JPS62123922A - ２次電池の通電不能劣化監視回路 - Google Patents
２次電池の通電不能劣化監視回路Info
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- JPS62123922A JPS62123922A JP25860985A JP25860985A JPS62123922A JP S62123922 A JPS62123922 A JP S62123922A JP 25860985 A JP25860985 A JP 25860985A JP 25860985 A JP25860985 A JP 25860985A JP S62123922 A JPS62123922 A JP S62123922A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は通信用端末装置などに用いられる予備電源の２
次電池の通電不能劣化監視回路に関するものである。
次電池の通電不能劣化監視回路に関するものである。
（従来の技術）
従来から、商用電源を使う通信用端末装置や火災報知器
などの防災用機器類は、商用電源停電時にも機能を損わ
ないようにするため、２次電池による予備電源方式を採
用していた。
などの防災用機器類は、商用電源停電時にも機能を損わ
ないようにするため、２次電池による予備電源方式を採
用していた。
このような予備電源における２次電池の性能劣化を監視
する方式としては、例えば、特開昭６０−１０６３３６
号公報に示されているように、トリクル充電中の２次電
池の端子電圧が基準値以下に低下したことを検出すると
、この２次電池に所定の急速充電電流を流し、その後所
定の強制放電を行ない、その放電中あるいは放電終了時
点の端子電圧を再度基準電圧と地紋して、２次電池の性
能劣化を判定する方式が提案されている。
する方式としては、例えば、特開昭６０−１０６３３６
号公報に示されているように、トリクル充電中の２次電
池の端子電圧が基準値以下に低下したことを検出すると
、この２次電池に所定の急速充電電流を流し、その後所
定の強制放電を行ない、その放電中あるいは放電終了時
点の端子電圧を再度基準電圧と地紋して、２次電池の性
能劣化を判定する方式が提案されている。
（発明が解決しようとする問題点）
しかしながら、２次電池の性能劣化モードの一つとして
、例えば、２次電池内部のリード線外れなどに起因する
通電不能劣化があシ、このモードの劣化が発生すると、
予備電源としての機能が全く果せなくなるため、できる
だけ速やかに、２次電池の性能劣化情報を提供する必要
がある。
、例えば、２次電池内部のリード線外れなどに起因する
通電不能劣化があシ、このモードの劣化が発生すると、
予備電源としての機能が全く果せなくなるため、できる
だけ速やかに、２次電池の性能劣化情報を提供する必要
がある。
本発明は上記問題点に鑑み、通電不能劣化を速やかに検
出することができる２次電池の通電不能劣化監視回路を
提供するものである。
出することができる２次電池の通電不能劣化監視回路を
提供するものである。
（問題点を解決するだめの手段）
この目的を達成するために、本発明による２次電池の通
電不能劣化監視回路は、直流電源と、この直流電源の電
圧低下検出回路と、充電回路と、充電電流検出回路とを
具備し、直流電源の電圧低下を検出して、充電電流検出
回路の機能を停止するように構成したものである。
電不能劣化監視回路は、直流電源と、この直流電源の電
圧低下検出回路と、充電回路と、充電電流検出回路とを
具備し、直流電源の電圧低下を検出して、充電電流検出
回路の機能を停止するように構成したものである。
（作用）
この構成によれば、２次電池の充電電流を常時監視して
おシ、充電電流が検出できなくなれば直ちに性能劣化情
報を出力する。また商用電源が停電した場合、直流電源
から電力が供給されなくなるため、充電電流も検出でき
なくなる。これが誤って２次電池の性能劣化情報となら
ないようにするため、直流電源の電圧低下を検出し、充
電電流検出回路の機能を停止する。
おシ、充電電流が検出できなくなれば直ちに性能劣化情
報を出力する。また商用電源が停電した場合、直流電源
から電力が供給されなくなるため、充電電流も検出でき
