JPS615453A - 光デイスクメモリ媒体 - Google Patents
光デイスクメモリ媒体Info
- Publication number
- JPS615453A JPS615453A JP59126250A JP12625084A JPS615453A JP S615453 A JPS615453 A JP S615453A JP 59126250 A JP59126250 A JP 59126250A JP 12625084 A JP12625084 A JP 12625084A JP S615453 A JPS615453 A JP S615453A
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- JP
- Japan
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- guide grooves
- level
- error signal
- preformat
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/24—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
- G11B7/2407—Tracks or pits; Shape, structure or physical properties thereof
- G11B7/24085—Pits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0938—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following servo format, e.g. guide tracks, pilot signals
Landscapes
- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（技術分野）
この発明は、元ディスクメモリ媒体に関する。
（従来技術）
光ティスフメモリ媒体における情報トラックは。
トラッキング用の案内溝と、この案内溝の断続によるプ
レフォーマット部とにより構成される。記録さるべき情
報は、レーザー元によってトラ、キング用の案内溝（（
書き込まれ、記録ビットとして形成される。従って、光
ティスフメモリ媒体の清報トラックに情報を書き込むと
、清報トラックは、矛２図（１）ＶＣ示すようになる。
レフォーマット部とにより構成される。記録さるべき情
報は、レーザー元によってトラ、キング用の案内溝（（
書き込まれ、記録ビットとして形成される。従って、光
ティスフメモリ媒体の清報トラックに情報を書き込むと
、清報トラックは、矛２図（１）ＶＣ示すようになる。
即ち、３・２図（１）において、符号１０は案内溝を示
す。符号１０Ａは未記録部分、符号１０Ｂは記録ビット
部分、符号１０Ｃはプレフォーマット部分を示す。プレ
フォーマット部分は、案内溝１０の断続により形成され
ている。このプレフォーマット部分１ｏｃｃ関して、案
内溝１０の断続の周期をＡ、案内溝１０同志のこの場合
には（Ｂ／Ａ ） Ｘ １００％の平均値で示される。
す。符号１０Ａは未記録部分、符号１０Ｂは記録ビット
部分、符号１０Ｃはプレフォーマット部分を示す。プレ
フォーマット部分は、案内溝１０の断続により形成され
ている。このプレフォーマット部分１ｏｃｃ関して、案
内溝１０の断続の周期をＡ、案内溝１０同志のこの場合
には（Ｂ／Ａ ） Ｘ １００％の平均値で示される。
・っ−゛ −キ１；矛
２図（１）に示すプレフォーマット部ｉｏｃにおける、
案内溝のとぎれる割合は５０％である。なお、案内溝の
深さは、元ピンクアップに用λであり、案内溝の幅は、
０．５μｍ〜１．５１Ｘｎであって、上記レーザー元の
集光スボント径の約１／２である。
２図（１）に示すプレフォーマット部ｉｏｃにおける、
案内溝のとぎれる割合は５０％である。なお、案内溝の
深さは、元ピンクアップに用λであり、案内溝の幅は、
