JPS62130097A - エッジノイズ測定装置 - Google Patents
エッジノイズ測定装置Info
- Publication number
- JPS62130097A JPS62130097A JP27052985A JP27052985A JPS62130097A JP S62130097 A JPS62130097 A JP S62130097A JP 27052985 A JP27052985 A JP 27052985A JP 27052985 A JP27052985 A JP 27052985A JP S62130097 A JPS62130097 A JP S62130097A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- noise
- circuit
- signal
- luminance signal
- component
- Prior art date
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- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
A、産業上の利用分野
本発明は少くとも再生機能を有するビデオテープレコー
ダ等の再生装置のノイズ測定方法に関する。
ダ等の再生装置のノイズ測定方法に関する。
B・ 発明の概要
本発明は少くとも再生機能を有するビデオテープレコー
ダ等の再生装置のノイズ測定方法において、記録媒体に
記録された矩形波状の輝度信号を再生し、この再生信号
からノイズ成分を取出すことにより、エツジノイズを定
量的に測定することができるようにしたものである。
ダ等の再生装置のノイズ測定方法において、記録媒体に
記録された矩形波状の輝度信号を再生し、この再生信号
からノイズ成分を取出すことにより、エツジノイズを定
量的に測定することができるようにしたものである。
C1従来の技術
ビデオテープレコーダ(VTR)において、一般に、カ
ラー映像信号は輝度信号成分と色信号成分とに分離され
、それぞれ所定の処理が施された後、混合されて磁気テ
ープに記録される。また、再生時には、これと逆の処理
が行われ再生カラー映像信号が得られる。ここで、輝度
信号については、通常、第4図に示すような系により記
録・再生が行われる。すなわち、端子101に供給され
た輝度信号は、プリエンファシス回路102により高域
成分が強調された後、FM変調回路103により周波数
変調されて磁気ヘッド104により磁気テープTに記録
されるようになっている。上記プリエンファシス回路1
02は、たとえば高密度記録のビデオテープレコーダに
おいてはノンリニア特性のものが用いられ、実際には第
5図に示すように、エンファシス回路102A(!:コ
ンブレノサ102Bとから成っている。上記コンプレッ
サ102Bは圧縮動作を行うものであり、結果的に小振
幅の信号に対してはエンファシス量が多くなり、大振幅
の信号に対しては過変調防止のためエンファシス量が少
くなるようになっている。
ラー映像信号は輝度信号成分と色信号成分とに分離され
、それぞれ所定の処理が施された後、混合されて磁気テ
ープに記録される。また、再生時には、これと逆の処理
が行われ再生カラー映像信号が得られる。ここで、輝度
信号については、通常、第4図に示すような系により記
録・再生が行われる。すなわち、端子101に供給され
た輝度信号は、プリエンファシス回路102により高域
成分が強調された後、FM変調回路103により周波数
変調されて磁気ヘッド104により磁気テープTに記録
されるようになっている。上記プリエンファシス回路1
02は、たとえば高密度記録のビデオテープレコーダに
おいてはノンリニア特性のものが用いられ、実際には第
5図に示すように、エンファシス回路102A(!:コ
ンブレノサ102Bとから成っている。上記コンプレッ
サ102Bは圧縮動作を行うものであり、結果的に小振
幅の信号に対してはエンファシス量が多くなり、大振幅
の信号に対しては過変調防止のためエンファシス量が少
くなるようになっている。
また、再生時には、磁気テープTから磁気ヘッド105
により取出された信号は、FM復調回路106により復
調された後、ディエンファシス回路107により元の特
性に戻されて端子108に再生輝度信号が得られるよう
になっている。上記ディエンファシス回路107は、第
6図に示すように、伸長動作を行うエキスパンダ107
Aとディエンファシス回路107Bとから成っており、
プリエンファシス回路1−02とは逆特性の動作が行わ
れる。
により取出された信号は、FM復調回路106により復
調された後、ディエンファシス回路107により元の特
性に戻されて端子108に再生輝度信号が得られるよう
になっている。上記ディエンファシス回路107は、第
6図に示すように、伸長動作を行うエキスパンダ107
