JPS6179471A - 埋込み式医療装置用テレメータ装置 - Google Patents
埋込み式医療装置用テレメータ装置Info
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- JPS6179471A JPS6179471A JP60115539A JP11553985A JPS6179471A JP S6179471 A JPS6179471 A JP S6179471A JP 60115539 A JP60115539 A JP 60115539A JP 11553985 A JP11553985 A JP 11553985A JP S6179471 A JPS6179471 A JP S6179471A
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- Japan
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- telemeter
- resonant circuit
- sensing
- inductor
- excitation
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- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61N—ELECTROTHERAPY; MAGNETOTHERAPY; RADIATION THERAPY; ULTRASOUND THERAPY
- A61N1/00—Electrotherapy; Circuits therefor
- A61N1/18—Applying electric currents by contact electrodes
- A61N1/32—Applying electric currents by contact electrodes alternating or intermittent currents
- A61N1/36—Applying electric currents by contact electrodes alternating or intermittent currents for stimulation
- A61N1/372—Arrangements in connection with the implantation of stimulators
- A61N1/37211—Means for communicating with stimulators
- A61N1/37217—Means for communicating with stimulators characterised by the communication link, e.g. acoustic or tactile
- A61N1/37223—Circuits for electromagnetic coupling
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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- Y10S128/903—Radio telemetry
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- Electrotherapy Devices (AREA)
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
- Near-Field Transmission Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は埋込み式医療装置に関するものであり、特に
、その通常の目的だけではなく、普通は磁気的に、駆動
されるリード・スイッチの置換として、ペースメーカの
ような装置において見出される標準的なテレメータ・コ
イルを使用することに関するものである。
、その通常の目的だけではなく、普通は磁気的に、駆動
されるリード・スイッチの置換として、ペースメーカの
ような装置において見出される標準的なテレメータ・コ
イルを使用することに関するものである。
リート・スイッチは、ペースメーカのような埋込み式医
療装置内の非拡散的な励起機能のための機構を多年にわ
たり提供してきた。例えば。
療装置内の非拡散的な励起機能のための機構を多年にわ
たり提供してきた。例えば。
ペースメーカの必要な機能を不可能化させるために、永
久磁石でリート・スイッチを閉じるように使用された。
久磁石でリート・スイッチを閉じるように使用された。
このことは、ペースメーカがバッテリ条件に関係する比
率のペースになる原因になることが多かった。心搏急速
症の回復のために適当であるような特別な一時的なペー
ス・モードを可能化させるため、永久磁石もま・た同じ
態様で使用された。リート・スイッチについての別異の
極めて普通の使用は、パルス発生器のパラメータをプロ
グラミングするための磁気パルスおよびコード化された
データの受入れを可能化させることである。
率のペースになる原因になることが多かった。心搏急速
症の回復のために適当であるような特別な一時的なペー
ス・モードを可能化させるため、永久磁石もま・た同じ
態様で使用された。リート・スイッチについての別異の
極めて普通の使用は、パルス発生器のパラメータをプロ
グラミングするための磁気パルスおよびコード化された
データの受入れを可能化させることである。
信頼度が高く、小型でハーメチック・シールされたリー
ト・スイッチが、ペースメーカ産業の要求に合わせて特
別に開発された。ペースメーカのペースがバッテリ条件
に依存した比率であるようにマグネットを使用すること
が標準的な実施形態にされた。しかし、埋込み式パルス
発生器の複雑さの急速な増進と共に、より重要な２ウ工
イ通信をパルス発生器に備えることか必須にされた。こ
の通信には、電子的生理学データのプロクラミンク、質
問、テレメータ操作お、よび供給か広汎に含まれている
。２ウ工イ通信は、典型的には、送受信の双方のための
パルス発生器内のコイルを用いて、低周波数のＲ，Ｆ。
ト・スイッチが、ペースメーカ産業の要求に合わせて特
別に開発された。ペースメーカのペースがバッテリ条件
に依存した比率であるようにマグネットを使用すること
が標準的な実施形態にされた。しかし、埋込み式パルス
発生器の複雑さの急速な増進と共に、より重要な２ウ工
イ通信をパルス発生器に備えることか必須にされた。こ
