JPS62100753A - 多点支持レチクルチヤツク - Google Patents

多点支持レチクルチヤツク

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Publication number
JPS62100753A
JPS62100753A JP60240457A JP24045785A JPS62100753A JP S62100753 A JPS62100753 A JP S62100753A JP 60240457 A JP60240457 A JP 60240457A JP 24045785 A JP24045785 A JP 24045785A JP S62100753 A JPS62100753 A JP S62100753A
Authority
JP
Japan
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reticle
support
chuck
point
supporting
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Pending
Application number
JP60240457A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuo Iizuka
和夫 飯塚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP60240457A priority Critical patent/JPS62100753A/ja
Publication of JPS62100753A publication Critical patent/JPS62100753A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F1/00Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の分野] 本発明は半導体ウェハに回路パターンを焼込む露光装置
に使用するレチクルチャックに係るものである。
[発明の背Jjll 露光装置には種々の方式があり、マスクを半導体ウェハ
に近接して等倍投影し露光する近接投影露光方式ミラー
を使用して所定断面の光ビームで半導体ウェハを掃引露
光するミラー投影露光方式、・そしてレンズを使用して
マスクの回路パターンを縮小投影して露光する縮小投影
露光方式がある。
いずれの露光方式においてもマスクもしくはレチクルは
レチクルチャックに配置され、負圧をかけて吸着保持し
ている。すなわち、レチクルチャックは露光区域外のレ
チクルのパターン面側で平面支持しているのであるが、
このチャック支持面とレチクルとの間に塵が入ると焦点
ずれを生じて半導体ウェハ側には片ボケとなって現われ
、解像性能を低下させる。特に縮小投影露光方式におい
てはレチクルの片ボケは半導体ウェハの全チップにおい
て発生する。このためレチクルとチャックのゴミ管理が
半導体デバイスの生産上重要な関心事となっている。し
かるに露光装置内のレチクル設定位置は照明系、オート
アライメント系等の配置関係から一般に保守管理の困難
な場所になっている。
〔発明の目的] 本発明の目的は、レチクルとチャック支持面との岡に塵
が侵入してもそれによりレチクルとチャック支持面との
厳密な平行性が崩されることはなく、常にチャック支持
面に対するレチクルの適正配置を保証しているレチクル
チャックを提供することである。
本発明に従ってレチクルチャックに点接触支持面を有す
る支持体を使用し、従来の面対面接触に代えて点対面接
触とし、侵入した塵はチャック面に植立する支持体によ
り形成される空間内に取込めるようにして前記の目的を
達成しているのである。
[実施例] 第1図は本発明の多点支持レチクルチャックの平面図で
あり、第2図はそれの側面図で、支持部分を一部破壊し
て示している。これらの図において1は点接触支持部を
有する支持体であり、2はこの支持体へレチクルを保持
する吸着圧の漏洩を阻止する弾性吸盤である。支持体と
弾性吸盤とのアセンブリー10は負圧をレチクル4に加
える吸気口5を包囲するように配置されている。3はレ
チクルチャックのベースを示す。
第3図は第2図の一点鎖線で包囲した部分を拡大して示
す。支持体1は半球であって、レチクル4の周縁下面と
点接触している。図に示すようにこれらの半球支持体1
は吸気口5の付近に配置され、そしてこれらの支持体1
を包囲する形で弾性吸!82が設けられている。塵がこ
の個所に侵入しても半球支持体1の間に取込まれ、その
上のレチクル4に当ってこれを押上げレチクル4を傾斜
させるという゛怖れは全くない。
第4図は点支持体1と弾性吸盤2との配置関係が第3図
と反対になっている別の実施例を示す。
第5図は第1ないし3図の実施例を斜視図で示している
レチクルチャックの環状隆起部の頂面の全周に沿って連
続的に弾性吸盤を配置し、その内側に点支持体を配置し
てもよいし、またそのように配置した弾性吸盤の外側に
点支持体を配置してもよい。
[発明の効果] 本発明によりレチクルとチャック支持面との間に塵が侵
入してもそれによりレチクルが押上げられ傾斜して片ボ
ケを投影像に生ぜしめるという事 5態は回避され、レ
チクルチャックの保守管理が容易となった。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の多点支持レチクルチャックの平面図で
あり、第2図はそれの側面図である。 第3図は第2図の一点鎖線で包囲した区域の拡大図であ
る。 第4図は第3図と同様の図であるが、別の実施例を示す
。 第5図は第1.2及び3図に示す実施例の斜視図である
。 図中:に点支持体、2:弾性吸盤、3ニレチクルチヤツ
クのベース、4ニレチクル、5:吸気口。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、点接触支持部を有する支持体と、 この支持体へレチクルを保持する吸着圧の漏洩を阻止す
    る弾性吸盤と を備えることを特徴とする多点支持レチクルチャック。 2、前記の支持体がピンである特許請求の範囲第1項記
    載の多点支持レチクルチャック。 3、前記の弾性吸盤が前記の支持体を包囲している特許
    請求の範囲第1項または2項に記載の多点支持レチクル
    チャック。 4、前記の支持体が前記の弾性吸盤を包囲している特許
    請求の範囲第1項または2項に記載の多点支持レチクル
    チャック。
JP60240457A 1985-10-29 1985-10-29 多点支持レチクルチヤツク Pending JPS62100753A (ja)

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JPS62100753A true JPS62100753A (ja) 1987-05-11

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0312948A (ja) * 1989-06-12 1991-01-21 Nikon Corp 基板ホルダ
JP2005235890A (ja) * 2004-02-18 2005-09-02 Canon Inc 露光装置
JP2006041302A (ja) * 2004-07-29 2006-02-09 Canon Inc 露光装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0312948A (ja) * 1989-06-12 1991-01-21 Nikon Corp 基板ホルダ
JP2005235890A (ja) * 2004-02-18 2005-09-02 Canon Inc 露光装置
JP2006041302A (ja) * 2004-07-29 2006-02-09 Canon Inc 露光装置

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