JPS6215454A - 渦流探傷信号処理方法 - Google Patents
渦流探傷信号処理方法Info
- Publication number
- JPS6215454A JPS6215454A JP15446185A JP15446185A JPS6215454A JP S6215454 A JPS6215454 A JP S6215454A JP 15446185 A JP15446185 A JP 15446185A JP 15446185 A JP15446185 A JP 15446185A JP S6215454 A JPS6215454 A JP S6215454A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- eddy current
- current flaw
- filter
- signal
- data
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は渦流探傷により検出された信号の処理方法に関
する。
する。
鋼管、棒鋼等の表面疵検査のための渦流探傷法としては
、高周波電流を通電することによって検査材に臨ませた
コイルを励磁し、検査材に不健全部分があると、検査材
を流れる渦電流に変化が起こることを利用して、磁束の
時間変化により生じる誘導起電力を検出し、その起電力
変化により疵を検出するものである。
、高周波電流を通電することによって検査材に臨ませた
コイルを励磁し、検査材に不健全部分があると、検査材
を流れる渦電流に変化が起こることを利用して、磁束の
時間変化により生じる誘導起電力を検出し、その起電力
変化により疵を検出するものである。
渦流探傷法にとって問題になるのは雑音の発生である。
雑音は送り装置の中心合わせがネト分のためにガタが生
じて振動が起こり、被検査材・探傷コイル間距離が変動
することや寸法変化に因って発生することが多い。この
様な雑音が発生する場合には、それ自体が微弱な疵信号
を検出するのが、困難となる。従って一般の渦流探傷装
置は庇取外の不要信号抑制または一定範囲の周波数成分
出力のみの抽出を目的とし、自動バランス回路。
じて振動が起こり、被検査材・探傷コイル間距離が変動
することや寸法変化に因って発生することが多い。この
様な雑音が発生する場合には、それ自体が微弱な疵信号
を検出するのが、困難となる。従って一般の渦流探傷装
置は庇取外の不要信号抑制または一定範囲の周波数成分
出力のみの抽出を目的とし、自動バランス回路。
フィルター回路等を備えている。
しかしながら、これらの回路の機能は当然検出したい疵
信号にも作用するため、相当の感度上昇をせざるを得な
い。感度を上げるということは、即ち疵信号とは無関係
な不要ノイズが発生するため、Ｓ／Ｎ比低下の要因とな
り、特に微小欠陥の検出を要求された場合には、原信号
としては検出しているにもかかわらず、この理由により
最終的に疵検出に致らない場合があった。
信号にも作用するため、相当の感度上昇をせざるを得な
い。感度を上げるということは、即ち疵信号とは無関係
な不要ノイズが発生するため、Ｓ／Ｎ比低下の要因とな
り、特に微小欠陥の検出を要求された場合には、原信号
としては検出しているにもかかわらず、この理由により
最終的に疵検出に致らない場合があった。
本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであり、その
目的とするところは、渦流探傷によって得た原信号にフ
ィルター演算を適用することにより、探傷感度を上げる
ことなく必要信号のみの抽出が可能である原信号の処理
方法を提供することにある。
目的とするところは、渦流探傷によって得た原信号にフ
ィルター演算を適用することにより、探傷感度を上げる
ことなく必要信号のみの抽出が可能である原信号の処理
方法を提供することにある。
本発明は渦流探傷信号処理方法において、渦流探傷によ
って得た原信号に対しフーリエ変換を施すことにより、
時間関数である原信号を周波数関数に変換し、フィルタ
ー関数を選択通過させ、次にその結果に対し逆フーリエ
変換を施すことにより、時間関数として復元し、原信号
をフィルターに通したのと等価の結果を得、その結果を
評価することによって渦流探傷を行うことを特徴とする
。
って得た原信号に対しフーリエ変換を施すことにより、
時間関数である原信号を周波数関数に変換し、フィルタ
ー関数を選択通過させ、次にその結果に対し逆フーリエ
変換を施すことにより、時間関数として復元し、原信号
をフィルターに通したのと等価の結果を得、その結果を
評価することによって渦流探傷を行うことを特徴とする
。
本発明方法を図面に基づいて詳述する。第１図はその実
施に使用する装置の略示ブロック図であって、その長手
方向（白抜矢符方向）に移送されているスラブ鋳片１に
