JPS6184376A - 気相成長装置 - Google Patents

気相成長装置

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JPS6184376A
JPS6184376A JP20497584A JP20497584A JPS6184376A JP S6184376 A JPS6184376 A JP S6184376A JP 20497584 A JP20497584 A JP 20497584A JP 20497584 A JP20497584 A JP 20497584A JP S6184376 A JPS6184376 A JP S6184376A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は半導体工業分野での気相成長装置に関する。
(従来の技術) 従来の気相成長装置は、第4図に示すように、反応チャ
ンバー(図示せず)内において、サセプタ10と平行に
配置した分散板12によって反応ガスを分散して、反応
ガスをウェハー14表面に向けて垂直に供給する装置や
、第5図に示すように、反応チャンバー(図示せず)内
において、ノズル16から反応ガスをウェハー14に放
射状に供給する装置、あるいは第6図に示すように反応
管18中において、ウェハー14表面と平行な方向に反
応ガスを流す装置等がある。
(発明が解決すべき問題点) しかしながら上記の気相成長装置には以下のごとき問題
点がある。
すなわち、第4図や第5図に示す装置においては、反応
ガス中で生成した気相反応生成物(粒子)や、チャンど
マーの壁面へ付着した反応生成物が、反応ガスの流れに
乗って、あるいは反応ガスの吹き上げによって、被処理
物表面に成長した皮膜上に落下して付着する、いわゆる
パーティクルの発生をみる問題点がある。また第5図に
示す装置においては、反応生成物がノズル16に付着し
て、ノズル16の目詰まりが生ずる問題もある。
第6図に示す装置においては、反応ガス中で生成した気
相反応生成物は反応ガス流に乗って比較的排出され易い
ものではあるが、一般的に反応ガス流は乱流状態で供給
されるから(反応ガスがウェハ−14近辺で加熱される
ことにより、−N乱流状態となる)、気相中で生成した
粒子がやはりウェハー14上の成長皮膜上に落下付着し
て、パーティクルの発生をみることがある。また反応管
18内壁に付着した反応生成物が、反応ガスの乱流によ
って剥がれ、落下して皮膜上に付着するパーティクルの
発生を免れない。
そこで発明者は上記問題点を解決すべく、反応ガス流を
被処理物表面に沿って帯状に供給するとともに、反応ガ
ス流の外側を覆ってN2ガスカーテン流を帯状に流して
、反応系を外界と遮断することによって、チャンバー内
壁への反応生成物付着を防止し、さらには上記の反応ガ
ス流とN2ガスカーテン流とを層流状態に流すことによ
って、気相中で成長した反応生成物を系外へ運び去って
、パーティクルの発生をほぼ完全なまでに抑止できる気
相成長方法を発案し、既に特許出願している。
本願は上記出願に係る発明をさらに改良するものであり
、その目的とするところは、反応ガス流とN2ガスとを
ほぼ完全な層流状態とすることができ、パーティクルの
発生防止を一層確実にすることができるのみならず、被
処理物表面上に皮膜を所望のパターンに送板成長させる
ことのできる気相成長装置を提供するものである。
(問題点を解決するための手段) 本発明は次のような構成を備える。
被処理物表面に反応ガスを流通させて被処理物表面に皮
膜を成長させる気相成長装置において、反応ガスを被処
理物表面に沿って被処理物表面と平行な方向に流す反応
ガス供給ノズルと、この反応ガス流の少なくとも反被処
理物側を覆ってN2ガスカーテンを形成するようにNI
Lガスを供給するN、ガス供給ノズルと、 反応ガスとN、ガスとをあらかじめ被処理物表面温度と
ほぼ等しい温度にまで加熱する加熱手段と、前記被処理
物表面に紫外線を照射する紫外線照射ランプとを具備す
ることを特徴とする。
(作用) 上記のように反応ガスを覆ってN、ガス流が供給される
が、加熱手段によって反応ガス流とN2ガスとがあらか
じめほぼ等しい温度にまで加熱されて供給されるから、
反応ガス流とN2ガス流との間で乱流をなしたり、どち
らか一方が上昇気流を生じてしまうことがなく、両者が
層流をなして供給される。したがって気相中で生じた反
