JPS6170783A - 半導体レ−ザアレイ装置 - Google Patents

半導体レ−ザアレイ装置

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Publication number
JPS6170783A
JPS6170783A JP19284084A JP19284084A JPS6170783A JP S6170783 A JPS6170783 A JP S6170783A JP 19284084 A JP19284084 A JP 19284084A JP 19284084 A JP19284084 A JP 19284084A JP S6170783 A JPS6170783 A JP S6170783A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
substrate
ridges
semiconductor laser
ohmic electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP19284084A
Other languages
English (en)
Inventor
Takeshi Hamada
健 浜田
Masahiro Kume
雅博 粂
Yuichi Shimizu
裕一 清水
Masaru Wada
優 和田
Kunio Ito
国雄 伊藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP19284084A priority Critical patent/JPS6170783A/ja
Publication of JPS6170783A publication Critical patent/JPS6170783A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/40Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
    • H01S5/4025Array arrangements, e.g. constituted by discrete laser diodes or laser bar
    • H01S5/4031Edge-emitting structures

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は半導体レーザアレイ装置に関するものである。
従来例の構成とその問題点 近年、半導体レーザの性能向上(低しきい値化、高出力
化など)と、それにともなう応用分野の広がりには目を
みはるものがある。現在開発が進められている光デイス
ク装置等の機器には半導体レーザを実装することを前提
としたものが数多くあるが、その中でも特に、記録しで
ある情報と消去するのに有効な方法としてビームの楕円
率の太きな半導体レーザを用いる方式がある。この原理
図を第1図に示す。情報を記録する時には円形ビームの
半導体レーザを用い、加熱・急冷されるためにその部分
がアモルファス状態になり、記録ビットとなる。また記
録ピットを消去するには、記録用とは別の長楕円形のビ
ームをもつ半導体レーザを用いる。記碌部のアモルファ
ス状態はビームの長手方向に加熱後、徐冷されるので、
結晶化する。
この消去用に用いられる半導体レーザは1×20μm程
度の長楕円形のスポット形状をもちしかも20mW程度
の高出力が得られることが要求される。ところが、現在
実用化されている高出力半導体レーザのスポット形状は
せいぜいIX4μm程度であり、この要求を満たすこと
はできない。
発明の目的 本発明は、従来の半導体レーザ装置の上記欠点に鑑み、
スポットの楕円率の大きい高出力半導体レーザアレイ装
置を提供するものである。
発明の構成 この目的を達成するために本発明の半導体装置ザアレイ
装置は、3本以上の平行なリッジが形成された基板表面
に活性層を含む各層が形成され、前記リッジ間の溝部直
上にストライプ状の電流注入領域が形成されたことを特
徴とする半導体レーザアレイ装置である。
実施例の説明 以下本発明の一実施例について、図面を参照しながら説
明する。
第2図(a)〜(C)は本発明の一実施例における半導
体レーザアレイ装置の作製方法の各工程における断面図
である。
n型G a A s基板1の(1oo )面上に(01
1)方向にエツチングによシ、高さ1.5μmの5本の
平行なリッジを、それぞれ幅3μmの溝をはさんで形成
する。リッジの幅は、両端のリッジのみ18μmとし、
その他は3μmとする。(第2図(a))。
このようにリッジを形成した基板1の表面に液相エピタ
キシャル法によって第1層のn型Ga1−アAJ y 
A sクラッド層2をリッジの上での厚さが約0−21
1m5第2層のノンドープGa4.AI、As活性層3
を同じ場所で約0.06μm1第3層p型Ga1−7A
JyAsクラッド層4を同じ場所で約1.5μm、第4
層n型G a A gキヤツプ層5を約0.5prnの
厚さになるように連続成長を行なう(第2図(b))。
なお上記実施例においてはx=o、OB、y=0.43
である。次に成長表面よりp型不純物を基板上のリッジ
間の溝部直上にストライプ状に選択拡散して亜鉛拡散領
域8を形成し、拡散フロントが第3屠p型Ga1−アA
 l y A sクラッド層4に達するようにする。そ
の後、成長表面にp側電極用金属を蒸着し、合金処理を
行なってp側オーミック電極6を形成する。基板側には
n側オーミック電極を蒸着し、合金処理を行なってn側
オーミック電極7を形成する(第2図(C))。
以上のように構成された半導体レーザアレイ装置につい
て、以下その動作を説明する。
亜鉛拡散領域8よシ流入された電流は、溝部上の活性層
3に注入される。この電流により活性層横モード発振が
得られる。各層の間の距離は溝幅と同程度と非常に短い
ので、各層の上にできるビームスポットはお互いにすそ
が重なシ合う状態となシ、実効的に細長い形状のビーム
スポットが得られる(第3図)。
本実施例の半導体レーザアレイ装置により、ビーム形状
は1×24μmと細長くなり、全党出力が60 m W
という高出力が実現できた。
発明の効果 以上のように本発明は、基板の上に3本以上のたがいに
平行なリッジを設け、前記リッジ間の溝部直上にストラ
イプ状の電流注入領域を設けることにより、スポットの
楕円率の大きい高出力半導体レーザアレイ装置を得るこ
とができ、その実用的効果は大なるものがある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、光デイスクファイル装置における長楕円形ビ
ームを用いた、情報の消去・記録方法の原理図、第2図
(,1〜(c)は本発明の実施例の半導体レーザアレイ
装置の各製造工程における断面図、第3図は同装置のレ
ーザビームの発光強度の分布を示した図である。 1・・・・・・n型G a A s基板、2・・・・・
・n型Ga1−アA ly A sクラッド層、3・・
・・・・ノンドープGa1−1AI3eAs活性層、4
 ・−−−−・p型Ga1 、AlyAsクラッド層、
6・・・・・・n型G a A sキヤツプ層、6・・
・・・・p側オーミフク電極、7・−・・・・n側オー
ミック電極、8−・・・・亜鉛拡散領域。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 3本以上の平行なリッジが形成された基板表面に活性層
    を含む各層が形成され、前記リッジ間の溝部直上にスト
    ライプ状の電流注入領域が形成されたことを特徴とする
    半導体レーザアレイ装置。
JP19284084A 1984-09-14 1984-09-14 半導体レ−ザアレイ装置 Pending JPS6170783A (ja)

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JP19284084A JPS6170783A (ja) 1984-09-14 1984-09-14 半導体レ−ザアレイ装置

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JP19284084A JPS6170783A (ja) 1984-09-14 1984-09-14 半導体レ−ザアレイ装置

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JPS6170783A true JPS6170783A (ja) 1986-04-11

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