JPH01107519A - 気相成長装置 - Google Patents

気相成長装置

Info

Publication number
JPH01107519A
JPH01107519A JP26507387A JP26507387A JPH01107519A JP H01107519 A JPH01107519 A JP H01107519A JP 26507387 A JP26507387 A JP 26507387A JP 26507387 A JP26507387 A JP 26507387A JP H01107519 A JPH01107519 A JP H01107519A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gas
material gas
window
inert gas
raw material
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP26507387A
Other languages
English (en)
Inventor
Hidekazu Konno
紺野 英一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP26507387A priority Critical patent/JPH01107519A/ja
Publication of JPH01107519A publication Critical patent/JPH01107519A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体ウェハの気相成長装置に関するものであ
る。
〔従来の技術〕
従来、この種の気相成長装置は第3図に示すようにステ
ンレス鋼製ベルジャ1及び石英ベルジャ2内の抵抗ヒー
タ4上のサセプタ3に載置されて加熱された半導体ウェ
ハ5へ原料ガス供給管6より原料ガスを供給し該原料ガ
スにランプ11よりある特定の波長の光を照射窓10を
通して照射することにより光化学反応させて所望の薄膜
を気相成長せしめ、反応後のガスを原料ガス排気管12
を通して真空排気システム9より排気させる構造のもの
であるが、照射窓10の下面においても薄膜が気相成長
しくもりが生じてしまう。その対策として不活性ガス導
入管を設けて照射窓下面へ不活性ガスを吹きかけ原料ガ
スが照射窓に接触することを防止したりその他照射窓に
高分子樹脂を塗布する方法がとられていた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上述した従来の気相成長装置は原料ガスの照射窓への気
相成長によりくもりが生じてU V (ULTRAVI
ORET)光源ランプの光の透過率が低下して著しく半
導体ウェハへの薄膜の成長速度が下がるのを防止するた
め、照射窓へ不活性ガス導入管より不活性ガスを吹きか
けて原料ガスが照射窓へ接触するのを防止する方法が取
られていたが、長時間−定の成長速度を維持するために
は多量の不活性ガスを原料ガスの流れに対して垂直に照
射窓へ吹きかける必要があり、原料ガスの流れを乱して
複数個の半導体ウェハの膜厚分布のバラツキが大となる
という欠点がある。また原料ガス中の不活性ガスの割合
が増加して半導体ウェハ面内膜厚のバラツキを向上させ
るため、反応圧力を下げると不活性ガス増加分のみ成長
速度が低下する。
また照射窓への高分子樹脂を塗布する方法では反応系の
清浄度を悪くするばかりでなく、製品の品質を低下させ
るという欠点がある。
本発明の目的は前記問題点を解決した気相成長装置を提
供することにある。
〔発明の従来技術に対する相違点〕
上述した従来の気相成長装置に対し、本発明は照射窓と
原料ガス供給管・排気管の間に水平・同方向に不活性ガ
ス吹出し口及び吸い込み口を用意し、不活性ガスを原料
ガス上部層に流すことにより原料ガスのガスフローを乱
すことなく照射窓への気相成長によるくもりを防止し、
また照射窓への高分子樹脂塗布の方法と違って清浄度を
維持しながら成長速度を低下させることなく均一性よい
複数個の膜厚分布を再現させるという相違点を有する。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は外囲器と、前記外囲器内に設置されるサセプタ
と、サセプタを加熱する手段と、原料ガスを供給する手
段と、外囲器内部の気体を排気する排気装置からなる気
相成長装置において、外囲器に紫外光に対する透明な窓
を設け、かつ外囲器内部の前記透明窓の下部に不活性ガ
ス吹出し用と原料ガス排気用との真空排気システムを別
個に取り付けたことを特徴とする気相成長装置である。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例を図により説明する。
(実施例1) 第1図(a) 、 (b)は本発明の第1の実施例を示
す図である。
図において、1はステンレス鋼製ベルジャ、2は石英ベ
ルジャである。ベルジャ1,2内には、モータ17にて
回転駆動されるサセプタ3を設置し、さらに該サセプタ
3を加熱する抵抗ヒータ4を装備する。またサセプタ3
