JPS62103895A - 半導体メモリおよびその動作方法 - Google Patents
半導体メモリおよびその動作方法Info
- Publication number
- JPS62103895A JPS62103895A JP61184389A JP18438986A JPS62103895A JP S62103895 A JPS62103895 A JP S62103895A JP 61184389 A JP61184389 A JP 61184389A JP 18438986 A JP18438986 A JP 18438986A JP S62103895 A JPS62103895 A JP S62103895A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- column
- address
- mode
- row
- latch
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 28
- 230000015654 memory Effects 0.000 claims description 40
- 230000003068 static effect Effects 0.000 claims description 28
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 9
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 20
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 9
- 102100038920 Alpha-S1-casein Human genes 0.000 description 3
- 101000741048 Homo sapiens Alpha-S1-casein Proteins 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 238000003491 array Methods 0.000 description 2
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 102220060025 rs141586345 Human genes 0.000 description 2
- 101001130509 Homo sapiens Ras GTPase-activating protein 1 Proteins 0.000 description 1
- 102100031426 Ras GTPase-activating protein 1 Human genes 0.000 description 1
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 230000001364 causal effect Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000007480 spreading Effects 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/22—Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1015—Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
- G11C7/1018—Serial bit line access mode, e.g. using bit line address shift registers, bit line address counters, bit line burst counters
- G11C7/1027—Static column decode serial bit line access mode, i.e. using an enabled row address stroke pulse with its associated word line address and a sequence of enabled bit line addresses
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1015—Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
- G11C7/1045—Read-write mode select circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/18—Address timing or clocking circuits; Address control signal generation or management, e.g. for row address strobe [RAS] or column address strobe [CAS] signals
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Dram (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明はベージセードまたはスタティックカラム(列)
デコードモードのいずれかでアクセス可能な半導体メ七
りおよびその動作り法に関する。
デコードモードのいずれかでアクセス可能な半導体メ七
りおよびその動作り法に関する。
(従来の技術)
半導体技術の進歩は高密度、高速度の回路をもたらした
。動作速度すなわら応答時間によって情報が記憶位置か
らアクセスされたり、情報がそこに周込まれたりするこ
とが可能な最小時間が決定される。情報がメモリアレイ
においでアクセスでさる速度を決定するいくつかの要因
がある。それは、行ダ1アドレスに対する中間ラッチ、
タイミング信号の発生、バッファ遅延などである。これ
らの要因のうちには設計に依存づるものがあり、たとえ
ば、許されたアクセスの館に所定の数の論理ステップを
必要とする、メモリアレイにアクビスするのに用いられ
るタイミング信号の順序がその例である。応答時間に影
響を与える他の要因には回路そのものに起因するものが
ある。
。動作速度すなわら応答時間によって情報が記憶位置か
らアクセスされたり、情報がそこに周込まれたりするこ
とが可能な最小時間が決定される。情報がメモリアレイ
においでアクセスでさる速度を決定するいくつかの要因
がある。それは、行ダ1アドレスに対する中間ラッチ、
タイミング信号の発生、バッファ遅延などである。これ
らの要因のうちには設計に依存づるものがあり、たとえ
ば、許されたアクセスの館に所定の数の論理ステップを
必要とする、メモリアレイにアクビスするのに用いられ
るタイミング信号の順序がその例である。応答時間に影
響を与える他の要因には回路そのものに起因するものが
ある。
メしリアレイにアクセスする際には、列アドレスおよび
行アドレスを装置に入力し、通常は、それぞれtlJア
ドレスストローブ(CAS)および行アドレスストロー
ブ(RAS)によって列ラッチおよび行ラップ−にス1
〜ローブされる。通常のメモリにおけるRASおよびC
ASはそのメモリの1位置へのアクセスを可能にする。
行アドレスを装置に入力し、通常は、それぞれtlJア
ドレスストローブ(CAS)および行アドレスストロー
ブ(RAS)によって列ラッチおよび行ラップ−にス1
〜ローブされる。通常のメモリにおけるRASおよびC
ASはそのメモリの1位置へのアクセスを可能にする。
別の位置のためにはこのサイクルを固+4の遅延をもっ
て繰返づことが必要である。ある特定の応用に対してア
クセス時間を増大させるためにこれまで用いられたいく
つかの七−ドがある。ひとつの方法は[ベージングJで
あり、他の方法は[スタティックカラム(列)デコード
1ぐある。ページ〔−ドでは、行アドレスが行アドレス
ラッチにストローブされ、メ七り7レイ内の行を選択す
る。その後、特定のり1jにアクセスザるのにアドレス
によって追跡されるCASを発生りることが必要になる
にすぎない。
て繰返づことが必要である。ある特定の応用に対してア
クセス時間を増大させるためにこれまで用いられたいく
つかの七−ドがある。ひとつの方法は[ベージングJで
あり、他の方法は[スタティックカラム(列)デコード
1ぐある。ページ〔−ドでは、行アドレスが行アドレス
ラッチにストローブされ、メ七り7レイ内の行を選択す
る。その後、特定のり1jにアクセスザるのにアドレス
によって追跡されるCASを発生りることが必要になる
にすぎない。
別のアドレスによって追跡される連続したCΔS信号は
特定の行の各列が、所定の行においてアクセスされた各
メモリ位置に対づるRASを発生させなくと6アクセス
されるようにする。これによってRASの発生とCAS
の発生の間に要求される遅延が除かれ、これによってア
クレス速度が増大される。
特定の行の各列が、所定の行においてアクセスされた各
メモリ位置に対づるRASを発生させなくと6アクセス
されるようにする。これによってRASの発生とCAS
の発生の間に要求される遅延が除かれ、これによってア
クレス速度が増大される。
スタティックカラム(列)デコード[−ドでは、列アド
レスラッチは備えられない。逆に、列アドレスを列デコ
ーダに送ったまま、1−17ドレスをラッチする行アド
レスラッチだけが協えられる。iテアドレスを行アドレ
スラッチにラッチJることによって所定の行を選択した
後、列アドレスを非同期的に入力するだけでよい。列ア
ドレスが入力されるとすぐに、列デコーダはそれをデコ
ードし、列線の1つを活性化する。したがっr、)1デ
コーダの固自の遅延および各メ[リセルの固自のアクセ
ス詩間だt)によって列アドレスの発生と有効データの
遅延が決定される。列アドレスラッチまたはデータを効
宋的にラッチづるのに要求されるタイミング(5号の結
果として生じるyt延はない。
レスラッチは備えられない。逆に、列アドレスを列デコ
ーダに送ったまま、1−17ドレスをラッチする行アド
レスラッチだけが協えられる。iテアドレスを行アドレ
スラッチにラッチJることによって所定の行を選択した
後、列アドレスを非同期的に入力するだけでよい。列ア
ドレスが入力されるとすぐに、列デコーダはそれをデコ
ードし、列線の1つを活性化する。したがっr、)1デ
コーダの固自の遅延および各メ[リセルの固自のアクセ
ス詩間だt)によって列アドレスの発生と有効データの
遅延が決定される。列アドレスラッチまたはデータを効
宋的にラッチづるのに要求されるタイミング(5号の結
果として生じるyt延はない。
ページモードを用いるにはRAS入力とCAS人力の両
方と内部ラッチが必要であり、他方スタティック列デコ
ードモードを用いる場合はRAS入力だ【Jでよい。し
たがって、両方のモードは現存の回路では両立できるも
のではない。それ故、ページモード装置に対して要求さ
れるビンの数を増大させないで同じ装置上で集積ページ
モードおよびスタティックデコードモードを有するメモ
リが要望される。
方と内部ラッチが必要であり、他方スタティック列デコ
