JP2554514Y2 - 光記録媒体 - Google Patents

光記録媒体

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JP2554514Y2
JP2554514Y2 JP1988078471U JP7847188U JP2554514Y2 JP 2554514 Y2 JP2554514 Y2 JP 2554514Y2 JP 1988078471 U JP1988078471 U JP 1988078471U JP 7847188 U JP7847188 U JP 7847188U JP 2554514 Y2 JP2554514 Y2 JP 2554514Y2
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通治 安倍
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Ricoh Co Ltd
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Description

【考案の詳細な説明】 産業上の利用分野 本考案は、約1μmの微小スポツトに集光させてレー
ザ光を光吸収反射性の光記録膜に照射し、小孔、結晶構
造の変化、磁化方向の変化等を生じさせて、情報を記録
させる光情報記録再生装置に用いられる光デイスク、光
磁気デイスク等の光記録媒体に関する。
従来の技術 従来、市販されている光記録媒体として、第4図のよ
うな構造の5.25インチ光デイスクがある。まず、透明基
板1表面には平行状、同心円状或いは螺旋状に複数本の
案内溝2a,2b,2c,2dが形成され、これらの案内溝2a,2b,2
c,2d間のランド部3a,3b,3cの適宜位置にはプリフオーマ
ツトとして複数個の凹凸ピツト4a,4b,4c,4d等による凹
凸ピツト列5が形成されている。案内溝の間隔は、照射
光スポツトの半値ビーム径の1.2〜2倍に設定され、光
回折作用を有効に発生させるようになつている。そし
て、このような透明基板1上に光吸収反射性の光記録膜
6を形成したものである。
一方、この種の光記録再生装置では、ランド部3によ
り形成される情報トラツクに対して情報の記録又は再生
を行うものであり、良好なる動作を確保するためには光
ビームが常にトラツク上(情報トラツク上)に位置する
ようにトラツキング制御する必要がある。このトラツキ
ング制御を良好に行うためには、トラツキングエラー信
号TEが任意のトラツク上で連続的に検出されることが必
要となる。
考案が解決しようとする問題点 ところが、プリフオーマツトとしての凹凸ピツト4
が、従来はランド部3により形成される情報トラツク上
での長さの比が50%程度を占めている。ここに、ランド
部からは正規のトラツキングエラー信号TEが得られる
が、凹凸ピツト部分ではランド部出力に対して極性が反
転してしまうことがある。このため、トラツキングエラ
ー信号が乱され、情報トラツク上を光ビームが外れない
ようにするトラツキング制御が困難である。
そこで、この問題を解決するために、プリフオーマツ
トとしての凹凸ピツト4の深さを波長λに対しλ/4〜λ
/2のように深めとし、ランド部高さとの間に差を持たせ
ることにより、ランド部出力に対する凹凸ピツト部での
極性反転を避ける方法が知られている。
しかし、ピツトの深さが深くなる程、加工時に発生す
るピツトのダレがあり、スタンパ製造及びスタンパから
透明基板への凹凸ピツトの転写が難しくなり、歩留まり
が低下し、コスト高となつてしまう。
問題点を解決するための手段 λ/8相当の深さのトラツク案内溝間のランド部にプリ
フオーマツトにより予め形成される凹凸ピツトを、この
ランド部をトラツク方向に任意に抽出される長さ200μ
m分の領域内に存在する1個又は複数個の凹凸ピツトの
長さの総和が50μm以下となる長さに形成した。
作用 一般に、光デイスク装置においてトラツキングの制御
の応答性については、トラツキングエラー信号の欠落す
る長さが200μm以下の許容度を持つて設計・製作され
ている。即ち、トラツキング制御を安定させるために、
トラツキングエラー信号が連続的であるとは、トラツキ
ング動作の応答性に比較して切れ目なくトラツキングエ
ラー信号が得られることを意味し、これは、情報トラツ
ク上においてトラツキングエラー信号の欠落が200μm
以下であれば、トラツキングエラー信号は連続的である
とみなすことができる。ここに、プリフオーマツトとし
て予め形成される凹凸ピツトの長さが任意に切り出され
た200μmの長さの領域内で常に総和が50μm以下の長
さしか持たないため、25%以下であり、トラツキングエ
ラー信号の途切れがなく、安定したトラツキング制御に
供される。
実施例 本考案の一実施例を第1図ないし第3図に基づいて説
明する。まず、第2図は光ピツクアツプを含めて示すも
のであり、レーザダイオード10から射出されたレーザ光
はコリメートレンズ11により平行光とされた後、偏光プ
リズム12により反射され、λ/4板13及び対物レンズ14を
通り、光記録媒体15に集光照射される。この集光照射光
は光記録媒体15において透明基板16上に形成された光吸
