JPH05175135A - 光cvd装置 - Google Patents
光cvd装置Info
- Publication number
- JPH05175135A JPH05175135A JP25658791A JP25658791A JPH05175135A JP H05175135 A JPH05175135 A JP H05175135A JP 25658791 A JP25658791 A JP 25658791A JP 25658791 A JP25658791 A JP 25658791A JP H05175135 A JPH05175135 A JP H05175135A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gas
- small holes
- substrate
- light
- reaction
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 基板を回転させないままで均一な膜厚分布が
得られる大口径基板対応の光CVD装置を得ること。 【構成】 処理すべき基板22を収容する反応室21内
に、基板22の表面にほぼ平行に反応ガスが流れるよう
に反応ガス導入口23と排出口24を設け、該反応室2
1と、基板上に薄膜を形成させるための光源30を収容
する光源室29との間に、多数の小孔28を有する光透
過性ガス噴出板27を配置し、光源室29に開口する不
活性ガス導入口31より流入する不活性ガスを、該噴出
板27の小孔28を通して基板上の表面に垂直方向に導
入する。上記噴出板27の小孔28の数を、反応ガス流
の上流から下流にかけて3対2対1の割合に開口するこ
とにより、膜厚分布は全領域に亙って±5%以内にコン
トロールされる。
得られる大口径基板対応の光CVD装置を得ること。 【構成】 処理すべき基板22を収容する反応室21内
に、基板22の表面にほぼ平行に反応ガスが流れるよう
に反応ガス導入口23と排出口24を設け、該反応室2
1と、基板上に薄膜を形成させるための光源30を収容
する光源室29との間に、多数の小孔28を有する光透
過性ガス噴出板27を配置し、光源室29に開口する不
活性ガス導入口31より流入する不活性ガスを、該噴出
板27の小孔28を通して基板上の表面に垂直方向に導
入する。上記噴出板27の小孔28の数を、反応ガス流
の上流から下流にかけて3対2対1の割合に開口するこ
とにより、膜厚分布は全領域に亙って±5%以内にコン
トロールされる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体や液晶ディスプ
レイ等の製造に用いられる薄膜形成装置に関する。
レイ等の製造に用いられる薄膜形成装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、光のエネルギーを用い、シラン、
ジシランなどの化合物ガスを分解し、シリコンウエハや
ガラス基板上に薄膜を形成する、光CVD装置の開発が
積極的になされている。これら光を用いた光CVD装置
は、プロセスの低温化が可能であり、荷電粒子による基
板や形成膜の劣化も発生しないことから、次世代のデバ
イス製造方法として大きく注目されている。しかしなが
ら、このような光CVD装置においては、反応生成物が
光透過窓やランプ表面を汚し、光量が低下するという大
きな問題点があった。このような問題点に対処するため
に、例えば、特開昭60−209248号公報に示され
るように、反応室と光源室とを紫外線透過性の多孔板で
仕切り、該多孔板より不活性ガスをパージすることによ
り、光透過窓やランプ表面の汚れを防止する提案がなさ
れてきた。
ジシランなどの化合物ガスを分解し、シリコンウエハや
ガラス基板上に薄膜を形成する、光CVD装置の開発が
積極的になされている。これら光を用いた光CVD装置
は、プロセスの低温化が可能であり、荷電粒子による基
板や形成膜の劣化も発生しないことから、次世代のデバ
イス製造方法として大きく注目されている。しかしなが
ら、このような光CVD装置においては、反応生成物が
光透過窓やランプ表面を汚し、光量が低下するという大
きな問題点があった。このような問題点に対処するため
に、例えば、特開昭60−209248号公報に示され
るように、反応室と光源室とを紫外線透過性の多孔板で
仕切り、該多孔板より不活性ガスをパージすることによ
り、光透過窓やランプ表面の汚れを防止する提案がなさ
れてきた。
【0003】図4は、従来用いられてきた光CVD装置
の一例を示す断面図である。図において、1は処理すべ
き基板2を収容する反応室であり、反応ガスの導入系及
び排気系がそれぞれ導入口3及び排気口4に接続されて
いる。この反応室1中には、基板2を装着するステージ
5が設置され、通常、ヒーター6等により一定温度に制
御されている。また、この反応室1は、小孔を多数持っ
た石英製のガス噴出板7を介して光源室9と接続されて
いる。該小孔を多数持った石英製のガス噴出板7は、図
5に示されているように、均一な直径をもった小孔8が
ほぼ全面に一様な密度で分布している。一方、光源室9
には、光化学反応に好適な波長を放出する光源10が設
置されており、基板2上に光を照射できるようになって
いる。また不活性ガスの導入系も導入口11に接続され
ている。
の一例を示す断面図である。図において、1は処理すべ
き基板2を収容する反応室であり、反応ガスの導入系及
び排気系がそれぞれ導入口3及び排気口4に接続されて