応生成物が排出ガスとともに排出され、パーティクルの
発生を防止できる。
このように反応ガス流とN2ガス流とが、あらかじめ被
処理物の表面温度付近、すなわち反応温度付近にまで加
熱されるが、この反応温度は、紫外線照射という条件が
加わって初めて反応する反応温度であるから、紫外線照
射のない、被処理物に達するまでの間は反応する”こと
なく、しがも反応温度に保って供給され、完全な層流が
形成され、パーティクルの発生が確実に防止される。
また有機シラン−0□系は紫外線照射によって上記のよ
うに低温度で反応するとともに、この反応は主として表
面反応であり、適宜なマスクを用いることによって、所
望のパターンの皮膜を被処理物表面上に送板成長させる
ことができる。
(実施例) 以下本発明の好適な実施例を添付図面に基づいて詳細に
説明する。
第1図は本発明装置の概要を示す説明図である。
20はホットプレートであり、その上面にウェハー22
を載置する。ホットプレート2oはウェハー22を反応
温度付近にまで加熱する。
24は反応ガス供給ノズルであり、ホットプレート20
側方に配置され、反応ガスをウェハー22表面に沿って
ウェハー22表面と平行に流す。反応ガス供給ノズル2
4は、中空状のガス留め26を有し、このガス留め26
に連通ずる多数のスリット状あるいは小孔状をなすガス
噴出口28を有するノズル本体30にガス供給管32が
連結されてなる(第1図、第2図)。ノズル本体30か
らはノズル本体30前方に厚さ数mmの帯状の反応ガス
流がウェハー22表面に沿って流せるようになっている
34は反応ガス加熱用コイルであり、ガス供給管32の
適所に巻回され、反応ガスをあらかじめウェハー22表
面温度付近にまで加熱してウェハー22表面上を通過さ
せるものである。
36はウェハー22を挟んで反応ガス供給ノズル24と
対向して配置された排出管であり、未反応ガス、気相中
の反応生成物を排出する。
38はN2ガス供給ノズルであり、反応ガス供給ノズル
24とほぼ同様に構成され、反応ガス供給ノズル24の
上方に配置されて、反応ガス供給ノズル24から流出す
る反応ガス流の上方を覆ってNxガスを帯状に流すもの
である。このN2ガスも、NZガス供給管40に巻回さ
れた加熱用コイル42によって、反応ガスとほぼ同温度
にまで加熱されて供給される。
44は上記のN2ガスを排出するN2ガス排出管である
50は紫外線照射ランプ(Hgランプ)であり、N2ガ
ス流のさらに上方に位置するように設けられ、ホットプ
レート20上に載置されるウェハ−22上面に紫外線を
照射するものである。52は反射板である。
54は上記紫外線照射ランプ50を収納するボックスで
あり、ボックス54内にはN2ガスが流通される。ボッ
クス54内にN2ガスを流通させるのは、02が存在す
ると02ガスによって紫外線が吸収されるからである。
、 56は石英ガラス製のカバーであり、該カバー56の周
縁部には紫外線を透過しない例えばクロム蒸着皮膜が形
成され、中央透過部から紫外線をウェハー22表面上に
照射するようになっている。
本実施例は上記のように構成される。
しかして反応ガスをあらかじめ加熱して、反応ガス供給
ノズル24から、ウェハー22表面に沿って帯状に流し
、N2ガスをあらかじめ加熱してNiガス供給ノズル2
4から反応ガス上方を覆って帯状に流して、ウェハー2
2表面上に所望の皮膜を形成させることができる。この
場合に両ガスかあらかしめウェハー22表面温度付近に
まで加熱されているから、両ガス間で上昇気流等による
乱流が生じることがなく、したがって層流状態で供給さ
れるから、反応ガス気相中で生成した反応生成物がウェ
ハー22表面上に落下して、パーティクルが発生する等
の事態が生じない。
反応ガス系は、有機シラン(テトラエトキシシラン)+
02系、有機シラン+Pl+3 (あるいは有機リン)
+02系等の反応ガス系が有用である。
このような有機シラン系は一般的に700℃以上の高温
条件でなければ反応しない。しかしながら発明者は、こ
のような有機シラン系においても、紫外線を照射するこ
とによって400℃程度の低温条件でも充分に反応が進
行することを見出した。
本実施例においては上記事実は極めて有用である。すな
わち反応ガス、 N2ガスを上記の400℃程度にまで
予熱して供給できる。この温度では反応ガス系は反応せ
ず、紫外線ランプ50の紫外線照射領域において初めて
、必要な反応を起こし、ウェハー22上に皮膜を生成す
