JPS62141763A - センサ・アレイの製造方法とアレイ - Google Patents
センサ・アレイの製造方法とアレイInfo
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- JPS62141763A JPS62141763A JP61289738A JP28973886A JPS62141763A JP S62141763 A JPS62141763 A JP S62141763A JP 61289738 A JP61289738 A JP 61289738A JP 28973886 A JP28973886 A JP 28973886A JP S62141763 A JPS62141763 A JP S62141763A
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Classifications
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
- H01L21/306—Chemical or electrical treatment, e.g. electrolytic etching
- H01L21/30604—Chemical etching
- H01L21/30608—Anisotropic liquid etching
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/1446—Devices controlled by radiation in a repetitive configuration
-
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01L27/144—Devices controlled by radiation
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は画像センサ・アレイとその製造方法に関係し、
特にアレイ接合部で近接するアレイへの損傷や画像の乱
れ又は損失なく小アレイの除去や整合取替を容易にする
ため小アレイの各々が移動の2自由度を有するように、
長い走査アレイを形成するためアレイを他の同様のアレ
イと接触させるを可能にするよう製造された画像センサ
・アレイに関係する。
特にアレイ接合部で近接するアレイへの損傷や画像の乱
れ又は損失なく小アレイの除去や整合取替を容易にする
ため小アレイの各々が移動の2自由度を有するように、
長い走査アレイを形成するためアレイを他の同様のアレ
イと接触させるを可能にするよう製造された画像センサ
・アレイに関係する。
(従来の技術)
電荷統合素子(COD)のような文書像を走査する画像
センサ・アレイは、基板又はチップ上に集積化した適当
な支援回路に加えてフォトサイト(光点)の−11又は
線形アレイを標準的に有する。
センサ・アレイは、基板又はチップ上に集積化した適当
な支援回路に加えてフォトサイト(光点)の−11又は
線形アレイを標準的に有する。
通常この種のアレイは一行毎に文書を幅方向に横切って
画像を走査し、この間、文書は文書の長さ方向に平行に
同期して移動する。
画像を走査し、この間、文書は文書の長さ方向に平行に
同期して移動する。
この種のアレイの画像分解能は走査長とアレイ・フォト
サイトの数の比に比例する。1チツプ上に多数のフォト
サイトを有するアレイを経済的に設計製造する困難さの
ため、現在、入手可能な標準的な商用アレイの画像分解
能は比較的低い。余分な画像信号又はビクセルを内挿す
ることにより、すなわち、いくつかのセンサ・アレイを
用い行走査が進行するにつれであるアレイから次のアレ
イへと連続的に切換えるようにアレイを交互に電気的に
インターレースすることにより電子的に分解能は改良で
きるが、この種の電気的操作はコストがかかる。さらに
、上述した型式の単−又は多重アレイの組合わせは、1
つ又は複数のアレイが損失又は歪みなしに画像線を正確
に走査することを保証するためには、かなり複雑で高価
な光学系を通常必要とする。
サイトの数の比に比例する。1チツプ上に多数のフォト
サイトを有するアレイを経済的に設計製造する困難さの
ため、現在、入手可能な標準的な商用アレイの画像分解
能は比較的低い。余分な画像信号又はビクセルを内挿す
ることにより、すなわち、いくつかのセンサ・アレイを
用い行走査が進行するにつれであるアレイから次のアレ
イへと連続的に切換えるようにアレイを交互に電気的に
インターレースすることにより電子的に分解能は改良で
きるが、この種の電気的操作はコストがかかる。さらに
、上述した型式の単−又は多重アレイの組合わせは、1
つ又は複数のアレイが損失又は歪みなしに画像線を正確
に走査することを保証するためには、かなり複雑で高価
な光学系を通常必要とする。
^分解能を保証するため走査する文書の幅に寸法が等し
い単一のアレイであって大母のフォトサイトを有してい
るもの、しばしば全幅又は接触型アレイと呼ばれる、が
必要であるが、現在の技術では入手できない。考えられ
ている一つの方法はいくつかの小チップを互いに接触さ
せることによりより長いアレイを形成する方法である。
い単一のアレイであって大母のフォトサイトを有してい
るもの、しばしば全幅又は接触型アレイと呼ばれる、が