対し、その移送方向に並設した渦流探傷器２が対向され
ている。渦流探傷器２の出力はサンプリング装置３へ入
力され、そこで一定周期にてサンプリングされ、アナロ
グデータからディジタルデータへ変換されて記憶装置４
に送られる。記憶装置４に格納された時系列データＶ
＝ ５（ｔｌ 、（ｔは時間を表す）はフーリエ変換さ
れて となる。（ｆは周波数を表す）フーリエ変換後のデータ
はフィルター演算装置５に取りこまれて以下に述べる演
算処理が行われる。
施に使用する装置の略示ブロック図であって、その長手
方向（白抜矢符方向）に移送されているスラブ鋳片１に
対し、その移送方向に並設した渦流探傷器２が対向され
ている。渦流探傷器２の出力はサンプリング装置３へ入
力され、そこで一定周期にてサンプリングされ、アナロ
グデータからディジタルデータへ変換されて記憶装置４
に送られる。記憶装置４に格納された時系列データＶ
＝ ５（ｔｌ 、（ｔは時間を表す）はフーリエ変換さ
れて となる。（ｆは周波数を表す）フーリエ変換後のデータ
はフィルター演算装置５に取りこまれて以下に述べる演
算処理が行われる。
フィルター演算装置５内にはバンドパスフィルター関数
が組み込まれている。バンドパスフィルターの関数Ｂ
ｆｆｌを例えば下記のごとく重装する。
が組み込まれている。バンドパスフィルターの関数Ｂ
ｆｆｌを例えば下記のごとく重装する。
Ｂ ｉｆ） ＝ （Ｈｆｆｌ ＋ Ｌ ｆｆ１） ／２
又はＢ （ｆｌ−７Ｈ１ｆｌ−ＩＬ（ｆｌ但しＨＦｆｌ
ばバイパスフィルターを表す関数であ即ち、 Ｌ （ｆ）はローパスフィルターを表す関数である。
又はＢ （ｆｌ−７Ｈ１ｆｌ−ＩＬ（ｆｌ但しＨＦｆｌ
ばバイパスフィルターを表す関数であ即ち、 Ｌ （ｆ）はローパスフィルターを表す関数である。
即ち、
但し、ｆｃは遮断周波数、Ｂ、Ｃは周波数帯域の広狭を
決定する定数である。
決定する定数である。
ここでＢ、Ｃの数値の決め方について詳述する。
探傷に先立ち第１図におけるスラブ鋳片１に替えて、前
記スラブ鋳片１と同一材質、同一寸法で所定の標準疵が
加工された標準試験片を用いる。そして速度ｖｗｌ／ｓ
ｅｃで移送され、長さ６＋（ｍｎ）の標準疵を有してい
る標準試験片を、コイル幅１２の単一コイルにて探傷し
て得られる疵信号の立ち上がりから元に戻るまでの時間
をＸ （ｓｅｃ） とするとＸ−（１１！＋ ＋ｊ！２
） ／ｖであり、このとき得られる該疵信号を正弦波の
半分と仮定すると疵の周波数Ｙ （Ｈｚ）はＹ ＝ １
／（２Ｘ）となる。次にＹより小さいＢ＋ ＋ Ｂ２
、Ｂ３−Ｂｎ 、Ｙより大きいＣ１゜Ｃ２，Ｃ３・・
・ｃｉを数種類選定し、Ｈｆｆｌ、 Ｌｆｆ＋の式に
Ｂ＋、Ｃｉ （ｔ≦ｉ≦ｎ）を入力し、夫々のＢ ｆ
ｆｌを求める。次ニＶ ｆｆ１−３ ｆｆｌ ｘ Ｂ
（ｒｉを演算し、得られたデータＶ ＝ Ｖ （ｆｌは
逆フーリエ変換され、となる。最後に検出器６にて出力
表示される。そして前記Ｂ、、Ｃ，夫々に対するＳ／Ｎ
比、 Ｓｔ／Ｎｉを計算し、最も大きいＭＡＸ（Ｓｔ／
Ｎｉ）に相当するＢｍａｘ。
記スラブ鋳片１と同一材質、同一寸法で所定の標準疵が
加工された標準試験片を用いる。そして速度ｖｗｌ／ｓ
ｅｃで移送され、長さ６＋（ｍｎ）の標準疵を有してい
る標準試験片を、コイル幅１２の単一コイルにて探傷し
て得られる疵信号の立ち上がりから元に戻るまでの時間
をＸ （ｓｅｃ） とするとＸ−（１１！＋ ＋ｊ！２
） ／ｖであり、このとき得られる該疵信号を正弦波の
半分と仮定すると疵の周波数Ｙ （Ｈｚ）はＹ ＝ １
／（２Ｘ）となる。次にＹより小さいＢ＋ ＋ Ｂ２
、Ｂ３−Ｂｎ 、Ｙより大きいＣ１゜Ｃ２，Ｃ３・・
・ｃｉを数種類選定し、Ｈｆｆｌ、 Ｌｆｆ＋の式に
Ｂ＋、Ｃｉ （ｔ≦ｉ≦ｎ）を入力し、夫々のＢ ｆ
ｆｌを求める。次ニＶ ｆｆ１−３ ｆｆｌ ｘ Ｂ
（ｒｉを演算し、得られたデータＶ ＝ Ｖ （ｆｌは
逆フーリエ変換され、となる。最後に検出器６にて出力
表示される。そして前記Ｂ、、Ｃ，夫々に対するＳ／Ｎ
比、 Ｓｔ／Ｎｉを計算し、最も大きいＭＡＸ（Ｓｔ／
Ｎｉ）に相当するＢｍａｘ。
Ｃｍａにを決定して、この決定したＢｍａに、Ｃｍａｘ
を夫々定数Ｂ、Ｃの値として採用する。そしてこの定数
Ｂ、Ｃの値をフィルター演算装置５内のバンドパスフィ
ルターの関数式に予め組み入れておく。
を夫々定数Ｂ、Ｃの値として採用する。そしてこの定数
Ｂ、Ｃの値をフィルター演算装置５内のバンドパスフィ
ルターの関数式に予め組み入れておく。
その後探傷すべきスラブ鋳片１を探傷することにより前
述の演算処理を繰返し、（但しＢ、Ｃは既に設定されて
いる）疵検出が行われる。
述の演算処理を繰返し、（但しＢ、Ｃは既に設定されて
いる）疵検出が行われる。
第２図は本発明に係る変換処理または演算処理後の出力
データ関数の概略図を示している。第２図ｆａｔは探傷
器からの原信号データを横軸に時間［ｔｌをとって示し
てあり、矢印の部分が疵信号である。