なくなる。これが誤って２次電池の性能劣化情報となら
ないようにするため、直流電源の電圧低下を検出し、充
電電流検出回路の機能を停止する。
（実施例）
以下、本発明の一実施例について、図面を参照しながら
説明する。
説明する。
第１図は、本発明の一実施例を示す２次電池の通電不能
劣化監視回路のブロック図である。第１図において、１
は商用電源を降圧し整流して得られた直流電源、２はこ
の直流電源の出力電圧を監視する電圧低下検出回路、３
は２次電池５の充電回路、４は充電電流検出回路であシ
、充電電流の通路に直列に挿入された第１の抵抗Ｒ，の
両端の電圧を監視して充電電流の有無を検出する。Ｄ】
は逆流防止のための第１のダイオード、５は２次電池で
ある。６はＯＲゲート＋あシ、通電不能劣化および他の
（例えば短絡劣化などの）劣化モードの検出出力の論理
和を出力し、２次電池５の性能劣化情報とする。
劣化監視回路のブロック図である。第１図において、１
は商用電源を降圧し整流して得られた直流電源、２はこ
の直流電源の出力電圧を監視する電圧低下検出回路、３
は２次電池５の充電回路、４は充電電流検出回路であシ
、充電電流の通路に直列に挿入された第１の抵抗Ｒ，の
両端の電圧を監視して充電電流の有無を検出する。Ｄ】
は逆流防止のための第１のダイオード、５は２次電池で
ある。６はＯＲゲート＋あシ、通電不能劣化および他の
（例えば短絡劣化などの）劣化モードの検出出力の論理
和を出力し、２次電池５の性能劣化情報とする。
以上のように構成された２次電池５０通電不能劣化監視
回路の動作について説明する。まず、商用電源の給電中
は、２次電池５へ充電電流が供給され、第１の抵抗Ｒ１
の両端に電圧降下が発生し、これを充電電流検出回路４
が監視しておシ、充電電流が流れていれば充電電流検出
回路４はＯＲゲート６に出力を供給しない。この状態で
、２次電池５に通電不能劣化が発生すると、充電電流が
流れなくなるため、充電電流検知回路４は、゛これを検
知して、ＯＲダート６に出力を供給する。この結果、Ｏ
Ｒケ゛−トロより性能劣化情報が出力される。
回路の動作について説明する。まず、商用電源の給電中
は、２次電池５へ充電電流が供給され、第１の抵抗Ｒ１
の両端に電圧降下が発生し、これを充電電流検出回路４
が監視しておシ、充電電流が流れていれば充電電流検出
回路４はＯＲゲート６に出力を供給しない。この状態で
、２次電池５に通電不能劣化が発生すると、充電電流が
流れなくなるため、充電電流検知回路４は、゛これを検
知して、ＯＲダート６に出力を供給する。この結果、Ｏ
Ｒケ゛−トロより性能劣化情報が出力される。
次に、商用電源が停電した場合における動作について説
明する。第２図は、停電直後の直流電源１の端子電圧の
過渡的変化を示す図である。商用電源の給電中は直流電
源１の端子電圧はＶｏであり、時刻ｔｏで停電が始まる
と徐々に低下してゆく。時間ｔ１で端子電圧はＶ、まで
低下し、２次電池５の端子電圧に等しくなシ、第１のダ
イオードＤ、によシ充電電流は流れなくなる。このため
、充電電流検出回路４は、第２図（ロ）に示すように出
力を発生するようになる。論理回路素子は一般に電源電
圧が低くても動作するので、ＯＲゲート６は、時刻ｔｚ
（この時の直流電源の電圧はＶ２まで低下）まで動
作する。前述の充電電流検出出力が、誤って２次電池５
の性能劣化情報とならないようにするため、電圧低下検
出回路２が直流電源１の端子電圧を監視しており、直流
電源１の電圧低下を（理想的には時刻ｔｌ以前に）検知
すると、充電電流検出回路４に制御信号を供給し、充電
電流検出回路４の出力の発生を停止する。この結果、商
用電源が停電し、充電電流が流れなくなった場合にも、
２次電池５の性能劣化情報は出力されないことになる。
明する。第２図は、停電直後の直流電源１の端子電圧の
過渡的変化を示す図である。商用電源の給電中は直流電
源１の端子電圧はＶｏであり、時刻ｔｏで停電が始まる
と徐々に低下してゆく。時間ｔ１で端子電圧はＶ、まで
低下し、２次電池５の端子電圧に等しくなシ、第１のダ
イオードＤ、によシ充電電流は流れなくなる。このため
、充電電流検出回路４は、第２図（ロ）に示すように出
力を発生するようになる。論理回路素子は一般に電源電
