JPS6183946A - シ−ト状物質の配向測定方法 - Google Patents
シ−ト状物質の配向測定方法Info
- Publication number
- JPS6183946A JPS6183946A JP59205992A JP20599284A JPS6183946A JP S6183946 A JPS6183946 A JP S6183946A JP 59205992 A JP59205992 A JP 59205992A JP 20599284 A JP20599284 A JP 20599284A JP S6183946 A JPS6183946 A JP S6183946A
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- JP
- Japan
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- sheet
- frequency
- paper
- slit
- cavity resonator
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N22/00—Investigating or analysing materials by the use of microwaves or radio waves, i.e. electromagnetic waves with a wavelength of one millimetre or more
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
をd(11″メビする方法番こ関するものである。
(ロ)従来の技術
従来は製品のシートから種々の方向に短冊状のこの従来
方法は破壊試験であるから製品自体の損不良が発見され
て製造工程を停止あるいは再調整するまでの間に不良品
が多く造られてしまう、また再調整してもその結果がす
く慣こは分らないと(−)う問題があった。
方法は破壊試験であるから製品自体の損不良が発見され
て製造工程を停止あるいは再調整するまでの間に不良品
が多く造られてしまう、また再調整してもその結果がす
く慣こは分らないと(−)う問題があった。
(/→ 発明が解決しようとする問題点本発明は非破壊
的で連続測定可能、短@間(略実時間)で結果の出せる
紙シート等の分子配向6(11定方法を提供しようとす
るものである。
的で連続測定可能、短@間(略実時間)で結果の出せる
紙シート等の分子配向6(11定方法を提供しようとす
るものである。
(ロ)問題点を解決するための手段
上記の目的を達成するために本発明はマイクロ波を利用
し空胴共振器の空胴部に試料を挿入するスリットを設け
、被検査シートを上記スリットに挿入して、被検査シー
トを空胴共振器に対して相対的に回転させなから空胴共
振器を一定周波数で一致し1こときに誘電体損および抵
抗損が最大となって共振器のQが低下し検波出力が低下
する現象を利用したものである。
し空胴共振器の空胴部に試料を挿入するスリットを設け
、被検査シートを上記スリットに挿入して、被検査シー
トを空胴共振器に対して相対的に回転させなから空胴共
振器を一定周波数で一致し1こときに誘電体損および抵
抗損が最大となって共振器のQが低下し検波出力が低下
する現象を利用したものである。
(ホ)実施例
第1図は本発明の抄紙工程における実施例を示したもの
である。図において(1)は空胴共振器で、に受信導波
管Bを設け中央部の電界の腹が形成される場所の周壁に
スリット(2)を設けて胴壁を2分された構成となって
いる。もつとも受信位置は原理的1こは空胴共振器内の
どこでもよい。このスリット2)に被検査紙(3)を挿
入し、被検査紙(3)または空胴共振器を回転させなか
ら空胴共振器(1)を定周波数て励振する。(4)はト
ランジスター等のマイクロ波発振器、(5)は検波器、
(6)はこれらを連結する同軸ケーブルである。
である。図において(1)は空胴共振器で、に受信導波
管Bを設け中央部の電界の腹が形成される場所の周壁に
スリット(2)を設けて胴壁を2分された構成となって
いる。もつとも受信位置は原理的1こは空胴共振器内の
どこでもよい。このスリット2)に被検査紙(3)を挿
入し、被検査紙(3)または空胴共振器を回転させなか
ら空胴共振器(1)を定周波数て励振する。(4)はト
ランジスター等のマイクロ波発振器、(5)は検波器、
(6)はこれらを連結する同軸ケーブルである。
第2図は抄紙ラインの検査装置として使用する場aの例
・¥示したちのて、帯状紙か通過する門1!Lll枠(
7)Iこ複数個の空胴共振器(1)を配首し、機械的手
段によって全ての空胴共振器tl+を回転できるように
しておく。(8)は帯状紙案内用のロールである。
・¥示したちのて、帯状紙か通過する門1!Lll枠(
7)Iこ複数個の空胴共振器(1)を配首し、機械的手
段によって全ての空胴共振器tl+を回転できるように
しておく。(8)は帯状紙案内用のロールである。
第3図は、第1図の装置で3GHz帯で発振周波数を変
えながら検波出力を測定した結果を示したもので空胴共
振器の共振曲線である。図中(イ)は被検査紙を挿入し
ない場合で共振周波数は、最も高く約3514MHzで
ある。(o)は被検査紙を挿入し電界が繊維方向と直交
する場合、(/つは同じく電界と繊維方向とが30度を
なす場合、に)は電界と繊維方向とが平行の場合を示し
゛ている。このグラフから繊維方向を電界に対して0度
から90度まで回転させたとき空胴共振器のQと共振周
波数の両方が紙の回転角度1こ依存して変化することが
わかる。またこのようlこ共振器のQと共振周波数とが
回転角度に応じて変化する結果、同図に(ホ)点で示し
たように共振曲線が交さして回転角度を変化しても検波
出力が変化しない点が存在すること検出は困難となる。
えながら検波出力を測定した結果を示したもので空胴共
振器の共振曲線である。図中(イ)は被検査紙を挿入し
ない場合で共振周波数は、最も高く約3514MHzで
ある。(o)は被検査紙を挿入し電界が繊維方向と直交
する場合、(/つは同じく電界と繊維方向とが30度を
なす場合、に)は電界と繊維方向とが平行の場合を示し
゛ている。このグラフから繊維方向を電界に対して0度
から90度まで回転させたとき空胴共振器のQと共振周