Aとディエンファシス回路107Bとから成っており、
プリエンファシス回路1−02とは逆特性の動作が行わ
れる。
D9発明が解決しようとする問題点
ところで、上述した輝度信号の記録・再生系において、
再生時に磁気テープT、磁気ヘット105による磁電変
換系等のノイズが重畳された場合には、再生輝度信号に
影響を与えることがある。
再生時に磁気テープT、磁気ヘット105による磁電変
換系等のノイズが重畳された場合には、再生輝度信号に
影響を与えることがある。
たとえば、第7図い)に示すような大振幅の矩形波状の
輝度信号がエンファシス回路102Aに供給されたとす
るblこの信号は第7図(13)に示すように、該エン
ファシス回路102Nによりエツジ部が強調され、次に
第7図(0に示すように、上記強調されたエツジ部がコ
ンプレッサ102Bにより破線で示す所定のレベルまで
圧縮される。そして、再生時においてノイズが重畳され
、第7図0〕)に示すような信号がエキスパンダ107
Aに供給されたとすると、この信号は第7図正に示すよ
うに、該エキスパンダ107Aにより元のレベルに戻さ
れる。しかし、これに伴いエツジ部付近のノイズが強調
されてしまう。そして、ディエンファシス回路107B
を通過することによりノイズ成分が積分され、出力され
る再生輝度信号は、第7図(Flに示すように、エツジ
部付近にノイズが残存してしまう。このようないわゆる
エツジノイズは画質に大きな影響を与えるものであり、
エツジノイズ量をビデオテープレコーダ等の設計時にお
ける画質評価のための一要素とすることが望ましい。と
ころが、従来より一般に行われているノイズ測定方法は
、たとえば50%白レベルの輝度信号等を用いたもので
あり、上記エツジノイズを測定することは不可能であっ
た。
輝度信号がエンファシス回路102Aに供給されたとす
るblこの信号は第7図(13)に示すように、該エン
ファシス回路102Nによりエツジ部が強調され、次に
第7図(0に示すように、上記強調されたエツジ部がコ
ンプレッサ102Bにより破線で示す所定のレベルまで
圧縮される。そして、再生時においてノイズが重畳され
、第7図0〕)に示すような信号がエキスパンダ107
Aに供給されたとすると、この信号は第7図正に示すよ
うに、該エキスパンダ107Aにより元のレベルに戻さ
れる。しかし、これに伴いエツジ部付近のノイズが強調
されてしまう。そして、ディエンファシス回路107B
を通過することによりノイズ成分が積分され、出力され
る再生輝度信号は、第7図(Flに示すように、エツジ
部付近にノイズが残存してしまう。このようないわゆる
エツジノイズは画質に大きな影響を与えるものであり、
エツジノイズ量をビデオテープレコーダ等の設計時にお
ける画質評価のための一要素とすることが望ましい。と
ころが、従来より一般に行われているノイズ測定方法は
、たとえば50%白レベルの輝度信号等を用いたもので
あり、上記エツジノイズを測定することは不可能であっ
た。
そこで、本発明は上述した従来の問題点に鑑みて提案さ
れたものであり、エツジノイズを定量的に測定できるよ
うな再生装置のノイズ測定方法を提供することを目的と
する。
れたものであり、エツジノイズを定量的に測定できるよ
うな再生装置のノイズ測定方法を提供することを目的と
する。
E・ 間聰点を解決するための手段
本発明の再生装置のノイズ測定方法は、上述した目的を
達成するために、記録媒体に記録された矩形波状の輝度
信号を再生装置により再生し、この再生信号から上記矩
形波状の輝度信号のくり返し周波数より低い周波数のノ
イズ成分を取出して検波し、ノイズを定量的に測定する
ことを特徴としている。
達成するために、記録媒体に記録された矩形波状の輝度
信号を再生装置により再生し、この再生信号から上記矩
形波状の輝度信号のくり返し周波数より低い周波数のノ
イズ成分を取出して検波し、ノイズを定量的に測定する
ことを特徴としている。
F3作用
本発明によれば、矩形波状の輝度信号のくり返し周波数
より低い周波数のノイズ成分を定量的に測定することが
可能となる。
より低い周波数のノイズ成分を定量的に測定することが
可能となる。
G、実施例
以下、本発明の実施例について図面を用いて詳細に説明
する。なお、本実施例は、第4図に示したビデオチープ
レコータにおける輝度信号の記録・再生系において、再
生時に重畳されたノイズ(エツジノイズ)の測定方法に
本発明を適用したものである。
する。なお、本実施例は、第4図に示したビデオチープ
レコータにおける輝度信号の記録・再生系において、再
生時に重畳されたノイズ(エツジノイズ)の測定方法に
本発明を適用したものである。
第1図は本実施例における各部の波形を示す波形図であ
り、第2図はノイズ測定回路の一例を示すブロック図で
ある。まず、第4図の記録・再生系において、端子10
1に第1図囚に示すようなくり返し周期+roの矩形波