ードモードを用いる場合はRAS入力だ【Jでよい。し
たがって、両方のモードは現存の回路では両立できるも
のではない。それ故、ページモード装置に対して要求さ
れるビンの数を増大させないで同じ装置上で集積ページ
モードおよびスタティックデコードモードを有するメモ
リが要望される。
(発明の概要)
本明細書で開示され、特許請求の範囲に示されている本
発明はページモードまたはスタティックカラム(列)デ
コードモードのいずれかで動作可能な半導体メモリに関
する。メモリは行列状に配列された素子のアレイからな
り、メモリ素子へのアクセスは行または列の1つを選択
することによって与えられる。行はRASの受信に応答
して行アドレスラッチに行アドレスを受け、ラッチし、
そのラッチされたアドレスをアレイの語線の1つを活性
化することによってアクセスされる。列はページモード
、または透明な列アドレスラッチを用いたスタデイツク
タ11γ]−ドモードのいずれかによってアクセスされ
る1、透明ラッチはページモードで動作可能で、夕11
アドレスストローブの受信に応答して列デコーダによっ
てデ]〜ドするために列アドレスをラッチするものであ
る。スタティック列デコードモードでは、透明ラッチは
透明になっていて、アクセスが列アドレスが存在する間
Iご【ノ維持されるように列アドレスを列デコーダに与
える。RASとCASの順序を検出して透明ラッチを制
御する順序検出器が備えられる。RASがCASより先
に来る場合はベージ゛モードが選択され、CASがRA
Sより先に来る場合はスタティック列デコードモードが
選択される。
発明はページモードまたはスタティックカラム(列)デ
コードモードのいずれかで動作可能な半導体メモリに関
する。メモリは行列状に配列された素子のアレイからな
り、メモリ素子へのアクセスは行または列の1つを選択
することによって与えられる。行はRASの受信に応答
して行アドレスラッチに行アドレスを受け、ラッチし、
そのラッチされたアドレスをアレイの語線の1つを活性
化することによってアクセスされる。列はページモード
、または透明な列アドレスラッチを用いたスタデイツク
タ11γ]−ドモードのいずれかによってアクセスされ
る1、透明ラッチはページモードで動作可能で、夕11
アドレスストローブの受信に応答して列デコーダによっ
てデ]〜ドするために列アドレスをラッチするものであ
る。スタティック列デコードモードでは、透明ラッチは
透明になっていて、アクセスが列アドレスが存在する間
Iご【ノ維持されるように列アドレスを列デコーダに与
える。RASとCASの順序を検出して透明ラッチを制
御する順序検出器が備えられる。RASがCASより先
に来る場合はベージ゛モードが選択され、CASがRA
Sより先に来る場合はスタティック列デコードモードが
選択される。
(実施例)
第1図には、ページモードおよびスタティック列デコー
ド(SCD)モードでメ〔す7レイ10にアクセス動作
可能な半導体メモリの概略ブ[1ツク図が示されている
。メモリアレイ10は行列状に配列されたメモリ素子の
従来のアレイである。
ド(SCD)モードでメ〔す7レイ10にアクセス動作
可能な半導体メモリの概略ブ[1ツク図が示されている
。メモリアレイ10は行列状に配列されたメモリ素子の
従来のアレイである。
これは、リードオンリメモリ(ROM)でもラングl−
アクセスメモリ(RAM)でよい。RAMアレイの1つ
の例は、1976年2月24日、北用に付与された米国
特許第3.940.747号おJ:び1978年3月2
0、ホワイト(White )等に付与された米国特許
第4.081.701@(両方ともテキサスインスツル
メンツ社に譲渡されでいる)に開示されている。アレイ
10のメモリ素子は行を選択する複数語線12の1つお
よび所雫の列(単数又は複数)を選択する複数Yデコー
ド線(図示せず〉の1つを活性化(起動)することによ
ってアクセスされる。
アクセスメモリ(RAM)でよい。RAMアレイの1つ
の例は、1976年2月24日、北用に付与された米国
特許第3.940.747号おJ:び1978年3月2
0、ホワイト(White )等に付与された米国特許
第4.081.701@(両方ともテキサスインスツル
メンツ社に譲渡されでいる)に開示されている。アレイ
10のメモリ素子は行を選択する複数語線12の1つお
よび所雫の列(単数又は複数)を選択する複数Yデコー
ド線(図示せず〉の1つを活性化(起動)することによ
ってアクセスされる。
アドレスはアドレス線14から7ドレスバス16に入力
される。アドレスバス16は行アドレスラッチ18に入
力され、また列アドレス透明ラッチ20にも入力される
。線14上のアドレスは多重化されて、まず行アドレス
が行アドレスラッチに人力され、次に列アドレスが列ア
ドレスラッチ20に入力される。行アドレスラッチ18
は次にバス22を介して行ノ゛コード回路2な出力され
、その回路の出力番、L語線12を含んでいる。同様に
して、列7ドレスラツチ20はラッチ7ドレスバス28
を介して列デコーダ26の入力に列アドレスをラッチす
る。次に述べるように、列アドレスラッチ20は2つの
動作モードを有している。第1のモードでは、列アドレ
スス1〜11−ブの受信に応答してデータをラッチする
ラツ升として動作し、第2のモードではアドレスバス1
6とラッチ7/ドレスバス28を結合して「透明」とな
る。第1のモードはページングを可能にし、第2のモー
ドはスタティック列デコードモード“”SCD”rの動
作を可能にする。列アドレスラッチ20は、RASおよ
びCAS信号を受信し、1でAsがCASに先行するか
、CASがRASに先行するかを決定するR A S
/ CA S順序検出回路によって制御される。検出器
30は、RASが先行づるときに高で、CASが先行す
るときに低であるR B G信号を出力する。RB G
は、行アドレスラッチ20の動作モードを決めるように
その動作を制御するY1ネーブル回路31に入力される
。
される。アドレスバス16は行アドレスラッチ18に入
力され、また列アドレス透明ラッチ20にも入力される
。線14上のアドレスは多重化されて、まず行アドレス
が行アドレスラッチに人力され、次に列アドレスが列ア
ドレスラッチ20に入力される。行アドレスラッチ18
は次にバス22を介して行ノ゛コード回路2な出力され
、その回路の出力番、L語線12を含んでいる。同様に
して、列7ドレスラツチ20はラッチ7ドレスバス28
を介して列デコーダ26の入力に列アドレスをラッチす
る。次に述べるように、列アドレスラッチ20は2つの
動作モードを有している。第1のモードでは、列アドレ
スス1〜11−ブの受信に応答してデータをラッチする
ラツ升として動作し、第2のモードではアドレスバス1
6とラッチ7/ドレスバス28を結合して「透明」とな
る。第1のモードはページングを可能にし、第2のモー
ドはスタティック列デコードモード“”SCD”rの動
作を可能にする。列アドレスラッチ20は、RASおよ
びCAS信号を受信し、1でAsがCASに先行するか
、CASがRASに先行するかを決定するR A S
/ CA S順序検出回路によって制御される。検出器
30は、RASが先行づるときに高で、CASが先行す
るときに低であるR B G信号を出力する。RB G
は、行アドレスラッチ20の動作モードを決めるように
その動作を制御するY1ネーブル回路31に入力される
。
メモリは、RAS、CΔS信号を受信し種々のタイミン
グ信号を発生り゛るクロック発生器制御回路32に発生
されるその種々のタイミング信号によって制御される。
グ信号を発生り゛るクロック発生器制御回路32に発生
されるその種々のタイミング信号によって制御される。
これらのタイミング信号はCAS 2または1で△Sの
遅延表示でもよく、また、一般的に7レイ10へのアク
セスを制御する発生しlこ種々のタイミング信号の論理
関数でもよい。
遅延表示でもよく、また、一般的に7レイ10へのアク
セスを制御する発生しlこ種々のタイミング信号の論理
関数でもよい。
人力/出力ii制御回路(Ilo)34は人力データを
出力データにインタフェース覆るために備えられ、RE
AD/WRt TE信Q (R/W) ニJ:ツて制御
されて、データがメモリアレイ10へ入力されるのかそ
れとbそこから出力されるのかを制υ11ツる。ここで
メモリアレイ10はRAMである。
出力データにインタフェース覆るために備えられ、RE
AD/WRt TE信Q (R/W) ニJ:ツて制御
されて、データがメモリアレイ10へ入力されるのかそ
れとbそこから出力されるのかを制υ11ツる。ここで
メモリアレイ10はRAMである。
動イ1の際には、順序検出回路30 G、t RA S
と0ΔSの順序の関数としてRBCを発生するように設
計される。RASがCASに先行づ−る場合は、回路は
ページモードで動作し、RBGは高である。
と0ΔSの順序の関数としてRBCを発生するように設
計される。RASがCASに先行づ−る場合は、回路は
ページモードで動作し、RBGは高である。
Y]−ネーブル信号が連続的なCASAs信号信に応答
しC発生し、新アドレスをラッチづる。しかS CD
U−ドで動作し、行アドレスラッチ20は透明形状にど
かれて連続した列アドレスが列デ二]−ダ26に非同期
的に入力できるようになる。
しC発生し、新アドレスをラッチづる。しかS CD
U−ドで動作し、行アドレスラッチ20は透明形状にど
かれて連続した列アドレスが列デ二]−ダ26に非同期
的に入力できるようになる。
第2図には、ページモードの動作のタイミング図が示さ
れている。ページモードでは、移行36によって示され
るJ:うに、RASは[RASAs信号理高から論理低
に変化させることによって最初に発生づる。この移行3
6によって、因果関係矢印40によって示されるような
低状態から高状態へ移行38すなわら信号R12を含む
移fi 38が発生する。信号R12はバ延反転RA
S信号で、行アドレスラッチ18を制御してそこにアド
レスをラッチする様動作できる。行アドレスラッチ18
にラッチされたアドレスはアドレスXoによって表わさ
れる。ざらに、移行38ぐの[で12によってYエネー
ブル信号(VAN)が高から低へ移行して列アドレスを
列デコーダ26に)a続させられる。
れている。ページモードでは、移行36によって示され
るJ:うに、RASは[RASAs信号理高から論理低
に変化させることによって最初に発生づる。この移行3
6によって、因果関係矢印40によって示されるような
低状態から高状態へ移行38すなわら信号R12を含む
移fi 38が発生する。信号R12はバ延反転RA
S信号で、行アドレスラッチ18を制御してそこにアド
レスをラッチする様動作できる。行アドレスラッチ18
にラッチされたアドレスはアドレスXoによって表わさ
れる。ざらに、移行38ぐの[で12によってYエネー
ブル信号(VAN)が高から低へ移行して列アドレスを
列デコーダ26に)a続させられる。
I(As信号の発生後、CASAs信号移行42によっ
て示されているように、CASの論理状態を高から低へ
変化c5’t!ることによって発生する。
て示されているように、CASの論理状態を高から低へ
変化c5’t!ることによって発生する。
移行42によって、遅延反転CASAs信号る信号C2
上に移行43が発生する。C2信号は、VANを高にさ