いる。この反応室1中には、基板2を装着するステージ
5が設置され、通常、ヒーター6等により一定温度に制
御されている。また、この反応室1は、小孔を多数持っ
た石英製のガス噴出板7を介して光源室9と接続されて
いる。該小孔を多数持った石英製のガス噴出板7は、図
5に示されているように、均一な直径をもった小孔8が
ほぼ全面に一様な密度で分布している。一方、光源室9
には、光化学反応に好適な波長を放出する光源10が設
置されており、基板2上に光を照射できるようになって
いる。また不活性ガスの導入系も導入口11に接続され
ている。
【0004】反応ガスは、反応ガス導入系から導入口3
を経て基板2の表面にほぼ平行にシート状に導入され、
好適な波長の光により分解、または反応を起こし、基板
2上に薄膜を堆積する。この時、不活性ガス導入口11
より導入した不活性ガスを、小孔を多数もった石英製の
ガラス噴出板7を通して基板2の表面に対向するように
反応室1へ導入し、光源10への膜付着を防止できるよ
う構成されている。
を経て基板2の表面にほぼ平行にシート状に導入され、
好適な波長の光により分解、または反応を起こし、基板
2上に薄膜を堆積する。この時、不活性ガス導入口11
より導入した不活性ガスを、小孔を多数もった石英製の
ガラス噴出板7を通して基板2の表面に対向するように
反応室1へ導入し、光源10への膜付着を防止できるよ
う構成されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記のように構成した
光CVD装置を用いて6インチの大口径基板に膜を堆積
させた場合、図3の膜厚分布図に示すように、反応ガス
の流れに垂直方向の分布(●印)は比較的良好である
が、反応ガスの流れに平行方向の分布(○印)は、上流
から下流にわたって膜厚が減少していくような分布が得
られた。ちなみに、この時得られた上流から下流にかけ
ての膜厚分布は±20%程度であった。この原因として
は、反応ガスが導入口から排気口へ向って流れていく間
に、上方からのパージ用不活性ガスが混入するため、濃
度希釈が生じ、導入口から排気口へ向って反応ガスの濃
度勾配が発生するためと推定される。
光CVD装置を用いて6インチの大口径基板に膜を堆積
させた場合、図3の膜厚分布図に示すように、反応ガス
の流れに垂直方向の分布(●印)は比較的良好である
が、反応ガスの流れに平行方向の分布(○印)は、上流
から下流にわたって膜厚が減少していくような分布が得
られた。ちなみに、この時得られた上流から下流にかけ
ての膜厚分布は±20%程度であった。この原因として
は、反応ガスが導入口から排気口へ向って流れていく間
に、上方からのパージ用不活性ガスが混入するため、濃
度希釈が生じ、導入口から排気口へ向って反応ガスの濃
度勾配が発生するためと推定される。
【0006】上記のような分布を改良する手段として、
一般には基板2を装着しているステージ5を回転させる
方法が広く行なわれている。しかしながら、回転により
摺動部からダストが発生したり、また、基板の温度分布
の均一性を得るために工夫された加熱機構がウエハステ
ージに搭載されている場合には、ステージ5を回転させ
ることはハード上非常に困難である等の問題がある。ま
た、仮に基板回転が可能であっても、最上流と最下流の
膜厚の平均値が基板中央の膜厚に比べて大きい、或いは
小さい場合には、基板回転により均一な膜厚分布を得る
ことは不可能である。従って、これらの状況を考えれ
ば、基板を回転させないままで膜を堆積し、均一な分布
を得ることのできる装置が要求される。
一般には基板2を装着しているステージ5を回転させる
方法が広く行なわれている。しかしながら、回転により
摺動部からダストが発生したり、また、基板の温度分布
の均一性を得るために工夫された加熱機構がウエハステ
ージに搭載されている場合には、ステージ5を回転させ
ることはハード上非常に困難である等の問題がある。ま
た、仮に基板回転が可能であっても、最上流と最下流の
膜厚の平均値が基板中央の膜厚に比べて大きい、或いは
小さい場合には、基板回転により均一な膜厚分布を得る
ことは不可能である。従って、これらの状況を考えれ
ば、基板を回転させないままで膜を堆積し、均一な分布
を得ることのできる装置が要求される。
【0007】以上のような問題点に対処するために、本
発明は、基板を回転させないままで均一な膜厚分布が得
られる大口径基板対応の光CVD装置を提供することを
目的としている。
発明は、基板を回転させないままで均一な膜厚分布が得
られる大口径基板対応の光CVD装置を提供することを
目的としている。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明は、処理すべき基板を収容する反応室と、
該反応室内に反応ガスを導入及び排気する手段と、該反
応ガスを光化学反応させ、該基板上に薄膜を形成させる
ための光源と、該光源を収容する光源室と、該反応室と
該光源室の間に、多数の小孔を持った光透過性ガス噴出
板を配置し、該反応室内に収容された基板の表面にほぼ
平行にガス導入口より第1のガス流をシート状に導入
し、また該基板上の表面に、この表面に垂直な方向から
第2のガス流を、該多数の小孔を持った光透過性ガス噴
出板より導入して、該基板の表面の近傍に上記第1のガ
ス流を層流状態に保持するようにした光CVD装置にお
いて、上記多数の小孔を持った光透過性ガス噴出板から
のガス吹出し量を場所により変化させたことを特徴と
し、またそのために、多数の小孔を持った光透過性ガス