状の輝度信号(矩形波重畳コンポジット信号)を供給し
、記録媒体である磁気テープTに記録する。上記輝度信
号のくり返し周波数fo (= 1/To )は、50
0 kl−Iz 〜2MH2程度が望ましく、たとえば
700kHzとすれば良い。そして、上記磁気テープT
に記録された信号を再生した結果、ノイズが重畳され第
1図Ct3)に示すような再生信号が端子108に得ら
れたとする。ここで、ノイズは前述したように、エツジ
部付近に集中している。この端子108に得られた再生
信号が第2図に示すノイズ測定回路の端子1すなわちL
PF(ローパスフィルタ)2および開明分離回路3にそ
れぞれ供給される。上記LPF2は第1図(5)に示し
た矩形波状の輝度信号のくり返し周波数f、よりもカッ
トオフ周波数fc の低い(fc<fo )ものであり
、該LPF2により矩形波状の輝度信号成分が除去され
る。
り、第2図はノイズ測定回路の一例を示すブロック図で
ある。まず、第4図の記録・再生系において、端子10
1に第1図囚に示すようなくり返し周期+roの矩形波
状の輝度信号(矩形波重畳コンポジット信号)を供給し
、記録媒体である磁気テープTに記録する。上記輝度信
号のくり返し周波数fo (= 1/To )は、50
0 kl−Iz 〜2MH2程度が望ましく、たとえば
700kHzとすれば良い。そして、上記磁気テープT
に記録された信号を再生した結果、ノイズが重畳され第
1図Ct3)に示すような再生信号が端子108に得ら
れたとする。ここで、ノイズは前述したように、エツジ
部付近に集中している。この端子108に得られた再生
信号が第2図に示すノイズ測定回路の端子1すなわちL
PF(ローパスフィルタ)2および開明分離回路3にそ
れぞれ供給される。上記LPF2は第1図(5)に示し
た矩形波状の輝度信号のくり返し周波数f、よりもカッ
トオフ周波数fc の低い(fc<fo )ものであり
、該LPF2により矩形波状の輝度信号成分が除去され
る。
一方、同期分離回路3では同期信号が取出され、Cれに
応じてゲートパルス発生回路4によりゲートパルスが発
生される。そして、このゲートパルスによりゲート回路
5が制御され、LPF2の出力から同期信号成分が除去
される。すなわち、LP I” 2およびケート回路5
により、たとえば第1図(qに示すような上記輝度信号
のくり返し周波数fOより低い周波数のノイズ成分が取
出される。
応じてゲートパルス発生回路4によりゲートパルスが発
生される。そして、このゲートパルスによりゲート回路
5が制御され、LPF2の出力から同期信号成分が除去
される。すなわち、LP I” 2およびケート回路5
により、たとえば第1図(qに示すような上記輝度信号
のくり返し周波数fOより低い周波数のノイズ成分が取
出される。
このノイズ成分は検波回路6で検波された後、電圧計7
に供給され、ノイズの測定が行われるようになっている
。このように、第2図のノイズ測定回路を用いた場合に
は、矩形波状の輝度信号・のくり返し周波数fOより低
い周波数のエツジノイズ成分を定量的に測定することが
できる。
に供給され、ノイズの測定が行われるようになっている
。このように、第2図のノイズ測定回路を用いた場合に
は、矩形波状の輝度信号・のくり返し周波数fOより低
い周波数のエツジノイズ成分を定量的に測定することが
できる。
第3図にノイズ測定回路の他の例を示す。このノイズ測
定回路を用いてノイズの測定を行う場合においても、ま
ず、第4図に示した記録・再生系の端子101に第1図
式に示すようなくり返し周期Toの矩形波状の輝度信号
を供給し、磁気テープTに記録する。そして、上記磁気
テープTに記録された信号を再生した結果、ノイズが重
畳されgt図(Blに示すような再生信号が端子108
(こ得られたとする。この端子108に得られた再生信
号が第3図に示すノイズ測定回路の端子11すなわちゲ
ート回路12および同期分離回路13にそれぞれ供給さ
れる。上記同期分離回路13では同 。
定回路を用いてノイズの測定を行う場合においても、ま
ず、第4図に示した記録・再生系の端子101に第1図
式に示すようなくり返し周期Toの矩形波状の輝度信号
を供給し、磁気テープTに記録する。そして、上記磁気
テープTに記録された信号を再生した結果、ノイズが重
畳されgt図(Blに示すような再生信号が端子108
(こ得られたとする。この端子108に得られた再生信
号が第3図に示すノイズ測定回路の端子11すなわちゲ
ート回路12および同期分離回路13にそれぞれ供給さ
れる。上記同期分離回路13では同 。
期信号が取出され、これに応じてゲートパルス発生回路
14によりゲートパルスが発生される。そして、このゲ
ートパルスにより上記ゲート回路12が制御され、端子
11に供給された再生信号から同期信号成分が除去され
る。上記ゲート回路12からの出力はLPFI 5およ
びBPF(バンドパスフィルタ)16にそれぞれ送られ