必要であるが、現在の技術では入手できない。考えられ
ている一つの方法はいくつかの小チップを互いに接触さ
せることによりより長いアレイを形成する方法である。
歩どまりに相当な、かつコスト的な減少を生じることな
く小アレイの上にフォトサイトを密に充填できるため、
高分能を達成するのに必要な多数のフォトサイトを有す
るより良いアレイをこの方法で達成可能である。同時に
、光学系の要求を大きく簡素化できる。しかしながら、
この種の複合アレイの以後の修理の困難さ、特にアレイ
・フォトサイトに損傷を与えることなく、又はアレイの
整合を乱すことなく、又はアレイ間の接合部で画像の乱
れや損失を生じることなく小アレイの内の欠陥アレイを
除去し取替える困難さが、1アレイの故障時にも相当な
コストで全幅アレイ全体を取替えることをこれまで要求
してきた。
く小アレイの上にフォトサイトを密に充填できるため、
高分能を達成するのに必要な多数のフォトサイトを有す
るより良いアレイをこの方法で達成可能である。同時に
、光学系の要求を大きく簡素化できる。しかしながら、
この種の複合アレイの以後の修理の困難さ、特にアレイ
・フォトサイトに損傷を与えることなく、又はアレイの
整合を乱すことなく、又はアレイ間の接合部で画像の乱
れや損失を生じることなく小アレイの内の欠陥アレイを
除去し取替える困難さが、1アレイの故障時にも相当な
コストで全幅アレイ全体を取替えることをこれまで要求
してきた。
(発明の要約)
本発明は近隣のアレイを損傷することなく、かつ画像品
質に影響を与えることなく除去及び取替可能な全幅走査
アレイを形成するため他のアレイと組合せ可能な形式の
センサ・アレイを提供することにより上記に着目してこ
れを修正し、このセンサ・アレイは以下の段階に従って
製造されたチップを含む。すなわちその段階とは、比較
的大きな110シリコン・ウエーフア上に少なくとも1
行のフォトサイトを形成する段階と、チップの上下縁を
描画するウエーフアの縁分離線を方向依存エツチングす
る段階と、全体がL字形のオフセットを有するチップ端
を描画するためウエーフアの111面に沿って分離線を
方向依存エツチングする段階と、分離線に沿ってウエー
フアからチップを分離して全体が矩形状のチップを作製
する段階であって、チップの各端部は他の同様なアレイ
の相補的なオフセット端と相互ロック接触整合するため
の全体がL字形のオフセットを有している前記作製段階
と、を含む。
質に影響を与えることなく除去及び取替可能な全幅走査
アレイを形成するため他のアレイと組合せ可能な形式の
センサ・アレイを提供することにより上記に着目してこ
れを修正し、このセンサ・アレイは以下の段階に従って
製造されたチップを含む。すなわちその段階とは、比較
的大きな110シリコン・ウエーフア上に少なくとも1
行のフォトサイトを形成する段階と、チップの上下縁を
描画するウエーフアの縁分離線を方向依存エツチングす
る段階と、全体がL字形のオフセットを有するチップ端
を描画するためウエーフアの111面に沿って分離線を
方向依存エツチングする段階と、分離線に沿ってウエー
フアからチップを分離して全体が矩形状のチップを作製
する段階であって、チップの各端部は他の同様なアレイ
の相補的なオフセット端と相互ロック接触整合するため
の全体がL字形のオフセットを有している前記作製段階
と、を含む。
本発明はさらに長い走査アレイを形成するため端部を互
いに接触させた他のアレイと組合せて使用する取替可能
なアレイにおいて、所定の幅を有する110シリコンの
全体が矩形状のチップと、他の同様なチップとチップの
接触面上で乱されないフォトサイト行を与えるためチッ
プの一端から他方へチップの長手方向に延びる少なくと
も1行のフォトサイトであって、アレイの各端部はチッ
プ111面に沿って延びる第1及び第2@部分により定
まり、第1及び第2端部分の組合せ長はチップ幅に等し
くかつ第1及び第2端部分は互いに長手方向にオフセッ
トしており、第3端部分は第1及び第2端部分を互いに
結合するチップ111面に沿って延び、これにより第1
、第2及び第3端部分はアレイ端を形成するよう協動じ
、第3端部分は欠陥アレイの取替時にチップを近隣アレ
イのチップと整合させるために近隣アレイの第3端部分
と接触可能にした前記フォトサイトと、を含む取替可能
なアレイを提供する。
いに接触させた他のアレイと組合せて使用する取替可能
なアレイにおいて、所定の幅を有する110シリコンの
全体が矩形状のチップと、他の同様なチップとチップの
接触面上で乱されないフォトサイト行を与えるためチッ
プの一端から他方へチップの長手方向に延びる少なくと
も1行のフォトサイトであって、アレイの各端部はチッ
プ111面に沿って延びる第1及び第2@部分により定
まり、第1及び第2端部分の組合せ長はチップ幅に等し
くかつ第1及び第2端部分は互いに長手方向にオフセッ
トしており、第3端部分は第1及び第2端部分を互いに
結合するチップ111面に沿って延び、これにより第1
、第2及び第3端部分はアレイ端を形成するよう協動じ
、第3端部分は欠陥アレイの取替時にチップを近隣アレ
イのチップと整合させるために近隣アレイの第3端部分
と接触可能にした前記フォトサイトと、を含む取替可能
なアレイを提供する。
(実施例)
図面の第1図を参照すると、基部又は基板7上に端と端
を互いに接触させた複数個の小センサ・アレイ5a、5
b・・・5nから構成される長い走査アレイ4が図示さ