０．５μｍ〜１．５１Ｘｎであって、上記レーザー元の
集光スボント径の約１／２である。
さて、」・２図（１）に示す如き情報トラックを。
レーザービームの集ゲ０スポットでトラッキングする場
合、反射光のレベルは、平端部のレベルをα。
合、反射光のレベルは、平端部のレベルをα。
案内溝のレベルをβ、記録部のレベルをγとすると、β
／α＝１．５、γ／α＝０，５である。従って、αな１
００として規格化すれば、情報トラック（矛２図（１〕
）を左方から右方ヘトラッキングする際の反射光の光強
度は、才・２図（Ｉ）Ｋ示す如きものとなる。
／α＝１．５、γ／α＝０，５である。従って、αな１
００として規格化すれば、情報トラック（矛２図（１〕
）を左方から右方ヘトラッキングする際の反射光の光強
度は、才・２図（Ｉ）Ｋ示す如きものとなる。
ところで、トラッキングに際しては、レーザービームの
スポットで、清・序トラックを正１．＜追跡する必要が
ある。このため通常は、プノンユグル法と呼ばれろ方法
で、トラッキングエラー信号を１’（：） 、このトラ
ッキングエラー信号にもとづいて、レーザービームのス
ポットの位置す情報トラック上に位置させる、所謂トラ
ッキング制御を行っている。
スポットで、清・序トラックを正１．＜追跡する必要が
ある。このため通常は、プノンユグル法と呼ばれろ方法
で、トラッキングエラー信号を１’（：） 、このトラ
ッキングエラー信号にもとづいて、レーザービームのス
ポットの位置す情報トラック上に位置させる、所謂トラ
ッキング制御を行っている。
そこで、ｊ・２図（１）に示す如きｔ＊報トラックから
、ブノンユグル法によって得られるトラッキングエラー
信号を見ると、これは、牙２図（■）に示す如きものと
なる。
、ブノンユグル法によって得られるトラッキングエラー
信号を見ると、これは、牙２図（■）に示す如きものと
なる。
なお、ジノ／ニブル法とは、情報トラックの進行方向に
対して左右方向の反射光量分布の非対称性を検出する方
式のトラツキフグエラー信刊検出方法であって、すでに
良く知られている（例えば、エレクトロニクス昭和５７
年４月号６８３ページ以下）。
対して左右方向の反射光量分布の非対称性を検出する方
式のトラツキフグエラー信刊検出方法であって、すでに
良く知られている（例えば、エレクトロニクス昭和５７
年４月号６８３ページ以下）。
なお、牙２図（Ｉ）において縦軸は、トラッキングエラ
ー信号のレベルであり、未記録部分１０Ａから得られる
レベルな１００としている。この矛２図（ＩＩＩ）から
明らかなように、トラッキングエラー信号のレベルは、
記録ビット部分１０Ｂ、プレフォーマット部分１０ＣＩ
／１１：おいて低下する。
ー信号のレベルであり、未記録部分１０Ａから得られる
レベルな１００としている。この矛２図（ＩＩＩ）から
明らかなように、トラッキングエラー信号のレベルは、
記録ビット部分１０Ｂ、プレフォーマット部分１０ＣＩ
／１１：おいて低下する。
記録ヒツト部分１０Ｂでの、トラッキングエラー信号の
レベル低下は、次のようにして補正することができろ。
レベル低下は、次のようにして補正することができろ。
すなわち、未記録部分１０Ａ、記録ビット部分ＩＤＥ、
プレフォーマット部分１０ｃにおける平均反射光レベル
は、矛２図（ＩＴ）の如きものとなる。
プレフォーマット部分１０ｃにおける平均反射光レベル
は、矛２図（ＩＴ）の如きものとなる。
ここでも、未記録部分１０Ａにおける平均反射光レベル
を１００としている。そこで、トラッキングエラー信号
を、平均反射光で除して１００をかけて見ると、換言す
れば、トラッキングエラー信号のレベル口・、平均反射
光レベルで規格化してみると、その結果は：Ａ−２図（
Ｖ）の如きものとなる。このＡ・２ ｉ：ン＋ （Ｖ
）から明らかな↓うに、平均反射光し゛ベルによる規格
化に伴い、記録ビット部分でのトラッキングエラー信号
のレベル低下（矛２図Ｃｍ））は補正されて、未記録部
分のトラッキングエラー信号と同一の規格化レベルとな
るが、プレフォーマット部分１０Ｃでのトラッキングエ
ラー信号の規格化されたレベルは一段と低いものとなっ