波数の両方が紙の回転角度1こ依存して変化することが
わかる。またこのようlこ共振器のQと共振周波数とが
回転角度に応じて変化する結果、同図に(ホ)点で示し
たように共振曲線が交さして回転角度を変化しても検波
出力が変化しない点が存在すること検出は困難となる。
つまりQの低下と共振周波数の置方偏移が同方向に生ず
るので、D点は共振曲線の山の左側に存在することにな
るので励振周波数を試料を挿入したときの共振周波数よ
り若干高周波側に設定おけば紙の方向1こよるQの変化
を鋭敏に検出てきるのである。周波数の設定範囲として
は共振曲線(ロ)1こおいてピーク頂上から右側でOd
B乃至10dBり゛ランまでの′pA囲に励振周波数を
設定すれば充分検出可能であるが、LdB〜3(IHの
範囲が晴度などの点で望ましい。
るので、D点は共振曲線の山の左側に存在することにな
るので励振周波数を試料を挿入したときの共振周波数よ
り若干高周波側に設定おけば紙の方向1こよるQの変化
を鋭敏に検出てきるのである。周波数の設定範囲として
は共振曲線(ロ)1こおいてピーク頂上から右側でOd
B乃至10dBり゛ランまでの′pA囲に励振周波数を
設定すれば充分検出可能であるが、LdB〜3(IHの
範囲が晴度などの点で望ましい。
上の実験、結末1こ対する一般的な考察として、第4図
のような((り成において共振周波数が中に入れ1こン
ートSによってどのように変るかを考える。
のような((り成において共振周波数が中に入れ1こン
ートSによってどのように変るかを考える。
この図てM、 AI’は放物面反射体で、一方の放物
面〜lの焦点番こ電磁ラッパが開口されており、他方の
放物mの焦県には反射体か置いである。この構成は距J
L+こよって決まる一定周波数において定在迭 波が形成される。即ち共振する。比誘屯率と厚XLのン
ートSを入れると7B磁波に対する実効的な距離りはL
(ε−1)だけ伸びたことになりその分共振周波数が低
くなる。次)こ第4図でンートSが共振の鋭さ即ちQに
およほす影響を考える。この問題はきわめて複雑である
が、大まか)こ電界による分極電荷偏移も分子方向の方
がそれと直角の方向より起り易と考えると、分子配向が
電界と平行の通合の万がQの低下が大きいと予想される
。
面〜lの焦点番こ電磁ラッパが開口されており、他方の
放物mの焦県には反射体か置いである。この構成は距J
L+こよって決まる一定周波数において定在迭 波が形成される。即ち共振する。比誘屯率と厚XLのン
ートSを入れると7B磁波に対する実効的な距離りはL
(ε−1)だけ伸びたことになりその分共振周波数が低
くなる。次)こ第4図でンートSが共振の鋭さ即ちQに
およほす影響を考える。この問題はきわめて複雑である
が、大まか)こ電界による分極電荷偏移も分子方向の方
がそれと直角の方向より起り易と考えると、分子配向が
電界と平行の通合の万がQの低下が大きいと予想される
。
第3図の実験結果は上の考え方を裏書きしているように
見える。高周波電磁波と物質との相互作用は、周波数に
よって異なりその異なる原因も原子的、分子的、分子の
集合状態等の様々なスケール存在しきわめて多様である
から、−律に考えることはできないが、七の考察は真実
1こ近い一つのモデル的考察と云えよう。少くとも3G
Hz前後の周波数域では、電界と分子の配向方向との関
係として第3図1こ示す結果は一般的に成立つとみてよ
もこの場a周波敢は固定でよく、検波出力の変化だけを
6(すれはよいので、周波数を変えて共振点を検出する
より回路構成か著るしく lul単になる。第1図(は
本発明による紙の配向の測定結果と同質の紙の試験片の
引張試験の結果との比較で使用周波数は3510MHz
であり、雨音の結果は良く一致しており、本発明の有効
性を物語っている。
見える。高周波電磁波と物質との相互作用は、周波数に
よって異なりその異なる原因も原子的、分子的、分子の
集合状態等の様々なスケール存在しきわめて多様である
から、−律に考えることはできないが、七の考察は真実
1こ近い一つのモデル的考察と云えよう。少くとも3G
Hz前後の周波数域では、電界と分子の配向方向との関
係として第3図1こ示す結果は一般的に成立つとみてよ
もこの場a周波敢は固定でよく、検波出力の変化だけを
6(すれはよいので、周波数を変えて共振点を検出する
より回路構成か著るしく lul単になる。第1図(は
本発明による紙の配向の測定結果と同質の紙の試験片の
引張試験の結果との比較で使用周波数は3510MHz
であり、雨音の結果は良く一致しており、本発明の有効
性を物語っている。
(へ)効果
本発明方法は上述のように、空胴共振器を2つ割りにし
て試料シートを挿入し?(する小間隙(スリット)を設
け、はぼ共振周波数で励振して紙の相肘回転角1隻と検
波出力との関係から配向性を検出するものであるから、
短面状の試料片を切り出して引張強度試験を行っていた
従来方法よりもはるか1こ節用かつ迅速番こ検査ができ
るという利点があり、周波数固定て検波出力を測定する
だけでよいから1u気回路特に発振回路の構成が簡単に
なる。
て試料シートを挿入し?(する小間隙(スリット)を設
け、はぼ共振周波数で励振して紙の相肘回転角1隻と検
波出力との関係から配向性を検出するものであるから、
短面状の試料片を切り出して引張強度試験を行っていた
従来方法よりもはるか1こ節用かつ迅速番こ検査ができ
るという利点があり、周波数固定て検波出力を測定する
だけでよいから1u気回路特に発振回路の構成が簡単に
なる。
・111図面の簡LA5−なじ3明
渠1図は本発明の一実施例を示す断面図、第2図は同上
の使用状態の一例を示す斜視図、第3図は本発明の作用
を示すグラフ、第4図は本発明の原理説明図、第5図は
本発明と従来法との比較1図である。
の使用状態の一例を示す斜視図、第3図は本発明の作用
を示すグラフ、第4図は本発明の原理説明図、第5図は
本発明と従来法との比較1図である。
(1)・・・空胴共振器、(2)・・・・スリット、(
3)・・・・肢倹査紙14)・・・・発振器、(5)・
・・・検波器、(6)・・・・同1lIlIIケーブル
、+71・・・・門’1枠、[8+・・・・ロール。
3)・・・・肢倹査紙14)・・・・発振器、(5)・
・・・検波器、(6)・・・・同1lIlIIケーブル
、+71・・・・門’1枠、[8+・・・・ロール。
代理人 弁理士 孫 、告 介平イ〒