圧が低くても動作するので、ＯＲゲート６は、時刻ｔｚ
（この時の直流電源の電圧はＶ２まで低下）まで動
作する。前述の充電電流検出出力が、誤って２次電池５
の性能劣化情報とならないようにするため、電圧低下検
出回路２が直流電源１の端子電圧を監視しており、直流
電源１の電圧低下を（理想的には時刻ｔｌ以前に）検知
すると、充電電流検出回路４に制御信号を供給し、充電
電流検出回路４の出力の発生を停止する。この結果、商
用電源が停電し、充電電流が流れなくなった場合にも、
２次電池５の性能劣化情報は出力されないことになる。
なお、停電直後の過渡的状況を除いた停電中の２次電池
５の通電不能劣化の検出については、放電電流の有無を
検出することにより、公知の技術で行ない得る。
５の通電不能劣化の検出については、放電電流の有無を
検出することにより、公知の技術で行ない得る。
次に本発明の第２の実施例について、図面を参照しなが
ら説明する。
ら説明する。
第３図は、本発明の第２の実施例を示す２次電池の通電
不能劣化監視回路の回路図である。第３図において、１
は直流電源、３は充電回路、Ｄ。
不能劣化監視回路の回路図である。第３図において、１
は直流電源、３は充電回路、Ｄ。
は第１のダイオード、５は２次電池、６はＯＲダートで
あり、以上は第１図の構成と同じものである。２１は直
流電源１の電圧低下検出回路であり、直流電源１の両端
に接続された第２の抵抗Ｒ２とツェナーダイオード２の
直列素子と、第２の抵抗Ｒ２の両端にベースおよびエミ
ッタがそれぞれ接続された第１のトランジスタＴｒ、１
とから構成され、電圧低下検出回路２１の出力は、前記
第１のトランソスタＴｒ−１のコレクタから取シ出され
る。４】は充電電流検出回路であシ、エミッタに電圧低
下検出回路２１の出力が供給され、ベースが第３の抵抗
Ｒ３を介して第１のダイオードＤ１のアノード端子に、
コレクタが第４の抵抗Ｒ４を介して直流電源１の負極端
子に接続された第２のトランジスタＴｒ−２と、エミッ
タに電圧低下検出回路２１の出力が供給され、ベースが
第２のトランジスタＴｒ−２のコレクタに接続され、コ
レクタが第５の抵抗Ｒ５と第６の抵抗Ｒ６の直列素子を
介して直流電源１の負極端子に接続された第３のトラン
ジスタＴｒ−３とで構成され、充電電流検出回路４１の
出力は、第５の抵抗Ｒ５と第６の抵抗Ｒ６の接続点より
取り出される。
あり、以上は第１図の構成と同じものである。２１は直
流電源１の電圧低下検出回路であり、直流電源１の両端
に接続された第２の抵抗Ｒ２とツェナーダイオード２の
直列素子と、第２の抵抗Ｒ２の両端にベースおよびエミ
ッタがそれぞれ接続された第１のトランジスタＴｒ、１
とから構成され、電圧低下検出回路２１の出力は、前記
第１のトランソスタＴｒ−１のコレクタから取シ出され
る。４】は充電電流検出回路であシ、エミッタに電圧低
下検出回路２１の出力が供給され、ベースが第３の抵抗
Ｒ３を介して第１のダイオードＤ１のアノード端子に、
コレクタが第４の抵抗Ｒ４を介して直流電源１の負極端
子に接続された第２のトランジスタＴｒ−２と、エミッ
タに電圧低下検出回路２１の出力が供給され、ベースが
第２のトランジスタＴｒ−２のコレクタに接続され、コ
レクタが第５の抵抗Ｒ５と第６の抵抗Ｒ６の直列素子を
介して直流電源１の負極端子に接続された第３のトラン
ジスタＴｒ−３とで構成され、充電電流検出回路４１の
出力は、第５の抵抗Ｒ５と第６の抵抗Ｒ６の接続点より
取り出される。
以上のように構成された２次電池の通電不能劣化監視回
路について、その動作を説明する。まず、商用電源の給
電中は２次電池５へ充電電流が供給される。一方、直流
電源１の出力電圧Ｖｏはツェナーダイオード２のツェナ
ー電圧Ｖｚよシ大きく、第２の抵抗Ｒ２に電流が流れ、
この両端に接続された第１のトランジスタＴｒ−１のベ
ース・エミッタ間に電圧が発生して、第１のトランジス
タＴｒ−１は導通状態となる。充電回路３は、その内部
に抵抗成分を含むので充電電流が流れると、充電回路３
の両端に電位差が発生する。この電位差が第２のトラン
ジスタＴｒ−２のベース・エミッタ間に供給され、第２
のトランジスタＴｒ−２もまた導通状態となり、コレク
タ・エミッタ間の電圧は零となる。
路について、その動作を説明する。まず、商用電源の給