データ関数の概略図を示している。第２図ｆａｔは探傷
器からの原信号データを横軸に時間［ｔｌをとって示し
てあり、矢印の部分が疵信号である。
第２図（′ｂ）はフーリエ変換後の関数図であり、周波
数関数として表示される。第２図ｆｃｌはバンドパスフ
ィルター関数図であり、第２図＋ｄｌはフィルター処理
後の関数図である。第２図（ｅｌはフィルター演算後逆
フーリエ変換した関数図であり、第２図ｆａｌの矢印部
分の標準疵信号が明瞭に出力表示されている。
数関数として表示される。第２図ｆｃｌはバンドパスフ
ィルター関数図であり、第２図＋ｄｌはフィルター処理
後の関数図である。第２図（ｅｌはフィルター演算後逆
フーリエ変換した関数図であり、第２図ｆａｌの矢印部
分の標準疵信号が明瞭に出力表示されている。
次に本発明の効果を実施例に基づき明らかにする。本例
ではＢｆｆｌ＝ （Ｈ（ｆｌ＋ Ｌｆｆｌ） ／２．
ｆｃ−１。
ではＢｆｆｌ＝ （Ｈ（ｆｌ＋ Ｌｆｆｌ） ／２．
ｆｃ−１。
Ｂ＝５．Ｃ＝３５として演算を行った。第３図Ｆａｌは
渦流探傷によって得た原信号の出力変化を表している。
渦流探傷によって得た原信号の出力変化を表している。
第３図（ａｌの横軸は時間、縦軸は信号の大きさを夫々
表している。第３図（ｂｌは第３図（ａｌで示される原
信号をフーリエ変換した結果を表している。
表している。第３図（ｂｌは第３図（ａｌで示される原
信号をフーリエ変換した結果を表している。
第３図（ｂｌの横軸は周波数、縦軸は信号の大きさを夫
々表している。第３図ｔｅｌは第３図ｆａ＋で示される
原信号をフィルター演算後逆フーリエ変換した最終結果
を表している。第３図（Ｃ１の横軸は時間、縦軸は信号
の大きさを夫々表している。また中央の横線は疵判別の
ための闇値を表すものであり、この闇値を超えた場合に
はその信号を疵信号と判断する。
々表している。第３図ｔｅｌは第３図ｆａ＋で示される
原信号をフィルター演算後逆フーリエ変換した最終結果
を表している。第３図（Ｃ１の横軸は時間、縦軸は信号
の大きさを夫々表している。また中央の横線は疵判別の
ための闇値を表すものであり、この闇値を超えた場合に
はその信号を疵信号と判断する。
第３図ｆａｌを注視すると疵信号のレベルと殆ど変わら
ないＩａ、Ｈａ、ｍａが検出できるが、疵信号と雑音と
の判別は困１１である。
ないＩａ、Ｈａ、ｍａが検出できるが、疵信号と雑音と
の判別は困１１である。
ところが第３図（Ｃ１を注視すると、闇値を超えている
のはｍｃ 〔第３図（ａｌのＩＴａに対応する〕だけで
あり、残りのＴｃ、ｍｃ （夫々第３図ｆａ）のｒ
ａ、 ＩＴａに対応する〕は闇値に達せず、雑音である
ことの判断は容易である。従って原信号では疵信号か雑
音かの判別が出来ない信号をフィルター演算することに
より、その判別を簡単明瞭に行なうことが可能である。
のはｍｃ 〔第３図（ａｌのＩＴａに対応する〕だけで
あり、残りのＴｃ、ｍｃ （夫々第３図ｆａ）のｒ
ａ、 ＩＴａに対応する〕は闇値に達せず、雑音である
ことの判断は容易である。従って原信号では疵信号か雑
音かの判別が出来ない信号をフィルター演算することに
より、その判別を簡単明瞭に行なうことが可能である。
以上詳述した如く、本発明に係る処理方法は原信号にフ
ィルター演算を適用して渦流探傷を行うものであり、Ｓ
／Ｎ比の改善された処理信号を得ることができる。また
同条件下における同種検査材においては、一度決めた適
正なフィルター条件を繰返し利用できる等、本発明は優
れた効果を奏する。更に前記実施例は検査材をスラブ鋳
片としているが、金属管、金属板等を渦流探傷する場合
においても同様に本発明を適用できることは勿論である
。
ィルター演算を適用して渦流探傷を行うものであり、Ｓ
／Ｎ比の改善された処理信号を得ることができる。また
同条件下における同種検査材においては、一度決めた適
正なフィルター条件を繰返し利用できる等、本発明は優
れた効果を奏する。更に前記実施例は検査材をスラブ鋳
片としているが、金属管、金属板等を渦流探傷する場合
においても同様に本発明を適用できることは勿論である
。
第１図は本発明の実施に使用する装置の略示ブロック図
、第２図は本発明に係る変換または演算処理手順に基づ
く関数図、第３図は本発明に係る実施例の信号図である
。
、第２図は本発明に係る変換または演算処理手順に基づ
く関数図、第３図は本発明に係る実施例の信号図である
。
Claims (1)
- １、渦流探傷によって得た原信号に対しフーリエ変換を
施すことにより、時間関数である原信号を周波数関数に
変換し、フィルター関数を選択通過させ、次にその結果
に対し逆フーリエ変換を施すことにより、時間関数とし
て復元し、原信号をフィルターに通したのと等価の結果
を得、その結果を評価することによって渦流探傷を行う
