JPS6161039A - 空間的に展開された試料パタ−ン測定装置 - Google Patents
空間的に展開された試料パタ−ン測定装置Info
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- JPS6161039A JPS6161039A JP18358984A JP18358984A JPS6161039A JP S6161039 A JPS6161039 A JP S6161039A JP 18358984 A JP18358984 A JP 18358984A JP 18358984 A JP18358984 A JP 18358984A JP S6161039 A JPS6161039 A JP S6161039A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
- G01N27/416—Systems
- G01N27/447—Systems using electrophoresis
- G01N27/44704—Details; Accessories
- G01N27/44717—Arrangements for investigating the separated zones, e.g. localising zones
- G01N27/44721—Arrangements for investigating the separated zones, e.g. localising zones by optical means
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
イ・ 産業上の利用分野
本発明は生体液分析を目的とする二次元電気泳動ゲル或
は薄層プレート等の画像読取り装置に関する。
は薄層プレート等の画像読取り装置に関する。
口・従来の技術
上述したような分析における二次元電気泳動ゲル或は薄
層プレートでは試料成分のスポットは約１５ ａｍ四方
の面に一面に星のように分布しておシ、その数は１００
０個以上にもなる。従来はこのように二次的に展開され
た試料成分のスポットから定量的な情報を得るために、
ゲル或は薄層の全面を定食していた。この全面走査には
細い光ビームによる全面のジグザグ走査法或は−次元ホ
トダイオードアレイのような画像素子を用いて、ゲル面
等の像をこの画像素子上に形成し、画像素子を電気的に
走査すると云う動作を、ゲル面の全体について行う方法
等が用いられていた。前者の方法は１５ｃｍ角と云う広
い面を微細な光ビームで隙間なく走査するので非常に時
間がか＼る。後者の方法はゲル面を適当な幅で区分して
、各区分を走査するので、前者の方法よりは測定所要時
間が短縮されるが、試料面の全幅を縮小して画像素子上
に投影すると、画像分解能が低下し、照射照度が低下す
るので、定量精度が低下するから、縮小投影はできず画
像素子が一度にカバーできる試料上の幅は試料面全体に
比して小さく、試料面全面を測定するにはやはりかなり
の時間がか＼る。
層プレートでは試料成分のスポットは約１５ ａｍ四方
の面に一面に星のように分布しておシ、その数は１００
０個以上にもなる。従来はこのように二次的に展開され
た試料成分のスポットから定量的な情報を得るために、
ゲル或は薄層の全面を定食していた。この全面走査には
細い光ビームによる全面のジグザグ走査法或は−次元ホ
トダイオードアレイのような画像素子を用いて、ゲル面
等の像をこの画像素子上に形成し、画像素子を電気的に
走査すると云う動作を、ゲル面の全体について行う方法
等が用いられていた。前者の方法は１５ｃｍ角と云う広
い面を微細な光ビームで隙間なく走査するので非常に時
間がか＼る。後者の方法はゲル面を適当な幅で区分して
、各区分を走査するので、前者の方法よりは測定所要時
間が短縮されるが、試料面の全幅を縮小して画像素子上
に投影すると、画像分解能が低下し、照射照度が低下す
るので、定量精度が低下するから、縮小投影はできず画
像素子が一度にカバーできる試料上の幅は試料面全体に
比して小さく、試料面全面を測定するにはやはりかなり
の時間がか＼る。
ハ・ 発明が解決しようとする問題点
本発明は広い面積に分布している多数の試料成分スポッ
トについて定量測定を行う場合における時間損失をでき
るだけ少くしようとするものである０ 二・ 問題解決のだめの手段 二次元電気泳動法でゲル上に形成されるスポットは１０
００個以上と云った多数であるが、このい大多数のスポ
ットに対しても一律に定量測定を実行することによって
時間を無駄にしていたと云える。本発明は、試料ステー
ジ面の一定位置を中心に一定範囲を照射する光源装置と
、試料ステージ面でＸ方向及びＸ方向に夫々指定量だけ
移動可能な試料ステージと、上記光源装置によって照射
される試料面からの反射光或は透過光によって試料の像
が結像される画像素子と、試料ステージをメモリに入力
されたＸ＋１５’両座標データに基いて、その座標値に