の上方空間に照射窓10を設け、該照射窓10の上方位
置にUV光源ランプ11を設置する。
さらに、サセプタ3の上流及び下流側のスペースをガス
整流板7,7により不活性ガス流路Q1と原料ガス流路
Q2との上下2段に区画し、サセプタ3の上流側の上段
に位置する不活性ガス流路Q1に不活性ガス吹出し管8
を開口するとともに、下段に位置する原料ガス流路Q2
に原料ガス供給管6を開口する。一方、サセプタ3の下
流側の上段に位置する不活性ガス流路Q1に不活性ガス
排気管13を開口するとともに、下段に位置する原料ガ
ス流路Q8に原料ガス排気管12を開口し、不活性ガス
排気管13、原料ガス排気管12をそれぞれ真空排気シ
ステム9,9′に接続する。
開閉自在なステンレス鋼製ベルジャ1及び石英ベルジャ
2内の円板型のサセプタ3に載置されてモータ17より
一定方向に定速で回転しながら固定された抵抗ヒータ4
より均一よく加熱された複数個の半導体ウェハ5へ減圧
状態で原料ガス供給管6より原料ガスを供給しつつ、ま
たガス整流板7をはさんで上部に設けた不活性ガス吹出
し管8から不活性ガスを原料ガスが上部に拡散して照射
窓10に接することのないようにそれぞれの真空排気シ
ステム9,9′の制御により実現しながら流し、UV光
源ランプ11より半導体ウェハ5上の反応ガスへ照射窓
10を通しである特定の波長の光を照射することにより
光化学反応させ、ウェハ5上に所望の薄膜を膜厚分布の
均一性よく気相成長させる。
一方反応後のガスを原料ガス排気管12より、また不活
性ガスは不活性ガス排気管13よりそれぞれ別個に排気
する。
(実施例2) 第2図は本発明の実施例2の縦断面図である。
本実施例では角型サセプタ14に載置されて赤外線加熱
ランプ15より加熱された半導体ウェハ5へ原料ガス供
給管6より原料ガスを供給し、原料ガス供給管6上部の
不活性ガス吹出し管8より吹き出た不活性ガスと層流状
態を実現しながら原料ガスは石英管16上部に接するこ
となく熱分解により半導体ウェハ5へ所望の薄膜を気相
成長せしめ1反応後のガスは原料ガス排気管12を通し
て、−六平活性ガスは不活性ガス排気管13より排気さ
せる。
この実施例では石英管に原料ガスが気相成長せずくもら
ないため、長時間光の透過率が不変で安定した半導体ウ
ェハ上所望薄膜の成長速度を得ることができる利点があ
る。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は照射窓の下面を不活性ガス
が水平に流れる構造とし、吹き出し量と排気量の調整に
より反応ガスとの境界面が層流となる状態を実現し下部
を流れている原料ガスが上部に拡散して照射窓に接しな
いようにすることにより、照射窓への気相成長によるく
もりを防止し。
光の透過率の低下を阻止して複数個の半導体ウェハに均
一性よく反応ガスを供給し、膜厚分布均一性を向上させ
成長速度を長時間一定に保ちスループットを向上させる
効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)は本発明の第1の実施例を示す縦断面図、
第1図(b)は主要部を示す平面図、第2図は本発明の
第2の実施例を示す縦断面図、第3図は従来の気相成長
装置を示す断面図である。 1・・・ステンレス鋼製ベルジャ 2・・・石英ベルジ
ャ3.14・・・サセプタ    4・・・抵抗ヒータ
5・・・半導体ウェハ   6・・・原料ガス供給管7
・・・ガス整流板    8・・・不活性ガス吹出し管
9.9′・・・真空排気システム   10・・・照射
窓11・U V (ULTRA VIORET)光源ラ
ンプ12・・・原料ガス排気管  13・・・不活性ガ
ス排気管15・・・赤外線加熱ランプ 16・・・石英
管17・・・モータ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)外囲器と、前記外囲器内に設置されるサセプタと
    、サセプタを加熱する手段と、原料ガスを供給する手段
    と、外囲器内部の気体を排気する排気装置からなる気相
    成長装置において、外囲器に紫外光に対する透明な窓を
    設け、かつ外囲器内部の前記透明窓の下部に不活性ガス
    吹出し用と原料ガス排気用との真空排気システムを別個
    に取り付けたことを特徴とする気相成長装置。
JP26507387A 1987-10-20 1987-10-20 気相成長装置 Pending JPH01107519A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26507387A JPH01107519A (ja) 1987-10-20 1987-10-20 気相成長装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26507387A JPH01107519A (ja) 1987-10-20 1987-10-20 気相成長装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH01107519A true JPH01107519A (ja) 1989-04-25

