JPS6157869A - プリント配線回路の検査装置 - Google Patents
プリント配線回路の検査装置Info
- Publication number
- JPS6157869A JPS6157869A JP59181421A JP18142184A JPS6157869A JP S6157869 A JPS6157869 A JP S6157869A JP 59181421 A JP59181421 A JP 59181421A JP 18142184 A JP18142184 A JP 18142184A JP S6157869 A JPS6157869 A JP S6157869A
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- Japan
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- bright line
- light
- inspected
- board
- circuit board
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、プリント配線により形成される各種電子回路
のプリント基板に、各種部品が所定個所に正しい姿勢を
以て装着されているか否か等を自動的に検査するプリン
ト配線回路の検査装置に関するものである。
のプリント基板に、各種部品が所定個所に正しい姿勢を
以て装着されているか否か等を自動的に検査するプリン
ト配線回路の検査装置に関するものである。
プリント配線により形成される各種電子回路の製作に当
って自動挿入機を用いて各種部品をプリント基板に装着
する場合、各種部品が所定個所に正しい姿勢を以て装着
されているか否か等を検査する必要があり、従来は目視
による検査を行っているが、正確を期するためには相当
の集中力を兜・要とし、長時間、連続して検査を行うこ
とは不可能である。又、テレビカメラによってプリント
基板の部品実装面を真上からの映像としてとらえるか、
斜上方から平行光線を投射した際の部品の影を映像とし
てとらえ、この画像情報から部品の有無、部品違い又は
位置ずれ等を判断する方法も用いられているが、装置が
複雑大形となり、検査に比較的長時間を要する欠点があ
る。
って自動挿入機を用いて各種部品をプリント基板に装着
する場合、各種部品が所定個所に正しい姿勢を以て装着
されているか否か等を検査する必要があり、従来は目視
による検査を行っているが、正確を期するためには相当
の集中力を兜・要とし、長時間、連続して検査を行うこ
とは不可能である。又、テレビカメラによってプリント
基板の部品実装面を真上からの映像としてとらえるか、
斜上方から平行光線を投射した際の部品の影を映像とし
てとらえ、この画像情報から部品の有無、部品違い又は
位置ずれ等を判断する方法も用いられているが、装置が
複雑大形となり、検査に比較的長時間を要する欠点があ
る。
本発明は、簡単な構造で取扱いが容易なると共に、正確
な検査を迅速に行い得るプリント配線回路の検査装置を
実現することを目的とする。
な検査を迅速に行い得るプリント配線回路の検査装置を
実現することを目的とする。
第１図は、本発明の一実施例を示す図で、１は扇状の掃
引光線又は薄層状の光を発する光源、２は線状の光セン
サ、３は集光レンズ、４は被検査プリント基板である。
引光線又は薄層状の光を発する光源、２は線状の光セン
サ、３は集光レンズ、４は被検査プリント基板である。
第２図は、光源１の構成の一例を示す図で、５はレーザ
光源、６は正多角形の板状支持体、７７、乙、・・・・
・・は平面反射鏡で、板状支持体６の周面に取付けであ
る。８は板状支持体乙の回転駆動用モータである。レー
ザ光源５からのレーザ光を例えば平面反射鏡７ノに投射
すると共に、モータ８によって板状支特休６を回転せし
めると、平面反射鏡７ｔへのレーザ光の投射角が相対的
に連続して変化し、平面反射鏡７１かもの反射光の反射
方向が図示のように扇状に変化する。板状支持体６の回
転が進んで、平面反射鏡７１へのレーザ光の投射が終り
、平面反射鏡７−に投射されると、反射光の反射方向は
一旦旧に復し、平面反射鏡７Ｉかもの反射の場合と同様
に反射方向が扇状に変化し、以下同様の繰返しによって
扇状の掃引反射光が形成される。第３図もまた掃引光源
の一例を示す図で、５はレーザ光源、９はかルバノミラ
ーで、かルパノミラー９の往復回転に応じて扇状の掃引
反射光が得られる。第４図は、薄層状の光を発する光源
の一例を示す図で、５はレーザ光源、１０はシリンドリ
カルレンズで、光源５を発した光はシリンドリカルレン
ズ１０によって薄層状の光に変換される。
光源、６は正多角形の板状支持体、７７、乙、・・・・
・・は平面反射鏡で、板状支持体６の周面に取付けであ
る。８は板状支持体乙の回転駆動用モータである。レー
ザ光源５からのレーザ光を例えば平面反射鏡７ノに投射