け、アドレスをラッチ20にラッチさせる。その後、C
ASは高にされ、次に移行4なよって示されるように低
にされる。VANはCASによって再び低に引かれ(ト
グルされ)列アドレスY1を列アドレスラッチ20にラ
ッチされる。その後、次の911アドレスY2〜Yoは
列アドレスラッチ20にラッチされ、残りの列位置を行
X。にアドレス指定J゛る。ページの最後には、移行4
6によって示されるように再び高にされ、その次にRA
Sが移行48によって示されるように高にされる。
上に移行43が発生する。C2信号は、VANを高にさ
け、アドレスをラッチ20にラッチさせる。その後、C
ASは高にされ、次に移行4なよって示されるように低
にされる。VANはCASによって再び低に引かれ(ト
グルされ)列アドレスY1を列アドレスラッチ20にラ
ッチされる。その後、次の911アドレスY2〜Yoは
列アドレスラッチ20にラッチされ、残りの列位置を行
X。にアドレス指定J゛る。ページの最後には、移行4
6によって示されるように再び高にされ、その次にRA
Sが移行48によって示されるように高にされる。
RASがCASに先行する場合、CASの前にRASを
示t R13Cは移行50によって示されるように低か
ら高に[げられる。次に説明するように、この信号は一
部でVAN信号の動性を決定する。書込信号(W)も、
メモリが書込モードにあるか、読取モードにあるかを決
定するその状態で発生する。読取モードぐはWは高にさ
れ、書込モードではWは低にされる。図示されてはいな
いが、通常のタイミングでは、デコーダJ3よび(れに
関連したアクセス回路の整定を許づ一定量の遅延の後に
データがアクセスメモリ位置に書込まれることが必要で
ある。
示t R13Cは移行50によって示されるように低か
ら高に[げられる。次に説明するように、この信号は一
部でVAN信号の動性を決定する。書込信号(W)も、
メモリが書込モードにあるか、読取モードにあるかを決
定するその状態で発生する。読取モードぐはWは高にさ
れ、書込モードではWは低にされる。図示されてはいな
いが、通常のタイミングでは、デコーダJ3よび(れに
関連したアクセス回路の整定を許づ一定量の遅延の後に
データがアクセスメモリ位置に書込まれることが必要で
ある。
第3図にはS CDモードのタイミング図が示されてい
る。このモードでは、まずCASが、移行52よって示
されるように低にされ、その後で、RA Sが移行5な
よって示されるように低にされる。移行5なよって1で
12は移行56によって示されるように高にされる。語
線12のうちの1本を選択するために、移行56によっ
てアドレスバス16上のアドレスX。が行アドレスラッ
チ18にラッチされる。一定量の遅延の後で、VANは
、移行58ににって示されるように1で12および移行
56によって低にされ、低のまま続く。この間、Yo〜
Y11がアドレスバス16に実同期的に人力される。こ
のモードにおける行アドレスラッチ20は、9月デコー
ダ26がバス28を介してアドレスバス16に直線接続
されるように「透明」である。したがって、アクセス遅
延は、透明ラッチ20、列デコーダ26およびメモリア
レイ10の内部遅延だけの関数である。第2図のページ
モードで必要であったような、CASを発生し、一定時
間待機し、バス上にアドレスを置くという要求から生じ
るタイミング遅延は存在しない。SOD七−ドでは、C
ASがRASに先行するからRBGは低に維持される。
る。このモードでは、まずCASが、移行52よって示
されるように低にされ、その後で、RA Sが移行5な
よって示されるように低にされる。移行5なよって1で
12は移行56によって示されるように高にされる。語
線12のうちの1本を選択するために、移行56によっ
てアドレスバス16上のアドレスX。が行アドレスラッ
チ18にラッチされる。一定量の遅延の後で、VANは
、移行58ににって示されるように1で12および移行
56によって低にされ、低のまま続く。この間、Yo〜
Y11がアドレスバス16に実同期的に人力される。こ
のモードにおける行アドレスラッチ20は、9月デコー
ダ26がバス28を介してアドレスバス16に直線接続
されるように「透明」である。したがって、アクセス遅
延は、透明ラッチ20、列デコーダ26およびメモリア
レイ10の内部遅延だけの関数である。第2図のページ
モードで必要であったような、CASを発生し、一定時
間待機し、バス上にアドレスを置くという要求から生じ
るタイミング遅延は存在しない。SOD七−ドでは、C
ASがRASに先行するからRBGは低に維持される。
それ故、ページモードおよびSCDモードの両方が、R
ASおよびCASが発生する順序によって決定されるモ
ード選択で甲−の装置に存在する。
ASおよびCASが発生する順序によって決定されるモ
ード選択で甲−の装置に存在する。
第4図には、第1図の順序検出回路30の拡大ブロック
図が示されている。CASとR12が3人力NORゲー
ト70の2人力に人力され、NANDゲート60の出力
は2人力NORゲート70の1人力に接続される。Nへ
NOゲート62の出力は2つの直列接続のインバータ6
4および65を介して出力R8Gに入力される。
図が示されている。CASとR12が3人力NORゲー
ト70の2人力に人力され、NANDゲート60の出力
は2人力NORゲート70の1人力に接続される。Nへ
NOゲート62の出力は2つの直列接続のインバータ6
4および65を介して出力R8Gに入力される。
NΔNDゲート62の出力はまた、2人力N A N
+)ゲート68の1人力に入力され、他の入力は1く1
2に接続される。、、NANDゲート68の出力はNA
NOゲート62の他方の入力、およびNANDゲート7
0の1人力に接続される。
+)ゲート68の1人力に入力され、他の入力は1く1
2に接続される。、、NANDゲート68の出力はNA
NOゲート62の他方の入力、およびNANDゲート7
0の1人力に接続される。
NANDゲート62の出力はまた、NORゲート72の
1人力に入力され、NORゲート72の出力はNAND
ゲート60の第3人力に接続される。
1人力に入力され、NORゲート72の出力はNAND
ゲート60の第3人力に接続される。
NORグー1−74は、信号R11に接続された1人力
と、NORグー1−72の他方の入力およびNORゲー
ト76の1人力の両方に接続された出力を有している。
と、NORグー1−72の他方の入力およびNORゲー
ト76の1人力の両方に接続された出力を有している。
信号R11はRASの起延形式であり、R12に対して
反転されCいる。N O+’?ゲート76の出力はN
ORゲート74の他方入力に接続される。
反転されCいる。N O+’?ゲート76の出力はN
ORゲート74の他方入力に接続される。
NORゲート70の出力はnチャンネルトランジスタ7
8およびnチャンネルトランジスタ8゜のゲートに接続
される。「1チヤンネル80は接地されたソースおよび
ノード82(これはORゲート76の他方入力に接続さ
れている)に接続されたドレインを有している。nチャ
ンネルトランジスタ84はそのゲートをR11に接続し
てノード82と大地の間に接続される。ノード82は2
つの直列接続のnチ17ンネルトランジスタ86および
88を介して接地され、トランジスタ88のゲートはV
ccに接続され、トランジスタ86のゲートはCA S
1.: JE続されている。トランジスタ78はノー
ド82に接続されたドレインとnチャンネルトランジス
タ90のドレインに接続されたソースをイ1している。
8およびnチャンネルトランジスタ8゜のゲートに接続
される。「1チヤンネル80は接地されたソースおよび
ノード82(これはORゲート76の他方入力に接続さ
れている)に接続されたドレインを有している。nチャ
ンネルトランジスタ84はそのゲートをR11に接続し
てノード82と大地の間に接続される。ノード82は2
つの直列接続のnチ17ンネルトランジスタ86および
88を介して接地され、トランジスタ88のゲートはV
ccに接続され、トランジスタ86のゲートはCA S
1.: JE続されている。トランジスタ78はノー
ド82に接続されたドレインとnチャンネルトランジス
タ90のドレインに接続されたソースをイ1している。
1ヘランジスタ90はCASに接IAされたゲートとn
チャンネルトランジスタ92のドレインに接続されたソ
ースを有している。トランジスタ92はR11に接続さ
れたゲートとVCCに接続されたソースを有している。
チャンネルトランジスタ92のドレインに接続されたソ
ースを有している。トランジスタ92はR11に接続さ
れたゲートとVCCに接続されたソースを有している。
動作に際しては、第4図の回路はRASがCASの前に
生じるときに1つのモードで動作し、CA S /J<
RA Sの前に生じるときは別のモードで動作する。
生じるときに1つのモードで動作し、CA S /J<
RA Sの前に生じるときは別のモードで動作する。
第1の七−ド(これはページモードである)ではRBC
は低から高になる。第2のモードでは、CASがRA
Sの前に起ることの結果といずれかが変化Jる以前は、
RBCはNANDゲ−l−62の出力が低であることの
結果として低である。これ(よNΔNDゲート62の入
力が両方とbOである)ζめである。したがって、NA
NDゲート60の出力は高eある。NANDゲート60
の出力はCASの反転たるR12が低であるため1!′
Sに維持される。R12が変化するまでNANDゲート
60の出力は高に糾持される。[<ΔSが変化する+f
i口よR12は高であるからNANDゲート60の出力
は両方とら低である。これによってN A N +)ゲ
ート7oの他方入力は高に維持される。
は低から高になる。第2のモードでは、CASがRA
Sの前に起ることの結果といずれかが変化Jる以前は、
RBCはNANDゲ−l−62の出力が低であることの
結果として低である。これ(よNΔNDゲート62の入
力が両方とbOである)ζめである。したがって、NA
NDゲート60の出力は高eある。NANDゲート60
の出力はCASの反転たるR12が低であるため1!′
Sに維持される。R12が変化するまでNANDゲート
60の出力は高に糾持される。[<ΔSが変化する+f
i口よR12は高であるからNANDゲート60の出力
は両方とら低である。これによってN A N +)ゲ
ート7oの他方入力は高に維持される。
さらに、これによってNANDゲート70の−・方入力
を高にJ゛る。NORゲート74はR11人力′C高で
、それによって出力が低になる。この低出力はNORゲ
ート72およびNotざゲート76の両方に入力される
。NORゲート72はまた、NANDゲート62の出力
から受【ノた低入力を有し、そのため出力は高になり、
それがNANDゲーj・60の入力と’tKる。CAS
は高で、トランジスタ86がターンオンされ、ノード8
2が接地ざれ、イれに五つCN ORゲート76の他方
入力が低と(iる。ぞれによってその出力が高となり、
続いUNORグー1へ74の他方入力が高となる。
を高にJ゛る。NORゲート74はR11人力′C高で
、それによって出力が低になる。この低出力はNORゲ
ート72およびNotざゲート76の両方に入力される
。NORゲート72はまた、NANDゲート62の出力
から受【ノた低入力を有し、そのため出力は高になり、