電中は２次電池５へ充電電流が供給される。一方、直流
電源１の出力電圧Ｖｏはツェナーダイオード２のツェナ
ー電圧Ｖｚよシ大きく、第２の抵抗Ｒ２に電流が流れ、
この両端に接続された第１のトランジスタＴｒ−１のベ
ース・エミッタ間に電圧が発生して、第１のトランジス
タＴｒ−１は導通状態となる。充電回路３は、その内部
に抵抗成分を含むので充電電流が流れると、充電回路３
の両端に電位差が発生する。この電位差が第２のトラン
ジスタＴｒ−２のベース・エミッタ間に供給され、第２
のトランジスタＴｒ−２もまた導通状態となり、コレク
タ・エミッタ間の電圧は零となる。
この結果筒３のトランジスタＴｒ−３は不導通となシ、
ＯＲゲート６には、充電電流検出回路４１の出力は供給
されない。この状態で２次電池５に通電不能劣化が発生
すると、充電電流が流れないようになシ、充電回路３の
両端の電位差が零となシ、第２のトランジスタＴｒ−２
が不導通、第３のトランジスタＴｒ−３が導通となシ、
ＯＲゲート６に出力が供給され、性能劣化情報が出力さ
れる。
ＯＲゲート６には、充電電流検出回路４１の出力は供給
されない。この状態で２次電池５に通電不能劣化が発生
すると、充電電流が流れないようになシ、充電回路３の
両端の電位差が零となシ、第２のトランジスタＴｒ−２
が不導通、第３のトランジスタＴｒ−３が導通となシ、
ＯＲゲート６に出力が供給され、性能劣化情報が出力さ
れる。
次に、商用電源が停電すると、直流電源１の出力電圧が
低下しはじめる。この時 Ｖｏ ＜ Ｖｚ ＜ Ｖ＞ を満足するようツェナーダイオード２を選択しておくと
、ｖｏがＶｚに等しくなった時刻に電圧低下検出回路２
１が、充電電流検出回路４１へ出力を供給しなくなる。
低下しはじめる。この時 Ｖｏ ＜ Ｖｚ ＜ Ｖ＞ を満足するようツェナーダイオード２を選択しておくと
、ｖｏがＶｚに等しくなった時刻に電圧低下検出回路２
１が、充電電流検出回路４１へ出力を供給しなくなる。
この結果、充電電流検出回路４１は、充電電流が流れな
くなっても、ＯＲゲート６に出力を供給しないようにな
る。
くなっても、ＯＲゲート６に出力を供給しないようにな
る。
なお、本実施例においては、第３図に破線で示すように
直流電源１の正極端子から充電回路３へ至る結線ａｂを
取シはずしく×印）、電圧低下検出回路２１の出力を充
電回路３へ結ａＣｂを介して供給するようにしても、全
く同様な機能を果すことができる。
直流電源１の正極端子から充電回路３へ至る結線ａｂを
取シはずしく×印）、電圧低下検出回路２１の出力を充
電回路３へ結ａＣｂを介して供給するようにしても、全
く同様な機能を果すことができる。
以下に本発明の第３の実施例について、図面を参照しな
がら説明する。
がら説明する。
第４図は、本発明の第３の実施例における２次電池の通
電不能劣化監視回路の回路図である。第４図において、
１は直流電源、３は充電回路、Ｒ１は第１の抵抗、Ｄｌ
は第１のダイオード、５は２次電池、６はＯＲダートで
あシ、以上は第１図の構成と同じものである。４２は充
電電流検出回路であり、第３図の構成と殆んど同じもの
である。
電不能劣化監視回路の回路図である。第４図において、
１は直流電源、３は充電回路、Ｒ１は第１の抵抗、Ｄｌ
は第１のダイオード、５は２次電池、６はＯＲダートで
あシ、以上は第１図の構成と同じものである。４２は充
電電流検出回路であり、第３図の構成と殆んど同じもの
である。
２２は直流電源１の電圧低下検出回路である。直流電源
１の出力電圧は第２のダイオードＤ２を通シテコンデン
サＣに蓄えられる。第４のトランジスタＴｒ−４のベー
スは第７の抵抗Ｒ７を介して、第２のダイオードＤ２の
アノード端子に、エミッタは第２のダイオードＤ２のカ
ソード端子に、コレクタは第８の抵抗Ｒ８と第９の抵抗
Ｒ９の直列素子を介して、直流電源１の負極端子に接続
される。
１の出力電圧は第２のダイオードＤ２を通シテコンデン
サＣに蓄えられる。第４のトランジスタＴｒ−４のベー
スは第７の抵抗Ｒ７を介して、第２のダイオードＤ２の
アノード端子に、エミッタは第２のダイオードＤ２のカ
ソード端子に、コレクタは第８の抵抗Ｒ８と第９の抵抗
Ｒ９の直列素子を介して、直流電源１の負極端子に接続
される。
第５のトランジスタＴｒ−５のベースは第８の抵抗Ｒ８