る。上記LPF15は第2図におけるLPF’2と等し
いカットオフ周波数fcを有するものであり、該LPF
15によりたとえば第1図C)に示すような矩形波状の
輝度信号のくり返し周波数foより低い周波数のノイズ
成分が取出される。この低域ノイズ成分は検波回路17
で検波され、加算器18および切換スイッチ19の被選
択端子19aに送られる。
14によりゲートパルスが発生される。そして、このゲ
ートパルスにより上記ゲート回路12が制御され、端子
11に供給された再生信号から同期信号成分が除去され
る。上記ゲート回路12からの出力はLPFI 5およ
びBPF(バンドパスフィルタ)16にそれぞれ送られ
る。上記LPF15は第2図におけるLPF’2と等し
いカットオフ周波数fcを有するものであり、該LPF
15によりたとえば第1図C)に示すような矩形波状の
輝度信号のくり返し周波数foより低い周波数のノイズ
成分が取出される。この低域ノイズ成分は検波回路17
で検波され、加算器18および切換スイッチ19の被選
択端子19aに送られる。
また、上記BPFl 5は上記くり返し周波数fOと2
fo の間の通過帯域fn (fo <fn <2fn
)を有するものてあり、該BPFI 6により上記くり
返し周波数fOより高い周波数のノイズ成分が取出され
る。この高域ノイズ成分は検波回路20で検波され、上
記加算器18および切換スイッチ19の被選択端子19
Cに送られる。上記加算器18からの出力は切換スイッ
チ21(被選択端子21aおよび選択端子21C)を介
して上記切換スイッチ19の被選択端子19bに送られ
る。そして、上記スイッチ19を切換接続することによ
り、選択端子19dに接続された電圧計22iこ谷部か
らの出力が選択的に供給される。すなわち、被選択端子
19aを選択すると低域ノイズが、被選択端子19bを
選択すると全域ノイズ(低域ノイズ+高域ノイズ)が、
被選択端子19Cを選択すると高域ノイズがそれぞれ電
圧計22に供給され、3種類のノイズの測定が選択的に
行えるようになっている。
fo の間の通過帯域fn (fo <fn <2fn
)を有するものてあり、該BPFI 6により上記くり
返し周波数fOより高い周波数のノイズ成分が取出され
る。この高域ノイズ成分は検波回路20で検波され、上
記加算器18および切換スイッチ19の被選択端子19
Cに送られる。上記加算器18からの出力は切換スイッ
チ21(被選択端子21aおよび選択端子21C)を介
して上記切換スイッチ19の被選択端子19bに送られ
る。そして、上記スイッチ19を切換接続することによ
り、選択端子19dに接続された電圧計22iこ谷部か
らの出力が選択的に供給される。すなわち、被選択端子
19aを選択すると低域ノイズが、被選択端子19bを
選択すると全域ノイズ(低域ノイズ+高域ノイズ)が、
被選択端子19Cを選択すると高域ノイズがそれぞれ電
圧計22に供給され、3種類のノイズの測定が選択的に
行えるようになっている。
また、予め、たとえば5096白レベルの輝度信号を用
いて、LPF23通過後の検波回路24の出力(ノイズ
成分)をレベルホールド回路25によりホールトしてお
き、加算器26による上記全域ノイズとの差分を測定す
ることもできる。この時、切換スイッチ19については
被選択端子19bが、切換スイッチ21については被選
択端子21bがそれぞれ選択されていることは勿論であ
る。
いて、LPF23通過後の検波回路24の出力(ノイズ
成分)をレベルホールド回路25によりホールトしてお
き、加算器26による上記全域ノイズとの差分を測定す
ることもできる。この時、切換スイッチ19については
被選択端子19bが、切換スイッチ21については被選
択端子21bがそれぞれ選択されていることは勿論であ
る。
なお、上記L I) F 23のカットオフ周波数fC
はたとえば4MHz程度である。更に、ゲート回路12
からの出力をスペクトラムアナライザ27で観測すれば
、ノイズの分布状況が分かりより細かな測定を行うこと
ができる。このように、第3図のノイズ測定回路を用い
た場合には、エツジノイズの低域成分ばかりでなく、高
域成分、全域成分等も定量的に測定することができる。
はたとえば4MHz程度である。更に、ゲート回路12
からの出力をスペクトラムアナライザ27で観測すれば
、ノイズの分布状況が分かりより細かな測定を行うこと
ができる。このように、第3図のノイズ測定回路を用い
た場合には、エツジノイズの低域成分ばかりでなく、高
域成分、全域成分等も定量的に測定することができる。
なお、本発明はビデオテープレコーダに限らず、ビデオ
ディスクプレーヤ等の再生装置のノイズ測定方法に適用
することができる。たとえば、ビデオディスクプレーヤ
の場合には、予め矩形波状の輝度信号が記録されたディ
スクを再生してノイズの測定を行うようにすれば良い。
ディスクプレーヤ等の再生装置のノイズ測定方法に適用