れている。シリコン、セラミック又は他の適当な材料で
ある基板7は全体が矩形状でブレーナ面8がアレイ5a
、5b、5c・・・5nを支持する。アレイ5a、5b
、5c・・・5nを基板7の表面8の所要位置へ取付け
るためエポキシ又はハンダ付のような適当な接着剤が通
常用いられる。
を互いに接触させた複数個の小センサ・アレイ5a、5
b・・・5nから構成される長い走査アレイ4が図示さ
れている。シリコン、セラミック又は他の適当な材料で
ある基板7は全体が矩形状でブレーナ面8がアレイ5a
、5b、5c・・・5nを支持する。アレイ5a、5b
、5c・・・5nを基板7の表面8の所要位置へ取付け
るためエポキシ又はハンダ付のような適当な接着剤が通
常用いられる。
例えば電荷結合素子すなわちCODやNMO3型アレイ
アレイ小アレイ5a、5b、5cは、以下でより明らか
となるように長い走査アレイ4の修理性を向上させるた
め本発明の教示に従って製造される。当業者には理解で
きるように、走査アレイ4は標準的には文書原本を1行
ずつ読取り又は走査し、文書像を電気信号又はピクセル
に変換するために用いられる。走査アレイ4は最大の潟
の幅に等しいか又はわずかに大きい全体長を有する全長
又は接触型アレイであることが望ましい。
アレイ小アレイ5a、5b、5cは、以下でより明らか
となるように長い走査アレイ4の修理性を向上させるた
め本発明の教示に従って製造される。当業者には理解で
きるように、走査アレイ4は標準的には文書原本を1行
ずつ読取り又は走査し、文書像を電気信号又はピクセル
に変換するために用いられる。走査アレイ4は最大の潟
の幅に等しいか又はわずかに大きい全体長を有する全長
又は接触型アレイであることが望ましい。
走査アレイ4は一端から他方へ延びるフォトサイト12
の1行14を有する。
の1行14を有する。
センサ・アレイ5a、5b、・・・5nの各々はフォト
サイト12の行、すなわちアレイ14′を有する結晶性
シリコン基板又はチップ10を有する。
サイト12の行、すなわちアレイ14′を有する結晶性
シリコン基板又はチップ10を有する。
標準的には、チップ1oは端部16と上下縁18゜19
の各々で比較的薄い。フォトサイトの行”14′の軸は
チップ10の長手軸に平行で、フォトサイト行はチップ
端16間に延びる。走査アレイ4を形成するため、アレ
イ5a、5b・・・5nの端と端を整合させて互いに接
触させフォトサイト14の連続した乱されない行を形成
する。
の各々で比較的薄い。フォトサイトの行”14′の軸は
チップ10の長手軸に平行で、フォトサイト行はチップ
端16間に延びる。走査アレイ4を形成するため、アレ
イ5a、5b・・・5nの端と端を整合させて互いに接
触させフォトサイト14の連続した乱されない行を形成
する。
アレイ5a、5b・・・5n、従って走査アレイ4はフ
ォトサイト12の単−行又はアレイ14′を有するもの
として図示しであるが、複数のフォトサイト行又はアレ
イも考慮できる。加えて、シフトレジスタ17のような
他の支援回路もフォトサイト12と共にチップ上10に
形成することが望ましい。適当な外部コネクタ(図示せ
ず)を設けてセンサ・アレイ5a、5b・・・5nを関
連外部回路へ電気的に接続する。
ォトサイト12の単−行又はアレイ14′を有するもの
として図示しであるが、複数のフォトサイト行又はアレ
イも考慮できる。加えて、シフトレジスタ17のような
他の支援回路もフォトサイト12と共にチップ上10に
形成することが望ましい。適当な外部コネクタ(図示せ
ず)を設けてセンサ・アレイ5a、5b・・・5nを関
連外部回路へ電気的に接続する。
第2図を参照すると、チップ10は、チップ端16と上
下縁18.19を各々正確に描画するため方向依存エツ
チングを用いて集積回路を作成するのに一般的に用いら
れる種類の110シリコンの大つエーファ9から製造さ
れる。チップ10は次いでエッチ線に沿って大シリコン
・ウエーフアから分離される。フォトサイト12はエツ
チングとシリコン・ウエーフアからのチップの分離の前
に形成することが望ましい。
下縁18.19を各々正確に描画するため方向依存エツ
チングを用いて集積回路を作成するのに一般的に用いら
れる種類の110シリコンの大つエーファ9から製造さ
れる。チップ10は次いでエッチ線に沿って大シリコン
・ウエーフアから分離される。フォトサイト12はエツ
チングとシリコン・ウエーフアからのチップの分離の前
に形成することが望ましい。
当業者には理解できるように、110シリコンはチップ
10の上下面30.31の110面と90°で交差する
4枚の111面を有する。しかしながら、111面は互
いに直角でなく75.53°の鋭角で交差する。従って
、チップ10の端部16はチップ10の上下縁18.1
9に垂直でなく、これに対して75.53°の鋭角であ
り、従ってチップ10は平行四辺形である。例えば異方
的にエッチされ、チップ10の端部16と縁18.19
と平行な境界を有するフォトサイト12は同様に平行四
辺形形状である。
10の上下面30.31の110面と90°で交差する
4枚の111面を有する。しかしながら、111面は互
いに直角でなく75.53°の鋭角で交差する。従って
、チップ10の端部16はチップ10の上下縁18.1
9に垂直でなく、これに対して75.53°の鋭角であ
り、従ってチップ10は平行四辺形である。例えば異方