それがNANDゲーj・60の入力と’tKる。CAS
は高で、トランジスタ86がターンオンされ、ノード8
2が接地ざれ、イれに五つCN ORゲート76の他方
入力が低と(iる。ぞれによってその出力が高となり、
続いUNORグー1へ74の他方入力が高となる。
NΔNDゲー1−62の出力状態を変化させるためには
、NΔN l)ゲート60の3つの入力全部高にされh
1ノれば/I′らない。CASが低になる前に高になる
と、N A N Dゲート60の3人力全部高になり、
その出力は低となる。NΔNDゲート60の出が低たと
、NANDゲート62の出力が高どなり、さらにRB
Cが高になる。NANDグー1−62の高出力i、LN
A N Dゲート68に入力され、他方の入力はR1
2が高になる結果として高になる。NANDグー1−6
8の出力はNANDゲート62の出力からの高入力の結
果とじて低となり、ぞの低出力がラッチされる。NAN
Dゲート68からの(IX出力はNANDゲート70に
も入力され、その出力を低から高へ変化させ、トランジ
スタ80をターンオンしてノード80を低に維持する。
、NΔN l)ゲート60の3つの入力全部高にされh
1ノれば/I′らない。CASが低になる前に高になる
と、N A N Dゲート60の3人力全部高になり、
その出力は低となる。NΔNDゲート60の出が低たと
、NANDゲート62の出力が高どなり、さらにRB
Cが高になる。NANDグー1−62の高出力i、LN
A N Dゲート68に入力され、他方の入力はR1
2が高になる結果として高になる。NANDグー1−6
8の出力はNANDゲート62の出力からの高入力の結
果とじて低となり、ぞの低出力がラッチされる。NAN
Dゲート68からの(IX出力はNANDゲート70に
も入力され、その出力を低から高へ変化させ、トランジ
スタ80をターンオンしてノード80を低に維持する。
さらに、「ぐ11が倶になると、NORゲート74の−
1)入力が低となる。しかし、NORゲート74の出力
(,1変化しない3、したがって[〈12によってRB
Cが高になる。N O)<ゲートはまた、NANDゲ
ー1−62の出力が高になる結果としてその出力状態を
高から低へ変える。これによってNANDグー1−60
の出力が八に戻り、NANDグー1−62の高出力をラ
ッチηる。
1)入力が低となる。しかし、NORゲート74の出力
(,1変化しない3、したがって[〈12によってRB
Cが高になる。N O)<ゲートはまた、NANDゲ
ー1−62の出力が高になる結果としてその出力状態を
高から低へ変える。これによってNANDグー1−60
の出力が八に戻り、NANDグー1−62の高出力をラ
ッチηる。
CASが低になると、トランジスタ86はターンオフさ
れ、トランジスタ90はターンオフされる。1で11も
低だから、トランジスタ92がオンで、トランジスタ8
4はオフとなる。しかし、NANDゲート70はトラン
ジスタ8oをオフに保ら、ノード82を低に保つ。lR
12が低に戻ると、NANDゲート68の出力は高に戻
り、NAND’7’−1−62(7)入カバ両方とbn
となり、その出力は低となる。これにJ、ってRBCが
効果的にリセットされる。
れ、トランジスタ90はターンオフされる。1で11も
低だから、トランジスタ92がオンで、トランジスタ8
4はオフとなる。しかし、NANDゲート70はトラン
ジスタ8oをオフに保ら、ノード82を低に保つ。lR
12が低に戻ると、NANDゲート68の出力は高に戻
り、NAND’7’−1−62(7)入カバ両方とbn
となり、その出力は低となる。これにJ、ってRBCが
効果的にリセットされる。
CASがRASの前に変化づると、NANDグー(−6
0の出力は高に維持されることになって、NΔNDゲー
ト62の出力状態が変化するのが防止される。これによ
ってRBCが低に保たれる。
0の出力は高に維持されることになって、NΔNDゲー
ト62の出力状態が変化するのが防止される。これによ
ってRBCが低に保たれる。
さ1−)に、ノード82が高となり、これによってN
ORゲート76の出力状態が低に変化する。
ORゲート76の出力状態が低に変化する。
RA S カfi”tE −4−ルト、R11が低とな
り、NORケ−1〜74の入力は2つとも低になり、そ
の出力は1つ1どなる。この高出力はNORゲート72
に入力され、その出力は低となる。これによってNAN
Dゲート60はRASが再び高になるまで禁11−状態
に保たれることになる。したがって、1く△Sがその後
に続<CASの発生によってR13CはRA Sか再び
高になるまで低にラッチされる。
り、NORケ−1〜74の入力は2つとも低になり、そ
の出力は1つ1どなる。この高出力はNORゲート72
に入力され、その出力は低となる。これによってNAN
Dゲート60はRASが再び高になるまで禁11−状態
に保たれることになる。したがって、1く△Sがその後
に続<CASの発生によってR13CはRA Sか再び
高になるまで低にラッチされる。
第5図には、第1図のYエネーブル回路31の概略図が
示されている。CA SはORゲート96の−・六入力
に人力され、他方入力は遅延手段98を介してRASに
接続され、遅延を形成する。このことは1ぐ116同じ
である。ORゲート96の出力は遅延手段102を介し
てインバータ100に人力される。インバータ100の
出力はN A N +)ゲー1へ104の一方入力に入
力される。
示されている。CA SはORゲート96の−・六入力
に人力され、他方入力は遅延手段98を介してRASに
接続され、遅延を形成する。このことは1ぐ116同じ
である。ORゲート96の出力は遅延手段102を介し
てインバータ100に人力される。インバータ100の
出力はN A N +)ゲー1へ104の一方入力に入
力される。
NANDグー1−104の出力は3人力NANOゲー1
へ106の一つの入力に入力され、それの他の入力は遅
れた回込信号(LW)およびR12に接続される、N
A N l)ゲート106の出力は2つの直列接続イン
バータ110および112を介してノード108に接続
される。ノード108は反転Y−エネーブル信号VAN
を含む。ノード108は、出力がY−エネーブル信号V
A Nを含むインバータ114の人力にも接続される
。
へ106の一つの入力に入力され、それの他の入力は遅
れた回込信号(LW)およびR12に接続される、N
A N l)ゲート106の出力は2つの直列接続イン
バータ110および112を介してノード108に接続
される。ノード108は反転Y−エネーブル信号VAN
を含む。ノード108は、出力がY−エネーブル信号V
A Nを含むインバータ114の人力にも接続される
。
動作においCは、NANDゲート・104の出力の初期
状態は、Rr3 Cが始め低で、インバータ100の出
力が初め低だから高Cある。、ORゲート96、ν延手
段102およびインバータ100から<Kる回路は、R
ASが低のとき、反転遅延CASを与え、それを信号“
’ C2”という。L Wは木造リイクルを除いて通常
島である。1で12は最初は低だからNANDグー1へ
106の出力は高に維持され、VANは高にVANは低
に維持される。RASが低になると、R12は所定の遅
延後高となる。これによってNANDグー1〜106は
低に、VANも低にトグルされる。このことは第2図の
移行116によって表わされている。
状態は、Rr3 Cが始め低で、インバータ100の出
力が初め低だから高Cある。、ORゲート96、ν延手
段102およびインバータ100から<Kる回路は、R
ASが低のとき、反転遅延CASを与え、それを信号“
’ C2”という。L Wは木造リイクルを除いて通常
島である。1で12は最初は低だからNANDグー1へ
106の出力は高に維持され、VANは高にVANは低
に維持される。RASが低になると、R12は所定の遅
延後高となる。これによってNANDグー1〜106は
低に、VANも低にトグルされる。このことは第2図の
移行116によって表わされている。
VANはLWが低になるか(NANDゲート104が低
になるまで低に維持される。NANDゲート104はR
BC,C2の両方とも高になるとき高になる。これはペ
ージモードだけで起こる。したがって、S CDモード
では、第3図の移行58によって示されるように、VA
NはRB Cが常に低であるから低に保たれる。VAN
はRASが高になり、R12が低になるまで低のままで
ある。
になるまで低に維持される。NANDゲート104はR
BC,C2の両方とも高になるとき高になる。これはペ
ージモードだけで起こる。したがって、S CDモード
では、第3図の移行58によって示されるように、VA
NはRB Cが常に低であるから低に保たれる。VAN
はRASが高になり、R12が低になるまで低のままで
ある。
第6図には、アドレスAYO〜AY7に対する列アドレ
ス透明ラッチ20の概略図が示され、便宜上ビットAY
Oに関連したラッチ回路の部分だ1プが示されている。
ス透明ラッチ20の概略図が示され、便宜上ビットAY
Oに関連したラッチ回路の部分だ1プが示されている。
ビットAYOはNORゲート120〈それの他方入力は
VANに接続されている)に入力される。N ORゲー
ト120の出力はインバータ124を介してノード12
2に接続される。nチャンネルパストランジスタ126
は、そのゲートをVANに接続してノード122とノー
ド128の間に接続される。pチャンネルパストランジ
スタ1301.1そのゲートをVANに接続してノード
122どノー1’ 128の間に接続される。2つの直
列1と続インバータ132 J3よび134はノード1
28とノード136の間に接続される。「)チャンネル
パストランジスタ138はそのグー1−をYへNk:接
続しτノード128どノード136の間に接続され、p
チャンネル1−ランジスタ140はそのゲートをVAN
に接続してノード128とノード136の間に接続され
る。ノード136は、2つの1列接続のインバータ14
2お、にび144を介してビットAYOに対する列アド
レスラッチ20の出力に接続される。
VANに接続されている)に入力される。N ORゲー
ト120の出力はインバータ124を介してノード12
2に接続される。nチャンネルパストランジスタ126
は、そのゲートをVANに接続してノード122とノー
ド128の間に接続される。pチャンネルパストランジ
スタ1301.1そのゲートをVANに接続してノード
122どノー1’ 128の間に接続される。2つの直
列1と続インバータ132 J3よび134はノード1
28とノード136の間に接続される。「)チャンネル
パストランジスタ138はそのグー1−をYへNk:接
続しτノード128どノード136の間に接続され、p
チャンネル1−ランジスタ140はそのゲートをVAN
に接続してノード128とノード136の間に接続され
る。ノード136は、2つの1列接続のインバータ14
2お、にび144を介してビットAYOに対する列アド
レスラッチ20の出力に接続される。
動イ′1に際しては、Y A N t、を最初は高だか
ら、パストランジスタ126および130がターンオフ
され、トランジスタ138および140がターンA−ン
される。これによつC1インバータ132の入力状態が
ノード136にラッチされ、その状態はアドレスラッチ
20から出力AYOにラッチされることになる。VAN