の通信には、電子的生理学データのプロクラミンク、質
問、テレメータ操作お、よび供給か広汎に含まれている
。２ウ工イ通信は、典型的には、送受信の双方のための
パルス発生器内のコイルを用いて、低周波数のＲ，Ｆ。
エネルギを介してなされることである。
この出願と同日に出願された「静磁界のための電子的セ
ンサ」なる出願においては、その動作ＤＣ電流が比較的
低く、その寸法が小さく。
ンサ」なる出願においては、その動作ＤＣ電流が比較的
低く、その寸法が小さく。
その静磁界に対する感度が高く、一方、同時（こ。
ノイズ、干渉および供給電圧の変動に対する感度が低い
コイル・センサを用いて、どのようにして磁界の検知が
なされるかが開示されている。
コイル・センサを用いて、どのようにして磁界の検知が
なされるかが開示されている。
このコイルは強磁性コアを備えており、外部磁界がＢ−
Ｈ曲線の原点からコアをさらに遠ざけるように強制する
につれてインダクタンスが減少ｒることにより、外部磁
界を検知するように作用する。この発明の目的とすると
ころは、先の出願で開示されているようなセンサ単体で
はなく、センサとテレメータ・コイルとの組合せを提供
すること（こある。その全体的な装置に関連して、２ウ
工イ通信および外部磁界の存在の検知の双方のために、
同一のコイルを使用するようにされる。この発明を使用
することにより。
Ｈ曲線の原点からコアをさらに遠ざけるように強制する
につれてインダクタンスが減少ｒることにより、外部磁
界を検知するように作用する。この発明の目的とすると
ころは、先の出願で開示されているようなセンサ単体で
はなく、センサとテレメータ・コイルとの組合せを提供
すること（こある。その全体的な装置に関連して、２ウ
工イ通信および外部磁界の存在の検知の双方のために、
同一のコイルを使用するようにされる。この発明を使用
することにより。
標準的なパルス発生器についての１磁気テスト”機能を
保持することが可能にされ、一方、脆弱であり比較的高
価な構成部品である標準的なリート・スイッチを使用す
ることが不要になる。
保持することが可能にされ、一方、脆弱であり比較的高
価な構成部品である標準的なリート・スイッチを使用す
ることが不要になる。
この発明の原理によれば、磁界検出回路では標準的なテ
レメータ・トランンーバ装置で見出される多くの実在す
る回路が使用される。テレメータ操作の進行中に磁界検
出機能を不可能化させる決定論理と同様に、適切なコイ
ルの励起をさせるための制御論理が付加される。この発
明におけるアプローチを使用することにより。
レメータ・トランンーバ装置で見出される多くの実在す
る回路が使用される。テレメータ操作の進行中に磁界検
出機能を不可能化させる決定論理と同様に、適切なコイ
ルの励起をさせるための制御論理が付加される。この発
明におけるアプローチを使用することにより。
同一条件の下でリード・スイッチのそれと対比される検
出範囲を達成させることが可能である。
出範囲を達成させることが可能である。
テスト回路で消費されるエネルギは、１秒あたり１回ま
たは２回の比率で磁界テスト・シーケンスをトリガする
ことにより殆ど無視することができる。１秒あたり１回
の比率では、テストに必要な平均的な電流はわずか１０
ｎＡである。
たは２回の比率で磁界テスト・シーケンスをトリガする
ことにより殆ど無視することができる。１秒あたり１回
の比率では、テストに必要な平均的な電流はわずか１０
ｎＡである。
この発明の別異の目的、特徴および利点は、添付図面に
関連して以下の詳細な説明を考察することによって明ら
かにされよう。
関連して以下の詳細な説明を考察することによって明ら
かにされよう。
こ＼で参照される本出願人による別異の出願に開示され
ているように、磁界テストのシーケンスによれば、゛励
起゛および”検知”なる２個の信号の発生をするように
され、後者の信号は前者の信号に追従し、また、その各
々は所定の持続時間を有するものである。この励起信号
て、ある１個のコイルが励起される。このコイルは共振
回路に含まれており、共振電流が追従して流れる。該検
知信号で、ある１個のウィンドウか規定され、充分な強
度の磁界の存在および不存在のさいの検知ウィンドウの
期間中に。
ているように、磁界テストのシーケンスによれば、゛励
起゛および”検知”なる２個の信号の発生をするように
され、後者の信号は前者の信号に追従し、また、その各
々は所定の持続時間を有するものである。この励起信号
て、ある１個のコイルが励起される。このコイルは共振
回路に含まれており、共振電流が追従して流れる。該検
知信号で、ある１個のウィンドウか規定され、充分な強
度の磁界の存在および不存在のさいの検知ウィンドウの
期間中に。
該共振電流は相異なるゼロ交差特性を呈する。
先の別異の出願に示されている実施例においては、充分
に強い磁界がコイルの動的な透磁率を減少させ、共鳴周
波数を上昇させて、関係のあるセロ交差点が該検知ウィ
ンドウ内でシフトするようにされる。これと同様な動作
原理が、この発明において用いられている。
に強い磁界がコイルの動的な透磁率を減少させ、共鳴周
波数を上昇させて、関係のあるセロ交差点が該検知ウィ
ンドウ内でシフトするようにされる。これと同様な動作
原理が、この発明において用いられている。
第１図の装置が送信モードにあるときには、マクネット
検知は禁止される。この場合、スイッチＮ２が閉じて、
キャパシタＣおよびインダクタＬが並列に接続される。
検知は禁止される。この場合、スイッチＮ２が閉じて、
キャパシタＣおよびインダクタＬが並列に接続される。
通常に実施されるように、送信されるバースト信号はト
ランシーバ／コデンク（ｃｏｄｅｃ ） １２がスイ
ッチＰ１を閉じるときに制御され、該共振回路を横切っ
て電源ＶＤＤを接続させる。トランシーバ／コデツク１
２は、データ入力にしたがって、その送信期間およびテ
ーク速度を規定する。導線ＴｘＳ Ｉが低くパルス駆動
されるとき１こバースト信号が制御される。
ランシーバ／コデンク（ｃｏｄｅｃ ） １２がスイ
ッチＰ１を閉じるときに制御され、該共振回路を横切っ
て電源ＶＤＤを接続させる。トランシーバ／コデツク１
２は、データ入力にしたがって、その送信期間およびテ
ーク速度を規定する。導線ＴｘＳ Ｉが低くパルス駆動
されるとき１こバースト信号が制御される。
この装置が受信モードで動作しているときには、スイッ
チＰ１およびＮ２の双方が開放にされて、コイルＬでＲ
ｌＦ、テークをピック・アップすることが許容される。
チＰ１およびＮ２の双方が開放にされて、コイルＬでＲ
ｌＦ、テークをピック・アップすることが許容される。
コイルを通して誘導された電圧はコンバノータ１０の出