的にエッチされ、チップ10の端部16と縁18.19
と平行な境界を有するフォトサイト12は同様に平行四
辺形形状である。
アレイ5の製造時に、チップ端は分離を必要とする点で
エツチングにより定められる。チップ端16でフォトサ
イトに損傷を与えないため、分離が生じるフォトサイト
の境界間又はこれに一致して走行する線に沿って分離エ
ッチが行なわれる。
エツチングにより定められる。チップ端16でフォトサ
イトに損傷を与えないため、分離が生じるフォトサイト
の境界間又はこれに一致して走行する線に沿って分離エ
ッチが行なわれる。
上下縁18.19の分離点も同様にエツチングにより定
まる。以後、チップはエッチ線に沿って適当に分離され
る。フォトサイト12はチップ1゜のエツチングの前に
形成されることが望ましいが、大きな110シリコン・
ウエーフアからチップ10を分離した後にフォトサイト
を形成してもよいことが理解できる。
まる。以後、チップはエッチ線に沿って適当に分離され
る。フォトサイト12はチップ1゜のエツチングの前に
形成されることが望ましいが、大きな110シリコン・
ウエーフアからチップ10を分離した後にフォトサイト
を形成してもよいことが理解できる。
所要数の小7Lzイ5a、5b、5cm5nを互いに組
合せた後、かつ使用前に、通常走査アレイ4を試験する
。これまで、アレイ5a、5b・・・5nの内の1個が
故障した場合には、全走査アレイ4は通常スクラップさ
れる。同様に、使用中小アレイの内の1個が故障した場
合、走査アレイ4全体が通常廃棄され、新たなアレイに
置換えられる。
合せた後、かつ使用前に、通常走査アレイ4を試験する
。これまで、アレイ5a、5b・・・5nの内の1個が
故障した場合には、全走査アレイ4は通常スクラップさ
れる。同様に、使用中小アレイの内の1個が故障した場
合、走査アレイ4全体が通常廃棄され、新たなアレイに
置換えられる。
これは、近隣のアレイや新たなアレイに損傷を与えるこ
となく故障アレイを取出し、これを新たなアレイに取替
える困難さと、乱れのない走査アレイを提供するのに必
要な臨界的な整合を実行する際の困難さに起因している
。
となく故障アレイを取出し、これを新たなアレイに取替
える困難さと、乱れのない走査アレイを提供するのに必
要な臨界的な整合を実行する際の困難さに起因している
。
本発明は、大きな走査アレイ4の取替を必要とせずに小
アレイ5a、5b、・・・5nの内の故障したものの除
去と取替を可能とする。このため、アレイ・チップの端
部16はアレイ間の臨界整合に影響したりこれを乱すこ
となく、損傷したアレイを取除き新たなアレイと置換え
ることを可能とするよう設計された相補的な相互ロック
境界形状により形成される。特に、各チップ10の端部
16は隣接するチップの相補的な形状端と相互ロックす
る全体がL字形のオフセット又はドッグレグ形状を有し
、相補的な形状端は除去されるアレイと設置される取替
アレイの2方向移動を可能とする。
アレイ5a、5b、・・・5nの内の故障したものの除
去と取替を可能とする。このため、アレイ・チップの端
部16はアレイ間の臨界整合に影響したりこれを乱すこ
となく、損傷したアレイを取除き新たなアレイと置換え
ることを可能とするよう設計された相補的な相互ロック
境界形状により形成される。特に、各チップ10の端部
16は隣接するチップの相補的な形状端と相互ロックす
る全体がL字形のオフセット又はドッグレグ形状を有し
、相補的な形状端は除去されるアレイと設置される取替
アレイの2方向移動を可能とする。
同時に、L字形オフセット形状は取替アレイを近隣アレ
イに整合して正確に配置することを可能とする。
イに整合して正確に配置することを可能とする。
小アレイ5a、5b、5c、・・・5nの製造時に、チ
ップ端16は一連の接続エッチ線により定められる。こ
のため、距離dでフォトサイト間の所要分離点の111
面に沿ってエッチが行なわれて第1fliI1分端境界
線37を設ける。距離dはフォトサイト12の行14に
加えて、チップ10上のシフトレジスタ17のような全
ての又は実質的に全ての能動回路を含む十分な長さであ
ることが望ましい。線37から距離Sだけオフセットし
た点でも111面に沿ってエッチが行なわれ、エッチ長
は第2部分端境界線38を形成する距離d′に等しい。
ップ端16は一連の接続エッチ線により定められる。こ
のため、距離dでフォトサイト間の所要分離点の111
面に沿ってエッチが行なわれて第1fliI1分端境界
線37を設ける。距離dはフォトサイト12の行14に
加えて、チップ10上のシフトレジスタ17のような全
ての又は実質的に全ての能動回路を含む十分な長さであ
ることが望ましい。線37から距離Sだけオフセットし
た点でも111面に沿ってエッチが行なわれ、エッチ長
は第2部分端境界線38を形成する距離d′に等しい。
距fidとd′の和はチップ10の側面18゜19間の
全体距離tに等しい。境界1m37.38を結び、第3
端部境界1i139を形成するチップの長手軸に平行な
111面に沿ってもエッチを行ない、チップ端の画定を
完了する。第3境界線長は距離Sに等しい。この結果、
境界1i137.38゜39はL字形オフセット又はド
ッグレグによりチップ端を定めるよう協動する。
全体距離tに等しい。境界1m37.38を結び、第3
端部境界1i139を形成するチップの長手軸に平行な
111面に沿ってもエッチを行ない、チップ端の画定を