が低になると、トランジスタ126および130はター
ンオンされ、トランジスタ138および140はターン
オフされ、AYOの論理状態がノード128に首かれる
。このt−ドでは、ラップは「°透明」である。VAN
がページモードで?X&l戻ると、ビットAYOの論理
状態はインバータ132および134、パストランジス
タ138おJ二び140でラッチされる。
ら、パストランジスタ126および130がターンオフ
され、トランジスタ138および140がターンA−ン
される。これによつC1インバータ132の入力状態が
ノード136にラッチされ、その状態はアドレスラッチ
20から出力AYOにラッチされることになる。VAN
が低になると、トランジスタ126および130はター
ンオンされ、トランジスタ138および140はターン
オフされ、AYOの論理状態がノード128に首かれる
。このt−ドでは、ラップは「°透明」である。VAN
がページモードで?X&l戻ると、ビットAYOの論理
状態はインバータ132および134、パストランジス
タ138おJ二び140でラッチされる。
こうして、ぺ〜ジ1−ドまたはスタティック列デコード
モードのい11゛れかで動作できる半導体メモリが提供
される。1−−ドはRASおよびCASが発生する順序
によ′)で選択される。RASとCA Sの順序を検出
1する回路が備えられ、この回路は透明な列アドレスラ
ッチを動作ざVる。透明列アドレスラップは列アドレス
を列アドレスデコーダに継続的にIり続1J−るか、ペ
ージモードでの動作のためにCA Sのトグルに応答し
てデコーダに情報をラッチするために動作できる。
モードのい11゛れかで動作できる半導体メモリが提供
される。1−−ドはRASおよびCASが発生する順序
によ′)で選択される。RASとCA Sの順序を検出
1する回路が備えられ、この回路は透明な列アドレスラ
ッチを動作ざVる。透明列アドレスラップは列アドレス
を列アドレスデコーダに継続的にIり続1J−るか、ペ
ージモードでの動作のためにCA Sのトグルに応答し
てデコーダに情報をラッチするために動作できる。
好適実施例を耳組に説明した【ノれども、種々の変更、
置換、修1Fが特許請求の範囲によって画定された本発
明の精神、範囲から−1れることなくなしうろことが理
解されるべきである。
置換、修1Fが特許請求の範囲によって画定された本発
明の精神、範囲から−1れることなくなしうろことが理
解されるべきである。
以上の説明に関連しC史に以−トの項を開示覆る3゜(
1) ページモードまたはスタティックカラムデコー
ドt−ドのいずれかでアクセス可能な半導体メモリであ
って、 行列状に配列されたメしり素子アレイ、外部行アドレス
を受け、外部行アドレスストローブ信号の受信に応答し
て該行アドレスによって画定された前記メモリ素子の1
行をアクセスし、前記行アドレスが除去された後でもそ
の行へのアクセスを維持づる行アクレス装置、 外部列アドレスを受け、その列アドレスによって画定さ
れた前記メモリ本子の1列をアクセスし、第1のページ
モードまたは第2のスタティック列デ]−ドモードで動
作可能な列アクレス装置、前記列アドレスおよび外部列
アドレスストロ−ブイ8号の受信に応答して前記列のメ
七り素子にアクセスするために前記第1モードで動作可
能で、0η記列アドレスが除去された後でも前1:C第
1モードでアクセスを維持する前記列アクセス装置、前
記外部アドレスの受信に応答して前記列のメモリ素子に
アクセスするために前記第2のモードぐ動作可能で、前
記列アドレスが存在する場合にのみアクセスを維持する
rfQ記列アクセス装置、および 外部信号を受信し、前記列アクセス装2が働らく面記第
1または第2モードの一方を選択するモード装置、 を備えたことを特徴とする前記半導体メモリ。
1) ページモードまたはスタティックカラムデコー
ドt−ドのいずれかでアクセス可能な半導体メモリであ
って、 行列状に配列されたメしり素子アレイ、外部行アドレス
を受け、外部行アドレスストローブ信号の受信に応答し
て該行アドレスによって画定された前記メモリ素子の1
行をアクセスし、前記行アドレスが除去された後でもそ
の行へのアクセスを維持づる行アクレス装置、 外部列アドレスを受け、その列アドレスによって画定さ
れた前記メモリ本子の1列をアクセスし、第1のページ
モードまたは第2のスタティック列デ]−ドモードで動
作可能な列アクレス装置、前記列アドレスおよび外部列
アドレスストロ−ブイ8号の受信に応答して前記列のメ
七り素子にアクセスするために前記第1モードで動作可
能で、0η記列アドレスが除去された後でも前1:C第
1モードでアクセスを維持する前記列アクセス装置、前
記外部アドレスの受信に応答して前記列のメモリ素子に
アクセスするために前記第2のモードぐ動作可能で、前
記列アドレスが存在する場合にのみアクセスを維持する
rfQ記列アクセス装置、および 外部信号を受信し、前記列アクセス装2が働らく面記第
1または第2モードの一方を選択するモード装置、 を備えたことを特徴とする前記半導体メモリ。
(2) 第(1)項記載の半導体メモリであって、前
記外部信号は前記行および列アドレスス1−ローブ信号
を含み、前記モード装置は前記行および列アドレススト
ローブ信号の順序、前記第1モードを選択する第1の順
序J3よび前記第2モードを選択する第2の反転類1f
を検出する装置を含むことを特徴とするメモリ装置。
記外部信号は前記行および列アドレスス1−ローブ信号
を含み、前記モード装置は前記行および列アドレススト
ローブ信号の順序、前記第1モードを選択する第1の順
序J3よび前記第2モードを選択する第2の反転類1f
を検出する装置を含むことを特徴とするメモリ装置。
(3) 第(1)I′ri記載の半導体メモリであっ
て、前記列アドレス装置は、 前記外部アドレス信号を受信し、前記第1モードC動作
し前記列アドレスストローブ信号の受信に応答して前記
受信列アドレス信号をその出力の!こめにラッチ、格納
し、また前記第2モードで動作して前記1jアドレス1
.4号に対してj古明となる込明列アドレスシッf、J
3よび 前記透明クリアドレスラップによって前記列アドレス出
力を受【ノ、その列アドレスを検出し、その列アドレス
によって画定される1′I;i記メモリ索rの選択列に
アクセス装る列デニ1−ド装f7(。
て、前記列アドレス装置は、 前記外部アドレス信号を受信し、前記第1モードC動作
し前記列アドレスストローブ信号の受信に応答して前記
受信列アドレス信号をその出力の!こめにラッチ、格納
し、また前記第2モードで動作して前記1jアドレス1
.4号に対してj古明となる込明列アドレスシッf、J
3よび 前記透明クリアドレスラップによって前記列アドレス出
力を受【ノ、その列アドレスを検出し、その列アドレス
によって画定される1′I;i記メモリ索rの選択列に
アクセス装る列デニ1−ド装f7(。
(4) 第(3)項に記載の半七′2体メモリであっ
て、前記外部信号は所定の順序C生じる前記行おにび9
11アドレスストロ一ブ信号を含み、+iii記[−一
ド装〜は、 前記行および列アドレスス1−ローブ信号の受信の順序
を検出し、第1順序が検出されたときには第1の状態に
あり第2反対順序が検出されたときには第2状態にある
順序信号を発生・jる順序検出装置および 前記順序信号が第1状態にあるときは前記ラッチモード
で動作し、第2状態にあるとき1.L +’+rr記透
明モードで動作するように前記透明ラップを制罪するエ
ネーブル装置、 を含むことを特徴とする前記半導体、メモリ。
て、前記外部信号は所定の順序C生じる前記行おにび9
11アドレスストロ一ブ信号を含み、+iii記[−一
ド装〜は、 前記行および列アドレスス1−ローブ信号の受信の順序
を検出し、第1順序が検出されたときには第1の状態に
あり第2反対順序が検出されたときには第2状態にある
順序信号を発生・jる順序検出装置および 前記順序信号が第1状態にあるときは前記ラッチモード
で動作し、第2状態にあるとき1.L +’+rr記透
明モードで動作するように前記透明ラップを制罪するエ
ネーブル装置、 を含むことを特徴とする前記半導体、メモリ。
(5) 第(4)項記載の半導体メモリであって、前
記第1モードは前記行アドレスス1−ローブ信号が前記
列アドレスス1−ローブ信シ;に先行するときに選択さ
れ、面記第2モードは前記列アドレスストローブ信号が
前記行アドレスストローブ信号に先行するときに選択さ
−れることを特徴とIjる前記半導体メモリ。
記第1モードは前記行アドレスス1−ローブ信号が前記
列アドレスス1−ローブ信シ;に先行するときに選択さ
れ、面記第2モードは前記列アドレスストローブ信号が
前記行アドレスストローブ信号に先行するときに選択さ
−れることを特徴とIjる前記半導体メモリ。
(6) 第(!l) ]l’l記載の半導体メモリで
あって、その半七゛I体メモリは、+iff記列アドレ
スストローブ信舅が名1に前記行アドレスストローブ信
号に先行するよ−)にその列アドレスストローブ信号を
能1初状態に11ツタすることにJ:つて第2t−ドに
保たれることを特徴とする前記半導体メモリ。
あって、その半七゛I体メモリは、+iff記列アドレ
スストローブ信舅が名1に前記行アドレスストローブ信
号に先行するよ−)にその列アドレスストローブ信号を
能1初状態に11ツタすることにJ:つて第2t−ドに
保たれることを特徴とする前記半導体メモリ。
(7) ページ[−ドまたはスタティックカラム(列
)デコードモードのいずれかでアクセス可能な半導体メ
モリであって、 行1J11状に配列されメモリ素子の7レーrであって
、各素子はそれに関連した前記行おJ:び列の1つを選
択することによってアクセスされるlla記アレアレイ
記列の1つを選択りるために外部的に発生した行アドレ
スをデニ1−ドする?jデて1−ダ、前記行デコーダへ
の出力のために11a記行アドレスを受信、格納し、外
部行アドレススI〜ローブ信号の受信に応答して出力の
ために前記11アドレスを格納する行アドレスラップ、 外部的に発生した列アドレスを受(:)し、それによっ
て画定される前記列の選択された列をアクセスし、ペー
ジモードまたはスタティックカラム(列)デコードモー
ドで前記アレイ中の前記列の選択された列にアクセスす
るよう動作可能な列アクセス装置、 前記列アドレスを受信、格納し、前記列アドレスが所定
の時間の間だけ要求されるに引ざないように前記外部発
生列アドレスが除去された後でb前記選択列へのアクセ
スを維持づるページモードの前記列アクセス装置、 前記アレイ中の前記”S 17<列を受信、アクビスし
、7クゼスは前記列アドレスがr’tイ[する間だ(〕
犀(1持され、+Mi記列アドレスの変化によって、そ
れによって画定される別の列のアクセスが生じる、前記
スタティック列デ:1−ドモードの前記列アクセス装置
、および 外部信号に応答して前記列アクセス装置の前記ページモ
ードまたは前記スタティック列デコード[−ドを選択す
るモード装置 を備えたことを特徴とする前記半導体メモリ。
)デコードモードのいずれかでアクセス可能な半導体メ
モリであって、 行1J11状に配列されメモリ素子の7レーrであって
、各素子はそれに関連した前記行おJ:び列の1つを選
択することによってアクセスされるlla記アレアレイ
記列の1つを選択りるために外部的に発生した行アドレ