力をパルス化させ、このようにして、データ信号がトラ
ンンーバ／コテツク１２に送信される。第１図の装置は
、データの送受信のときには通常の態様で動作する。
力をパルス化させ、このようにして、データ信号がトラ
ンンーバ／コテツク１２に送信される。第１図の装置は
、データの送受信のときには通常の態様で動作する。
静磁界を検知する付加的な機能は、この装置か受信モー
１−にあるときに、極めて短時間だけ行なわれる。これ
はマグネット信号で受信テークが無効にされる機会を減
少させる。この発明の実施例においては、平均的な電流
消費を最小にするために、マクネット検知機能は１秒毎
に１回たけ行なわれる。
１−にあるときに、極めて短時間だけ行なわれる。これ
はマグネット信号で受信テークが無効にされる機会を減
少させる。この発明の実施例においては、平均的な電流
消費を最小にするために、マクネット検知機能は１秒毎
に１回たけ行なわれる。
この発明の実施例においては、共振回路内のしおよびＣ
の値は、その共振周波数がｆ３ ＫＨｚであるように選
択される。これは８．１９２ ＫＨｚ （ｉＨｚの２進
倍数）よりわずかに低いものである。
の値は、その共振周波数がｆ３ ＫＨｚであるように選
択される。これは８．１９２ ＫＨｚ （ｉＨｚの２進
倍数）よりわずかに低いものである。
第３図を参照すると、双方の信号Ｓ４およびＴｘＳ ２
の起点において高になり、スイッチＮ２およびＮ４が閉
じる。第３図の頂部におけるクロック波形を参照すると
、２個のスイッチは１・２２μ秒間だけ閉じて、抵抗Ｒ
を通してキャパシタＣを放電させる。この抵抗は、電流
の制限およびスイッチの保護のために使用される。キャ
パシタが放電されたあと、第３図に示されているように
、信号Ｓ３は６０．５μ秒間だけ低になり、一方、信号
Ｓ４およびＴｘＳ ２も低になる。スイッチＮ２および
Ｎ４がオフになると同時に。
の起点において高になり、スイッチＮ２およびＮ４が閉
じる。第３図の頂部におけるクロック波形を参照すると
、２個のスイッチは１・２２μ秒間だけ閉じて、抵抗Ｒ
を通してキャパシタＣを放電させる。この抵抗は、電流
の制限およびスイッチの保護のために使用される。キャ
パシタが放電されたあと、第３図に示されているように
、信号Ｓ３は６０．５μ秒間だけ低になり、一方、信号
Ｓ４およびＴｘＳ ２も低になる。スイッチＮ２および
Ｎ４がオフになると同時に。
スイッチＰ６が閉じる。３０．５μ秒の励起インタバル
の終りに、スイッチＰ６は開き、一方、スイッチＮ２は
４５１．５μ秒間だけ閉じる。（このインタバルの間は
、スイッチＮ４はオフに留まる。）第３図においてｖＬ
Ｃとして示される共振回路を横切る電圧には励起および
応答の２個の部分がある。この信号の励起部分は、３０
．５μ秒の励起インタバルのときのスイッチＰ３の導通
によって制御される。スイッチＮ２だけが閉じていると
き、１５１．５μ秒のインクハル中に応答が続けて生起
し、キャパシタおよびインダクタの共振が許容される。
の終りに、スイッチＰ６は開き、一方、スイッチＮ２は
４５１．５μ秒間だけ閉じる。（このインタバルの間は
、スイッチＮ４はオフに留まる。）第３図においてｖＬ
Ｃとして示される共振回路を横切る電圧には励起および
応答の２個の部分がある。この信号の励起部分は、３０
．５μ秒の励起インタバルのときのスイッチＰ３の導通
によって制御される。スイッチＮ２だけが閉じていると
き、１５１．５μ秒のインクハル中に応答が続けて生起
し、キャパシタおよびインダクタの共振が許容される。
そして、コンパレータ１ｏの出力は、該コンパレータの
（−）入力における電圧がＶＲＫＦなる基準レベルを通
るときに、その状態を変化させる。
（−）入力における電圧がＶＲＫＦなる基準レベルを通
るときに、その状態を変化させる。
要求されるスイッチング信号を発生させるために使用さ
れる論理部は第１図のブロック１４に示されており、ま
た、このブロックの詳細な回路は第２図に示されている
。マクネットセンサ制御論理１４には５個のクロック信
号が結合されており、これら５個のクロック信号は第３
図の頂部に示されている。別異の入力は導線１６に印加
されており、これは＋ Ｈ２のクロック信号であって、
この入力が高になったときにマグネット・テストが開始
される。禁止入力によって磁界検知の開始が防止される
が、この禁止入力は、コイルが別異の機能のために必要
とされるときに、トランシーバ／コブツク１２によって
パルス化されるものである。ブロック１４に対する別異
の入力は、コンパレータ１０の出力および゛トランシー
バ／コブツク１２からの信号’ｒｘである。ブロック１
４からの３個の出力信号は、第３図に示されるように、
Ｓ４．ＴｘＳ２およびＳ６である。
れる論理部は第１図のブロック１４に示されており、ま
た、このブロックの詳細な回路は第２図に示されている
。マクネットセンサ制御論理１４には５個のクロック信
号が結合されており、これら５個のクロック信号は第３
図の頂部に示されている。別異の入力は導線１６に印加
されており、これは＋ Ｈ２のクロック信号であって、
この入力が高になったときにマグネット・テストが開始
される。禁止入力によって磁界検知の開始が防止される
が、この禁止入力は、コイルが別異の機能のために必要
とされるときに、トランシーバ／コブツク１２によって
パルス化されるものである。ブロック１４に対する別異
の入力は、コンパレータ１０の出力および゛トランシー
バ／コブツク１２からの信号’ｒｘである。ブロック１
４からの３個の出力信号は、第３図に示されるように、
Ｓ４．ＴｘＳ２およびＳ６である。
１Ｈ２のクロック信号が高になったときに、フリップフ
ロップＦＦ１がトリガされる。そのＱ１出力は通常は高
であること、および、それがＤ入力に結合されているこ
とから、このフリップフロップがセットされて、Ｑ１出
力（ＭＴＳＴ ）が高になる。このＭＴＳＴ信号は、マ
グネット・テストをトリガするためのマスク信号である
。
ロップＦＦ１がトリガされる。そのＱ１出力は通常は高
であること、および、それがＤ入力に結合されているこ
とから、このフリップフロップがセットされて、Ｑ１出
力（ＭＴＳＴ ）が高になる。このＭＴＳＴ信号は、マ
グネット・テストをトリガするためのマスク信号である
。
しかしながら、禁止信号が高であるときにはゲ−トＧ１
の出力は低であり、したがって、ケートＧ２の出力が高
になってフリップフロップをリセットに保持する。テス
ト・シーケンスが生起したものとすると、図面に示され
ているように、２，０４８ ＫＨ２および’ ８．＋
９２ ＫＨｚの信号の双方が初めに高であるときにフリ
ップフロップかリセットされる。このとき、ケー１−０