完了する。第3境界線長は距離Sに等しい。この結果、
境界1i137.38゜39はL字形オフセット又はド
ッグレグによりチップ端を定めるよう協動する。
理解できるように、同時に又は所要順序で行なわれたエ
ッチが完成すると、線37.38.39に沿ってチップ
をウエーフアから分離し、1字形又は逆T字形のどちら
かのチップを与える。これは、大きな走査アレイ4の1
個以上の小アレイ5a、5b、・・・5nの以後の除去
と取替を可能にする2方向移動を可能としつつ、走査ア
レイ4を形成する時の小アレイ5a、5b、・・・5n
の互いの相互ロックを可能とする。第1図に図示した例
では、アレイ5a、5cは通常未使用の上縁18に隣接
する相対的に大きな区域42の全体がT字形で、一方ア
レイ5b、5dは未使用上縁18に隣接する相対的に小
さな区域42′の逆T字形である。
ッチが完成すると、線37.38.39に沿ってチップ
をウエーフアから分離し、1字形又は逆T字形のどちら
かのチップを与える。これは、大きな走査アレイ4の1
個以上の小アレイ5a、5b、・・・5nの以後の除去
と取替を可能にする2方向移動を可能としつつ、走査ア
レイ4を形成する時の小アレイ5a、5b、・・・5n
の互いの相互ロックを可能とする。第1図に図示した例
では、アレイ5a、5cは通常未使用の上縁18に隣接
する相対的に大きな区域42の全体がT字形で、一方ア
レイ5b、5dは未使用上縁18に隣接する相対的に小
さな区域42′の逆T字形である。
例えばアレイ5Cのような欠陥アレイを検出すると、ア
レイに局所加熱を印加して基板7の表面8から、そして
近接アレイ5b、5dから欠陥アレイを遊離させる。ア
レイ5Cを解放すると、アレイは第1図の実線矢印によ
り示すように基板7と隣接アレイ5b、5dに対する上
昇、滑動再移動により取外される。アレイ5bのような
逆T字形を有するアレイを取替える場合、走査アレイ4
の面に沿った移動方向は破線矢印により示すように反転
することが理解できる。
レイに局所加熱を印加して基板7の表面8から、そして
近接アレイ5b、5dから欠陥アレイを遊離させる。ア
レイ5Cを解放すると、アレイは第1図の実線矢印によ
り示すように基板7と隣接アレイ5b、5dに対する上
昇、滑動再移動により取外される。アレイ5bのような
逆T字形を有するアレイを取替える場合、走査アレイ4
の面に沿った移動方向は破線矢印により示すように反転
することが理解できる。
アレイの取替は上記の反対で、取替アレイ5Cは欠陥ア
レイにより空いた空間に挿入され、取替アレイの端部の
L字形オフセットは近隣アレイ5b、5dの相補的端部
と相互ロックする。加えて、境界線38により描画され
る端部16の一部は取替アレイ5Cのフォトサイト12
の行14′を整合配置する役割を果たし、両側の近隣ア
レイ5b。
レイにより空いた空間に挿入され、取替アレイの端部の
L字形オフセットは近隣アレイ5b、5dの相補的端部
と相互ロックする。加えて、境界線38により描画され
る端部16の一部は取替アレイ5Cのフォトサイト12
の行14′を整合配置する役割を果たし、両側の近隣ア
レイ5b。
5dのフォトサイト12の行14′は再び連続した乱さ
れない走査アレイ4を形成する。
れない走査アレイ4を形成する。
上述した2次元の移動自由度は除去又は再挿入時にアレ
イの多方向移動、すなわち基板7の表面に平行な面内の
横方向移動から上方への上昇移動や横方向と上方向移動
の各種組合ぼを可能とする。
イの多方向移動、すなわち基板7の表面に平行な面内の
横方向移動から上方への上昇移動や横方向と上方向移動
の各種組合ぼを可能とする。
交互のチップ5a、5b、・・・5nの基部を横切る幅
w、w’ は異なるものとして図示し、交互のアレイの
フォトサイト数に差があるが、幅w、w’は互いに等し
くてもよいことが理解できる。この場合、各チップ上の
フォトサイト12の数は互いに等しい。
w、w’ は異なるものとして図示し、交互のアレイの
フォトサイト数に差があるが、幅w、w’は互いに等し
くてもよいことが理解できる。この場合、各チップ上の
フォトサイト12の数は互いに等しい。
同一番号は同一部品を参照している第3図に示す実施例
では、走査アレイ4は100シリコン上に形成した小ア
レイ50a、50b、50c、−°。
では、走査アレイ4は100シリコン上に形成した小ア
レイ50a、50b、50c、−°。
50n)の組合せを含む。当R者には理解できるように
、100シリコンは75.53°の鋭角で110面と交
差する4枚の111面を有する。アレイ50a、50b
、50c、 ・50nはメージ・エヌ・アラーギ(He
hdi N、^ragi)の名前で「画像センサ・アレ
イの製造方法」という題目で1985年5月2日提出の
共願の米国出願一連番号笛729.705号に教示され
る方法で製造される。
、100シリコンは75.53°の鋭角で110面と交
差する4枚の111面を有する。アレイ50a、50b
、50c、 ・50nはメージ・エヌ・アラーギ(He
hdi N、^ragi)の名前で「画像センサ・アレ
イの製造方法」という題目で1985年5月2日提出の
共願の米国出願一連番号笛729.705号に教示され
る方法で製造される。
欠陥アレイの取替を可能とするため、小アレイ50a、
50b、50c、−50nのチップ形状は「くぎ」頭形
60と「山」頭形62間を交番する。この結果、「山」