スをデニ1−ドする?jデて1−ダ、前記行デコーダへ
の出力のために11a記行アドレスを受信、格納し、外
部行アドレススI〜ローブ信号の受信に応答して出力の
ために前記11アドレスを格納する行アドレスラップ、 外部的に発生した列アドレスを受(:)し、それによっ
て画定される前記列の選択された列をアクセスし、ペー
ジモードまたはスタティックカラム(列)デコードモー
ドで前記アレイ中の前記列の選択された列にアクセスす
るよう動作可能な列アクセス装置、 前記列アドレスを受信、格納し、前記列アドレスが所定
の時間の間だけ要求されるに引ざないように前記外部発
生列アドレスが除去された後でb前記選択列へのアクセ
スを維持づるページモードの前記列アクセス装置、 前記アレイ中の前記”S 17<列を受信、アクビスし
、7クゼスは前記列アドレスがr’tイ[する間だ(〕
犀(1持され、+Mi記列アドレスの変化によって、そ
れによって画定される別の列のアクセスが生じる、前記
スタティック列デ:1−ドモードの前記列アクセス装置
、および 外部信号に応答して前記列アクセス装置の前記ページモ
ードまたは前記スタティック列デコード[−ドを選択す
るモード装置 を備えたことを特徴とする前記半導体メモリ。
(8) 第(7)項に記載の半導体メモリであって、
前記ページモードにある前記列アクセス装置は、外部列
アドレスストローブ信号の受信に応答して出力のために
前記列アドレスをラッチすることを特徴とする前記半導
体メモリ。
前記ページモードにある前記列アクセス装置は、外部列
アドレスストローブ信号の受信に応答して出力のために
前記列アドレスをラッチすることを特徴とする前記半導
体メモリ。
(9) 第(1)項に記載の半導体メモリであって、
前記外部信号は前配列アドレスストローブ、前記行アド
レスストローブ、その発生順序を含み、前記モード装置
は、前記発生順序、前記ページモードを選択する第1の
所定発生順序および前記スタティック列デコードモード
を選択する第2の反対順序を検出する装置を含むことを
特徴とする前記半導体メモリ。
前記外部信号は前配列アドレスストローブ、前記行アド
レスストローブ、その発生順序を含み、前記モード装置
は、前記発生順序、前記ページモードを選択する第1の
所定発生順序および前記スタティック列デコードモード
を選択する第2の反対順序を検出する装置を含むことを
特徴とする前記半導体メモリ。
(10)第(8)項記載の半導体メモリであって、前記
列アクセス装置は、 前記1117ドレスを受信、デコードし、その列アドレ
スによって画定される、前記アレイの前記列のうりの1
つの列を選択する列デコーダおよび、ページモードで動
作して、前記列アドレスストローブ信号の発生に応答し
て出力のために前記列アドレスをラップし、スタフ4フ
9列デコードモードで動作可能で、前記列アドレス/f
t 前記列デコーダの入力に連続して与えられるように
前記列アドレスに透明となる、前記モード装置によって
制御される透明ラッチ、 を含むことを特徴とする前記半導体メモリ。
列アクセス装置は、 前記1117ドレスを受信、デコードし、その列アドレ
スによって画定される、前記アレイの前記列のうりの1
つの列を選択する列デコーダおよび、ページモードで動
作して、前記列アドレスストローブ信号の発生に応答し
て出力のために前記列アドレスをラップし、スタフ4フ
9列デコードモードで動作可能で、前記列アドレス/f
t 前記列デコーダの入力に連続して与えられるように
前記列アドレスに透明となる、前記モード装置によって
制御される透明ラッチ、 を含むことを特徴とする前記半導体メモリ。
(11)第(10)項記載の半導体メモリであって、前
記モード装置は、 前記行アドレスストローブおよび前記列アドレスストロ
ーブの発生順序を検出し、順序検出信号を発生し、その
順序検出信号は前記行アドレスストローブが前記列アド
レスストロ−Iに先行するとぎ前記ページモードに対応
する第1の状態にあり、前記列アドレスストローブが前
記行アドレスストーブーブに先行するとき前記スタティ
ック列デコードセードに対応する第2の状態にある、行
アドレスストローブ/列アドレスストローブ順序検出器
、および 前記順序検出信号が前記列アドレスストローブの受信に
応答して前記列アドレスをラッチする第1の状態にある
どぎにページモードで動作し、前記順序検出信号が第2
の状態にあるときに透明回路としてスタティック列デコ
ードモードで動作するように11を記透明ラッチを制御
するように前記順序検出信号および前記列アドレススト
ローブに応答ψるエネーブル装置、 を含むことを特徴とする前記半導体メモリ。
記モード装置は、 前記行アドレスストローブおよび前記列アドレスストロ
ーブの発生順序を検出し、順序検出信号を発生し、その
順序検出信号は前記行アドレスストローブが前記列アド
レスストロ−Iに先行するとぎ前記ページモードに対応
する第1の状態にあり、前記列アドレスストローブが前
記行アドレスストーブーブに先行するとき前記スタティ
ック列デコードセードに対応する第2の状態にある、行
アドレスストローブ/列アドレスストローブ順序検出器
、および 前記順序検出信号が前記列アドレスストローブの受信に
応答して前記列アドレスをラッチする第1の状態にある
どぎにページモードで動作し、前記順序検出信号が第2
の状態にあるときに透明回路としてスタティック列デコ
ードモードで動作するように11を記透明ラッチを制御
するように前記順序検出信号および前記列アドレススト
ローブに応答ψるエネーブル装置、 を含むことを特徴とする前記半導体メモリ。
(12)第(10)項に記載の半導体メモリであって。
前記列デコードモードは、前記列ラッチが透明であるよ
うに前記列アドレスストローブ信号を能動状態にロック
することによってメモリにロックすることができる前記
半導体メモリ。
うに前記列アドレスストローブ信号を能動状態にロック
することによってメモリにロックすることができる前記
半導体メモリ。
(13)ページモードまたはスタティック列デコードセ
ードのいずれかで半導体メモリを動作させるh法であっ
て、 メ(り素子の1つの選択は関連した行および列の選択に
よってなしうるようにして、それらのメモリ系子を行列
アレイに配列すること、外部的に発生した行アドレスお
よび外部行アドレスストローブ信号の受信に応答して、
その外部発生行アドレスを出力のためにラッチにラッチ
すること、 ラッチされた行アドレスをデコードし、その行アドレス
によって画定された行を選択すること、列アドレス入力
と前記)アレイの間に透明なラッチ/デコーダを配置し
て、外部発生列アドレスを受番ノ、アレイの列の1つを
選択すること、ページモードまたはスタディツク列デコ
ードモードのいずれかで動作するように前記ラッチ・デ
二1−ダを制御するJと、 ページモードの動作は、列アドレスストローブの受信に
応答して列アドレスのデコードのために列アドレスを格
納するように前記ラッチ/デコーダを制御することによ
って容易にされ、アクセスは91]アドレスの継続的な
受信が必要ないように列アドレスが除去された後ひも維
持されること、J3よび スタティック列デコードモードの動作は、前記ラッチ/
デコーダが前記列アドレスを透過するようにa、1It
llして列アドレスの継続的受信がアレイの選択列に対
するアクセスを維持するために必要になるようにするこ
とによって容易にされること、を含むことを特徴とづる
IFj記方法。
ードのいずれかで半導体メモリを動作させるh法であっ
て、 メ(り素子の1つの選択は関連した行および列の選択に
よってなしうるようにして、それらのメモリ系子を行列
アレイに配列すること、外部的に発生した行アドレスお
よび外部行アドレスストローブ信号の受信に応答して、
その外部発生行アドレスを出力のためにラッチにラッチ
すること、 ラッチされた行アドレスをデコードし、その行アドレス
によって画定された行を選択すること、列アドレス入力
と前記)アレイの間に透明なラッチ/デコーダを配置し
て、外部発生列アドレスを受番ノ、アレイの列の1つを
選択すること、ページモードまたはスタディツク列デコ
ードモードのいずれかで動作するように前記ラッチ・デ
二1−ダを制御するJと、 ページモードの動作は、列アドレスストローブの受信に
応答して列アドレスのデコードのために列アドレスを格
納するように前記ラッチ/デコーダを制御することによ
って容易にされ、アクセスは91]アドレスの継続的な
受信が必要ないように列アドレスが除去された後ひも維
持されること、J3よび スタティック列デコードモードの動作は、前記ラッチ/
デコーダが前記列アドレスを透過するようにa、1It
llして列アドレスの継続的受信がアレイの選択列に対
するアクセスを維持するために必要になるようにするこ
とによって容易にされること、を含むことを特徴とづる
IFj記方法。
(14)第(13)項に記載のh法であって、前記制御
スアツブは、 117′ドレススト11−ブおよび列アドレスストロー
ゾの発生の順序を検出し、行アドレスストローブが夕1
1アドレスス1〜〔1−ブに先行ザるときページモード
を選択し、&lIアドレスストローブが行アドレススト
ーブーブに先行するときスタティック列デコードモード
が選択するようにすること、を含むことを特徴とする前
記方法。
スアツブは、 117′ドレススト11−ブおよび列アドレスストロー
ゾの発生の順序を検出し、行アドレスストローブが夕1
1アドレスス1〜〔1−ブに先行ザるときページモード
を選択し、&lIアドレスストローブが行アドレススト
ーブーブに先行するときスタティック列デコードモード
が選択するようにすること、を含むことを特徴とする前
記方法。
第1図は、ページモードまたはスタティック列デ:1−
ド[−ドのいJ゛れかで動作づる、本発明のメモリの概
略ゾ)]ツク図である。 第2図はページモードの動作のタイミング図である。 第3図はスタティック列フ゛]−ド[−ドの動作のタイ
ミング図である。 第4図はRAS/CAS連続検出回路の1118ブ【]
ツク図である。 第5図はYエネーブル回路の論理図である。 第6図は透明列ラッチの論理図である。
ド[−ドのいJ゛れかで動作づる、本発明のメモリの概
略ゾ)]ツク図である。 第2図はページモードの動作のタイミング図である。 第3図はスタティック列フ゛]−ド[−ドの動作のタイ
ミング図である。 第4図はRAS/CAS連続検出回路の1118ブ【]
ツク図である。 第5図はYエネーブル回路の論理図である。 第6図は透明列ラッチの論理図である。
Claims (1)
- (1)ページモードまたはスタティックカラム(列)デ
コードモードのいずれかでアクセス可能な半導体メモリ
であつて、 行列状に配列されたメモリ素子アレイ、 外部行アドレスを受け、外部行アドレスストローブ信号
の受信に応答して該行アドレスによつて画定された前記
メモリ素子の1行をアクセスし、前記行アドレスが除去
された後でもその行へのアクセスを維持する行アクセス
装置、 外部列アドレスを受け、その列アドレスによつて画定さ
れた前記メモリ素子の1列をアクセスし、第1のページ
モードまたは第2のスタティック列デコードモードで動
作可能な列アクセス装置、前記列アドレスおよび外部列
アドレスストローブ信号の受信に応答して前記列のメモ
リ素子にアクセスするために前記第1モードで動作可能
で、前記列アドレスが除去された後でも前記第1モード