滅臭量
六方
図
Claims (1)
- (1)空胴共振器の空胴部にスリットを設け被検査シー
トを上記スリットに挿入して被検査シートを空胴共振器
に対して相対的に回転させながら空胴共振器を一定周波
数で励振し、空胴共振器内の適宜の位置で受信し、検波
出力の減衰量の角度依存性から分子配向性を検出するシ
ート状物質の分子配向測定方法において、 上記励振周波数を被検査シート挿入時の空胴共振器の共
振周波数よりも若干高周波側に設定することを特徴とす
るシート状物質の配向測定方法。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59205992A JPS6183946A (ja) | 1984-10-01 | 1984-10-01 | シ−ト状物質の配向測定方法 |
FI853752A FI853752L (fi) | 1984-10-01 | 1985-09-30 | Foerfarande foer maetning av orienteringen av skiv eller naetformiga material. |
EP85112393A EP0177011B1 (en) | 1984-10-01 | 1985-10-01 | Method of measuring orientation of sheet or web like materials |
DE8585112393T DE3566042D1 (en) | 1984-10-01 | 1985-10-01 | Method of measuring orientation of sheet or web like materials |
US07/009,556 US4781063A (en) | 1984-10-01 | 1987-01-30 | Method of measuring orientation of sheet or web like material |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59205992A JPS6183946A (ja) | 1984-10-01 | 1984-10-01 | シ−ト状物質の配向測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6183946A true JPS6183946A (ja) | 1986-04-28 |
JPH0229982B2 JPH0229982B2 (ja) | 1990-07-03 |
Family
ID=16516109
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59205992A Granted JPS6183946A (ja) | 1984-10-01 | 1984-10-01 | シ−ト状物質の配向測定方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4781063A (ja) |
EP (1) | EP0177011B1 (ja) |
JP (1) | JPS6183946A (ja) |
DE (1) | DE3566042D1 (ja) |
FI (1) | FI853752L (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP2005241638A (ja) * | 2004-02-12 | 2005-09-08 | Truetzschler Gmbh & Co Kg | マイクロ波センサおよびマイクロ波センサ用のデバイス |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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EP0325341B1 (en) * | 1988-01-22 | 1992-05-13 | United Kingdom Atomic Energy Authority | Material characterisation |
WO1990005908A1 (en) * | 1988-11-18 | 1990-05-31 | Magyar Tudományos Akadémia Müszaki Fizikai Kutató Intézete | Improved method and apparatus for microwave transient spectroscopy of deep levels in semiconductors |
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RU2059229C1 (ru) * | 1994-01-27 | 1996-04-27 | Товарищество с ограниченной ответственностью "АВАНТЕ Лтд" | Способ измерения свойств анизотропного диэлектрического материала и устройство для его осуществления |
FI953114A0 (fi) * | 1995-06-21 | 1995-06-21 | Valtion Teknillinen | Maetningsfoerfarande baserat pao RF- eller mikrovaogsresornatorer foer bestaemning av fiberorienteringen hos papper och kartong |
JP3731314B2 (ja) * | 1997-03-28 | 2006-01-05 | 王子製紙株式会社 | 配向測定装置 |
ES2177050T3 (es) | 1997-07-31 | 2002-12-01 | Mikrowellen Technologie Und Se | Medicion de distancia con un resonador de cavidad abierta. |
DE19734713A1 (de) | 1997-08-11 | 1999-02-18 | Mikrowellen Technologie Und Se | Radar-Entfernungsmeßeinrichtung |