噴出板の小孔を、直径は総べて等しいが場所により該小
孔の分布密度を変化させ、又は、分布密度は等しいが場
所により該小孔の直径を変化させたことを特徴としてい
る。
めに、本発明は、処理すべき基板を収容する反応室と、
該反応室内に反応ガスを導入及び排気する手段と、該反
応ガスを光化学反応させ、該基板上に薄膜を形成させる
ための光源と、該光源を収容する光源室と、該反応室と
該光源室の間に、多数の小孔を持った光透過性ガス噴出
板を配置し、該反応室内に収容された基板の表面にほぼ
平行にガス導入口より第1のガス流をシート状に導入
し、また該基板上の表面に、この表面に垂直な方向から
第2のガス流を、該多数の小孔を持った光透過性ガス噴
出板より導入して、該基板の表面の近傍に上記第1のガ
ス流を層流状態に保持するようにした光CVD装置にお
いて、上記多数の小孔を持った光透過性ガス噴出板から
のガス吹出し量を場所により変化させたことを特徴と
し、またそのために、多数の小孔を持った光透過性ガス
噴出板の小孔を、直径は総べて等しいが場所により該小
孔の分布密度を変化させ、又は、分布密度は等しいが場
所により該小孔の直径を変化させたことを特徴としてい
る。
【0009】
【作用】上記のように構成した本発明による光CVD装
置は、多数の小孔を持ったガス噴出板の小孔の直径は総
べて等しいが場所により小孔の分布密度を変化させる
か、または小孔の分布密度は等しいが場所により小孔の
直径を変化させた構造を採用しているため、場所による
希釈効果の影響を自在にコントロールすることができ、
好適な条件を選ぶことにより、大口径基板においても良
好な膜厚分布を得ることができる。
置は、多数の小孔を持ったガス噴出板の小孔の直径は総
べて等しいが場所により小孔の分布密度を変化させる
か、または小孔の分布密度は等しいが場所により小孔の
直径を変化させた構造を採用しているため、場所による
希釈効果の影響を自在にコントロールすることができ、
好適な条件を選ぶことにより、大口径基板においても良
好な膜厚分布を得ることができる。
【0010】
【実施例】次に、本発明の具体的実施例について図面を
用いて説明する。図1は、本発明の一実施例を示す大口
径基板対応の光CVD装置の概略断面図、図2は、本実
施例で使用した多数の小孔をもったガス噴出板の上面図
である。図1において、21は6インチガラス基板22
を収容するアルミ製の反応室であり、反応ガスの導入
系、および排気系がそれぞれ導入口23および排気口2
4に接続されている。この反応室21中には、6インチ
ガラス基板22を装着するステージ25が設置され、赤
外ランプヒーター26により250℃に制御されてい
る。またこの反応室は、直径0.6mmの小孔を多数持
ち、大きさ200mm×250mmで厚さ2mmの石英
製の噴出板27を介して光源室29と接続されている。
この石英製の噴出板27は、図2に示すように、直径
0.6mmの小孔28が上流、中流、下流の3つの領域
にそれぞれ3対2対1の吹出し量となるように孔数を変
化させて形成されている。光源室29には光化学反応に
好適な波長を放出する大面積の低圧水銀ランプ30が設
置されており、ガラス基板22上に均一の照度で光を照
射できるようになっている。また不活性ガスの導入系も
導入口31に接続されている。
用いて説明する。図1は、本発明の一実施例を示す大口
径基板対応の光CVD装置の概略断面図、図2は、本実
施例で使用した多数の小孔をもったガス噴出板の上面図
である。図1において、21は6インチガラス基板22
を収容するアルミ製の反応室であり、反応ガスの導入
系、および排気系がそれぞれ導入口23および排気口2
4に接続されている。この反応室21中には、6インチ
ガラス基板22を装着するステージ25が設置され、赤
外ランプヒーター26により250℃に制御されてい
る。またこの反応室は、直径0.6mmの小孔を多数持
ち、大きさ200mm×250mmで厚さ2mmの石英
製の噴出板27を介して光源室29と接続されている。
この石英製の噴出板27は、図2に示すように、直径
0.6mmの小孔28が上流、中流、下流の3つの領域
にそれぞれ3対2対1の吹出し量となるように孔数を変
化させて形成されている。光源室29には光化学反応に
好適な波長を放出する大面積の低圧水銀ランプ30が設
置されており、ガラス基板22上に均一の照度で光を照
射できるようになっている。また不活性ガスの導入系も
導入口31に接続されている。
【0011】上記のように構成した装置において、反応
ガスにシランおよび水銀蒸気、不活性ガスにアルゴンガ
スを用いて、6インチサイズのガラス基板にアモルファ
スシリコン膜を堆積させた。得られた膜厚分布測定結果
を図3□印に示す。図3○印に示す均一なガス噴出板を
用いた場合(図5)に比べ、格段に良好な膜厚分布が得
られ、総べての領域にわたり±5%以内の膜厚分布であ
った。
ガスにシランおよび水銀蒸気、不活性ガスにアルゴンガ
スを用いて、6インチサイズのガラス基板にアモルファ
スシリコン膜を堆積させた。得られた膜厚分布測定結果
を図3□印に示す。図3○印に示す均一なガス噴出板を
用いた場合(図5)に比べ、格段に良好な膜厚分布が得
られ、総べての領域にわたり±5%以内の膜厚分布であ
った。
【0012】上記した実施例に示した石英製の噴出板2
2を180度回転させ、上流、中流、下流の3つの領域
についてそれぞれ1対2対3の吹出し量となるように
し、これを用いて同様な成膜を行なった。その際得られ
た6インチサイズガラス基板の膜厚分布は、図3△印に
