical patent/JPS62154624A/ja
Publication of JPS62154624A publication Critical patent/JPS62154624A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔(既要〕 ウェーハ搭載用ステージ等を搭載した基台とX線源支持
用架台とを設置してなるX線露光装置において、 基台と架台との相対位置の変化を検出し、該検出情翰に
基づいてX線放射軸を調整することにより・ X線露光装置を高性能化したものである。
〔産業上の利用分野〕
本発明はX線露光装置、特にウェーハを搭載するステー
ジ等を搭載した基台とX線源を支持する架台との相対位
置が変動して生じる露光ボケを無くす改良に関する。
LSIの高密度化に伴って、LSI基板に形成されるパ
ターンは益々微細化し、1μmないしサブミクロンのパ
ターン転写にX線露光、特に微細パターンを高精度かつ
能率的に転写可能なステップアンドリピート方式のX線
露光方式が注目されている。
また、一般にX線源は回転陽極方式のX線発生装置が用
いられているが、該線源装置を用いたとき、陽極の高速
回転に伴う振動がステージや転写用マスク等に伝わるこ
とを防くため、X線源装置の架台は、ステージを搭載し
防振手段を施した基台と別に設置される。
〔従来の技術〕
第4図はX線露光装置の従来構成を説明するためその主
要構成を示す正面図である。
第4図において、X線露光装置1は、ウェーハ2を搭載
しウェーハ2の位置決め機構を具えたステージ3と、ウ
ェーハ2の上方に転写用マスク4を支持するマスク支持
部5と、ウェーハ2とマスク4の相対位置を調整するア
ライメント6とを搭載した基台7が、防振部材8および
御9を介して床10に設置される。
回転陽極11を装着した回転軸12と電子銃13とを具
えたX線発生装置14は、X線源架台15に支持され、
架台15は床10に設置される。
このように構成されたX線露光装置1において、電子銃
13で発生された電子線16を回転する陽極11に照射
すると、回転陽極11はX線17を放射する。
そこで、X線発生装置14の下方に設けたシャッタ18
を開くと、X線取り出し窓19を通過したX線17はマ
スク4に照射し、マスク4に形成されたパターンをウェ
ーハ2のレジストに転写する。
ステップアンドリピート方式によるX線露光は、ステー
ジ3の動作によるウェーハ2の移動と、アライメント6
の動作によるウェーハ2とマスク4との位置合わせと、
シャ・ツタ18の開閉とをI+li次操り返す方式であ
り、ウェーハ2にマスク4のパターンが複数個転写され
る。
このようなX線露光装置1においてウェーハ2とマスク
4は、ぞの相対位置が外部振動に影古されないようにす
るため、防振部材8を介し設置された共通の基台7に搭
載されている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
XWA露光装置1においてウェーハ2を搭載したステー
ジ3ば、露光の効率化図るため高速に移動し急激に停止
する。そのため、基台7はステージ3を停止したのちも
1〜数秒間だけ振動(変動)する。
そこで、該振動中に露光すると見掛は上X線源のX線ス
ポット径が大きくなり、パータンのボケ量が増加するこ
とになる。従って、従来は該振動が納まるのを待つ必要
があり、作業性をさらに向上させるために該待ら時間を
短縮または無くしたいという要望が強まった。
C問題点を解決するための手段〕 上記問題点の解決を目的とした本発明のX線露光装置は
、ウェーハを搭載するステージ部(3)、転写用マスク
を支持するマスク支持部(5)、酸ウェーハと該マスク
との位置合わせをするアライメント部(6)を搭載し防
振部材(8)を介し設置された基台(7)と、電子ビー
ム衝撃型のX線源を支持するX線源架台(15)とを具
えてなるX線露光装置において、 該基台(7)と該架台(15)との相対位置を検出する
検出手段(22)と、該検出手段(22)からの情報に
基づいて該X線源の電子線(工6)を偏向させる偏向器
(23)とを具えてなることを特徴とするものである。
〔作用〕
基台と架台との相対位置の変動を検出器で検出し、該変
動量に対応しX線源の電子線を偏向器にて偏向させるこ
とにより、該変動中も露光のボケを生じることなく転写
が可能となり、その分、露光のサイクル時間が短!’+
’6される。
〔実施例〕
以下に、図面を用いて本発明に係わるX線露光装置を説
明する。
第1図は本発明の一実施例になるX線露光装置の主要部
を示す正面図、第2図は前記装置に係わる本発明部分の
回路図、第3図は前記装置の主要部の動作を示すタイム
チャートである。
第4図と共通部分に同一符号を使用した第1図において
、X線露光装置21は従来装置1に相対位置検出器22
ど偏向器23を具えてなる。
架台15に装着し基台7に対向する検出器22ば、基台
7と架台15との相対位置の変動(振動)をX方向とY
方向の2方向について検出するものであり、一般にX方
向の変動検出用とY方向の変動検出用とか対になってい
る。
電子線16を偏向させる偏向器23は、X方向の変動検
出用検出器22により動作するX方向偏向コイルと、Y
方向の変動検出用検出器22により動作するY方向偏向
コイルとでなる。
第2図において、X方向の変動量を検出する検出器22
aと、Y方向の変動量を検出する検出器22bとがそれ
ぞれ検出した変動値は、変動量演算回路24にて、電子