頭チップと交番する「くぎ」頭チップの傾斜端境界61
は、所要長の走査アレイ4を形成するため基板7上で互
いに所要数の小 ・アレイ50a、50b、50c
、 ・50nの組立時に「11頭チップの係合傾斜端境
界63と境界を接する。「くぎ」頭形60を有する小ア
レイ、例えばアレイ50bを取替えたい場合、局所加熱
を印加して基板7の表面と隣接アレイ50a、50cか
ら欠陥アレイ50bを遊離させる。一旦遊離されると、
欠陥アレイ50bは前方又は後方へ同時に上昇滑動させ
てアレイを除去する。
50b、50c、−50nのチップ形状は「くぎ」頭形
60と「山」頭形62間を交番する。この結果、「山」
頭チップと交番する「くぎ」頭チップの傾斜端境界61
は、所要長の走査アレイ4を形成するため基板7上で互
いに所要数の小 ・アレイ50a、50b、50c
、 ・50nの組立時に「11頭チップの係合傾斜端境
界63と境界を接する。「くぎ」頭形60を有する小ア
レイ、例えばアレイ50bを取替えたい場合、局所加熱
を印加して基板7の表面と隣接アレイ50a、50cか
ら欠陥アレイ50bを遊離させる。一旦遊離されると、
欠陥アレイ50bは前方又は後方へ同時に上昇滑動させ
てアレイを除去する。
欠陥アレイを新たなアレイと取替えるため、平面状のア
レイ整合面66を有する整合ツール65を配置して整合
面66を走査アレイ4の残りのアレイ50a、50c、
・・・50nに対して接触させる。次いで新たなアレイ
50bを挿入し、摺動下方移動の組合せにより新たなア
レイを近接アレイ50a、50c間の適所にはめ込む。
レイ整合面66を有する整合ツール65を配置して整合
面66を走査アレイ4の残りのアレイ50a、50c、
・・・50nに対して接触させる。次いで新たなアレイ
50bを挿入し、摺動下方移動の組合せにより新たなア
レイを近接アレイ50a、50c間の適所にはめ込む。
取替アレイの縁はツール65の整合面66に接触して取
替アレイのフォトサイト12の行14′を近接アレイ5
0a、50Cのフォトサイト12の行14′に整合させ
る。整合後、取替アレイ50bを適当な接着剤により適
所に固定する。
替アレイのフォトサイト12の行14′を近接アレイ5
0a、50Cのフォトサイト12の行14′に整合させ
る。整合後、取替アレイ50bを適当な接着剤により適
所に固定する。
アレイ50Gのような「山」頭形62を有するアレイが
欠陥で取替が必要な場合、「山」頭形ア 4゜レイを除
去用に自由にするため一方の側の「くぎ」頭形アレイ、
すなわちアレイ50b又は50Gのどちらかを上述の方
法でまず除去する。これに続いて欠陥の「山」頭アレイ
50cを上記方法で取除き、「山」頭形62を有する取
替アレイを基板7上の近接「くぎ」頭アレイと端と端の
接触関係で基板7の表面8上に配置する。前に取外した
「(ぎ」頭アレイを次いで取替え、新たな「山」頭アレ
イと「くぎ」頭アレイをツール65の整合面66に対し
て整合させて、フォトサイト120行14′を基板7上
で既に適所にあるアレイのフォトサイトの行と整合させ
る。一旦前に除去した「くぎ」頭アレイと共に新たな「
山」頭アレイが適所に収まると、アレイは適当な接着剤
により適所にロックされる。
欠陥で取替が必要な場合、「山」頭形ア 4゜レイを除
去用に自由にするため一方の側の「くぎ」頭形アレイ、
すなわちアレイ50b又は50Gのどちらかを上述の方
法でまず除去する。これに続いて欠陥の「山」頭アレイ
50cを上記方法で取除き、「山」頭形62を有する取
替アレイを基板7上の近接「くぎ」頭アレイと端と端の
接触関係で基板7の表面8上に配置する。前に取外した
「(ぎ」頭アレイを次いで取替え、新たな「山」頭アレ
イと「くぎ」頭アレイをツール65の整合面66に対し
て整合させて、フォトサイト120行14′を基板7上
で既に適所にあるアレイのフォトサイトの行と整合させ
る。一旦前に除去した「くぎ」頭アレイと共に新たな「
山」頭アレイが適所に収まると、アレイは適当な接着剤
により適所にロックされる。
本発明は、開示した構造を参照して記述してきたが、記
述した詳細に限定されるものではなく、添付の特許請求
の範囲内に該当する変更や修正をカバーする意図のもの
である。
述した詳細に限定されるものではなく、添付の特許請求
の範囲内に該当する変更や修正をカバーする意図のもの
である。
第1図は本発明に従い全幅走査アレイを形成するよう互
いに接触している110シリコン上に製造した複数個の
小センサ・アレイの等角図で、小アレイは欠陥車アレイ
の除去と取替を容易にするよう設計された交互に相補的
な丁字形と反転丁字形を有し、第2図はより大きなシリ
コン・ウエーフア上のアレイ・チップの形成を図示する
等角図、第3図はアレイの欠陥物の除去と取替を容易に
する相補的な「くぎ1頭と「山」形を与えるように10
0シリコン上に小センサ・アレイを製造した別の実施例
の等角図である。 4・・・・・・走査アレイ、5a、5b、5c・・・5
n、・・・・・・センサ・アレイ、7・・・・・・基板
、12・・・・・・フォトサイト、16・・・・・・端
部、18.19・・・・・・上下縁、37.38.39
・・・・・・境界線、60・・・・・・「くぎ」頭形部
、62・・・・・・「山」頭形部。
いに接触している110シリコン上に製造した複数個の
小センサ・アレイの等角図で、小アレイは欠陥車アレイ
の除去と取替を容易にするよう設計された交互に相補的