３の出力が低になり、また、ケートＧ２の出力が高にな
って、フリップフロップをリセットさせる。第３図に示
されている比率を有するクロックをもって、 ＭＴＳ
Ｔ信号か初めに高になってから６０５μ秒後に、’７”
−１−０３の出力が低になる。これから検討されるよう
に、全体的なテストを行なうために必要とされる総体的
な時間は３６６μ秒である。
の出力は低であり、したがって、ケートＧ２の出力が高
になってフリップフロップをリセットに保持する。テス
ト・シーケンスが生起したものとすると、図面に示され
ているように、２，０４８ ＫＨ２および’ ８．＋
９２ ＫＨｚの信号の双方が初めに高であるときにフリ
ップフロップかリセットされる。このとき、ケー１−０
３の出力が低になり、また、ケートＧ２の出力が高にな
って、フリップフロップをリセットさせる。第３図に示
されている比率を有するクロックをもって、 ＭＴＳ
Ｔ信号か初めに高になってから６０５μ秒後に、’７”
−１−０３の出力が低になる。これから検討されるよう
に、全体的なテストを行なうために必要とされる総体的
な時間は３６６μ秒である。
マグネットセンサ制御論理は、最高は３２．７６８ＫＨ
ｚである複数個のクロック信号で駆動されることに注意
すべきである。低調波のクロック信号は最高の周波数か
ら導出されるものであり、この最高の周波数自体は１通
常は、テレメータ装置の一部として用いられる３ ２，
７６８ ＫＨ２の水晶発振器から使用されるものである
。
ｚである複数個のクロック信号で駆動されることに注意
すべきである。低調波のクロック信号は最高の周波数か
ら導出されるものであり、この最高の周波数自体は１通
常は、テレメータ装置の一部として用いられる３ ２，
７６８ ＫＨ２の水晶発振器から使用されるものである
。
第１図におけるスイッチＰ１は、装置が送信モードで動
作しているときにのみ閉じるものであり、また、トラン
シーバ／コブツク１２によって制御される。スイッチＮ
２．Ｎ４およびＰ３を制御する信号はブロック１４にお
いて発生される。スイッチＮ２は論理信号ＴｘＳ ２に
よって制御される。この論理信号ＴｘＳ ２が高になる
と。
作しているときにのみ閉じるものであり、また、トラン
シーバ／コブツク１２によって制御される。スイッチＮ
２．Ｎ４およびＰ３を制御する信号はブロック１４にお
いて発生される。スイッチＮ２は論理信号ＴｘＳ ２に
よって制御される。この論理信号ＴｘＳ ２が高になる
と。
スイッチＮ２がオンになる。第２図を参照すると、信号
ＴｘＳ ２を高にさせるものはゲートＧ９である。装置
がデータを送信しているとき、トランシーバ／コブツク
１２からの制御信号Ｔｘは高である。かくして、第２図
においてゲートＣＺＯの出力は低であり、また、ゲート
Ｇ９の出力は高である。導線ＴｘＳ２における電位が高
であると、スイッチＮ２はオンに保持されて、送信のた
めに要求されるように、キャパシタＣおよびインタフタ
Ｌは並列に接続される。受信モードにおいては、信号’
ｒｘは低であり、また、ケートＧ１０の出力は高である
。かくして、信号ＴＸＳ２の状態はゲートＧ８の動作だ
けに依存している。マクネット・テストが行なわれてい
ないとき、フリップフロップＦＦｉのＱ１出力が高であ
ることから、ゲートＧ８の出力も高てあり、かくして、
ケートＧ９の出力は低であって。
ＴｘＳ ２を高にさせるものはゲートＧ９である。装置
がデータを送信しているとき、トランシーバ／コブツク
１２からの制御信号Ｔｘは高である。かくして、第２図
においてゲートＣＺＯの出力は低であり、また、ゲート
Ｇ９の出力は高である。導線ＴｘＳ２における電位が高
であると、スイッチＮ２はオンに保持されて、送信のた
めに要求されるように、キャパシタＣおよびインタフタ
Ｌは並列に接続される。受信モードにおいては、信号’
ｒｘは低であり、また、ケートＧ１０の出力は高である
。かくして、信号ＴＸＳ２の状態はゲートＧ８の動作だ
けに依存している。マクネット・テストが行なわれてい
ないとき、フリップフロップＦＦｉのＱ１出力が高であ
ることから、ゲートＧ８の出力も高てあり、かくして、
ケートＧ９の出力は低であって。
スイッチＮ２を低に保持する。しかし、マグネット・テ
ストの間は、フリップフロップのＱ１出力は高てあり、
かくして、ゲートＧ８の動作はケー１−０１１ によっ
てだけ制御される。別異のゲートが信号ＴｘＳ ２を制
御するのはこのときである。
ストの間は、フリップフロップのＱ１出力は高てあり、
かくして、ゲートＧ８の動作はケー１−０１１ によっ
てだけ制御される。別異のゲートが信号ＴｘＳ ２を制
御するのはこのときである。
ケートＧ１１は２個のクロック信号とゲートＧ７とによ
って制御されるものであり、後者のゲートは、また （
ＭＴＳＴ可能化信号と同様な）第３のクロック信号によ
って制御される。論理にしたがうと、ケートＧ１１の出
力は通常では低であり、第３図においてＳ６が低として
示されているとき、その出力は短かいインタバルた′け
高になる。実際にゲートＧ１２を通して信号Ｓ３を誘導
するものはゲート（Ｎ１ である。信号ＭＴＳＴか高で
あるときはいっでも、ゲートＧ８の出力はケートＧ１．
ｉ の出力と同じである。
って制御されるものであり、後者のゲートは、また （
ＭＴＳＴ可能化信号と同様な）第３のクロック信号によ
って制御される。論理にしたがうと、ケートＧ１１の出
力は通常では低であり、第３図においてＳ６が低として
示されているとき、その出力は短かいインタバルた′け
高になる。実際にゲートＧ１２を通して信号Ｓ３を誘導
するものはゲート（Ｎ１ である。信号ＭＴＳＴか高で
あるときはいっでも、ゲートＧ８の出力はケートＧ１．
ｉ の出力と同じである。
フシツブフロップＦＦ１がリセットに留まっている間に
、信号Ｓ４はケートＧ６によって２個のクロック信号か
ら誘導される。
、信号Ｓ４はケートＧ６によって２個のクロック信号か
ら誘導される。
第１図を参照すると、ＶＬｏ（コンパレータの（刊入力
部の入力）は通常は基準電位よりも振幅か小さく、また
、コンパレータの出力は通常は高である。このことは第
３図に示されている。
部の入力）は通常は基準電位よりも振幅か小さく、また
、コンパレータの出力は通常は高である。このことは第
３図に示されている。
テスト・サイクルの間にコンパレータの出力かどのよう
にして変化するかについては後述されるけれども、これ
はフリップフロップＦＦ２ 、 ＦＦ３およびケ−１−
０１４の出力に影響するような態守てなされるものであ
る。しかしながら、この点においては、ケートＧ１の出
力は低であり。
にして変化するかについては後述されるけれども、これ