るからである。このように反応ガスおよびN2ガスを、
反応ガスの後に起こる反応の反応温度にまであらかじめ
予熱して供給しうるから、他の加熱源は全く不要である
とともに、反応ガス流とN2ガスとは層流状態で流れ、
前記のパーティクルの発生抑止を確実にすることができ
る。
また上記有機シラン系に紫外線を照射して起こる反応は
、被処理物の表面で起こる表面反応である。このためこ
の反応においては、凹部にも凸部と変わりな(皮膜が成
長し、いわゆるステップカバリッジ(均一被着性)にす
ぐれる。
さらにこの実施例においては、ウェハー22の若干上方
に、適宜なマスク(図示せず)をおくことによって、マ
スクのパターン通りに皮膜をウェハー22上に成長させ
ることも可能である。マスクは石英ガラス等の紫外線を
透過する素材のものを用い、前記のカバー56と同様に
クロム蒸着等によって紫外線非透過部を形成して用いる
本実施例における反応系は上記の他に、5illや一0
1系(紫外線照射によって富温で反応する) 、SiH
NよO,C(% 、 Not 、 NO,N11a系(
紫外線照射によって約400℃で反応する)、有機シラ
ン−No、、 Co、。
N、O,No、 Ni+き系(間約400℃で反応)等
が有用である。
(発明の効果) 以上のように本発明装置によれば、被処理物表面に流れ
る反応ガス流を覆ってN2ガス流を、両ガス流が完全に
層流状態をなすように流すことができるから、気相中で
の反応生成物はガス流とともに完全に排出され、また従
来のように反応チャンバー内壁等に反応生成物が付着し
て落下することがないから、パーティクル発生を完全な
までに防止できる。
さらに従来装置と比して反応チャンバーを必ずしも設け
る必要がなく、全体装置を簡易に構成できる。
また、紫外線照射とともに適宜なマスクを使用すること
によって、所望のパターンの皮膜を被処理物表面上に送
板成長させることができるなど種々の著効を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明装置の概要を示す説明図、第3図はその
平面図、第2図は反応ガス供給ノズルの説明図、第4図
乃室第6図はそれぞれ従来の気相成長装置を示す説明で
ある。 10・・・サセプタ、  12・・・分散板。 14・・・ウェハー、  16・・・ノズル、18・・
・反応管、  20・・・ホットプレート。 22・・・ウェハー、  24・・・反応ガス供給ノズ
ル、  26・・・ガス留め、  28・・・ガス噴出
口、  30・・・ノズル本体、  32・・・ガス供
給管、  34・・・反応ガス加熱用コイル、  36
・・・排出管、  38・・N2ガス供給ノズル、  
 40・・・NJガス供給管、  42・・・加熱用コ
イル、  44・・・N2ガス排出管。 50・・・紫外線照射ランプ、  52・・・反射板、
  54・・・ボックス、  56・・・カバー。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、被処理物表面に反応ガスを流通させて被処理物表面
    に皮膜を成長させる気相成長装置において、 反応ガスを被処理物表面に沿って被処理物表面と平行な
    方向に流す反応ガス供給ノズルと、 この反応ガス流の少なくとも反被処理物側を覆ってN_
    2ガスカーテンを形成するようにN_2ガスを供給する
    N_2ガス供給ノズルと、 反応ガスとN_2ガスとをあらかじめ被処理物表面温度
    とほぼ等しい温度にまで加熱する加熱手段と、 前記被処理物表面に紫外線を照射する紫外線照射ランプ
    とを具備することを特徴とする気相成長装置。
JP20497584A 1984-09-26 1984-09-28 気相成長装置 Granted JPS6184376A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS61190074A (ja) * 1985-02-15 1986-08-23 Sharp Corp Ta↓2O↓5膜の形成方法
WO1990005961A1 (en) 1988-11-23 1990-05-31 Datacard Corporation Magnetic encoding apparatus and method

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