てしまい、プレフォーマット部分におけるトラッキング
制餌１に誤動作が発生する原因となる。平均反射光レベ
ルの規格化とは、トラッキングエラー信号ルベル？平均
反射光レベルで割算する自動利得調整回路を通すことを
意味するものである。
を１００としている。そこで、トラッキングエラー信号
を、平均反射光で除して１００をかけて見ると、換言す
れば、トラッキングエラー信号のレベル口・、平均反射
光レベルで規格化してみると、その結果は：Ａ−２図（
Ｖ）の如きものとなる。このＡ・２ ｉ：ン＋ （Ｖ
）から明らかな↓うに、平均反射光し゛ベルによる規格
化に伴い、記録ビット部分でのトラッキングエラー信号
のレベル低下（矛２図Ｃｍ））は補正されて、未記録部
分のトラッキングエラー信号と同一の規格化レベルとな
るが、プレフォーマット部分１０Ｃでのトラッキングエ
ラー信号の規格化されたレベルは一段と低いものとなっ
てしまい、プレフォーマット部分におけるトラッキング
制餌１に誤動作が発生する原因となる。平均反射光レベ
ルの規格化とは、トラッキングエラー信号ルベル？平均
反射光レベルで割算する自動利得調整回路を通すことを
意味するものである。
プレフォーマット部分で、トラッキング制御の誤動作を
防止するため、どのプレフォーマット部分でも光分なレ
ベルのトラッキングエラー信号が得られるように、プレ
フォーマット部分で案内溝の深さを、他の部分の深さと
異ならせるという方法が試みられているが、この方法は
、光デイスクメモリ媒体の製造工程が複雑となるという
問題がある。
防止するため、どのプレフォーマット部分でも光分なレ
ベルのトラッキングエラー信号が得られるように、プレ
フォーマット部分で案内溝の深さを、他の部分の深さと
異ならせるという方法が試みられているが、この方法は
、光デイスクメモリ媒体の製造工程が複雑となるという
問題がある。
（目 的）
本発明は、かかる問題に着目してなされたものであって
、複雑な製造工程を要することなく製造でき、かつ、平
均反射光レベルで規格化されたトラッキングエラー信号
レベルを、プレフォーマット部分においても有効に向上
させうる、新規な光デイスクメモリ媒体の提供を目的と
する。
、複雑な製造工程を要することなく製造でき、かつ、平
均反射光レベルで規格化されたトラッキングエラー信号
レベルを、プレフォーマット部分においても有効に向上
させうる、新規な光デイスクメモリ媒体の提供を目的と
する。
（構 成）
以下、本発明を説明する。
本発明の特数とするところは、プレフォーマット部分に
おける、案内溝のとぎれる割合を、２５％以下とした点
にある。
おける、案内溝のとぎれる割合を、２５％以下とした点
にある。
トラッキング制御は、平均反射光のレベルで規格化され
たトラッキングエラー信号にもとづいて行なわれる。
たトラッキングエラー信号にもとづいて行なわれる。
平均反射光レベルで規格化されたトラッキングエラー信
号は、プレフォーマット部分において、著しく低下する
。この低下の原因は、以下の事実にある。矛１に、トラ
ッキングエラー信号自体、プレフォーマット部分では、
未記録部分のそれに比して低いことである。牙２Ｋ、平
均反射光レベルは、未記録部分のそれに比して、プレフ
ォーマット部分では高くなる。このような、トラツキ／
グエ２−信号自体の低下と、この信号を規格化するため
の平均反射光レベルの増大とがかさなって、規格化され
たトランキングエラー信号に、プレフォーマット部分に
おいて著しい低下をもたらすのである。
号は、プレフォーマット部分において、著しく低下する
。この低下の原因は、以下の事実にある。矛１に、トラ
ッキングエラー信号自体、プレフォーマット部分では、
未記録部分のそれに比して低いことである。牙２Ｋ、平
均反射光レベルは、未記録部分のそれに比して、プレフ
ォーマット部分では高くなる。このような、トラツキ／
グエ２−信号自体の低下と、この信号を規格化するため
の平均反射光レベルの増大とがかさなって、規格化され
たトランキングエラー信号に、プレフォーマット部分に
おいて著しい低下をもたらすのである。
プレフォーマット部分は、案内溝の断続、換言すれば、