と第９の抵抗Ｒ９との接続点に、エミッタは直流電源１
の負極端子に接続される。第５のトランジスタＴｒ−５
のコレクタは、電圧低下検出回路・２２の出力端子であ
シ、充電電流検出回路４２の出力端子に接続される。
と第９の抵抗Ｒ９との接続点に、エミッタは直流電源１
の負極端子に接続される。第５のトランジスタＴｒ−５
のコレクタは、電圧低下検出回路・２２の出力端子であ
シ、充電電流検出回路４２の出力端子に接続される。
以上のように構成された２次電池の通電不能劣化監視回
路について、その動作を説明する。まず、商用電源の給
電中は２次電池５へ充電電流が供給される。一方、直流
電源１の出力電圧は第２のダイオードＤ２を通してコン
デンサＣに蓄えられる。
路について、その動作を説明する。まず、商用電源の給
電中は２次電池５へ充電電流が供給される。一方、直流
電源１の出力電圧は第２のダイオードＤ２を通してコン
デンサＣに蓄えられる。
この結果、第４のトランジスタＴ ｒ−４のベース・工
ミッタ間には、第２のダイオードＤ２の順方向降下電圧
だけ逆バイアスされ、第４のトランジスタＴｒ−４は不
導通となる。したがって第８の抵抗Ｒ８および第９の抵
抗Ｒ９には電流が流れず、第５のトランジスタＴｒ−５
もまた不導通であシ、充電電流検出回路４２の出力端子
から電流を引き込むことはない。充電電流検出回路４２
の動作については第３図における動作と同様であシ、充
電電流が流れている状態では、充電電流検出回路４ｚは
ＯＲゲート６へ出力を供給しない。２次電池５が通電不
能劣化を起した場合は、充電電流検出回路４２はＯＲゲ
ート６へ出力を送り、性能劣化情報が出力される。
ミッタ間には、第２のダイオードＤ２の順方向降下電圧
だけ逆バイアスされ、第４のトランジスタＴｒ−４は不
導通となる。したがって第８の抵抗Ｒ８および第９の抵
抗Ｒ９には電流が流れず、第５のトランジスタＴｒ−５
もまた不導通であシ、充電電流検出回路４２の出力端子
から電流を引き込むことはない。充電電流検出回路４２
の動作については第３図における動作と同様であシ、充
電電流が流れている状態では、充電電流検出回路４ｚは
ＯＲゲート６へ出力を供給しない。２次電池５が通電不
能劣化を起した場合は、充電電流検出回路４２はＯＲゲ
ート６へ出力を送り、性能劣化情報が出力される。
次に、商用電源が停電すると、直流電源１の出力電圧が
低下しはじめる。第４のトランジスタＴｒ−４のエミッ
タ電圧はコンデンサＣに蓄えられた電圧を保つのに対し
、ベース電圧は、直流電源の出力電圧とともに低下する
ため第４のトランジスタＴｒ−４はやがて導通し、その
結果筒５のトランジスタＴｒ−５もまた導通となる。こ
の結果、充電電流検出回路４の出力は常に零に保たれ、
性能劣化情報は出力されない。
低下しはじめる。第４のトランジスタＴｒ−４のエミッ
タ電圧はコンデンサＣに蓄えられた電圧を保つのに対し
、ベース電圧は、直流電源の出力電圧とともに低下する
ため第４のトランジスタＴｒ−４はやがて導通し、その
結果筒５のトランジスタＴｒ−５もまた導通となる。こ
の結果、充電電流検出回路４の出力は常に零に保たれ、
性能劣化情報は出力されない。
以上のように本実施例によれば、直流電源の出力電圧の
低下分を、第４のトランジスタＴｒ−４のペース・エミ
ッタ間の電圧で検出することによシ、小さい変化を確実
に把えることができる。
低下分を、第４のトランジスタＴｒ−４のペース・エミ
ッタ間の電圧で検出することによシ、小さい変化を確実
に把えることができる。
（発明の効果）
以上詳細に説明したように、本発明は、直流電源と、直
流電源の電圧低下検出回路と、充電回路と、充電電流検
出回路とによシ、直流電源の電圧低下を検知して、充電
電流検出回路の機能を停止せしめることによシ、２次電
池の通電不能劣化を正しく、かつ、速やかに検出するこ
とができる効果がある。
流電源の電圧低下検出回路と、充電回路と、充電電流検
出回路とによシ、直流電源の電圧低下を検知して、充電
電流検出回路の機能を停止せしめることによシ、２次電
池の通電不能劣化を正しく、かつ、速やかに検出するこ
とができる効果がある。
第１図は１本発明の一実施例を示すブロック図、第２図
は、商用電源の停電直後における直流電源の端子電圧の