な丁字形と反転丁字形を有し、第2図はより大きなシリ
コン・ウエーフア上のアレイ・チップの形成を図示する
等角図、第3図はアレイの欠陥物の除去と取替を容易に
する相補的な「くぎ1頭と「山」形を与えるように10
0シリコン上に小センサ・アレイを製造した別の実施例
の等角図である。 4・・・・・・走査アレイ、5a、5b、5c・・・5
n、・・・・・・センサ・アレイ、7・・・・・・基板
、12・・・・・・フォトサイト、16・・・・・・端
部、18.19・・・・・・上下縁、37.38.39
・・・・・・境界線、60・・・・・・「くぎ」頭形部
、62・・・・・・「山」頭形部。
Claims (3)
- (1)他のアレイに損傷を与えず又は画像品質の損失を
生じることなく除去取替が可能であり、かつ長い複合ア
レイを形成するため端部対端部の関係で接触して他の同
様な素子と組合せるためのチップ上のセンサ・アレイの
製造方法において、(イ)相当大きい(110)シリコ
ン・ウエーフア上に少なくとも1行のフォトサイトを形
成する段階と、 (ロ)前記チップの縁を描画するため前記ウエーフアの
(111)面に沿つて縁分離線を方向依存エッチングす
る段階と、 (ハ)全体がL字形のオフセットを中に有するチップ端
を描画するため前記ウエーフアの(111)面に沿つて
縁分離線を方向依存エッチングする段階と、 (ニ)前記分離線に沿つて前記ウエーフアから前記チッ
プを分離して全体が矩形状のチップを設ける段階であつ
て、前記チップの各端部は他の同様なアレイの相補オフ
セット端と相互ロック接触及び整合用の全体がL字形の
オフセットを有する前記チップを設ける段階と、 を含む他の同様なアレイとの組合せ用のチップ上のセン
サ・アレイの製造方法。 - (2)長い走査アレイを形成するため互いに端と端を接
触させて他のアレイと組合せて用いる取替可能なアレイ
において、 (イ)所定の幅を有する(110)シリコンの全体が矩
形状のチップと、 (ロ)前記チップの一端から他端へ前記チップの長手方
向へ延びて前記チップの他の同様なチップとの接触面上
にフォトサイトの乱されない行を与える少なくとも1行
のフォトサイトと、 (ハ)チップ(111)面に沿つて延びる第1及び第2
の端部分により定まる前記アレイの各端部であつて、前
記第1及び第2縁部分の組合せ長は前記チップの幅に等
しく、前記第1及び第2縁部分は互いに長手方向にオフ
セットしている前記各端部と、 (ニ)前記第1及び第2端部分を互いに接続する前記チ
ップ(111)面に沿つて長手方向に延びる第3の端部
分であつて、前記第1、第2及び第3端部分が協動して
前記アレイ端を形成する前記第3の端部分と、 を含み、 前記第3端部分は、欠陥アレイを取替える時に前記チッ
プを近接アレイのチップと整合させるため近接アレイの
第3端部分と接触可能となつている他のアレイと組合せ
て用いる取替可能なアレイ。 - (3)小アレイの欠陥物の以後の除去と取替を容易にす
るよう互いに1行中で端と端を接触させている複数個の
小アレイから長い走査アレイを製造する方法において、
前記小アレイの各々は前記長い走査アレイを形成するよ
う次に隣接する前記小アレイのフォトサイト行と整合接
触させるため前記アレイの一端から他端へ延びる少なく
とも1行の長手方向に延びるフォトサイトを有し、 (イ)くぎ頭部形状の第1の小アレイを形成し、前記第
1アレイの端部は下方に突出する段階と、(ロ)山形の
第2小アレイを形成し、前記第2アレイの端部は上方に
突出する段階と、 (ハ)前記長い走査アレイを形成するため相互ロックの
端対端接触関係に前記第1及び第2アレイを組立てる段
階であつて、前記第1アレイを含む1つおきのアレイと
前記第2アレイを含む中間のアレイを有し、各アレイの
前記フォトサイト行は整合している前記段階と、 を含み、 欠陥第1アレイは近接第2アレイに対して欠陥第1アレ
イを上方そして外方に移動させることにより取除き、第
1アレイに整合して置換えられる取替第1アレイは、前
記取替第1アレイのフォトサイト行が前記近隣第2アレ
イのフォトサイト行と整合するまで前記取替第1アレイ
と前記近隣第2アレイとの間の制御された横方向移動に
より実行される、複数個の小アレイから長い走査アレイ
を製造する方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/808,799 US4698131A (en) | 1985-12-13 | 1985-12-13 | Replaceable image sensor array |
US808799 | 1985-12-13 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62141763A true JPS62141763A (ja) | 1987-06-25 |
Family
ID=25199776
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61289738A Pending JPS62141763A (ja) | 1985-12-13 | 1986-12-04 | センサ・アレイの製造方法とアレイ |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4698131A (ja) |