案内溝と平坦部との交互のくり返しによって形成されて
おり、トラッキングエラー信号自体のレベルの、プレフ
ォーマット部分での低下、平均反射光レベルの、プレフ
ォーマット部分での増大は、いずれも、プレフォーマッ
ト部分を構成する平坦部に由来する。従って、この平坦
部の、プレフォーマット部分に占める割合、換言すれば
、案内溝のとぎれる割合を小さくすることによって、規
格化されたトラッキングエラー信号のレベルを有効に高
め、トラッキング制画の誤動作の発生を防止することが
できるようになる。
案内溝と平坦部との交互のくり返しによって形成されて
おり、トラッキングエラー信号自体のレベルの、プレフ
ォーマット部分での低下、平均反射光レベルの、プレフ
ォーマット部分での増大は、いずれも、プレフォーマッ
ト部分を構成する平坦部に由来する。従って、この平坦
部の、プレフォーマット部分に占める割合、換言すれば
、案内溝のとぎれる割合を小さくすることによって、規
格化されたトラッキングエラー信号のレベルを有効に高
め、トラッキング制画の誤動作の発生を防止することが
できるようになる。
以下、具体的な実殉例に即して説明する。
直径７４０ ｍｗｔ、厚さ６朋のガラス板状に、１．０
０ ＤＡのポジ型フォトレジストをスピンナー塗布し、
とのガラス円板を４５Ｏｒｐｍで回転させ、波長４５７
９Ａのアルゴンレーザー元を開口数０．９のレンズでス
ポット状に集光し、案内溝の部分は、連続的に、また、
プレフォーマット部分は、所定のチューティ比のパルス
列からなるパルス変調信号を用いて断続的に光照射を行
ない１世１象ベーキングを行ない、深さｌ０ＬＩＯＡの
案内溝と、その断続によるプレフォーマット部分から形
成されるピッチ２μｍ のらせん状の情報トラックの原
型を得る。
０ ＤＡのポジ型フォトレジストをスピンナー塗布し、
とのガラス円板を４５Ｏｒｐｍで回転させ、波長４５７
９Ａのアルゴンレーザー元を開口数０．９のレンズでス
ポット状に集光し、案内溝の部分は、連続的に、また、
プレフォーマット部分は、所定のチューティ比のパルス
列からなるパルス変調信号を用いて断続的に光照射を行
ない１世１象ベーキングを行ない、深さｌ０ＬＩＯＡの
案内溝と、その断続によるプレフォーマット部分から形
成されるピッチ２μｍ のらせん状の情報トラックの原
型を得る。
続いて、クロム膜を表面にスパッター法により形成し、
導電性を付与したのちニッケルメッキなｈｒ、ｃｌｖ゛
／ ′’ＦＮ％’＆“６ＱＪｌゝＩｘｌｙ′’−に、□
得る。
導電性を付与したのちニッケルメッキなｈｒ、ｃｌｖ゛
／ ′’ＦＮ％’＆“６ＱＪｌゝＩｘｌｙ′’−に、□
得る。
このスタノパーと、直径２００朋、厚さ１．１朋のアク
リル基板との間に、紫外線硬化樹脂を約５０μｍの厚さ
で注入し、固定した状態で、アクリル基板側から紫外線
を照射して樹脂を硬化させ、その後、スタンパ−を剥離
すると、幅０．８μｍ 、深さ１０［ＪＯＡ断面Ｖ字型
の案内溝と、プレフォーマット部とを有する情報トラッ
クが形成される。
リル基板との間に、紫外線硬化樹脂を約５０μｍの厚さ
で注入し、固定した状態で、アクリル基板側から紫外線
を照射して樹脂を硬化させ、その後、スタンパ−を剥離
すると、幅０．８μｍ 、深さ１０［ＪＯＡ断面Ｖ字型
の案内溝と、プレフォーマット部とを有する情報トラッ
クが形成される。
この上に、
Ｈ５ＣＨ５
なる構造のンアニノ色累をジクロルエタンに溶解したも
のな５００Ａ の厚さにスピンナー塗布して、光吸収
反射膜（反射率２６％、吸収率５８％。
のな５００Ａ の厚さにスピンナー塗布して、光吸収
反射膜（反射率２６％、吸収率５８％。
７９０μｍ のｙｔｉＣ対して）を形成すると、光ティ
スフメモリ媒体が得られる、 上記方法で、プレフォーマット部分における案内溝のと
ぎれる割合が、５％、１０％、２０％。
スフメモリ媒体が得られる、 上記方法で、プレフォーマット部分における案内溝のと
ぎれる割合が、５％、１０％、２０％。
２５％、５０％である５租の光デイスクメモリ媒体な作
製し、平均反射光レベル、トラッキングエラー信号レベ
ル、平均反射光レベルで規格化されたトラッキングエラ
