JPS6158989B2 - - Google Patents

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JPS6158989B2
JPS6158989B2 JP55071340A JP7134080A JPS6158989B2 JP S6158989 B2 JPS6158989 B2 JP S6158989B2 JP 55071340 A JP55071340 A JP 55071340A JP 7134080 A JP7134080 A JP 7134080A JP S6158989 B2 JPS6158989 B2 JP S6158989B2
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JP
Japan
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film
substrate
amorphous silicon
solar cell
thin film
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JP55071340A
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English (en)
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JPS56169371A (en
Inventor
Hiroshi Okaniwa
Kenji Nakatani
Mitsuo Asano
Wataru Yamamoto
Takanori Urasaki
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Teijin Ltd
Original Assignee
Teijin Ltd
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Publication date
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Priority to JP7134080A priority Critical patent/JPS56169371A/ja
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Publication of JPS6158989B2 publication Critical patent/JPS6158989B2/ja
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/0248Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
    • H01L31/036Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their crystalline structure or particular orientation of the crystalline planes
    • H01L31/0392Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their crystalline structure or particular orientation of the crystalline planes including thin films deposited on metallic or insulating substrates ; characterised by specific substrate materials or substrate features or by the presence of intermediate layers, e.g. barrier layers, on the substrate
    • H01L31/03921Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their crystalline structure or particular orientation of the crystalline planes including thin films deposited on metallic or insulating substrates ; characterised by specific substrate materials or substrate features or by the presence of intermediate layers, e.g. barrier layers, on the substrate including only elements of Group IV of the Periodic Table