EP1982163B1 (en) * | 2006-01-17 | 2019-10-02 | University Of Northern British Columbia | Methods and apparatus for determining fibre orientation |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US2548598A (en) * | 1950-02-17 | 1951-04-10 | Gen Electric | Apparatus for detection of flaws by means of microwaves |
BE564022A (ja) * | 1957-01-16 | |||
US3437923A (en) * | 1965-01-06 | 1969-04-08 | Aerojet General Co | Method of determining average orientation of wires in material |
US3538434A (en) * | 1967-06-09 | 1970-11-03 | Atomic Energy Commission | Method for detecting one of heavy water and ordinary water in the presence of the other of heavy water and ordinary water |
JPS5263387A (en) * | 1975-11-20 | 1977-05-25 | Agency Of Ind Science & Technol | Measurement of optical anisotropy of dielectric materials using microw aves |
FI57490C (fi) * | 1978-06-01 | 1980-08-11 | Innotec Oy | Foerfarande foer bestaemning av snedfibrigheten i virke i synnerhet i saogat virke |
US4257001A (en) * | 1979-04-13 | 1981-03-17 | John G. Abramo | Resonant circuit sensor of multiple properties of objects |
US4381485A (en) * | 1981-02-23 | 1983-04-26 | Steinbrecher Corporation | Microwave test apparatus and method |
DE3107675C2 (de) * | 1981-02-28 | 1985-06-20 | Elektro-Physik Hans Nix & Dr.-Ing. E. Steingroever KG, 5000 Köln | Verfahren und Vorrichtung zur elektronischen Messung der Dicke sehr dünner elektrisch leitfähiger Schichten auf nichtleitendem Trägermaterial |
JPS5886443A (ja) * | 1981-11-18 | 1983-05-24 | Agency Of Ind Science & Technol | 異方性材料の方向性測定方法 |
LU84307A1 (fr) * | 1982-07-29 | 1984-03-22 | Bekaert Sa Nv | Systeme pour l'identification d'articles en feuilles par micro-ondes |
JPS59224547A (ja) * | 1983-06-03 | 1984-12-17 | Kanzaki Paper Mfg Co Ltd | 繊維シ−トの繊維配向測定方法 |
-
1984
- 1984-10-01 JP JP59205992A patent/JPS6183946A/ja active Granted
-
1985
- 1985-09-30 FI FI853752A patent/FI853752L/fi not_active IP Right Cessation
- 1985-10-01 EP EP85112393A patent/EP0177011B1/en not_active Expired
- 1985-10-01 DE DE8585112393T patent/DE3566042D1/de not_active Expired
-
1987
- 1987-01-30 US US07/009,556 patent/US4781063A/en not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2005241638A (ja) * | 2004-02-12 | 2005-09-08 | Truetzschler Gmbh & Co Kg | マイクロ波センサおよびマイクロ波センサ用のデバイス |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0229982B2 (ja) | 1990-07-03 |
US4781063A (en) | 1988-11-01 |
FI853752L (fi) | 1986-04-02 |
EP0177011B1 (en) | 1988-11-02 |
DE3566042D1 (en) | 1988-12-08 |
FI853752A0 (fi) | 1985-09-30 |
EP0177011A1 (en) | 1986-04-09 |
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Date | Code | Title | Description |
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