示すように、上流から下流にかけて±40%程度であ
り、均一なガス噴出板よりもさらに悪くなった。このよ
うに、流れに平行方向の分布は、ガス噴出板より吹出す
パージガス量に大きく依存しており、この量を調節する
ことにより、膜厚分布をコントロールすることが可能で
あることがわかる。上記実施例では、上流から下流にか
けて膜厚が低下していく系を扱ったため、ガス噴出板に
開ける小孔の数を上流から下流にかけて3対2対1の割
合で開けたものを用いたが、膜厚分布が逆の場合、つま
り上流から下流にかけて上昇する場合には、図3△印の
場合と同様に、吹出し量を1対2対3の割合で吹出すこ
とが必要である。なお、本実施例では、吹出し領域を3
つに分けたが、別に3つである必要はなく、2つでも或
いは3つ以上でも構わない。要は、均一に吹出した場合
の膜厚分布を考慮して、小孔の分布密度を変化させるこ
とが必要である。
2を180度回転させ、上流、中流、下流の3つの領域
についてそれぞれ1対2対3の吹出し量となるように
し、これを用いて同様な成膜を行なった。その際得られ
た6インチサイズガラス基板の膜厚分布は、図3△印に
示すように、上流から下流にかけて±40%程度であ
り、均一なガス噴出板よりもさらに悪くなった。このよ
うに、流れに平行方向の分布は、ガス噴出板より吹出す
パージガス量に大きく依存しており、この量を調節する
ことにより、膜厚分布をコントロールすることが可能で
あることがわかる。上記実施例では、上流から下流にか
けて膜厚が低下していく系を扱ったため、ガス噴出板に
開ける小孔の数を上流から下流にかけて3対2対1の割
合で開けたものを用いたが、膜厚分布が逆の場合、つま
り上流から下流にかけて上昇する場合には、図3△印の
場合と同様に、吹出し量を1対2対3の割合で吹出すこ
とが必要である。なお、本実施例では、吹出し領域を3
つに分けたが、別に3つである必要はなく、2つでも或
いは3つ以上でも構わない。要は、均一に吹出した場合
の膜厚分布を考慮して、小孔の分布密度を変化させるこ
とが必要である。
【0013】多数の小孔を持った光透過性ガス噴出板2
7からのガス吹出し量を、場所により変化させる手段と
して、上記実施例では、小孔28の直径は総べて等しい
が該小孔の数、つまり小孔の分布密度を変化させた構造
について説明したが、図2(b)に示すように、小孔の
分布密度は等しいが場所により該小孔の直径を変化させ
るようにしてもよい。更に、上記二つの手段を組合わせ
て、多数の小孔を持った光透過性ガス噴出板からのガス
吹出し量を場所により変化させるようにすることも可能
である。
7からのガス吹出し量を、場所により変化させる手段と
して、上記実施例では、小孔28の直径は総べて等しい
が該小孔の数、つまり小孔の分布密度を変化させた構造
について説明したが、図2(b)に示すように、小孔の
分布密度は等しいが場所により該小孔の直径を変化させ
るようにしてもよい。更に、上記二つの手段を組合わせ
て、多数の小孔を持った光透過性ガス噴出板からのガス
吹出し量を場所により変化させるようにすることも可能
である。
【0014】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
多数の小孔をもったガス噴出板の小孔の分布密度や、該
小孔の直径を変化させることにより、ガス噴出板からの
ガス吹出し量を場所により変化させるようにしたこと
で、自在に膜厚分布をコントロールすることができるの
で、良好な歩留りが得られ、生産性を飛躍的に向上させ
ることができる。
多数の小孔をもったガス噴出板の小孔の分布密度や、該
小孔の直径を変化させることにより、ガス噴出板からの
ガス吹出し量を場所により変化させるようにしたこと
で、自在に膜厚分布をコントロールすることができるの
で、良好な歩留りが得られ、生産性を飛躍的に向上させ
ることができる。
【図1】本発明の一実施例を示す光CVD装置の断面図
である。
である。
【図2】(a)、(b)は本発明の光CVD装置に使用
する光透過性のガス噴出板の異った実施例を示す平面図
である。
する光透過性のガス噴出板の異った実施例を示す平面図
である。
【図3】本発明の実施例及び従来例において得られた、
反応ガスの流れに平行方向の膜厚分布特性の比較図であ
る。
反応ガスの流れに平行方向の膜厚分布特性の比較図であ
る。
【図4】従来例を示す光CVD装置の断面図である。
【図5】従来例に使用される光透過性のガス噴出板の上
面図である。
面図である。
21 反応室 22 ガラス基板 23 反応ガス導入口 24 排気口 25 ステージ 26 赤外ランプヒータ 27 石英製噴出板 28 小孔 29 光源室 30 低圧水銀ランプ 31 不活性ガス導入口
Claims (1)
- 【請求項1】 処理すべき基板を収容する反応室と、該
反応室内に反応ガスを導入及び排気するそれぞれの手段
と、該反応ガスを光化学反応させ、該基板上に薄膜を形
成させるための光源と、該光源を収容する光源室と、該
反応室と該光源室の間に、多数の小孔を持った光透過性
ガス噴出板を配置し、該反応室内に収容された基板の表
面にほぼ平行にガス導入口により第1のガス流をシート
状に導入し、また該基板上の表面に、この表面に垂直な
方向から第2のガス流を、該多数の小孔を持った光透過
性ガス噴出板より導入して、該基板の表面の近傍に上記
第1のガス流を層流状態に保持するようにした光CVD
装置において、上記多数の小孔を持った光透過性ガス噴
出板の小孔の径及び小孔の数の少なくとも一方を可変に