Family

ID=17412217

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP26507387A Pending JPH01107519A (ja) 1987-10-20 1987-10-20 気相成長装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH01107519A (ja)

Cited By (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0339845A2 (en) * 1988-04-29 1989-11-02 Hughes Aircraft Company System for automated real-time control of film deposition
EP0605725A1 (en) * 1991-09-27 1994-07-13 Komatsu Electronic Metals Co., Ltd Apparatus for introducing gas, and apparatus and method for epitaxial growth
JP2006253410A (ja) * 2005-03-10 2006-09-21 Tokyo Electron Ltd 基板処理方法、記録媒体および基板処理装置
US7935940B1 (en) 2008-01-08 2011-05-03 Novellus Systems, Inc. Measuring in-situ UV intensity in UV cure tool
US7941039B1 (en) 2005-07-18 2011-05-10 Novellus Systems, Inc. Pedestal heat transfer and temperature control
US7960297B1 (en) 2006-12-07 2011-06-14 Novellus Systems, Inc. Load lock design for rapid wafer heating
US8033771B1 (en) 2008-12-11 2011-10-11 Novellus Systems, Inc. Minimum contact area wafer clamping with gas flow for rapid wafer cooling
US8052419B1 (en) 2007-11-08 2011-11-08 Novellus Systems, Inc. Closed loop temperature heat up and control utilizing wafer-to-heater pedestal gap modulation
US8137465B1 (en) * 2005-04-26 2012-03-20 Novellus Systems, Inc. Single-chamber sequential curing of semiconductor wafers
US8283644B2 (en) 2008-01-08 2012-10-09 Novellus Systems, Inc. Measuring in-situ UV intensity in UV cure tool
US8288288B1 (en) 2008-06-16 2012-10-16 Novellus Systems, Inc. Transferring heat in loadlocks
US8371567B2 (en) 2011-04-13 2013-02-12 Novellus Systems, Inc. Pedestal covers
US8398816B1 (en) 2006-03-28 2013-03-19 Novellus Systems, Inc. Method and apparatuses for reducing porogen accumulation from a UV-cure chamber
CN102974573A (zh) * 2012-12-18 2013-03-20 中国科学院微电子研究所 一种对纳米图形进行紫外清洗的装置及方法
US8426778B1 (en) 2007-12-10 2013-04-23 Novellus Systems, Inc. Tunable-illumination reflector optics for UV cure system
US8980769B1 (en) 2005-04-26 2015-03-17 Novellus Systems, Inc. Multi-station sequential curing of dielectric films
US9050623B1 (en) 2008-09-12 2015-06-09 Novellus Systems, Inc. Progressive UV cure
US9384959B2 (en) 2005-04-26 2016-07-05 Novellus Systems, Inc. Purging of porogen from UV cure chamber
US9659769B1 (en) 2004-10-22 2017-05-23 Novellus Systems, Inc. Tensile dielectric films using UV curing
US9835388B2 (en) 2012-01-06 2017-12-05 Novellus Systems, Inc. Systems for uniform heat transfer including adaptive portions
US9847221B1 (en) 2016-09-29 2017-12-19 Lam Research Corporation Low temperature formation of high quality silicon oxide films in semiconductor device manufacturing
US10037905B2 (en) 2009-11-12 2018-07-31 Novellus Systems, Inc. UV and reducing treatment for K recovery and surface clean in semiconductor processing
US10347547B2 (en) 2016-08-09 2019-07-09 Lam Research Corporation Suppressing interfacial reactions by varying the wafer temperature throughout deposition
US10388546B2 (en) 2015-11-16 2019-08-20 Lam Research Corporation Apparatus for UV flowable dielectric