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
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Description

【発明の詳細な説明】
本発明は可撓性フイルム基板上に光起電力要素
として非晶質シリコン薄膜を設けた太陽電池に関
する。更に詳しくは、該基板にポリアリレート樹
脂からなる可撓性高分子フイルムを用いた太陽電
池に関する。 非晶質シリコン薄膜をステンレス鋼、ガラス板
などの基板上に設けた太陽電池は特開昭52―6990
号(特公昭53―37718)公報に記載されているご
とく公知である。また、可撓性基板として耐熱性
に富むポリイミド等の樹脂薄膜を基板に使用した
非晶質シリコン太陽電池は特開昭54―149489号、
特開昭55―4994号、さらに特開昭55―29154号公
報に記載されているごとく公知である。 非晶質シリコン太陽電池を製造するに際して可
撓性基板を用いる特徴は、特開昭55―4994号およ
び特開昭55―29154号で開示されているごとく、
支持基板上に必要な層を連続法で設けた非晶質シ
リコン太陽電池の製造を可能ならしめることにあ
る。また、特開昭54―149489号に開示されている
ごとく、可撓性基板上に形成された非晶質シリコ
ン太陽電池は、従来の太陽電池に比較してフイル
ム状であるので、任意に曲げることが可能であ
り、その応用が広がることが期待されている。 しかるね、かかる可撓性高分子フイルムを基板
に用いた場合、(1)非晶質シリコン薄膜を光起電力
要素に用いるには少くとも250〜350℃の高温が望
ましい為、耐熱性の優れたポリイミド樹脂からな
るフイルムしか適用できない。一方、(2)ポリイミ
ド樹脂からなるフイルムは吸湿率(100%RH)が
2.9%と大きく、厳しい自然環境下では基板を通
して侵入する湿分が下部電極の腐蝕や基板と下部
電極の剥離を促進し実用上大きな問題点を残し
た。 可撓性高分子フイルムを基板とする非晶質シリ
コン薄膜太陽電池を実現するには、少なくとも
250〜350℃の耐熱性を持ちしかも吸湿率の小さい
高分子フイルムを利用することが必要となる。本
発明者はかかる要求特性を持つた高分子フイルム
を種々探索した結果、ポリアリレート樹脂からな
る可撓性高分子フイルムが非晶質シリコン薄膜太
陽電池の基板材料として好適であることを見出
し、本発明に到達した。 本発明は、可撓性フイルム基板上に光起電力要
素として非晶質シリコン薄膜を設けた太陽電池に
おいて、該基板にポリアリレート樹脂からなる可
撓性高分子フイルムを用いることを特徴とする可
撓性フイルム基板非晶質シリコン太陽電池であ
る。 本発明の可撓性フイルム基板に用いるポリアリ
レート樹脂からなる可撓性高分子フイルムとは、
下記式 〔ただし、式中x:y及びx:zはいづれも
80:20乃至50:50、y:zは10:15乃至15:10、
nは0又は1であり、式(B)のカルボニル基は互い
にメタおよび(または)パラ位置の関係にあり、
式(C)のオキシ基は1)n=0の場合は互いにメタ
および(または)パラ位置の関係に、2)n=1
の場合はフエニル基に対してメタおよび(また
は)パラ位置の関係にある。〕 で表わされる残基(A)・(B)及び(C)より実質的に構成
されるポリエステルからなるポリアリレート樹脂
フイルムである。 本発明においてフイルムを構成するポリエステ
ルは前記式(A)・(B)及び(C)で表わされる残基より実
質的に構成される。前記式(A)で表わされる残基は
p―オキシ安息香酸残基であり、式(B)で表わされ
る残基はテレフタル酸又はイソフタル酸の残基で
あり、式(C)で表わされる残基はハイドロキノン、
レゾルシン、4,4′―ジオキシジフエニル、3,
3′―ジオキシジフエニル、3,4′―ジオキシジフ
エニルなどの芳香族ジオールの残基である。本発
明のポリアリレート樹脂フイルム与えるポリエス
テルの好適な具体例は、 1 p―オキシ安息香酸、イソフタル酸及びハイ
ドロキノンを主たる成分とするポリエステル; 2 p―オキシ安息香酸、テレフタル酸及びレゾ
ルシンを主たる成分とするポリエステル; 3 p―オキシ安息香酸、イソフタル酸及び4,
4′―ジオキシジフエニルを主たる成分とするポ
リエステル; などである。 かかるポリエステルのうち特に好ましいポリマ
ーは1)のポリエステルである。 かかるポリアリレート樹脂フイルムは250〜300
℃といつた高温でも熱収縮率は2%以下であると
いうすぐれた寸法安定性を示す。更に、特質すべ