相当する量だけＸＩ ｙ各方向に駆動する制御手段とを
備え、二次元電気泳動ゲル或は薄層プレート上の定量測
定をすべきスポットの中心座標データ及びそのスポット
を含む測定範囲のデータを上記メモリに入力し、そのデ
ータによって上記制御手段を介して、定量測定をすべき
スポットだけを光照射位置に順次位置させるようにした
二次元的試料測定装置である。
トについて定量測定を行う場合における時間損失をでき
るだけ少くしようとするものである０ 二・ 問題解決のだめの手段 二次元電気泳動法でゲル上に形成されるスポットは１０
００個以上と云った多数であるが、このい大多数のスポ
ットに対しても一律に定量測定を実行することによって
時間を無駄にしていたと云える。本発明は、試料ステー
ジ面の一定位置を中心に一定範囲を照射する光源装置と
、試料ステージ面でＸ方向及びＸ方向に夫々指定量だけ
移動可能な試料ステージと、上記光源装置によって照射
される試料面からの反射光或は透過光によって試料の像
が結像される画像素子と、試料ステージをメモリに入力
されたＸ＋１５’両座標データに基いて、その座標値に
相当する量だけＸＩ ｙ各方向に駆動する制御手段とを
備え、二次元電気泳動ゲル或は薄層プレート上の定量測
定をすべきスポットの中心座標データ及びそのスポット
を含む測定範囲のデータを上記メモリに入力し、そのデ
ータによって上記制御手段を介して、定量測定をすべき
スポットだけを光照射位置に順次位置させるようにした
二次元的試料測定装置である。
ホ・作用
本発明によれば広い試料面の全体について一律に測定を
行うのでなく、必要箇所だけを順次測定して行くので、
前項で述べたような画像素子を用いて電気的に走査する
場合はもちろん、指定された測定箇所だけを細い光ビー
ムで走査する方式であっても、無駄な測定を行っている
時間がなくなるから全体の測定所要時間が短縮される。
行うのでなく、必要箇所だけを順次測定して行くので、
前項で述べたような画像素子を用いて電気的に走査する
場合はもちろん、指定された測定箇所だけを細い光ビー
ムで走査する方式であっても、無駄な測定を行っている
時間がなくなるから全体の測定所要時間が短縮される。
へ・実施例
図は本発明の一実施例を示す。Ｓは試料ステージでＸ、
Ｙは試料ステージＳをＸ方向、Ｘ方向に移動させる
パルスモータであり、ＤＩはこれらのパルスモータの駆
動回路である。Ｌは光源装置で試料ステージ上のＸ軸に
平行な線分Ｃ上に集光するようになっている。１はコン
ピュータで駆動回路Ｄ１を制御しており、モータＸ、Ｙ
の駆動パルスをカウントして光照射範囲Ｃの中心点Ｏの
試料ステージＳに固定した座標におけるｘ、ｙ座標値を
検出している。２は試料ステージＳ上に載置された試料
の電気泳動ゲル或は薄層プレートである。
Ｙは試料ステージＳをＸ方向、Ｘ方向に移動させる
パルスモータであり、ＤＩはこれらのパルスモータの駆
動回路である。Ｌは光源装置で試料ステージ上のＸ軸に
平行な線分Ｃ上に集光するようになっている。１はコン
ピュータで駆動回路Ｄ１を制御しており、モータＸ、Ｙ
の駆動パルスをカウントして光照射範囲Ｃの中心点Ｏの
試料ステージＳに固定した座標におけるｘ、ｙ座標値を
検出している。２は試料ステージＳ上に載置された試料
の電気泳動ゲル或は薄層プレートである。
ＰはＣＣＤラインセンサのような一次元画像素子であり
、レンズＧによって試料２上の光照射域Ｃの像が、画像
素子Ｐの受光面上に形成される。
、レンズＧによって試料２上の光照射域Ｃの像が、画像
素子Ｐの受光面上に形成される。
オペレータは試料２を試料ステージＳ上にセットし、光
源装置りを点灯して、ｘｙ移動キー３を操作し、定量し
ようとするスポットの中心が光照射域Ｃの中心Ｏに来る
ように試料ステージを移動させ、測定しようとするスポ
ットを丁度良く含むように測定範囲を設定し、読込みキ
ー５を押すと、コンピュータはそのときの試料ステージ
Ｓの座標値及びその座標を中心とする測定範囲のデータ
をメモリＭに記憶させる。以下定量しようと思うスポッ
トに対して次々に同じ入力操作を行い、その後スタート
の指令をコンピュータ１に与えると、コンピュータ１は
メモリに記憶された各スポットに関する座標データと測
定範囲のデータを読出しては、試料ステージＳを駆動し
、画像素子Ｐを走査して同素子から読出された映像信号
をメモリＭの所定のエリヤに格納して行く。
源装置りを点灯して、ｘｙ移動キー３を操作し、定量し
ようとするスポットの中心が光照射域Ｃの中心Ｏに来る
ように試料ステージを移動させ、測定しようとするスポ
ットを丁度良く含むように測定範囲を設定し、読込みキ
ー５を押すと、コンピュータはそのときの試料ステージ
Ｓの座標値及びその座標を中心とする測定範囲のデータ
をメモリＭに記憶させる。以下定量しようと思うスポッ
トに対して次々に同じ入力操作を行い、その後スタート
の指令をコンピュータ１に与えると、コンピュータ１は
メモリに記憶された各スポットに関する座標データと測