はフリップフロップＦＦ２ 、 ＦＦ３およびケ−１−
０１４の出力に影響するような態守てなされるものであ
る。しかしながら、この点においては、ケートＧ１の出
力は低であり。
ケートＧ５の出力は高になって双方のフリップフロップ
をリセットし、マグネット・テストの出力を不可能化さ
せる。同様にして１通常のテスト・ンーケンスの終端に
おいて、信号ＭＴＳＴが低になったとき、フリップフロ
ップＦＦｉのＱ１出力（ＭＴＳＴ ）は高になり、また
、ケートＧ１３の出力はイ氏になる。これによって、フ
シツブフロップＦＦ２およびＦＦ３はクロック操作され
ることから防止される。すなわち、これらのフリップフ
ロップはリセットに留まる。これらのフリップフロップ
かテスト・サイクルの間に予めセットされているときで
さえも、ゲートＧ４の出力が低になったときにはそれら
はリセットされて、ゲートｃ）５の出力が高になるよう
にされ、このよう−こして、それらはリセットに留まる
。２皿のクロック入力が初めに高になったときに、ケー
トＧ４の出力は低になる。このことは、第３図に（図面
の右端）示されているように、２．０４８ ＫＨｚのク
ロックの１＋サイクル後に生起するものである。信号Ｍ
ＴＳＴか高であり。
をリセットし、マグネット・テストの出力を不可能化さ
せる。同様にして１通常のテスト・ンーケンスの終端に
おいて、信号ＭＴＳＴが低になったとき、フリップフロ
ップＦＦｉのＱ１出力（ＭＴＳＴ ）は高になり、また
、ケートＧ１３の出力はイ氏になる。これによって、フ
シツブフロップＦＦ２およびＦＦ３はクロック操作され
ることから防止される。すなわち、これらのフリップフ
ロップはリセットに留まる。これらのフリップフロップ
かテスト・サイクルの間に予めセットされているときで
さえも、ゲートＧ４の出力が低になったときにはそれら
はリセットされて、ゲートｃ）５の出力が高になるよう
にされ、このよう−こして、それらはリセットに留まる
。２皿のクロック入力が初めに高になったときに、ケー
トＧ４の出力は低になる。このことは、第３図に（図面
の右端）示されているように、２．０４８ ＫＨｚのク
ロックの１＋サイクル後に生起するものである。信号Ｍ
ＴＳＴか高であり。
フリップフロップＦＦ３がセットされているときに、ケ
ート０１４の出力、マクネット検知＋Ｍ）導線１８は、
フリップフロップＦＦ３の状態によって制御される。テ
ストされている磁界の強度がスレツシヨルドやレベルを
こえているとき、検知インタバルの間に該フリップフロ
ップがセットされる。第３図の底部で示されている”マ
グネット検知”インタバルの間に、全体的なテスト・サ
イクルの終端においてのみ、フリップフロップＦＦ３は
質問されるべきである。
ート０１４の出力、マクネット検知＋Ｍ）導線１８は、
フリップフロップＦＦ３の状態によって制御される。テ
ストされている磁界の強度がスレツシヨルドやレベルを
こえているとき、検知インタバルの間に該フリップフロ
ップがセットされる。第３図の底部で示されている”マ
グネット検知”インタバルの間に、全体的なテスト・サ
イクルの終端においてのみ、フリップフロップＦＦ３は
質問されるべきである。
この発明の実施例における完全なテスト・サイクルは、
１秒のインタバルあたり３６６μ秒が必要とされる。Ｍ
ＴＳＴテスト期間中に装置とのテレメータ通信リンクを
確立するために必要とされるデータを外部プログラマが
伝送するときには、この通信リンクは確立されない。こ
れは。
１秒のインタバルあたり３６６μ秒が必要とされる。Ｍ
ＴＳＴテスト期間中に装置とのテレメータ通信リンクを
確立するために必要とされるデータを外部プログラマが
伝送するときには、この通信リンクは確立されない。こ
れは。
通信を開始するための有効なコマンドの受入れを知覚し
、確認するテレメータ装置からのエコーを、該プログラ
マが待機しているからである。
、確認するテレメータ装置からのエコーを、該プログラ
マが待機しているからである。
しかし、マグネット・テストの間は、フィルは。
いかなるエコーも、正しいものでさえも送信することが
できない。このことは、エラー状態として通常のペース
メーカのプログラマによって扱われ、該プログラマは少
しの遅れのあとで該データの再送信をする。エラーは、
簡単にいえば、テレメータ装置またはプログラマのいず
れかが無効な信号の存在によって混乱されたこきを意味
するものである。テレメータ通信リンクの確立を試みる
次の時点ては、マクネット・テストはオンにされておら
ず、通信チャネルを確立てきることになる。これで禁止
信号がトランシーバ／コブツク１２によって発生される
ことになり、かくして、テレメータ・シーケンスの終端
で通信リンクが破断されるまでは、マクネット・テスト
は長時間にわたって不可能にされる。
できない。このことは、エラー状態として通常のペース
メーカのプログラマによって扱われ、該プログラマは少
しの遅れのあとで該データの再送信をする。エラーは、
簡単にいえば、テレメータ装置またはプログラマのいず
れかが無効な信号の存在によって混乱されたこきを意味
するものである。テレメータ通信リンクの確立を試みる
次の時点ては、マクネット・テストはオンにされておら
ず、通信チャネルを確立てきることになる。これで禁止
信号がトランシーバ／コブツク１２によって発生される
ことになり、かくして、テレメータ・シーケンスの終端
で通信リンクが破断されるまでは、マクネット・テスト
は長時間にわたって不可能にされる。
マグネット・テスト・サイクルの始めに、第１図におけ
るキャパシタＣの残留電荷を除去するため２スイツチＮ
２およびＮ４は１２２μ秒間だけ閉じる。これは”予備
条件づけ゛期間である。該キャパシタの下方側は、次い
て、第３図に示されているように、スイッチＰ３がオン
にされたとき、３０．５μ秒間だけ電位ＶＤＤにプル・
アップされる。これは、コイルを通して振幅ＶＤＤの余
弦電圧波形を生じさせる。３０．５μ秒期間の終端で、
スイッチＰ３は開き、また、スイッチＮ２は再び閉じる
。このとき、スイッチＮ２に接続されているキャパシタ
の側が接地され、かくして、キャパシタを横切る付加的
な負の励起ステップが生起される。この時点からマグネ
ット・テスト期間の終端までのコイルを横切る電圧は、
ｖＬＣ二（−２” ） （ＶＤＤ） Ｓｉｎ （ｗｏ
ｔ＋７）で表わされ名。磁界が存在しないとき、Ｌおよ
びＣの値により約８ＫＨｚの共振周波数が発生される。
るキャパシタＣの残留電荷を除去するため２スイツチＮ
２およびＮ４は１２２μ秒間だけ閉じる。これは”予備
条件づけ゛期間である。該キャパシタの下方側は、次い
て、第３図に示されているように、スイッチＰ３がオン