VA16の偏向量に換算される。
該換算偏向値、即し陽極11に電子線16が照射しX線
17を放射するX線源位置の変位]■に換算された値は
、それぞれの偏向増幅器25a 、 25bにて増幅し
、X方向の偏向器23aとY方向の偏向器23bに入力
し、電子線16を偏向させる。
ただし、検出器22a 、 22bの検出情服は、装置
21の制御装置(CP tJ)26 +、こも入力し7
、制御装置26はステージ3.アラ・イラン1−6等の
動作に関連し演算回路24を制御するようになっている
第3図Qこおいて、1ゴ軸は変位、横軸は時間の経過、
Ali基台7と架台15との相対位置関係を示す特性、
Bは偏向器23の動作特性、Cはシャッタ18の開閉動
作特性であり、横軸にはステージ3の移動時間と、アラ
イメント6の動作時間と、X線露光を表示している。
特性Aは、ステージ3を所定位置に移動し停止した後、
基台7の振動に伴う周期変動が1〜数秒間発生する。そ
して、該停止と同時にアライメンI・を開始するが、約
0.5秒を要するアライメント終了後も、前記振動に伴
う変動が残る。   ゛しかし、アラ1″メントが終了
すると偏向器23による電子線】6の偏向を開始し、該
開始に伴ってシャッタ18を開くと、X線源位置は、基
台7の振動に伴う周期変動があっても、該変動を(目殺
するように変動し、見掛は上の定点からX線17が放射
されることになる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、アライメント終了
後直しに露光開始が可能となり、アライメント終了後も
基台の振動停止を待っ′ζ露光を開始した従来の待ら時
間が不要となり、露光サイクル時間を短縮し得た効果が
顕著である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例になるX線露光装置の主要部
を示す正面図、 第2図は+iii記装置に係わる本発明部分の回路図、
第3図は前記装置の主要部の動作を示すタイムチャート
、 第4図はX線露光装置の従来構成を説明するためその主
要構成を示す正面図、 である。 図中において、 1.2N、tX線露光装置、 2はウェーハ、 3ばステージ部、 4ばマスク、   5はマスク支持部、6はアライメン
ト部、 7は基台、    8ば防振部)A、 14はX線源装置、15は架台、 16は電子線、  17はX線、 22、22a、 22hば検出器(検出手段)、23 
、23a 、 23bば偏向器 を示す。 *Z 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ウェーハを搭載するステージ部(3)、転写用マスクを
    支持するマスク支持部(5)、該ウェーハと該マスクと
    の位置合わせをするアライメント部(6)を搭載し防振
    部材(8)を介し設置された基台(7)と、電子ビーム
    衝撃型のX線源を支持するX線源架台(15)とを具え
    てなるX線露光装置において、該基台(7)と該架台(
    15)との相対位置を検出する検出手段(22)と、該
    検出手段(22)からの情報に基づいて該X線源の電子
    線(16)を偏向させる偏向器(23)とを具えてなる
    ことを特徴とするX線露光装置。
JP60294521A 1985-12-26 1985-12-26 X線露光装置 Pending JPS62154624A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60294521A JPS62154624A (ja) 1985-12-26 1985-12-26 X線露光装置

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60294521A JPS62154624A (ja) 1985-12-26 1985-12-26 X線露光装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS62154624A true JPS62154624A (ja) 1987-07-09

Family

ID=17808854

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60294521A Pending JPS62154624A (ja) 1985-12-26 1985-12-26 X線露光装置

Country Status (1)

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JP (1) JPS62154624A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014049442A (ja) * 2012-08-31 2014-03-17 General Electric Co <Ge> X線管用動き補正システム及び方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014049442A (ja) * 2012-08-31 2014-03-17 General Electric Co <Ge> X線管用動き補正システム及び方法

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