ー信号レベルをしもべだ結果、第１表の如き結果を得た
。なお、トラッキングは、７９０ ｎｍ の成長の光
な０．９ ｌｉｎ 半値ビーム径のスポットに集束さ
せて行ない、之・１表において、各レベルは、案内溝の
未記録部分におけるレベルを１００としている。
製し、平均反射光レベル、トラッキングエラー信号レベ
ル、平均反射光レベルで規格化されたトラッキングエラ
ー信号レベルをしもべだ結果、第１表の如き結果を得た
。なお、トラッキングは、７９０ ｎｍ の成長の光
な０．９ ｌｉｎ 半値ビーム径のスポットに集束さ
せて行ない、之・１表において、各レベルは、案内溝の
未記録部分におけるレベルを１００としている。
′Ａ−１表
この矛１表から明らかなように、プレフォーマット部に
おける案内逼のとぎれる割合か２５％以下ともなると、
トラッキングエラー信号レベルは、平均反射光レベルで
規格化されたのちも、プレフォーマット部分においても
、十分に高いレベルな保有している。案内溝のとぎれる
割合が２５チ である場合の例を、瑚・１図に示す。（
Ｂ１／Ａ）Ｘ１０Ｄ ＝ ２５ である。〕・２２図
Ｉ）は反射光レベル、同図（ＩＩＩ）はトラツキフグエ
ラー信号のレベル、同図１）は平均反射光のレベル、同
図（Ｖ、）は、規格化されたトラノキノグエラー信号の
レベルな示す。
おける案内逼のとぎれる割合か２５％以下ともなると、
トラッキングエラー信号レベルは、平均反射光レベルで
規格化されたのちも、プレフォーマット部分においても
、十分に高いレベルな保有している。案内溝のとぎれる
割合が２５チ である場合の例を、瑚・１図に示す。（
Ｂ１／Ａ）Ｘ１０Ｄ ＝ ２５ である。〕・２２図
Ｉ）は反射光レベル、同図（ＩＩＩ）はトラツキフグエ
ラー信号のレベル、同図１）は平均反射光のレベル、同
図（Ｖ、）は、規格化されたトラノキノグエラー信号の
レベルな示す。
（効 果）
以上、本発明によれば、新規な元ディスクメモリ媒体を
提供できる。この発明による光デイスクメモリ媒体で（
ｌｌ、プレフォーマット部におけるトラツキフグエラー
信号が、平均反射光レベルで規格化されたのちも十分な
高レベルを有しており、従って、プレフォーマット部に
おいて従来問題となっていたトラッキング制御におけろ
誤動作の発生な完全に防止することができる。これまで
、平均反射光レベルで規格化したトラッキングエラー信
号レベルの安定化を中、１３ｉｃ説明してきたが、規格
化されないトラツキフグエラー信号レベルモ女４．（が
化されることは、矛１表により明らかである。
提供できる。この発明による光デイスクメモリ媒体で（
ｌｌ、プレフォーマット部におけるトラツキフグエラー
信号が、平均反射光レベルで規格化されたのちも十分な
高レベルを有しており、従って、プレフォーマット部に
おいて従来問題となっていたトラッキング制御におけろ
誤動作の発生な完全に防止することができる。これまで
、平均反射光レベルで規格化したトラッキングエラー信
号レベルの安定化を中、１３ｉｃ説明してきたが、規格
化されないトラツキフグエラー信号レベルモ女４．（が
化されることは、矛１表により明らかである。
なお、この発８Ｊ４ｖｃ↓る光デイスクメモリ媒体では
、ダレフォーマット部においても、案内溝の深さを変え
ないので、その製造工程が複雑化することはない。
、ダレフォーマット部においても、案内溝の深さを変え
ないので、その製造工程が複雑化することはない。
なお、案内溝のとぎれる割合の下限値は１チ程度である
。
。
矛１図は、本発明の１実強例を説明するための図、珂・
２図は、本発明により解決しようとする問題点を説明す
るための図である。 １０−・案内溝、１０Ａ−・未記録部分、１０Ｂ・・記
録ビット部分、ＩＤＣ・・プレフォーマット部分θＬ□
□−−□−□〜□ 手続補正書 特ｉＴ庁長官 志賀 学 殿 １ 事件の表示 昭１１１ Ｒ！１イ［・特許願第１．２６２５０号２発
明の名称 光ティスフメモリ媒体 ３ 補正をする昔 事件との関係 特許出願人 名 称 （６７４）株式会社リコー４ 代
理 人 住 所 東京都世田谷区経堂４丁目５番４号明細書の「