にされたとき、３０．５μ秒間だけ電位ＶＤＤにプル・
アップされる。これは、コイルを通して振幅ＶＤＤの余
弦電圧波形を生じさせる。３０．５μ秒期間の終端で、
スイッチＰ３は開き、また、スイッチＮ２は再び閉じる
。このとき、スイッチＮ２に接続されているキャパシタ
の側が接地され、かくして、キャパシタを横切る付加的
な負の励起ステップが生起される。この時点からマグネ
ット・テスト期間の終端までのコイルを横切る電圧は、
ｖＬＣ二（−２” ） （ＶＤＤ） Ｓｉｎ （ｗｏ
ｔ＋７）で表わされ名。磁界が存在しないとき、Ｌおよ
びＣの値により約８ＫＨｚの共振周波数が発生される。
この場合における応答”共鳴゛′波形およびこれに対応
するコンパレータの出力は、第３図の底部に実線で示さ
れている。このコンパレータの出力は、マグネット・テ
スト・ウィンドウの内側で単一の負に向う端部を有して
いる。（テストまたは検知ウィンドウの持続時間は、第
５図に示されているように、スイッチＮ２の第２の導通
時間の持続時間に等しい。）コンパレータの出力におけ
る各々の負に向う端部は、ケートＧｉ３の出力を高にさ
せ、また、フリップフロップＦＦ２およびＢ’Ｆ”３を
クロック操作させる。
するコンパレータの出力は、第３図の底部に実線で示さ
れている。このコンパレータの出力は、マグネット・テ
スト・ウィンドウの内側で単一の負に向う端部を有して
いる。（テストまたは検知ウィンドウの持続時間は、第
５図に示されているように、スイッチＮ２の第２の導通
時間の持続時間に等しい。）コンパレータの出力におけ
る各々の負に向う端部は、ケートＧｉ３の出力を高にさ
せ、また、フリップフロップＦＦ２およびＢ’Ｆ”３を
クロック操作させる。
その第１のクロックで、フリップフロップＦＦ２のＱ２
出力が高にされる。第２のクロックが存在しない限り、
フリップフロップＦＦ３のＱ６出力は低に留まり、また
、その出力におけるマクネット検知信号は高に留まる。
出力が高にされる。第２のクロックが存在しない限り、
フリップフロップＦＦ３のＱ６出力は低に留まり、また
、その出力におけるマクネット検知信号は高に留まる。
２段カウンタは、テスト・ウィンドつの終端から６１．
ａ秒後に。
ａ秒後に。
サイクル毎にリセットされる。
しかしながら、安定な磁界がコイルに加えられていると
きには、磁気コアの相対透磁率が減少して５第３図にお
いて点線の共鳴波形によって示されているように、その
共鳴周波数が近接するようにされる。こ＼では、対応す
るコンパレータの出力波形は、テスト・ウィンドウ内で
、２個以上の負に向う端部を有することになる。
きには、磁気コアの相対透磁率が減少して５第３図にお
いて点線の共鳴波形によって示されているように、その
共鳴周波数が近接するようにされる。こ＼では、対応す
るコンパレータの出力波形は、テスト・ウィンドウ内で
、２個以上の負に向う端部を有することになる。
第２の負に向う端部によって、フリップフロップＦＦ３
がセットされるが、これは、そのＤ入力がフリップフロ
ップＦＦ２のＱ２出力に接続されているためである。カ
ウンタはこの状態にロックされ、サイクルの終端におい
てリセットされる。かくして、出力Ｍが全体的なサイク
ルの少なくとも６１、α秒間にわたって低であるときに
は、これは磁界の存在を指示するものである。
がセットされるが、これは、そのＤ入力がフリップフロ
ップＦＦ２のＱ２出力に接続されているためである。カ
ウンタはこの状態にロックされ、サイクルの終端におい
てリセットされる。かくして、出力Ｍが全体的なサイク
ルの少なくとも６１、α秒間にわたって低であるときに
は、これは磁界の存在を指示するものである。
第３図におけるＶＬｃの波形を参照するみ、検知インタ
バル（スイッチＮ４がオフであり、スイッチＮ２がオン
である期間）の始まりには。
バル（スイッチＮ４がオフであり、スイッチＮ２がオン
である期間）の始まりには。
２個のセロ交差（１個は正、１個は負）が存在すること
が注意される。第３図のそれ（正の。
が注意される。第３図のそれ（正の。
負に向うコンパレータの出力）が存在するかどうかは、
共振回路の周波数に依存している。磁界が存在するとき
には第３のゼロ交差がウィンドウ内で生起し、また、磁
界が存在しないときには、フリップフロップＦＦ２およ
びＦＢＩがクロック操作されない時点で信号ＭＴＳＴが
低になったあと、第３のゼロ交差が生起する。正の方向
におけるＶＬｏのゼロ交差だけがフリップフロップのク
ロック操作において生じる。かくして。
共振回路の周波数に依存している。磁界が存在するとき
には第３のゼロ交差がウィンドウ内で生起し、また、磁
界が存在しないときには、フリップフロップＦＦ２およ
びＦＢＩがクロック操作されない時点で信号ＭＴＳＴが
低になったあと、第３のゼロ交差が生起する。正の方向
におけるＶＬｏのゼロ交差だけがフリップフロップのク
ロック操作において生じる。かくして。
フリップフロップＦＦ３がセットされるか否かは。
第３のセロ交差が検知ウィンドウ内に入るかどうかに依
存している。コンパレータの基準電圧ＶＲＥＦが小さい
ものであるとすれば、検知感度はテスト・ウィンドウ内
の共鳴波形の第３のゼロ交差をシフトさせるために必要
とされるフィールド強度によって規定される。この感度
は２組のファクタに依存している。第１のものはコイル
のコアについての磁気特性である。第２のものは関係の
あるセロ交差をテスト・ウィンドウ内の位置に動かすた
めの周波数ソフトである。
存している。コンパレータの基準電圧ＶＲＥＦが小さい
ものであるとすれば、検知感度はテスト・ウィンドウ内
の共鳴波形の第３のゼロ交差をシフトさせるために必要
とされるフィールド強度によって規定される。この感度
は２組のファクタに依存している。第１のものはコイル
のコアについての磁気特性である。第２のものは関係の
あるセロ交差をテスト・ウィンドウ内の位置に動かすた
めの周波数ソフトである。
コイルのコアの磁気特性はコアの形状およびその磁気特
性であるＢ−Ｈ曲線に依存している。
性であるＢ−Ｈ曲線に依存している。
高い感度を達成させるためには、関係のある最低のフィ
ールド強度において、コアの動的な透磁率が顕著な大き
さだけ変化すべきである。このコアは大面積の極面と小
さい直径とをもつへきである。
ールド強度において、コアの動的な透磁率が顕著な大き
さだけ変化すべきである。このコアは大面積の極面と小
さい直径とをもつへきである。
関係のあるセロ交差点をテスト・ウィンドウ内の所要位
置に動かすための周波数シフトについては、これは該セ
ロ交差点の当初位置に依存している。これは、また、
ＬＣ回路の共振周波数の関数である。該回路が、
８，１９２ ＫＨｚよりもわずかに低いが極めて近傍で