定範囲のデータを読出しては、試料ステージＳを駆動し
、画像素子Ｐを走査して同素子から読出された映像信号
をメモリＭの所定のエリヤに格納して行く。
ト、効果
本発明によるときは、画像走査は電気泳動ゲル或は薄層
プレート上の筒数的に限定された小領域についてのみ行
うので、全面を走査するのに比し、測定所要時間が著る
しく短縮される。また定量すべき領域を一つのスポット
についてもその大きさに応じて必要範囲に設定している
ので、近傍の別のスポットの測定信号が採取したデータ
に混入することなく、メモリに記憶させるべき映像信号
のデータ量が必要限度に留められ、メモリの容量も節約
できる〇 上述実施例ではスポットの像を画像素子上に投影して、
それを電気的に走査しているが、本発明は光ビームで試
料面を走査する方式でも適用でき、そのときでも、走査
範囲が限定されることによる測定時間短縮の効果は同じ
である。
プレート上の筒数的に限定された小領域についてのみ行
うので、全面を走査するのに比し、測定所要時間が著る
しく短縮される。また定量すべき領域を一つのスポット
についてもその大きさに応じて必要範囲に設定している
ので、近傍の別のスポットの測定信号が採取したデータ
に混入することなく、メモリに記憶させるべき映像信号
のデータ量が必要限度に留められ、メモリの容量も節約
できる〇 上述実施例ではスポットの像を画像素子上に投影して、
それを電気的に走査しているが、本発明は光ビームで試
料面を走査する方式でも適用でき、そのときでも、走査
範囲が限定されることによる測定時間短縮の効果は同じ
である。
なお本発明は試料成分を一次元的に展開した場合でも適
用でき、その場合必要とされるスポットの部分でだけ測
定を行い、その他の部分は飛ばせばよい。
用でき、その場合必要とされるスポットの部分でだけ測
定を行い、その他の部分は飛ばせばよい。
図面は本発明の一実施例を示すブロック図である。
代理人 弁理士 孫 浩 介
７一
Claims (1)
- 試料ステージ面の一定位置を中心に一定範囲を照射する
光源装置と、試料ステージを駆動し、その位置座標を検
知する手段と、試料面からの反射或は透過光を受光する
受光素子と、試料ステージ上の試料が展開された層にお
ける定量測定すべきスポットの座標及びそのスポットを
含む測定範囲のデータを記憶させるメモリと、このメモ
リに記憶された座標データに基いて上記試料ステージの
駆動制御を行い、測定範囲のデータに基いて上記受光素
子から測定データを採取する制御手段を備えた空間的に
展開された試料パターン測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59183589A JPH0776744B2 (ja) | 1984-08-31 | 1984-08-31 | 空間的に展開された試料パターン測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59183589A JPH0776744B2 (ja) | 1984-08-31 | 1984-08-31 | 空間的に展開された試料パターン測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6161039A true JPS6161039A (ja) | 1986-03-28 |
| JPH0776744B2 JPH0776744B2 (ja) | 1995-08-16 |
Family
ID=16138460
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59183589A Expired - Lifetime JPH0776744B2 (ja) | 1984-08-31 | 1984-08-31 | 空間的に展開された試料パターン測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0776744B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6321556A (ja) * | 1986-07-15 | 1988-01-29 | Hitachi Ltd | Ｄｎａ塩基配列決定装置 |
| US4794983A (en) * | 1987-02-02 | 1989-01-03 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Heat exchanger tube for evaporation or condensation |
| JPH03237340A (ja) * | 1990-02-14 | 1991-10-23 | Shimadzu Corp | 二次元分光画像解析装置 |
| WO2002025253A1 (en) * | 2000-09-25 | 2002-03-28 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Device for chromatographic quantitative measurement |