すると共に、モータ８によって板状支特休６を回転せし
めると、平面反射鏡７ｔへのレーザ光の投射角が相対的
に連続して変化し、平面反射鏡７１かもの反射光の反射
方向が図示のように扇状に変化する。板状支持体６の回
転が進んで、平面反射鏡７１へのレーザ光の投射が終り
、平面反射鏡７−に投射されると、反射光の反射方向は
一旦旧に復し、平面反射鏡７Ｉかもの反射の場合と同様
に反射方向が扇状に変化し、以下同様の繰返しによって
扇状の掃引反射光が形成される。第３図もまた掃引光源
の一例を示す図で、５はレーザ光源、９はかルバノミラ
ーで、かルパノミラー９の往復回転に応じて扇状の掃引
反射光が得られる。第４図は、薄層状の光を発する光源
の一例を示す図で、５はレーザ光源、１０はシリンドリ
カルレンズで、光源５を発した光はシリンドリカルレン
ズ１０によって薄層状の光に変換される。
第２図ないし第４図に示した光源の中、何れかの光源か
らの光を、第１図に示したように被検査プリント基板４
の斜上方から基板表面に投射せしめると、第１図に破線
を以て示したように基板４の表面に輝線を生じ、この輝
線の上方に設けた集光レンズ３及び長手方向を輝線に一
致せしめた線状の光センサ２によって輝線の画像が検出
される。
らの光を、第１図に示したように被検査プリント基板４
の斜上方から基板表面に投射せしめると、第１図に破線
を以て示したように基板４の表面に輝線を生じ、この輝
線の上方に設けた集光レンズ３及び長手方向を輝線に一
致せしめた線状の光センサ２によって輝線の画像が検出
される。
を示すように、被検査プリント基板４の表面に部品１１
が装着されている場合には、基板４の表面における輝線
部分Ｙｊ及びＹ３は第１図示の位置に在るが、部品１１
の表面における輝線部分Ｙ−は部品１１ の高ざに応
じて光源１側にずれることとなる。即ち、部品１１ の
高さをＨ１基板４の表面に対する光の投射角こととなり
、線状の光センサ２は輝線のＹ＋及びＹ３部分を検出す
るが、部品１１上の輝線部分Ｙコはこれを検出し得ない
こととなる。したがって、第７図（で示すように、被検
査プリント基板４をＸ軸方向にΔχずつ間欠的に、又は
適当な速度を以て連続的に移動せしめると、光源１（第
１図）から被検査プリント基板４に投射された光により
生ずるＹ軸方向の輝線は基板４の表面全域を順次走査し
、線状光センサ２（第１図）の検出出力の総合パターン
は基板４の表面全域の二次元画像となり、部品１１の装
着個所は空白部分１１′として検出される。よって被検
査プリント配線回路と同一回路構成の標準品から得られ
る標準パターンを適当なメモリに記憶せしめ、被検査プ
リント配線回路から得られる検出信号を標準パターンと
比較することにより被検査プリント配線口路における部
品の有無、部品違い、又は位置ずれ等を検査することが
出来る。被検査プリント基板４を移動せしめる代りに、
これを固定し、光源１、集光レンズ３及び線状光センサ
２を同期してＸ軸方向に移動せしめるように構成しても
前記と同様に検査を行い得ること勿論である。
が装着されている場合には、基板４の表面における輝線
部分Ｙｊ及びＹ３は第１図示の位置に在るが、部品１１
の表面における輝線部分Ｙ−は部品１１ の高ざに応
じて光源１側にずれることとなる。即ち、部品１１ の
高さをＨ１基板４の表面に対する光の投射角こととなり
、線状の光センサ２は輝線のＹ＋及びＹ３部分を検出す
るが、部品１１上の輝線部分Ｙコはこれを検出し得ない
こととなる。したがって、第７図（で示すように、被検
査プリント基板４をＸ軸方向にΔχずつ間欠的に、又は
適当な速度を以て連続的に移動せしめると、光源１（第
１図）から被検査プリント基板４に投射された光により
生ずるＹ軸方向の輝線は基板４の表面全域を順次走査し
、線状光センサ２（第１図）の検出出力の総合パターン
は基板４の表面全域の二次元画像となり、部品１１の装
着個所は空白部分１１′として検出される。よって被検
査プリント配線回路と同一回路構成の標準品から得られ
る標準パターンを適当なメモリに記憶せしめ、被検査プ
リント配線回路から得られる検出信号を標準パターンと
比較することにより被検査プリント配線口路における部
品の有無、部品違い、又は位置ずれ等を検査することが
出来る。被検査プリント基板４を移動せしめる代りに、
これを固定し、光源１、集光レンズ３及び線状光センサ
２を同期してＸ軸方向に移動せしめるように構成しても
前記と同様に検査を行い得ること勿論である。
第７図及び第８図から明らかなように、部品１１の左側
の部分（第７図において斜線を施した部分）には、部品
１１に遮断されて光源１からの光が投射されず、部品１
１ の表面と同様に空白部分となるため、被検査パター
ンにおける部品の空白部分１１′は部品１１ の高ざ及
び投射光の投射角に応じて部品１１の実際の表面積より
も犬となるが、部品の有無、部品の形状確認、装着位置
のずれの有無等の検査には、はとんど支障を来たすおそ