共振されているときには、その感度は極めて高いけれど
も、装置はノイズまたは干渉によって影響を受ける。優
れたノイズの排除および良好な感度は、共振周波数が８
ＫＨｚに調整されたときに達成されるものである。実
際には、その感度は小型のリード・スイッチのそれと対
比することができる。その擾れたノイズの排除は２個の
別異の理由による。第１に、マクネット・テストは１秒
毎に６６６μ秒間だけ行なイつれるものであり、この短
かい期間に入ったときだけ、ノイズが効いつくるもので
ある。第２に、共振回路の高い感度により、該共振回路
が同調しない全てのノイズ成分を排除する助けとなって
いる。
置に動かすための周波数シフトについては、これは該セ
ロ交差点の当初位置に依存している。これは、また、
ＬＣ回路の共振周波数の関数である。該回路が、
８，１９２ ＫＨｚよりもわずかに低いが極めて近傍で
共振されているときには、その感度は極めて高いけれど
も、装置はノイズまたは干渉によって影響を受ける。優
れたノイズの排除および良好な感度は、共振周波数が８
ＫＨｚに調整されたときに達成されるものである。実
際には、その感度は小型のリード・スイッチのそれと対
比することができる。その擾れたノイズの排除は２個の
別異の理由による。第１に、マクネット・テストは１秒
毎に６６６μ秒間だけ行なイつれるものであり、この短
かい期間に入ったときだけ、ノイズが効いつくるもので
ある。第２に、共振回路の高い感度により、該共振回路
が同調しない全てのノイズ成分を排除する助けとなって
いる。
実在するテレメータ装置にマグネット・テスト制御論理
を付加することは、全体的なりＣ電流をわずかに増大さ
せることになる。標準的な０ＭＯ８論理構成を用いるこ
とにより、この電流は０．１μＡ以下に維持される。Ｑ
＝２０なるコイルとＶＤＤ ＝ ２，８ Ｖをもつ共振
回路を駆動するために必要とされる電流については、コ
イルを通るピーク電流は１２０μＡてあり、また、その
平均的な値は２．５ ｎＡてあった。かくして、全体的
な装置の電流は０．２μＡをかなり下回って増大される
。また、装置が１０μＦの標準的なバイパス・キャパシ
タをもつ高いインピーダンスのバッテリから給電される
ときには、 ＬＣピーク電流のバーストの間に、動作
電圧はその初期値をわずかに下回って降下される。しか
し、その降下は５ ｍＶ以下であり、全体的な装置の動
作に対する悪い影響はない。
を付加することは、全体的なりＣ電流をわずかに増大さ
せることになる。標準的な０ＭＯ８論理構成を用いるこ
とにより、この電流は０．１μＡ以下に維持される。Ｑ
＝２０なるコイルとＶＤＤ ＝ ２，８ Ｖをもつ共振
回路を駆動するために必要とされる電流については、コ
イルを通るピーク電流は１２０μＡてあり、また、その
平均的な値は２．５ ｎＡてあった。かくして、全体的
な装置の電流は０．２μＡをかなり下回って増大される
。また、装置が１０μＦの標準的なバイパス・キャパシ
タをもつ高いインピーダンスのバッテリから給電される
ときには、 ＬＣピーク電流のバーストの間に、動作
電圧はその初期値をわずかに下回って降下される。しか
し、その降下は５ ｍＶ以下であり、全体的な装置の動
作に対する悪い影響はない。
この発明は特別な実施例を参照して説明されたけれども
、この実施例は、この発明の原理を適用するための単な
る例示的なものであるこさが理解されるへきである。こ
の発明の精神および範囲から外れることなく、多くの修
正が可能であり、また、別異の配列を案出することがで
きる。
、この実施例は、この発明の原理を適用するための単な
る例示的なものであるこさが理解されるへきである。こ
の発明の精神および範囲から外れることなく、多くの修
正が可能であり、また、別異の配列を案出することがで
きる。
第１図は、この発明による例示的な磁界テスト回路か付
加されている埋込み式ペースメーカにおいて使用される
ような、典型的なテレメータ・トランシーバの前端部の
ブロック図、第２図は、第１図の装置の動作を制御する
ための論理回路図、第３図は、第１図および第２図にお
ける回路を特徴づけるテイジタル信号、励起波形および
応答波形の図である。 １０・壽コンパレータ、１２・・トランシーバ／コテツ
ク、１４・・マグネットセンサ制御論理。
加されている埋込み式ペースメーカにおいて使用される
ような、典型的なテレメータ・トランシーバの前端部の
ブロック図、第２図は、第１図の装置の動作を制御する
ための論理回路図、第３図は、第１図および第２図にお
ける回路を特徴づけるテイジタル信号、励起波形および
応答波形の図である。 １０・壽コンパレータ、１２・・トランシーバ／コテツ
ク、１４・・マグネットセンサ制御論理。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、インダクタ手段およびキャパシタ手段ならびに送信
モードで動作しているときに前記インダクタ手段に対し
て励起パルスの印加を制御するためのテレメータ論理手
段を備えた共振回路を含んでいる埋込み式医療装置用の
テレメータ装置であつて、受信モードで動作していると
きに前記インダクタ手段を通る電位を検知するための手
段であり、前記共振回路は前記インダクタ手段を通る外
部磁界と共に変動する共振周波数を有するもの、前記コ
イルを通る磁界の存在を周期的に検知するための手段で
あり、前記検知手段には所定の時間インタバルだけ前記
共振回路に対して励起信号を印加するもの、前記共振回
路の励起にしたがつて所定の時間に始まり、また終る検
知ウィンドウを規定する手段、および、前記共振回路の
選択された点における信号レベルが前記検知ウィンドウ
の間のスレッショルド・レベルに関連する態様を検出す
る手段によつて特徴づけられたテレメータ装置。 ２、前記テレメータ論理手段は、テレメータ信号の送受
信の間、前記検知手段の動作を禁止するようにされた特
許請求の範囲第１項記載のテレメータ装置。 ３、各検知サイクルの始めに、その励起に先立つて共振
回路を予備条件づけする手段がさらに含まれている特許
請求の範囲第１項または第２項記載のテレメータ装置。 ４、受信モードで動作しているときのテレメータ論理手
段および前記検知手段が前記検出手段を共有するように
される特許請求の範囲第１項ないし第３項のいずれか１
項に記載のテレメータ装置。 ５、前記共振回路はその励起の停止にしたがつて共鳴し
、前記検出手段は前記インダクタ手段を通して生じる電
圧について動作し、前記検知ウィンドウは所定の最小強
度をもつ磁界が存在するときにのみ前記検知ウィンドウ
の間に所定数のゼロ交差が生起するような期間を有する