でアクセスを維持する前記列アクセス装置、前記外部ア
ドレスの受信に応答して前記列のメモリ素子にアクセス
するために前記第2のモードで動作可能で、前記列アド
レスが存在する場合にのみアクセスを維持する前記列ア
クセス装置、および 外部信号を受信し、前記列アクセス装置が働らく前記第
1または第2モードの一方を選択するモード装置、 を備えたことを特徴とする前記半導体メモリ。(2)ペ
ージモードまたはスタティック列デコードモードのいず
れかで半導体メモリを動作させる方法であつて、 メモリ素子の1つの選択は関連した行および列の選択に
よつてなしうるようにして、それらのメモリ素子を行列
アレイに配列すること、 外部的に発生した行アドレスおよび外部行アドレススト
ローブ信号の受信に応答して、その外部発生行アドレス
を出力のためにラッチにラッチすること、 ラッチされた行アドレスをデコードし、その行アドレス
によつて画定された行を選択すること、列アドレス入力
と前記アレイの間に透明なラッチ/デコーダを配置して
、外部発生列アドレスを受け、アレイの列の1つを選択
すること、 ページモードまたはスタティック列デコードモードのい
ずれかで動作するように前記ラッチ/デコーダを制御す
ること、 ページモードの動作は、列アドレスストローブの受信に
応答して列アドレスのデコードのために列アドレスを格
納するように前記ラッチ/デコーダを制御することによ
つて容易にされ、アクセスは列アドレスの継続的な受信
が必要ないように列アドレスが除去された後でも維持さ
れること、および スタティック列デコードモードの動作は、前記ラッチ/
デコーダが前記列アドレスを透過するように制御して列
アドレスの継続的受信がアレイの選択列に対するアクセ
スを維持するために必要になるようにすることによつて
容易にされること、を含むことを特徴とする前記方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US763483 | 1985-08-07 | ||
US06/763,483 US4750839A (en) | 1985-08-07 | 1985-08-07 | Semiconductor memory with static column decode and page mode addressing capability |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62103895A true JPS62103895A (ja) | 1987-05-14 |
JPH0529989B2 JPH0529989B2 (ja) | 1993-05-06 |
Family
ID=25067950
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61184389A Granted JPS62103895A (ja) | 1985-08-07 | 1986-08-07 | 半導体メモリおよびその動作方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4750839A (ja) |
EP (1) | EP0213395B1 (ja) |
JP (1) | JPS62103895A (ja) |
DE (1) | DE3677672D1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01258294A (ja) * | 1988-04-07 | 1989-10-16 | Nec Corp | ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ |
Families Citing this family (30)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR960003526B1 (ko) | 1992-10-02 | 1996-03-14 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리장치 |
JPS63237296A (ja) * | 1987-03-25 | 1988-10-03 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
US5528551A (en) * | 1987-05-21 | 1996-06-18 | Texas Instruments Inc | Read/write memory with plural memory cell write capability at a selected row address |
US5173878A (en) * | 1987-11-25 | 1992-12-22 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor memory including address multiplexing circuitry for changing the order of supplying row and column addresses between read and write cycles |
EP0333231B1 (en) * | 1988-03-18 | 1995-06-14 | Nec Corporation | Microcomputer system capable of accessing to memory at high speed |
US4933910A (en) * | 1988-07-06 | 1990-06-12 | Zenith Data Systems Corporation | Method for improving the page hit ratio of a page mode main memory system |
US5159676A (en) * | 1988-12-05 | 1992-10-27 | Micron Technology, Inc. | Semi-smart DRAM controller IC to provide a pseudo-cache mode of operation using standard page mode draws |
USRE38379E1 (en) * | 1989-08-28 | 2004-01-06 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor memory with alternately multiplexed row and column addressing |
US5107465A (en) * | 1989-09-13 | 1992-04-21 | Advanced Micro Devices, Inc. | Asynchronous/synchronous pipeline dual mode memory access circuit and method |
US6324120B2 (en) | 1990-04-18 | 2001-11-27 | Rambus Inc. | Memory device having a variable data output length |
IL96808A (en) | 1990-04-18 | 1996-03-31 | Rambus Inc | Introductory / Origin Circuit Agreed Using High-Performance Brokerage |
JPH0682339B2 (ja) * | 1990-08-31 | 1994-10-19 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション | メモリ・アクセス・システムおよび方法 |
US5305277A (en) * | 1991-04-24 | 1994-04-19 | International Business Machines Corporation | Data processing apparatus having address decoder supporting wide range of operational frequencies |
US5260909A (en) * | 1991-11-18 | 1993-11-09 | Nec Electronics Incorporated | Memory with phase locked serial input port |
US5485589A (en) * | 1991-12-31 | 1996-01-16 | Dell Usa, L.P. | Predictive addressing architecture |
US6279116B1 (en) | 1992-10-02 | 2001-08-21 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Synchronous dynamic random access memory devices that utilize clock masking signals to control internal clock signal generation |
JP3344494B2 (ja) * | 1993-03-23 | 2002-11-11 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | ページモードを有するシングルクロックメモリ |
US5379261A (en) * | 1993-03-26 | 1995-01-03 | United Memories, Inc. | Method and circuit for improved timing and noise margin in a DRAM |
US5640527A (en) * | 1993-07-14 | 1997-06-17 | Dell Usa, L.P. | Apparatus and method for address pipelining of dynamic random access memory utilizing transparent page address latches to reduce wait states |
US6185629B1 (en) * | 1994-03-08 | 2001-02-06 | Texas Instruments Incorporated | Data transfer controller employing differing memory interface protocols dependent upon external input at predetermined time |
US6525971B2 (en) | 1995-06-30 | 2003-02-25 | Micron Technology, Inc. | Distributed write data drivers for burst access memories |