することができる。たとえば、ビデオディスクプレーヤ
の場合には、予め矩形波状の輝度信号が記録されたディ
スクを再生してノイズの測定を行うようにすれば良い。
f−1,発明の効果
上述した実施例の説明から明らかなよう(こ、本発明の
ノイズ測定方法によれば、記録媒体に記録された矩形波
状の輝度信号を再生し、この再生信号から上記矩形波状
の輝度信号のくり返し周波数より低い周波数のノイズ成
分を取出して検波することにより、エツジノイズを定量
的に測定することができる。従って、エツジノイズ量を
ビデオチープレコータ等の設計時における画質評価のた
めの一要素とすることができ、より的確な画質評価を行
うことができる。
ノイズ測定方法によれば、記録媒体に記録された矩形波
状の輝度信号を再生し、この再生信号から上記矩形波状
の輝度信号のくり返し周波数より低い周波数のノイズ成
分を取出して検波することにより、エツジノイズを定量
的に測定することができる。従って、エツジノイズ量を
ビデオチープレコータ等の設計時における画質評価のた
めの一要素とすることができ、より的確な画質評価を行
うことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例における各部の波形の一例を示
す波形図、第2図は上記実施例におけるノイズ測定回路
の一例を示すブロック図、第3図は上記実施例における
ノイズ測定回路の他の例を示すブロック図である。 第4図は通常のビデオテープレコーダにおける輝度信号
の記録・再生系を示すブロック図、第5図は第4図にお
けるプリエンファシス回路の構成を示すブロック図、第
6図は第4図におけるディエンファシス回路の構成を示
すブロック図、第7図は各部における波形の一例を示す
波形図である。
す波形図、第2図は上記実施例におけるノイズ測定回路
の一例を示すブロック図、第3図は上記実施例における
ノイズ測定回路の他の例を示すブロック図である。 第4図は通常のビデオテープレコーダにおける輝度信号
の記録・再生系を示すブロック図、第5図は第4図にお
けるプリエンファシス回路の構成を示すブロック図、第
6図は第4図におけるディエンファシス回路の構成を示
すブロック図、第7図は各部における波形の一例を示す
波形図である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 記録媒体に記録された矩形波状の輝度信号を再生装置に
より再生し、 この再生信号から上記矩形波状の輝度信号のくり返し周
波数より低い周波数のノイズ成分を取出して検波し、 ノイズを定量的に測定することを特徴とする再生装置の
ノイズ測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60270529A JPH0744704B2 (ja) | 1985-11-30 | 1985-11-30 | エッジノイズ測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60270529A JPH0744704B2 (ja) | 1985-11-30 | 1985-11-30 | エッジノイズ測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62130097A true JPS62130097A (ja) | 1987-06-12 |
JPH0744704B2 JPH0744704B2 (ja) | 1995-05-15 |
Family
ID=17487485
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60270529A Expired - Lifetime JPH0744704B2 (ja) | 1985-11-30 | 1985-11-30 | エッジノイズ測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0744704B2 (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS54173626U (ja) * | 1978-05-27 | 1979-12-07 |
-
1985
- 1985-11-30 JP JP60270529A patent/JPH0744704B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS54173626U (ja) * | 1978-05-27 | 1979-12-07 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0744704B2 (ja) | 1995-05-15 |
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