したことを特徴とする光CVD装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25658791A JPH05175135A (ja) | 1991-10-03 | 1991-10-03 | 光cvd装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25658791A JPH05175135A (ja) | 1991-10-03 | 1991-10-03 | 光cvd装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05175135A true JPH05175135A (ja) | 1993-07-13 |
Family
ID=17294703
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25658791A Pending JPH05175135A (ja) | 1991-10-03 | 1991-10-03 | 光cvd装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05175135A (ja) |
Cited By (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20090159001A1 (en) * | 2004-08-11 | 2009-06-25 | Pyung-Yong Um | Shower head of chemical vapor deposition apparatus |
JP2009164570A (ja) * | 2007-12-11 | 2009-07-23 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 気相処理装置、気相処理方法および基板 |
JP2010272889A (ja) * | 2004-04-27 | 2010-12-02 | Sumco Corp | エピタキシャル成長装置 |
US8349083B2 (en) | 2007-12-11 | 2013-01-08 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Vapor-phase process apparatus, vapor-phase process method, and substrate |
JP2014127669A (ja) * | 2012-12-27 | 2014-07-07 | Showa Denko Kk | 成膜装置および膜の製造方法 |
JP2014127670A (ja) * | 2012-12-27 | 2014-07-07 | Showa Denko Kk | 成膜装置および膜の製造方法 |
US20140202388A1 (en) * | 2008-09-30 | 2014-07-24 | Eugene Technology Co., Ltd. | Shower head unit and chemical vapor deposition apparatus |
KR101440415B1 (ko) * | 2008-07-02 | 2014-09-17 | 주식회사 원익아이피에스 | 진공처리장치 |
US20150129132A1 (en) * | 2013-11-13 | 2015-05-14 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Showerhead and apparatus for processing a substrate including the same |
US20150214009A1 (en) * | 2014-01-25 | 2015-07-30 | Yuri Glukhoy | Showerhead-cooler system of a semiconductor-processing chamber for semiconductor wafers of large area |
US10221483B2 (en) * | 2014-05-16 | 2019-03-05 | Applied Materials, Inc. | Showerhead design |
US10233543B2 (en) | 2015-10-09 | 2019-03-19 | Applied Materials, Inc. | Showerhead assembly with multiple fluid delivery zones |
US10934620B2 (en) * | 2016-11-29 | 2021-03-02 | Applied Materials, Inc. | Integration of dual remote plasmas sources for flowable CVD |
US11286565B2 (en) * | 2018-12-13 | 2022-03-29 | Xia Tai Xin Semiconductor (Qing Dao) Ltd. | Apparatus and method for semiconductor fabrication |
US11332827B2 (en) * | 2019-03-27 | 2022-05-17 | Applied Materials, Inc. | Gas distribution plate with high aspect ratio holes and a high hole density |