| JP2002098631A (ja) * | 2000-09-25 | 2002-04-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 小型試料濃度測定装置 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS49130293A (ja) * | 1973-04-13 | 1974-12-13 | ||
| JPS5123795A (ja) * | 1974-08-21 | 1976-02-25 | Shimadzu Corp | |
| JPS5757258A (en) * | 1980-09-24 | 1982-04-06 | Hitachi Ltd | Device for measuring microscope sample |
| JPS57118348U (ja) * | 1981-01-19 | 1982-07-22 |
-
1984
- 1984-08-31 JP JP59183589A patent/JPH0776744B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JPS57118348U (ja) * | 1981-01-19 | 1982-07-22 |
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPS6321556A (ja) * | 1986-07-15 | 1988-01-29 | Hitachi Ltd | Ｄｎａ塩基配列決定装置 |
| US4794983A (en) * | 1987-02-02 | 1989-01-03 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Heat exchanger tube for evaporation or condensation |
| US4880054A (en) * | 1987-02-02 | 1989-11-14 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Heat exchanger tube for evaporation or condensation |
| JPH03237340A (ja) * | 1990-02-14 | 1991-10-23 | Shimadzu Corp | 二次元分光画像解析装置 |
| WO2002025253A1 (en) * | 2000-09-25 | 2002-03-28 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Device for chromatographic quantitative measurement |
| JP2002098631A (ja) * | 2000-09-25 | 2002-04-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 小型試料濃度測定装置 |
| US7678566B2 (en) | 2000-09-25 | 2010-03-16 | Panasonic Corporation | Device for chromatographic quantitative measurement |
| US8722424B2 (en) | 2000-09-25 | 2014-05-13 | Panasonic Corporation | Chromatography quantitative measuring apparatus |
| US8722425B2 (en) | 2000-09-25 | 2014-05-13 | Panasonic Corporation | Chromatography quantitative measuring apparatus |
| US8778698B2 (en) | 2000-09-25 | 2014-07-15 | Panasonic Healthcare Co., Ltd. | Chromatography quantitative measuring apparatus |
| US8822230B2 (en) | 2000-09-25 | 2014-09-02 | Panasonic Healthcare Co., Ltd. | Chromatography quantitative measuring apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0776744B2 (ja) | 1995-08-16 |
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