れはない。然しながら部品の表面形状をより正確に検出
する必要のある場合の光源１′を光源１ とほぼ対称の
位置に設け、光源１′からの斜めの投射光によって被検
査プリント基板４の表面にＹ軸方向に生ずる輝線が、光
源１からの斜めの投射光によって生ずる輝線と常に一致
するように構成することにより、一方の光源からの投射
光が部品に遮断されて基板の表面に達しない部分には他
方の光源からの光が投射されることになると共に、部品
の表面においては両光源からの投射光によって生ずる輝
線が、何れも基板４の表面上の輝線から左右にずれるた
め、部品１１ の表面形状に正確に一致する空白部分を
生ずることとなる。
の部分（第７図において斜線を施した部分）には、部品
１１に遮断されて光源１からの光が投射されず、部品１
１ の表面と同様に空白部分となるため、被検査パター
ンにおける部品の空白部分１１′は部品１１ の高ざ及
び投射光の投射角に応じて部品１１の実際の表面積より
も犬となるが、部品の有無、部品の形状確認、装着位置
のずれの有無等の検査には、はとんど支障を来たすおそ
れはない。然しながら部品の表面形状をより正確に検出
する必要のある場合の光源１′を光源１ とほぼ対称の
位置に設け、光源１′からの斜めの投射光によって被検
査プリント基板４の表面にＹ軸方向に生ずる輝線が、光
源１からの斜めの投射光によって生ずる輝線と常に一致
するように構成することにより、一方の光源からの投射
光が部品に遮断されて基板の表面に達しない部分には他
方の光源からの光が投射されることになると共に、部品
の表面においては両光源からの投射光によって生ずる輝
線が、何れも基板４の表面上の輝線から左右にずれるた
め、部品１１ の表面形状に正確に一致する空白部分を
生ずることとなる。
被検査プリント基板の表面に生ぜしめる輝線をＹ軸方向
の代りにＸ軸方向に生せしめ、光源、集光レンズ及び線
状の光センサを同期して被検査プリント基板に対して相
対的にＹ軸方向に移動せしめでもよく、又、輝線を被検
査プリント基板の表面に斜方向に生せしめ、線状の光セ
ンサの長平方向を輝線に一致せしめると共に、例えばプ
リント基板を輝線と直角方向又はＸ軸方向或はＹ軸方向
に移動せしめるように構成してもよく、更に光センサ２
を線状光センサを以て形成して被検査プリント配線回路
の表面に代 生ずる輝線を１本ずつ一挙に検出せしめるつりに、点状
の光センサを用いて、各輝線毎に端から端まで走査して
検出するように構成しでも本発明を実Ｊｌｌｕすること
が出来る。
の代りにＸ軸方向に生せしめ、光源、集光レンズ及び線
状の光センサを同期して被検査プリント基板に対して相
対的にＹ軸方向に移動せしめでもよく、又、輝線を被検
査プリント基板の表面に斜方向に生せしめ、線状の光セ
ンサの長平方向を輝線に一致せしめると共に、例えばプ
リント基板を輝線と直角方向又はＸ軸方向或はＹ軸方向
に移動せしめるように構成してもよく、更に光センサ２
を線状光センサを以て形成して被検査プリント配線回路
の表面に代 生ずる輝線を１本ずつ一挙に検出せしめるつりに、点状
の光センサを用いて、各輝線毎に端から端まで走査して
検出するように構成しでも本発明を実Ｊｌｌｕすること
が出来る。
光の投射角を被検査プリント基板の表面に対してほぼ直
角となし、輝線の斜上方から輝線を検出するように構成
しても本発明を実施することが出来る。
角となし、輝線の斜上方から輝線を検出するように構成
しても本発明を実施することが出来る。
Ｓの場合にも、２個の光センサを対称の位置に設け、両
光センサの検出信号を合成することにより、第７図及び
第８図につき説明したように部品の陰における基板上の
輝線の検出を可能ならしめて、部品の表面形状を正確に
検出することが出来る。
光センサの検出信号を合成することにより、第７図及び
第８図につき説明したように部品の陰における基板上の
輝線の検出を可能ならしめて、部品の表面形状を正確に
検出することが出来る。
以上の説明から明らかなように、本発明においては被検
査プリント基板の表面に掃引光線又は薄層状の光を投射
して輝線を生ぜしめ、この輝線によって被検査プリント
基板の表面噌を走査せしめると共に、０の輝線を線状の
光センサによって検出せしめ、この輝線が被検査プリン
ト基板上に装着された部品の表面上においては、部品の
高任に応じてずれることとなり、このずれた輝線部分を
光センサが検出することが出来ず暗信号となることを利
用して被検査プリント基板上に装着された部品の平面形
状を正確に認識することにより、部品の有無、部品違い
、位置ずれ等を検査するもので、従来のような目視又は
テレビカメラによる検査に較べて容易迅速に、かつ正確
な検査が可能である。
査プリント基板の表面に掃引光線又は薄層状の光を投射
して輝線を生ぜしめ、この輝線によって被検査プリント
基板の表面噌を走査せしめると共に、０の輝線を線状の
光センサによって検出せしめ、この輝線が被検査プリン
ト基板上に装着された部品の表面上においては、部品の