きことは吸湿率(100RH)が従来のポリイミドフ
イルムの1/10以下というすぐれた特長を持つてい
る。 該フイルムを非晶質シリコン太陽電池の基板と
して用いる場合のフイルム厚さは10〜500μmが
可撓性の点から好適である。厚さが500μmを越
えると可撓性に欠け、可撓性高分子フイルムを基
板に用いる利点の1つである連続ロールアツプが
困難となる。一方、厚さが10μmより薄くなる
と、非晶質シリコン薄膜を沈積した場合沈積時に
加わる熱応力を緩和しきれずに該基板が変形する
ので好ましくない。 ポリアリレート樹脂フイルムを非晶質シリコン
太陽電池の基板として用いるために、少なくとも
表面抵抗が1000Ω/□以下になるように厚さ0.01
〜20μmの導電層を積層する。該導電層にはステ
ンレス鋼、ニツケルクロム合金およびニツケル、
タンタル、鉄、クロム、ニオブ、ジルコニウム、
チタン金属および/またはそれらの合金薄膜を蒸
着法、スパタリンダ法で沈積したもの、さらに
は、前記金属フイルムをラミネートしたものや酸
化錫、酸化インジウム、錫酸カドミウム等の酸化
物薄膜を蒸着法、スパタリング法で沈積したもの
がある。該導電層の厚さが0.01μm以下では導電
性が不充分であり、20μmを越えると高分子フイ
ルム本来の可撓性を損なうので好ましくない。 可撓性基板上に非晶質シリコン薄膜を沈積する
には、グロー放電法、スパタリング法、イオンプ
レーテイング法等公知の方法を用いる。例えば、
グロー放電法の場合、10〜0.1Torrに維持された
真空槽内でロールアツプされた可撓性基板から該
基板を引き出し、200〜400℃に加熱した基板ホル
ダーに密着させる。この基板ホルダーを一方の電
極とし、それと対抗する電極との間に、13.56M
Hzの高周波電力を供給する。真空槽内にはシラン
(SiH)、シボラン(B2H6)、ホスフイン(PH3)ガ
スを導入してグロー放電を起し、所定の膜厚に前
記ガスの分解生成物を沈積せしめ、光起電力要素
である非晶質シリコン薄膜を設ける。 次に、該非晶質シリコン薄膜を太陽電池デバイ
スとするために光起電力要素である導電化ポリア
リレート樹脂フイルム上の非晶質シリコン膜を真
空槽内に装着し、例えばシヨツトキー接合セルの
場合はシヨツトキー障壁金属として白金、金、パ
ラジウム等をスパツタ法や真空蒸着法で100Å前
後の膜厚で沈積する。またヘテロ(フエイス)接
合セルの場合は、酸化インジウム、酸化錫、錫酸
カドミウム薄膜を200〜3000Å前後の膜厚になる
ようにスパツタ法や真空蒸着法で沈積し、表面電
極を形成する。 次に、収集電極をシヨツトキー障壁金属、ヘテ
ロ(フエイス)電極表面上に設けて非晶質シリコ
ン太陽電池デバイスとする。 本発明になる非晶質シリコン太陽電池は、可撓
性基板として導電化ポリアリレート樹脂フイルム
を選び、光起電力要素として非晶質シリコン膜を
設け、その上にシヨツトキー障壁金属またはヘテ
ロ(フエイス)電極さらに収集電極を設けた基本
構造をもつている。 本発明の非晶質シリコン太陽電池は可撓性高分
子フイルム基板としてポリアリレート樹脂フイル
ムを選んだことに大きな特長を持つている。すな
わち、(1)基板フイルムの耐熱性が非晶質シリコン
薄膜形成温度である250〜300℃の高温下において
も充分であり、熱収縮率が2%以下であるという
すぐれた寸法安定性を示す。また、(2)吸湿率
(100%RH)が、可撓性高分子フイルム基板とし
て提案されているポリイミド樹脂フイルムの1/10
以下というすぐれた特性を持つている。この結
果、可撓性高分子フイルムを基板とする非晶質シ
リコン太陽電池の製造が可能となり、基板の寸法
安定性が優れており、さらに基板の吸湿率が小さ
いことから、太陽電池として安定な電気出力を得
ることができるようになつた。 太陽電池は直射日光にばく露され、風雨にさら
される厳しい自然環境下におかれる。高温多湿下
では前記の寸法安定性のすぐれていること及び吸
湿率の小さいことが大きな武器となることがうな
ずける。可撓性高分子フイルム基板としてポリア
リレート樹脂フイルムを選んだことにより、連続
ロールアツプ生産性という利点を生かしつゝ厳し
い自然環境下で実用的な太陽電池を得ることが始
めて可能となつた。以下、実施例をあげ本発明を
説明する。 実施例 ポリアリレート樹脂フイルムの製造 p―オキシ安息香酸フエニル115部、イソフタ
ル酸ジフエニル114部及びハイドロキノン42部を
酢酸第1スズ0.089部の存在下で溶融重合した。
その後、得られたポリエステルを粉砕し、減圧高
温下で固相重合し高重合度ポリエステルを得た。 この高重合度ポリエステルをシリンダー温度
360℃で、巾0.5mm、長さ100mmのスリツトを有す
るTダイより押し出し、機械軸方向つづいて機械
軸に直角な方向に延伸し、最後に320℃で1分間