WO2024158731A1 (en) * | 2023-01-23 | 2024-08-02 | Applied Materials, Inc. | Adjustable cross-flow process chamber lid |
-
1991
- 1991-10-03 JP JP25658791A patent/JPH05175135A/ja active Pending
Cited By (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010272889A (ja) * | 2004-04-27 | 2010-12-02 | Sumco Corp | エピタキシャル成長装置 |
US20090159001A1 (en) * | 2004-08-11 | 2009-06-25 | Pyung-Yong Um | Shower head of chemical vapor deposition apparatus |
JP2009164570A (ja) * | 2007-12-11 | 2009-07-23 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 気相処理装置、気相処理方法および基板 |
US8349083B2 (en) | 2007-12-11 | 2013-01-08 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Vapor-phase process apparatus, vapor-phase process method, and substrate |
US8349403B2 (en) | 2007-12-11 | 2013-01-08 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Vapor-phase process apparatus, vapor-phase process method, and substrate |
US8628616B2 (en) | 2007-12-11 | 2014-01-14 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Vapor-phase process apparatus, vapor-phase process method, and substrate |
KR101440415B1 (ko) * | 2008-07-02 | 2014-09-17 | 주식회사 원익아이피에스 | 진공처리장치 |
US20140202388A1 (en) * | 2008-09-30 | 2014-07-24 | Eugene Technology Co., Ltd. | Shower head unit and chemical vapor deposition apparatus |
US9493875B2 (en) * | 2008-09-30 | 2016-11-15 | Eugene Technology Co., Ltd. | Shower head unit and chemical vapor deposition apparatus |
JP2014127669A (ja) * | 2012-12-27 | 2014-07-07 | Showa Denko Kk | 成膜装置および膜の製造方法 |
JP2014127670A (ja) * | 2012-12-27 | 2014-07-07 | Showa Denko Kk | 成膜装置および膜の製造方法 |
US20150129132A1 (en) * | 2013-11-13 | 2015-05-14 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Showerhead and apparatus for processing a substrate including the same |
US9484190B2 (en) * | 2014-01-25 | 2016-11-01 | Yuri Glukhoy | Showerhead-cooler system of a semiconductor-processing chamber for semiconductor wafers of large area |
US20150214009A1 (en) * | 2014-01-25 | 2015-07-30 | Yuri Glukhoy | Showerhead-cooler system of a semiconductor-processing chamber for semiconductor wafers of large area |
US10221483B2 (en) * | 2014-05-16 | 2019-03-05 | Applied Materials, Inc. | Showerhead design |
US10626500B2 (en) | 2014-05-16 | 2020-04-21 | Applied Materials, Inc. | Showerhead design |
US10233543B2 (en) | 2015-10-09 | 2019-03-19 | Applied Materials, Inc. | Showerhead assembly with multiple fluid delivery zones |