US5682354A (en) * | 1995-11-06 | 1997-10-28 | Micron Technology, Inc. | CAS recognition in burst extended data out DRAM |
US5610864A (en) | 1994-12-23 | 1997-03-11 | Micron Technology, Inc. | Burst EDO memory device with maximized write cycle timing |
US5640364A (en) * | 1994-12-23 | 1997-06-17 | Micron Technology, Inc. | Self-enabling pulse trapping circuit |
US5526320A (en) * | 1994-12-23 | 1996-06-11 | Micron Technology Inc. | Burst EDO memory device |
US5729504A (en) * | 1995-12-14 | 1998-03-17 | Micron Technology, Inc. | Continuous burst edo memory device |
US7681005B1 (en) * | 1996-01-11 | 2010-03-16 | Micron Technology, Inc. | Asynchronously-accessible memory device with mode selection circuitry for burst or pipelined operation |
US6981126B1 (en) | 1996-07-03 | 2005-12-27 | Micron Technology, Inc. | Continuous interleave burst access |
US6401186B1 (en) | 1996-07-03 | 2002-06-04 | Micron Technology, Inc. | Continuous burst memory which anticipates a next requested start address |
US7927948B2 (en) | 2005-07-20 | 2011-04-19 | Micron Technology, Inc. | Devices with nanocrystals and methods of formation |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58196671A (ja) * | 1982-05-10 | 1983-11-16 | Hitachi Ltd | 半導体記憶素子 |
JPS5975494A (ja) * | 1982-10-25 | 1984-04-28 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
JPS59139195A (ja) * | 1983-01-26 | 1984-08-09 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4079462A (en) * | 1976-05-07 | 1978-03-14 | Intel Corporation | Refreshing apparatus for MOS dynamic RAMs |
US4303993A (en) * | 1979-10-10 | 1981-12-01 | Honeywell Information Systems Inc. | Memory present apparatus |
JPS5798174A (en) * | 1980-12-09 | 1982-06-18 | Hitachi Ltd | Semiconductor storage device |
JPS58218097A (ja) * | 1982-06-14 | 1983-12-19 | Hitachi Ltd | 高速半導体メモリ |
-
1985
- 1985-08-07 US US06/763,483 patent/US4750839A/en not_active Expired - Lifetime
-
1986
- 1986-07-29 DE DE8686110472T patent/DE3677672D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1986-07-29 EP EP86110472A patent/EP0213395B1/en not_active Expired
- 1986-08-07 JP JP61184389A patent/JPS62103895A/ja active Granted
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58196671A (ja) * | 1982-05-10 | 1983-11-16 | Hitachi Ltd | 半導体記憶素子 |
JPS5975494A (ja) * | 1982-10-25 | 1984-04-28 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
JPS59139195A (ja) * | 1983-01-26 | 1984-08-09 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01258294A (ja) * | 1988-04-07 | 1989-10-16 | Nec Corp | ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0213395B1 (en) | 1991-02-27 |
US4750839A (en) | 1988-06-14 |
JPH0529989B2 (ja) | 1993-05-06 |
DE3677672D1 (de) | 1991-04-04 |
EP0213395A3 (en) | 1988-08-24 |
EP0213395A2 (en) | 1987-03-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS62103895A (ja) | 半導体メモリおよびその動作方法 | |
US5226009A (en) | Semiconductor memory device supporting cache and method of driving the same | |
EP0640980B1 (en) | Semiconductor memory having a plurality of banks | |
US5491703A (en) | Cam with additional row cells connected to match line | |
US5959930A (en) | Multi-bank synchronous semiconductor memory device | |
US5261068A (en) | Dual path memory retrieval system for an interleaved dynamic RAM memory unit | |
US5155705A (en) | Semiconductor memory device having flash write function | |
US5293347A (en) | Semiconductor memory device having read/write operation improved in pipe line processing | |
US7441156B2 (en) | Semiconductor memory device having advanced test mode | |
US6359813B1 (en) | Semiconductor memory device having improved data transfer rate without providing a register for holding write data | |
US7304908B2 (en) | SRAM device capable of performing burst operation | |
US6633504B1 (en) | Synchronous DRAM having test mode in which automatic refresh is performed according to external address and automatic refresh method | |
JP2006190402A (ja) | 半導体装置 | |
US11748198B2 (en) | Apparatuses, systems, and methods for error correction | |
US20110085405A1 (en) | Semiconductor memory device having advanced tag block | |
US5544101A (en) | Memory device having a latching multiplexer and a multiplexer block therefor | |
JPS63106998A (ja) | テスト回路を有する半導体メモリ | |
US6438667B1 (en) | Semiconductor memory and memory system | |
US5566128A (en) | Semiconductor memory device | |
US6219283B1 (en) | Memory device with local write data latches | |
US6359803B1 (en) | Semiconductor memory device that can access two regions alternately at high speed | |
JP3240897B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
USRE41013E1 (en) | Method of and apparatus for providing look ahead column redundancy access within a memory | |
US6735674B2 (en) | Method of maintaining data coherency in late-select synchronous pipeline type semiconductor memory device and data coherency maintaining circuit therefor | |
KR19990085199A (ko) | 칼럼 선택선 신호를 제어하여 데이터를 마스킹하는 반도체 메모리장치 및 이의 칼럼 디코더 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |