JPS62103857A - 光ピツクアツプ装置 - Google Patents

光ピツクアツプ装置

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JPS62103857A
JPS62103857A JP60244659A JP24465985A JPS62103857A JP S62103857 A JPS62103857 A JP S62103857A JP 60244659 A JP60244659 A JP 60244659A JP 24465985 A JP24465985 A JP 24465985A JP S62103857 A JPS62103857 A JP S62103857A
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JP
Japan
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disk
optical element
grating
wavefront
light
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Pending
Application number
JP60244659A
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English (en)
Inventor
Yoshio Miyake
三宅 良雄
Kumio Kasahara
笠原 久美雄
Kenji Tatsumi
辰己 賢二
Ron Wakabayashi
若林 論
Tsutomu Hashimoto
勉 橋本
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、ディスク上にピットで蓄積された情報を光
学的に検出する光ピックアップ装置に関するものである
〔従来の技術」 第4図は例えば光メモリ光磁気メモリ総合技術集成(サ
イエンスフ−ラム発行)10γ頁に示された従来の光ピ
ックアップ装置を示す図であり1図において、(1)は
半導体レーザ、(2)は半導体レーザ光を平行光束に変
換するコリメートレンズ、(3)は半導体レーザからの
出射光とディスクからの反射光を分離するだめのハーフ
ミラ、(4)は集光レンズ。
(5)ぼフォーカシング又はトラッキングエラーを検出
するための光学系で1例えばシリンドリカルレンズやプ
リズムから構成される。(6)は検出器、(7)はディ
スクである。
次VC動作について説明する。半導体レーザからの出射
ビームはコリメートレンズ(2)及び集光レンズ+41
 fc経てディスク(7)に照射される。ディスク(7
)からの反射ビームは集光レンズ(4)によってコリメ
ートされたのちハーフミラ(3)によって反射され。
トラッキングやフォーカス信号検出のだめの光学系(5
)によって適当な形状に変換されたのち検出器(6)に
入る。検出器(6)は通常、2象限又は4象限検出器よ
り形成されておりビーム形状の変化を検出してトラッキ
ングやフォーカス信号を得るとともに、全入射光を検出
してディスク上のピット情報を再生する。
〔発明が解決しようとする問題点] 従来の装置は以上のように、すべての部品が分離されて
構成されているので2組立が複雑であった。また、ハー
フミラ−によって光路を直角にまげているので装置が大
形になった。さらにノ・−フミラーによって光を分離し
てから、フォーカシングやトラッキングのための光学系
をさらに挿入しているため2部品点数が多い難点があっ
た。また。
従来の装置で用いられている球面レンズやプリズム、ハ
ーフミラ−等は重く、これらで構成された元ピックアッ
プは重くなりがちで、このためトラッキングやフォーカ
シングを行なうアクチュエータに負担がかかる欠点があ
った。
この発明は、上記のような問題点を+m消するためにな
されたもので1部品点数がきわめて少なくでき、小形・
@量でさらに安価な光ピックアップ装置を得ることを目
的とする。
〔問題点を解決するだめの手段〕
この発明に係る光ピックアップ装置は、半導体レーザか
らのビームをディスク上に集光する働き及びディスク面
上からの反射ビームを2分割して集光する働きを各々集
光ホログラム光学素子及び分割ホログラム光学素子で行
なわせるとともに。
ディスク面上からの反射ビームをディスク面上への入射
ビームと分離する手段としても上記分割ホログラム光学
素子を用いることによって部品点数を大巾に削減すると
ともに、小形・軽量化を実現したものである。
〔作用〕
この発明における半導体レーザからの出射ビームは、集
光ホログラム光学素子により回折され。
分割ホログラム光学素子を直接透過してディスク面上に
集光され、ディスク面上より反射されたビームは2分割
ホログラム光学素子で回折され半導体からの出射ビーム
と分離され、光検出器に入射する。
〔実施例」 以下、この発明の一実施例を図について説明する。
第1図において、(1)は半導体レーザ、(力はディス
ク、ulはガラス板、αυはガラス板u1に形成された
集光用グレーティングレンズ、uzはガラス板IIIに
形成された分割用グレーティング、Ql、Q41は2象
限光検出器である。集光用グレーティングレンズUυは
半導体レーザ(11からの出射ビームをディスク(力面
上に集光させるよう形成されており1分割用グレーティ
ング(Izはディスク(7)面上からの反射光束断面を
等分する2棟のグレーティング(,121)及び(12
2)よジ形成されており、各々のグレーティングは各々
に入射するディスク(7)面上からの反射光を回折効率
50%程度で別々の方向に分離するよう形成されている
。光検出器1jJ及びIは上記グレーティングuzによ
って分離された2光束が集光グレーティングレンズUυ
によって集光される2点に各々設置されており、各検出
器の各々の象限は上記グレーティグ圓によって光束が分
離される方向に順に並ぶよう配列されている。
以下、この発明の動作について説明する。
半導体レーザよυ出射したビームは、集光用グレーティ
ングレンズαυによって波面が集束するように変換され
9分割用グレーティングα2に入射する。分割用グレー
ティングazは回折効率が50%程匿であるので、これ
に入射したビームのうち。
約50俤はグレーティングの影響をうけない直接透過波
となり、この光束はディスク(7)面上に集光される。
ディスク(7)上より反射された光は再び分割用グレー
ティングαのに入射し、そのうち約50チの光は2分割
用グレーチイングミ3によって波面の変換をうけ2方向
に分離される。これらの光束は再び集光用グレーティン
グ(111によって集光されるが、その集光位置は2分
割用グレーチイングミzによる波面変換の効果によって
、半一体レーザとは空間的に離れた2点となる。集光さ
れた光は各々の集光点におかれた光検出器によって受光
されるので、これらの検出器の出力を合計することによ
ってディスクイ′#報を読み出すことができる。
一方、フォーカシングエラー信号及びトラッキングエラ
ー信号の検出は、既知のフープ法及びプッシュプル法と
同じ原理により検出できるが、第2図を用いてこの動作
を説明する。
第2図(a)はトラッキング信号の検出法を説明するだ
めの図であり、第2図(b+はフォーカシング信号の検
出法を説明するための図である。第2図はいずれも、第
1図に示したディスクに垂直でAA’線を含む面での断
面図であジ、(力はディスク、(71) 。
(72)、(73)はディスク面上のピッ)、(Inは
ガラス板。
0υは集光用グレーティングレンズ、  (121)、
(122)は分割用グレーティング、(13+、(14
+は2象限検出器。
(131)、(132)及び(141)、(142)は
各々の検出器の各象限の検出素子である。また図中、矢
印けで示した線はディスク面よりの反射光線を示す。な
お2図が繁雑になることをさけるため、半導体レーザ及
びこの出射ビームがディスクへ達するまでの光線につい
ては省略して示している。
まずトラッキング信号の検出法について説明する。第2
図(a)で、半導体レーザからのビームがディスク(7
)上のピット(71)に正確に照射されている場合は、
その反射光は矢印付実線で示すように図中のピット中心
線(BB’線)に対して対称なビームとなるので1分割
用グレーティング(121)及び(122)へ入る光量
は等しくなり、その結果1分割用グレーティング(12
1)及び(122)と集光用グレーティングレンズ0υ
によって、検出器α3及びα滲へ集光される光量は等し
くなる。一方1例えば、半導体レーザよりのビームがデ
ィスク(7)上のピッ) (71)に対しずれて照射さ
れた場合、その位置がピット中心に対し図面で上方にず
れた場合1図中矢印付破線で示すように、ディスク(7
)からの反射光は、  BB’紛より図面で上方に彊く
反射されることとなる。
この結果1分割用グレーティング(121)に入射する
光量は多く2分割用グレーティング(122)に入射す
る光量は少なくなり、従って検出器Iへ入射する光量は
、検出器αタヘ入射する光量より多くなる。
従って、2つの検出器出力の差を検出することによジデ
ィスク面でのビームのずれの大きさと方向が得られる。
即ち、トラッキング信号が検出できる。
次に、フォーカシング信号の検出法について説明する。
第2図(b)で、半導体レーザからの出射ビームがディ
スク(7)上のピッ)(71)に合焦している場合、矢
印付実線で示すように、ディスク(7)よりの反射光は
9分割用グレーティング(+21)、(122)及び集
光用グレーティングレンズσυによって、2象限検出器
(131及びIに合焦して入射する。2象限検出器u3
は、各々の象限の検出素子(131)と(132)境界
に検出器□□□へ入射するビームの中心がくるよう配設
されているので、各検出素子(1ろ1)と(132)の
出力が等しくなる。同様な関係が検出器Iについても成
立する。一方、半導体レーザからの出射ビームがディス
ク(7)上のピット(71止り奥に焦点を結ぶ場合は、
ディスク(7)よりの反射ビームは1図中破線で示すよ
うに2分割用グレーティング(121)。
(122)に、やや小さな入射角で入射するため、上記
グレーティングで生じる光線の角度変化はやや小さくな
る。この結果、集光用グレーティングレンズαυで集光
されたビームは2象限検出器α3及びu41のそれぞれ
の検出素子(131)及び(142)へより多く入射す
る。一方、半導体レーザからの出射ビームがディスク(
刀よりも手前に焦点を結ぶ場合は上述した現象と反対の
現象が生じる。従って2象限検出器ai及びIの各々の
検出素子(131)及び(142)の和と(141)及
び(132)の和との差をとることで。
フォー力/ングエラー信号を得ることができる。
第3図は、この発明の他の実施例である。この実施例で
は2分割用グレーティング(121)及び(122)は
集光レンズ作用も兼ね備えている。まだ、集光用グレー
ティングレンズαυの回折効率は約50多程朋にしてい
る。その他については、前述した第1図の実施例と同じ
である。この実施例の場合。
半導体レーザ(1)よジの出射ビームのうち、集光用グ
レーティングレンズαυで回折され分割用グレーティン
グ(121)、(122)を直接透過した光がディスク
(7)上に集光される。一方、ディスク(力上よりの反
射光のうち分割用グレーティング(121)、(122
)で回折され集光用グレーティングレンズUυを直接透
過した光が光検出器(13、(1,4)へ入射する。フ
ォーカシングエラー及びトラッキングエラーの検出は第
1図に示しだ実施例と同様にして行なわれるが2分割用
グレーティング(121)、(122)はレンズ作用も
兼ねているので、集光用グレーティングレンズQllと
は独立して、検出系の光学系を設計できる自由度がある
点で、第1図に示した実施例にない効果がある。また、
他の実施例として第3図において。
ディスク(力よりの反射光全分割用グレーティング(1
21)、(122)で回折させ、さらに集光用グレーテ
ィングレンズ住υで回折させて検出器へ導くことも可能
である。この場合2分割用グレーティング(121)。
(122)は発散レンズ作用をもたせるのが、フォーカ
シングエラー及びトラッキングエラー信号の高感度な検
出には望ましい。この実施例では、検出系の光学系を2
つのグレーティングレンズαυト(121)又は(12
2)で構成できるので、設計に自由度が増加する効果が
ある。なお9以上はホログラム光学素子としてグレーテ
ィングを示したが、この発明はこれに限らず2例えば体
積ホログラム等回折を利用する光学素子を用いて同様に
構成できることはいうまでもない。
ところで2分割用グレーティングは約50チの回折効率
のものであるので、LDよりの放射ビームのうち一部は
ディスクへ到達する前に分割用グレーティングによって
回折されディスク上の必要以外のピット部に集光するが
、この成分はディスクで反射されたのち、検出器と異な
る点に集光するので問題とならない。
〔発明の効果J 以上のように、この発明によれば、すべての光学素子を
ホログラム光学素子で構成し、従来不可欠であったハー
フミラ−等によるビーム分割をホログラム光学素子の回
折波と直接透過波を用いることによって行なったので9
部品点数が少なく小形で安価な装置を得ることができる
効果がある。
また、1枚の平板に光学素子が集積化されているので、
信頼性が高い効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例による光ピックアップ装置
を示す斜視図、第2図はフォーカシングエラー及びトラ
ッキングエラーを得る方法を説明するだめの図、第3図
はこの発明の他の実施例による光ピックアップ装置を示
す図、第4図は従来の光ピックアップ装置を示す断面図
である。 (1)は半導体レーザ、α〔は光学的に透明な平板。 Uυは集光用グレーティングレンズ、 tizは分割用
グレーティング、 (121)、(122)は各々その
構成要素。 αj及びu4は2象限横出器である。 なお9図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ディスク上に設けられたピットを光により検出し
    て情報をディスク上よりとり出す光ピックアップ装置に
    おいて、発散波面を収束波面に波面変換する集光ホログ
    ラム光学素子と波面を空間的に2分して伝播方向の異な
    る2つの波面に変換する回折効率が50%程度の分割ホ
    ログラム光学素子とが平板の片面の同一場所か又は両面
    の相対する場所に形成された光学的に透明な平板と、こ
    の平板と空間をあけて対向して上記集光ホログラム光学
    素子によつてその出射ビームがディスク面上に集光する
    ようにおかれた半導体レーザと、ディスク面上からの反
    射ビームが分割ホログラム光学素子によつて2つのビー
    ムに分割されたのち集光ホログラム素子によつて集光さ
    れる2点に各々の各象限が上記分割の方向に順に並ぶよ
    うに配設された2つの2象限検出器とからなる光ピック
    アップ装置。
  2. (2)ディスク上に設けられたピットを光により検出し
    て情報をディスク上よりとり出す光ピックアップ装置に
    おいて、発散波面を収束波面に波面変換する回折効率が
    50%程度の集光ホログラム光学素子と発散波面を空間
    的に2分して各々を別の位置に集光する収束波面に波面
    変換する回折効率が50%程度の分割ホログラム光学素
    子とが平面の片面の同一場所か又は両面の相対する場所
    に形成された光学的に透明な平板と、この平板と空間を
    あけて対向して上記集光ホログラム光学素子によつてそ
    の出射ビームがディスク面上に集光するようにおかれた
    半導体レーザと、ディスク面上からの反射ビームが分割
    ホログラム光学素子によつて来光される2点に各々各象
    限が上記分割の方向に順に並ぶように配設された2つの
    2象限検出器とからなる光ピックアップ装置。
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