高任に応じてずれることとなり、このずれた輝線部分を
光センサが検出することが出来ず暗信号となることを利
用して被検査プリント基板上に装着された部品の平面形
状を正確に認識することにより、部品の有無、部品違い
、位置ずれ等を検査するもので、従来のような目視又は
テレビカメラによる検査に較べて容易迅速に、かつ正確
な検査が可能である。
【図面の簡単な説明】
第１図は、本発明の一実施例を示す図、第２図ないし第
４図は、光源の構成の一例を示す図、第５図ないし第８
図は、作動説明図、第９図は、本発明の他の実施例を示
す図で、１及び１゛：光源、２：光センサ、３：集光レ
ンズ、４：被検査プリント基板、５：レーザ光源、６：
板状支持体、７＋、７ａ、・・・・・・平面反射鏡、８
：モータ、９：反射鏡、１０ニジリントリカルレンズ、
１１：部品、Ｉ＋’：空白部分である。
４図は、光源の構成の一例を示す図、第５図ないし第８
図は、作動説明図、第９図は、本発明の他の実施例を示
す図で、１及び１゛：光源、２：光センサ、３：集光レ
ンズ、４：被検査プリント基板、５：レーザ光源、６：
板状支持体、７＋、７ａ、・・・・・・平面反射鏡、８
：モータ、９：反射鏡、１０ニジリントリカルレンズ、
１１：部品、Ｉ＋’：空白部分である。
Claims (3)
- （１）掃引光線又は薄層状の光を被検査プリント基板の
表面に投射して輝線を生ぜしめる光源と、前記輝線を検
出する光センサと、前記被検査プリント基板に対して相
対的に前記光源及び前記光センサを同期して移動せしめ
て、前記輝線により前記被検査プリント基板の表面を走
査せしめる手段とより成ることを特徴とするプリント配
線回路の検査装置。 - （２）掃引光線又は薄層状の光の投射方向が被検査プリ
ント基板の表面に対して斜方向で、光センサの受光方向
が被検査プリント基板の表面に対してほぼ垂直方向であ
る特許請求の範囲第１項記載のプリント配線回路の検査
装置。 - （３）掃引光線又は薄層状の光の投射方向が被検査プリ
ント基板の表面に対してほぼ垂直方向で、光センサの受
光方向が被検査プリント基板の表面に対して斜方向であ
る特許請求の範囲第１項記載のプリント配線回路の検査
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59181421A JPS6157869A (ja) | 1984-08-29 | 1984-08-29 | プリント配線回路の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59181421A JPS6157869A (ja) | 1984-08-29 | 1984-08-29 | プリント配線回路の検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6157869A true JPS6157869A (ja) | 1986-03-24 |
Family
ID=16100473
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59181421A Pending JPS6157869A (ja) | 1984-08-29 | 1984-08-29 | プリント配線回路の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6157869A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018091837A (ja) * | 2016-11-29 | 2018-06-14 | セイコーエプソン株式会社 | 電子部品搬送装置および電子部品検査装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5536730A (en) * | 1978-09-06 | 1980-03-14 | Toshiba Corp | Displaced position detector |
-
1984
- 1984-08-29 JP JP59181421A patent/JPS6157869A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5536730A (en) * | 1978-09-06 | 1980-03-14 | Toshiba Corp | Displaced position detector |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018091837A (ja) * | 2016-11-29 | 2018-06-14 | セイコーエプソン株式会社 | 電子部品搬送装置および電子部品検査装置 |
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