過渡的な変化および、充電電流検出回路の出力の変化を
示す図、第３図は、本発明の第２の実施例を示す回路図
、第４図は、本発明の第３の実施例を示す回路図である
。 １・・・直流電源、２＋ ２１ ＃ ２２・・・電圧
低下検出回路、３・・・充電回路、４．４１，４２・・
・充電電流検出回路、５・・・２次電池、６・・・ＯＲ
デート、Ｔｒ−１〜Ｔｒ−５・・・トランジスタ、２・
・・ツェナーダイオード。 特許出願人 日本電信電話株式会社 ｔ□ ｔ＋ ｔ２−一→時間 停電直後の直流電源の端子電圧変化特性＄２図
は、商用電源の停電直後における直流電源の端子電圧の
過渡的な変化および、充電電流検出回路の出力の変化を
示す図、第３図は、本発明の第２の実施例を示す回路図
、第４図は、本発明の第３の実施例を示す回路図である
。 １・・・直流電源、２＋ ２１ ＃ ２２・・・電圧
低下検出回路、３・・・充電回路、４．４１，４２・・
・充電電流検出回路、５・・・２次電池、６・・・ＯＲ
デート、Ｔｒ−１〜Ｔｒ−５・・・トランジスタ、２・
・・ツェナーダイオード。 特許出願人 日本電信電話株式会社 ｔ□ ｔ＋ ｔ２−一→時間 停電直後の直流電源の端子電圧変化特性＄２図
Claims (1)
- 直流電源と、前記直流電源の電圧低下検出回路と、充電
回路と、充電電流検出回路とを具備し、前記直流電源の
電圧低下を検知して、前記充電電流検出回路の機能を停
止することを特徴とする２次電池の通電不能劣化監視回
路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25860985A JPS62123922A (ja) | 1985-11-20 | 1985-11-20 | ２次電池の通電不能劣化監視回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25860985A JPS62123922A (ja) | 1985-11-20 | 1985-11-20 | ２次電池の通電不能劣化監視回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62123922A true JPS62123922A (ja) | 1987-06-05 |
| JPH0417016B2 JPH0417016B2 (ja) | 1992-03-25 |
Family
ID=17322648
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25860985A Granted JPS62123922A (ja) | 1985-11-20 | 1985-11-20 | ２次電池の通電不能劣化監視回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62123922A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0363971A (ja) * | 1989-08-02 | 1991-03-19 | Fujitsu Ltd | アレイディスク装置およびそのデータ読み出し方法 |
-
1985
- 1985-11-20 JP JP25860985A patent/JPS62123922A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0363971A (ja) * | 1989-08-02 | 1991-03-19 | Fujitsu Ltd | アレイディスク装置およびそのデータ読み出し方法 |
| US5793727A (en) * | 1989-08-02 | 1998-08-11 | Kazuhiko Ishibashi | Array disk system and method of writing and reading data in array disk system |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0417016B2 (ja) | 1992-03-25 |
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