JP (1) | JPS62141763A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01134292A (ja) * | 1987-10-16 | 1989-05-26 | Philips Gloeilampenfab:Nv | X線検出装置およびこのような装置を有するx線分析装置 |
JP2009514257A (ja) * | 2003-06-27 | 2009-04-02 | ウードゥヴェ セミコンダクターズ | 接合された直線アレイを有する画像センサー |
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---|---|---|---|---|
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US5196378A (en) * | 1987-12-17 | 1993-03-23 | Texas Instruments Incorporated | Method of fabricating an integrated circuit having active regions near a die edge |
US4999077A (en) * | 1989-08-31 | 1991-03-12 | Xerox Corporation | Method of fabricating full width scanning or imaging arrays from subunits |
US5031032A (en) * | 1990-03-30 | 1991-07-09 | Xerox Corporation | Color array for use in fabricating full width arrays |
US5119181A (en) * | 1990-03-30 | 1992-06-02 | Xerox Corporation | Color array for use in fabricating full width arrays |
DE4012080A1 (de) * | 1990-04-14 | 1991-10-17 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren zum aufbau von mikromechanischen sensoren |
US5065245A (en) * | 1990-04-30 | 1991-11-12 | Eastman Kodak Company | Modular image sensor array |
AU1823899A (en) * | 1997-12-16 | 1999-07-05 | Photobit Corporation | Three-sided buttable cmos image sensor |
US20090183350A1 (en) * | 2008-01-17 | 2009-07-23 | Wetsco, Inc. | Method for Ultrasound Probe Repair |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5243370A (en) * | 1975-10-01 | 1977-04-05 | Hitachi Ltd | Method of forming depression in semiconductor substrate |
GB1532286A (en) * | 1976-10-07 | 1978-11-15 | Elliott Bros | Manufacture of electro-luminescent display devices |
US4467342A (en) * | 1982-07-15 | 1984-08-21 | Rca Corporation | Multi-chip imager |
US4604161A (en) * | 1985-05-02 | 1986-08-05 | Xerox Corporation | Method of fabricating image sensor arrays |
-
1985
- 1985-12-13 US US06/808,799 patent/US4698131A/en not_active Expired - Lifetime
-
1986
- 1986-12-04 JP JP61289738A patent/JPS62141763A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH01134292A (ja) * | 1987-10-16 | 1989-05-26 | Philips Gloeilampenfab:Nv | X線検出装置およびこのような装置を有するx線分析装置 |
JP2009514257A (ja) * | 2003-06-27 | 2009-04-02 | ウードゥヴェ セミコンダクターズ | 接合された直線アレイを有する画像センサー |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4698131A (en) | 1987-10-06 |
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