Cited By (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0339845A2 (en) * 1988-04-29 1989-11-02 Hughes Aircraft Company System for automated real-time control of film deposition
EP0339845A3 (en) * 1988-04-29 1990-08-22 Hughes Aircraft Company System for automated real-time control of film deposition
EP0605725A1 (en) * 1991-09-27 1994-07-13 Komatsu Electronic Metals Co., Ltd Apparatus for introducing gas, and apparatus and method for epitaxial growth
EP0605725A4 (en) * 1991-09-27 1996-03-27 Komatsu Denshi Kinzoku Kk Apparatus for introducing gas, and apparatus and method for epitaxial growth.
US9659769B1 (en) 2004-10-22 2017-05-23 Novellus Systems, Inc. Tensile dielectric films using UV curing
JP2006253410A (ja) * 2005-03-10 2006-09-21 Tokyo Electron Ltd 基板処理方法、記録媒体および基板処理装置
US10121682B2 (en) 2005-04-26 2018-11-06 Novellus Systems, Inc. Purging of porogen from UV cure chamber
US8951348B1 (en) 2005-04-26 2015-02-10 Novellus Systems, Inc. Single-chamber sequential curing of semiconductor wafers
US8137465B1 (en) * 2005-04-26 2012-03-20 Novellus Systems, Inc. Single-chamber sequential curing of semiconductor wafers
US9873946B2 (en) 2005-04-26 2018-01-23 Novellus Systems, Inc. Multi-station sequential curing of dielectric films
US9384959B2 (en) 2005-04-26 2016-07-05 Novellus Systems, Inc. Purging of porogen from UV cure chamber
US8980769B1 (en) 2005-04-26 2015-03-17 Novellus Systems, Inc. Multi-station sequential curing of dielectric films
US7941039B1 (en) 2005-07-18 2011-05-10 Novellus Systems, Inc. Pedestal heat transfer and temperature control
US10020197B2 (en) 2005-12-05 2018-07-10 Novellus Systems, Inc. Method for reducing porogen accumulation from a UV-cure chamber
US11177131B2 (en) 2005-12-05 2021-11-16 Novellus Systems, Inc. Method and apparatuses for reducing porogen accumulation from a UV-cure chamber
US9073100B2 (en) 2005-12-05 2015-07-07 Novellus Systems, Inc. Method and apparatuses for reducing porogen accumulation from a UV-cure chamber
US8398816B1 (en) 2006-03-28 2013-03-19 Novellus Systems, Inc. Method and apparatuses for reducing porogen accumulation from a UV-cure chamber
US7960297B1 (en) 2006-12-07 2011-06-14 Novellus Systems, Inc. Load lock design for rapid wafer heating
US8273670B1 (en) 2006-12-07 2012-09-25 Novellus Systems, Inc. Load lock design for rapid wafer heating
US8052419B1 (en) 2007-11-08 2011-11-08 Novellus Systems, Inc. Closed loop temperature heat up and control utilizing wafer-to-heater pedestal gap modulation
US8920162B1 (en) 2007-11-08 2014-12-30 Novellus Systems, Inc. Closed loop temperature heat up and control utilizing wafer-to-heater pedestal gap modulation
US8426778B1 (en) 2007-12-10 2013-04-23 Novellus Systems, Inc. Tunable-illumination reflector optics for UV cure system
US8283644B2 (en) 2008-01-08 2012-10-09 Novellus Systems, Inc. Measuring in-situ UV intensity in UV cure tool
US7935940B1 (en) 2008-01-08 2011-05-03 Novellus Systems, Inc. Measuring in-situ UV intensity in UV cure tool
US8288288B1 (en) 2008-06-16 2012-10-16 Novellus Systems, Inc. Transferring heat in loadlocks
US9050623B1 (en) 2008-09-12 2015-06-09 Novellus Systems, Inc. Progressive UV cure
US8033771B1 (en) 2008-12-11 2011-10-11 Novellus Systems, Inc. Minimum contact area wafer clamping with gas flow for rapid wafer cooling
US10037905B2 (en) 2009-11-12 2018-07-31 Novellus Systems, Inc. UV and reducing treatment for K recovery and surface clean in semiconductor processing
US8371567B2 (en) 2011-04-13 2013-02-12 Novellus Systems, Inc. Pedestal covers
US9835388B2 (en) 2012-01-06 2017-12-05 Novellus Systems, Inc. Systems for uniform heat transfer including adaptive portions
CN102974573A (zh) * 2012-12-18 2013-03-20 中国科学院微电子研究所 一种对纳米图形进行紫外清洗的装置及方法
US10388546B2 (en) 2015-11-16 2019-08-20 Lam Research Corporation Apparatus for UV flowable dielectric
US11270896B2 (en) 2015-11-16 2022-03-08 Lam Research Corporation Apparatus for UV flowable dielectric
US10347547B2 (en) 2016-08-09 2019-07-09 Lam Research Corporation Suppressing interfacial reactions by varying the wafer temperature throughout deposition
US11075127B2 (en) 2016-08-09 2021-07-27 Lam Research Corporation Suppressing interfacial reactions by varying the wafer temperature throughout deposition
US9847221B1 (en) 2016-09-29 2017-12-19 Lam Research Corporation Low temperature formation of high quality silicon oxide films in semiconductor device manufacturing

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH01107519A (ja) 気相成長装置
US4654226A (en) Apparatus and method for photochemical vapor deposition
US5215588A (en) Photo-CVD system
JP4219441B2 (ja) 膜を堆積する方法及び堆積装置
JPH0855842A (ja) 裏面を被覆したサセプタを有する半導体ウエ−ハ処理チャンバ
JPS63186875A (ja) 表面反応成膜装置
JPH05175135A (ja) 光cvd装置
JPH09293681A (ja) 気相成長装置
JP3286951B2 (ja) プラズマcvd成膜方法と装置
US6194030B1 (en) Chemical vapor deposition velocity control apparatus
KR100190909B1 (ko) 화학기상증착 반응기용 다구역 샤워헤드
JPH088257B2 (ja) 常圧cvd装置
JPH05198512A (ja) 光cvd装置
JPS59159980A (ja) 気相成長装置
JPH0547669A (ja) 気相成長装置
JPS61128517A (ja) 半導体製造装置
JPH046840A (ja) 気相成長装置
JP2000260712A (ja) 半導体製造装置
JPH0598447A (ja) 光cvd装置
JPS62182195A (ja) 3−v族化合物半導体の成長方法
JPH04352418A (ja) 半導体製造装置
JPH0433329A (ja) 光cvd装置
JPH0359988B2 (ja)
JPS6050919A (ja) 気相成長装置
JPS6118125A (ja) 薄膜形成装置