ものである特許請求の範囲第１項ないし第４項のいずれ
か１項に記載のテレメータ装置。 ６、前記励起信号は周期的インタバルでくり返して前記
共振回路に印加され、前記検知ウィンドウ規定手段およ
び前記検出手段は同じ周期的インタバルで動作するよう
にされた特許請求の範囲第１項ないし第５項のいずれか
１項に記載のテレメータ装置。 ７、インダクタ手段およびキャパシタ手段ならびに送信
モードで動作しているときに前記インダクタ手段に対し
て励起パルスの印加を制御するためのテレメータ論理手
段を備えた共振回路を含んでいるテレメータ装置であつ
て、受信モードで動作するときに前記インダクタ：手段
を横切る電位を検知する手段であり、前記共振回路は前
記インダクタ手段を通る外部磁界の強度と共に変動する
共振周波数を有するもの、前記コイルを通る磁界の存在
を周期的に検知する手段であり、前記検知手段はその応
答が前記インダクタを通る外部磁界の強度の関数である
励起信号を前記共振回路に対して印加する手段を有する
もの、および、前記励起信号に対する前記共振回路の応
答を解析する手段によつて特徴づけられたテレメータ装
置。 ８、前記テレメータ論理手段は、テレメータ信号の送受
信の間、前記検知手段の動作を禁止するようにされた特
許請求の範囲第７項記載のテレメータ装置。 ９、各検知サイクルの始めに、その励起に先立つて共振
回路を予備条件づけする手段がさらに含まれている特許
請求の範囲第７項または第８項記載のテレメータ装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US06/652,290 US4541431A (en) | 1984-09-20 | 1984-09-20 | Use of telemetry coil to replace magnetically activated reed switch in implantable devices |
| US652290 | 1984-09-20 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6179471A true JPS6179471A (ja) | 1986-04-23 |
| JPH0512949B2 JPH0512949B2 (ja) | 1993-02-19 |
Family
ID=24616293
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60115539A Granted JPS6179471A (ja) | 1984-09-20 | 1985-05-30 | 埋込み式医療装置用テレメータ装置 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4541431A (ja) |
| JP (1) | JPS6179471A (ja) |
| AU (1) | AU570390B2 (ja) |
| DE (1) | DE3518459C2 (ja) |
| FR (1) | FR2570282B1 (ja) |
| GB (1) | GB2164564B (ja) |
| IT (1) | IT1185026B (ja) |
Families Citing this family (54)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4703756A (en) * | 1986-05-06 | 1987-11-03 | The Regents Of The University Of California | Complete glucose monitoring system with an implantable, telemetered sensor module |
| FI88972C (fi) * | 1991-07-26 | 1993-07-26 | Polar Electro Oy | Traodloes koppling foer en telemetrisk mottagare |
| US5342408A (en) * | 1993-01-07 | 1994-08-30 | Incontrol, Inc. | Telemetry system for an implantable cardiac device |
| SE9400622D0 (sv) * | 1994-02-23 | 1994-02-23 | Siemens Elema Ab | Medicinskt implantat |
| SE9403188D0 (sv) * | 1994-09-22 | 1994-09-22 | Siemens Elema Ab | Magnetfältsdetektor vid ett medicinskt implantat |
| US5551953A (en) * | 1994-10-31 | 1996-09-03 | Alza Corporation | Electrotransport system with remote telemetry link |
| SE9404374D0 (sv) * | 1994-12-15 | 1994-12-15 | Pacesetter Ab | Magnetfältsdetektor |
| US5562714A (en) * | 1995-02-03 | 1996-10-08 | Medtronic, Inc. | Magnetic field strength regulator for implant |
| US6431175B1 (en) | 1997-12-30 | 2002-08-13 | Remon Medical Technologies Ltd. | System and method for directing and monitoring radiation |
| US6140740A (en) | 1997-12-30 | 2000-10-31 | Remon Medical Technologies, Ltd. | Piezoelectric transducer |
| US6486588B2 (en) * | 1997-12-30 | 2002-11-26 | Remon Medical Technologies Ltd | Acoustic biosensor for monitoring physiological conditions in a body implantation site |
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