ことを特徴とする渦流探傷信号処理方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15446185A JPS6215454A (ja) | 1985-07-12 | 1985-07-12 | 渦流探傷信号処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15446185A JPS6215454A (ja) | 1985-07-12 | 1985-07-12 | 渦流探傷信号処理方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6215454A true JPS6215454A (ja) | 1987-01-23 |
Family
ID=15584745
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15446185A Pending JPS6215454A (ja) | 1985-07-12 | 1985-07-12 | 渦流探傷信号処理方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6215454A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5026741A (en) * | 1988-05-30 | 1991-06-25 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Photocurable organopolysiloxane composition |
| US5215276A (en) * | 1990-12-21 | 1993-06-01 | Kabushikigaisha Tokyo Kikai Seisakusho | Remaining paper rewinding device in a printing system |
| JP2007248153A (ja) * | 2006-03-14 | 2007-09-27 | Jfe Steel Kk | 渦流探傷法方及び渦流探傷装置 |
| EP1953543A1 (en) * | 2005-10-31 | 2008-08-06 | Sumitomo Metal Industries Limited | Method for measuring s/n ratio in eddy current scratch on inner surface of tube |
| JP2013113619A (ja) * | 2011-11-25 | 2013-06-10 | Jfe Steel Corp | 金属帯の渦流探傷方法 |
-
1985
- 1985-07-12 JP JP15446185A patent/JPS6215454A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5026741A (en) * | 1988-05-30 | 1991-06-25 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Photocurable organopolysiloxane composition |
| US5215276A (en) * | 1990-12-21 | 1993-06-01 | Kabushikigaisha Tokyo Kikai Seisakusho | Remaining paper rewinding device in a printing system |
| EP1953543A1 (en) * | 2005-10-31 | 2008-08-06 | Sumitomo Metal Industries Limited | Method for measuring s/n ratio in eddy current scratch on inner surface of tube |
| EP1953543A4 (en) * | 2005-10-31 | 2011-12-07 | Sumitomo Metal Ind | METHOD FOR MEASURING SIGNAL-TO-NOISE RATIO IN SURFACE NOISE OF FOUCAULT CURRENTS ON AN INNER TUBE SURFACE |
| JP2007248153A (ja) * | 2006-03-14 | 2007-09-27 | Jfe Steel Kk | 渦流探傷法方及び渦流探傷装置 |
| JP2013113619A (ja) * | 2011-11-25 | 2013-06-10 | Jfe Steel Corp | 金属帯の渦流探傷方法 |
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