発明の詳細な説明」の欄 ６ 補正の内容 （１）明細書第３頁第３行中の「レベルは、」の次から
同頁第４行中の「記録部」の前までを、［平坦部のレベ
ルをβ、案内溝のレベルをα、」と補正する。 （２）同第９頁第８行の下の構造式を、１ ｃ
Ｑｎ４１ Ｃｌ１３ ＣＩ＋３と補止する
。 （３）同第ｉ００頁第１中の「５積」を「５種」と補正
する。
２図は、本発明により解決しようとする問題点を説明す
るための図である。 １０−・案内溝、１０Ａ−・未記録部分、１０Ｂ・・記
録ビット部分、ＩＤＣ・・プレフォーマット部分θＬ□
□−−□−□〜□ 手続補正書 特ｉＴ庁長官 志賀 学 殿 １ 事件の表示 昭１１１ Ｒ！１イ［・特許願第１．２６２５０号２発
明の名称 光ティスフメモリ媒体 ３ 補正をする昔 事件との関係 特許出願人 名 称 （６７４）株式会社リコー４ 代
理 人 住 所 東京都世田谷区経堂４丁目５番４号明細書の「
発明の詳細な説明」の欄 ６ 補正の内容 （１）明細書第３頁第３行中の「レベルは、」の次から
同頁第４行中の「記録部」の前までを、［平坦部のレベ
ルをβ、案内溝のレベルをα、」と補正する。 （２）同第９頁第８行の下の構造式を、１ ｃ
Ｑｎ４１ Ｃｌ１３ ＣＩ＋３と補止する
。 （３）同第ｉ００頁第１中の「５積」を「５種」と補正
する。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 トラッキングのための案内溝と、この案内溝の断続に
より形成されるプレフォーマット部分とにより構成され
る情報トラックを有し、 上記プレフォーマット部分における、案内溝のとぎれる
割合を、２５％以下としたことを特徴とする、光ディス
クメモリ媒体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59126250A JPS615453A (ja) | 1984-06-19 | 1984-06-19 | 光デイスクメモリ媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59126250A JPS615453A (ja) | 1984-06-19 | 1984-06-19 | 光デイスクメモリ媒体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS615453A true JPS615453A (ja) | 1986-01-11 |
Family
ID=14930518
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59126250A Pending JPS615453A (ja) | 1984-06-19 | 1984-06-19 | 光デイスクメモリ媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS615453A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01181134U (ja) * | 1988-06-14 | 1989-12-27 | ||
| JPH0386923A (ja) * | 1988-08-31 | 1991-04-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ディスク |
-
1984
- 1984-06-19 JP JP59126250A patent/JPS615453A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01181134U (ja) * | 1988-06-14 | 1989-12-27 | ||
| JPH0386923A (ja) * | 1988-08-31 | 1991-04-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ディスク |
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