緊張熱処理し厚さ50μmのポリアリレート樹脂フ
イルムを得た。得られたこのフイルムの特性は、
300℃下での熱収縮率は0.7%以下であり、100%
RH下での吸湿率は0.25以下であつた。 非晶質シリコン太陽電池の製造 前記ポリアリレート樹脂フイルムをアセトン及
びイオン交換水で超音波洗浄後、110℃30分間乾
燥した。その後該フイルムをスパタリング装置内
に装着し、ステンレス鋼ターゲツトより該フイル
ム上に厚さ1000Åのステンレス鋼のスパツタ薄膜
を有する導電化ポリアリレート樹脂フイルムを得
た。 非晶質シリコン薄膜は内部電極型の高周波
(13.56MHz)グロー放電装置を用いて前記基板上
に設ける。グロー放電装置内の一方の電極上に前
記基板を装着し10-5Torrに排気しながら300℃に
該基板を加熱する。その後、アルゴンガスを導入
して1.0Torrのアルゴン雰囲気下で30Wの高周波
電力を印加し前記基板のプレスパタリングを行つ
て基板のクリーニングを行う。次に水素ガスで10
%に稀釈したシランガスと同様に水素ガスで1%
に稀釈したホスフインガスを混合しグロー放電装
置内に導入し、0.8Torrの該ガス雰囲気下で10W
の高周波電力を印加して該基板上に厚さ240Åの
リンをドープしたn型の非晶質シリコン薄膜を設
ける。引続いてシランガス単独で前記と同様にし
てn型の非晶質シリコン薄膜上に厚さ8000Åの非
晶質シリコン薄膜を積層する。次に、シランガス
中に水素ガスで1%に稀釈したジボランガスを混
合し前記と同時にして〓型の非晶質シリコン薄膜
上に厚さ240Åのホウ素をドープしたp型の非晶
質シリコン薄膜を設け、可撓性基板上にpin型の
非晶質シリコン薄膜を設けた。 次に可撓性基板上にpin型非晶質シリコン薄膜
を設けたフイルムを真空蒸着装置内に装着した。
10-5Torrに排気しながら200℃に該フイルムを加
熱する。その後、アルゴンと酸素の混合ガスを導
入して10-3Torrの雰囲気下で電子ビーム加熱法
で酸化インジウムと酸化錫の混合酸化物ターゲツ
トから、厚さ1000Åの錫をドープした酸化インジ
ウム薄膜を真空蒸着してヘテロフエイス層とし
た。最後にこのヘテロフエイス層上に収集電極と
して厚さ1000Åのパラジウム薄膜をくし形に真空
蒸着し、ポリアリレート樹脂フイルム基板上に
pinヘテロフエイス型太陽電池デバイスを得た。 非晶質シリコン太陽電池の特性 該太陽電池デバイスの初期特性をAM=1に調
節したオリエル社ソーラーシユミレーター(Pin
=92.5mW/cm2)で測定した。対照品として可撓
性高分子フイルム基板としてポリイミドフイルム
(厚さ125μm)を選び前記と同様の方法で製造し
た太陽電池を用いた。結果を表1に示した。
【表】 次に該太陽電池を(1)室温放置試験(30日間):
シリカゲル入りデシケーター中及び室内放置、(2)
湿度サイクル試験(24時間サイクル1回):20
℃、30%RH20℃、80%RHを行い太陽電池の変
換効率変化測定し表2を得た。
【表】 この結果からも明らかなごとく、基板として用
いる高分子フイルムの吸湿率が太陽電池特性の経
時安定性に大きな影響を及ぼしていることがわか
る。本発明になるポリアリレート樹脂フイルムの
吸湿率は0.25以下とポリイミドフイルムの吸湿率
の1/10以下であるため、すぐれた経時安定性を有
していると考えられる。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 可撓性フイルム基板上に光起電力要素として
    非晶質シリコン薄膜を設けた太陽電池において、
    該基板にポリアリレート樹脂からなる可撓性高分
    子フイルムを用いることを特徴とする可撓性フイ
    ルム基板非晶質シリコン太陽電池。
JP7134080A 1980-05-30 1980-05-30 Amorphous silicon solar battery of flexible film substrate Granted JPS56169371A (en)

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JPS56169371A JPS56169371A (en) 1981-12-26
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JPS61168271A (ja) * 1985-01-21 1986-07-29 Sumitomo Bakelite Co Ltd 非晶質シリコン太陽電池
JPS62101080A (ja) * 1985-10-28 1987-05-11 Sanyo Electric Co Ltd 光起電力素子

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