US10669629B2 (en) | 2015-10-09 | 2020-06-02 | Applied Materials, Inc. | Showerhead assembly with multiple fluid delivery zones |
US11293099B2 (en) | 2015-10-09 | 2022-04-05 | Applied Materials, Inc. | Showerhead assembly with multiple fluid delivery zones |
US10934620B2 (en) * | 2016-11-29 | 2021-03-02 | Applied Materials, Inc. | Integration of dual remote plasmas sources for flowable CVD |
US11286565B2 (en) * | 2018-12-13 | 2022-03-29 | Xia Tai Xin Semiconductor (Qing Dao) Ltd. | Apparatus and method for semiconductor fabrication |
US20220178030A1 (en) * | 2018-12-13 | 2022-06-09 | Xia Tai Xin Semiconductor (Qing Dao) Ltd. | Apparatus and method for semiconductor fabrication |
US11680321B2 (en) * | 2018-12-13 | 2023-06-20 | Xia Tai Xin Semiconductor (Qing Dao) Ltd. | Apparatus and method for semiconductor fabrication |
US11332827B2 (en) * | 2019-03-27 | 2022-05-17 | Applied Materials, Inc. | Gas distribution plate with high aspect ratio holes and a high hole density |
WO2024158731A1 (en) * | 2023-01-23 | 2024-08-02 | Applied Materials, Inc. | Adjustable cross-flow process chamber lid |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH05175135A (ja) | 光cvd装置 | |
US4800105A (en) | Method of forming a thin film by chemical vapor deposition | |
EP0252667B1 (en) | Chemical vapour deposition methods | |
JP3067940B2 (ja) | 窒化ケイ素薄膜の蒸着 | |
US7687380B2 (en) | Laser annealing method and laser annealing device | |
JP3581388B2 (ja) | 均一性が向上した堆積ポリシリコン膜と、そのための装置 | |
KR100574116B1 (ko) | 반도체 처리 시스템의 매엽식 처리 장치 | |
EP0251764B1 (en) | Chemical vapour deposition methods and apparatus | |
JPH05267177A (ja) | 光学式化学蒸着システム | |
KR20030019912A (ko) | 처리 장치 및 그것의 세정 방법 | |
US20020127879A1 (en) | Coating and developing system | |
JPH01107519A (ja) | 気相成長装置 | |
US5711815A (en) | Film forming apparatus and film forming method | |
JP3112520B2 (ja) | 光cvd装置 | |
US20080032040A1 (en) | Wafer Support and Semiconductor Substrate Processing Method | |
JP3038524B2 (ja) | 半導体製造装置 | |
JPH05198512A (ja) | 光cvd装置 | |
JPH05320891A (ja) | スパッタリング装置 | |
CA1330601C (en) | Apparatus for semiconductor process including photo-excitation process | |
JP3174787B2 (ja) | 光cvd装置 | |
EP0240305B1 (en) | Method for forming a deposited film | |
JPH04279022A (ja) | 半導体製造装置 | |
JPH05304102A (ja) | 半導体装置の製造装置 | |
JPH0341722A (ja) | 薄膜製造装置 | |
JP3079436B2 (ja) | 光化学反応装置 |