収反射性の記録膜17に透明基板16側から照射される。こ
の記録膜17からの反射光は再び対物レンズ14、λ/4板13
を通り、偏光プリズム12を透過して2分割受光素子18に
受光される。そこで、この2分割受光素子18の各々の受
光素子18a,18bの検出出力A,Bの差を差動増幅器19により
演算することにより、トラツキングエラー信号TE=A−
Bが得られる。なお、光ピツクアツプ光学系において、
λ/4板13を省略し、かつ、偏光プリズム12に代えてハー
フミラーを用いて構成したものでもよい。
ここに、本実施例による光記録媒体15の構成を説明す
る。まず、基本的には第4図の場合と同様に透明基板16
表面には平行状、同心円状或いは螺旋状の複数の案内溝
20a,20b,20c,〜が形成され、各案内溝20a,20b,20c,〜間
はランド部21a,21b,21c,〜とされている。このようなラ
ンド部21を情報トラツクとして情報の記録又は再生を行
うものであるが、その一部は第3図に示すようにプリフ
オーマツト部22a,22b,22c,22d,〜とされてセクタ分けさ
れている。このようなプリフオーマツト部22には同期信
号、アドレス信号等の情報を示す凹凸ピツト23が予め形
成される。このような凹凸ピツト23が形成された透明基
板16表面上に光吸収反射性の記録膜17が形成される。
なお、透明基板16の材料としては、ガラスの他、例え
ばPMMA樹脂、ポリカーボネート樹脂、塩化ビニル樹脂、
エポキシ樹脂、アクリル樹脂、ポリスチレン樹脂、ナイ
ロン樹脂等の透明プラスチツクスが用いられる。また、
光吸収反射性の記録膜17の材料としては、シアニン色
素、トリアリルメタン色素、スクワリリウム色素等の有
機色素、Te、Te合金、Bi、Pb、Al、IN、Sn、Se、TbFe、
FeCo、MnBi等の金属膜が用いられる。
しかして、本実施例では透明基板16表面にプリフオー
マツト部22として複数個の凹凸ピツト23を予め形成する
に当り、ランド部21をそのトラツク方向に、第1図に示
すように任意に抽出した200μm長さの領域内に存在す
る複数個の凹凸ピツト、例えば23a,23b,23c,23dの長さ
の総和が50μm以下となる長さ、即ち長さ比で25%以下
となるように形成するものである。ここに、長さを短く
して凹凸ピツト23を形成するためには、長さが短くなる
信号形態、例えば第3図に示すようにピツト間隔変調方
式によればよい。
このような構成において、記録/再生に際しては光ビ
ームが常に所望の情報トラツク上=ランド上に集光照射
されるようにトラツキング制御されることが望まれる。
ここに、プリフオーマツト部22の凹凸ピツト23のトラツ
キングエラー信号TEに及ぼす影響を第1図により説明す
る。まず、案内溝20は第2図に示した光ピツクアツプ光
学系においてトラツキングエラー信号TEが十分に得られ
るように、レーザダイオード10からのレーザ光の波長λ
に対し深さλ/8程度として形成されている。一方、プリ
フオーマツト部22の凹凸ピツト23の深さは、信号コント
ラストを高くするために深さλ/4程度とされている。こ
のような条件下に、光ビームスポツトが情報トラツク=
ランド部21の中心から一定量、例えば0.1μmだけずれ
た場合、第1図(b)に示すようなトラツキングエラー
信号TEが得られる。この信号波形に示すように、ランド
部ではTE信号が得られるが、凹凸ピツト部23ではランド
部出力との対比で極性が反転してしまうことがある。
この場合、従来例で説明したように凹凸ピツトの深さ
を調整してλ/4〜λ/2のように深めとすれば極性反転を
回避することも可能ではある。しかし、このように深め
とすると、ピツトのダレやスタンパからの転写困難性な
どを考えると、高い製造歩留まりを実現することは困難
であり、製造歩留まりの点からは、当初のように、凹凸
ピツト23はその深さがλ/4程度であることが望ましい。
ところが、凹凸ピツト23の深さをλ/4とした場合には、
このピツト部分のほうが案内溝20よりもλ/8だけ深い状
態となり、見掛け上、凹みが形成され、ランド部21の凸
に対して逆転した形状となり、TE信号が逆極性となる。
従つて、仮にトラツク長T=200μmに対して凹凸ピツ
トの占める長さが総和で100μmになると(=50%)、
トラツキングエラー信号TEは平均されてTE≒0となつて
しまい、トラツクずれを生じているにもかかわらずTE信
号が欠落した状態となつてしまう。
しかるに、本実施例では任意に抽出した200μm当り
の領域に占める凹凸ピツト23の長さの総和が50μm以下
であるので、逆極性による相殺分を考慮しても、平均TE
信号は第1図(b)からも判るようにランド部のみの場
合のTE信号の0.5倍は確保されるため、実用的に、 {1×(200μm−50μm)−1×50μm}÷200μm=
0.5 なる支障のない信号レベルが得られる。この結果は、凹
凸ピツト23の深さがλ/4という最も悪い条件の場合の値
であり、凹凸ピツト23の深さをλ/4からずらせば、さら
に良好なるTE信号が得られる。従つて、本実施例によれ
ば、情報トラツク上の如何なる個所の200μm長さ領域
についても平均TE信号がランド部のみの場合のTE信号の
0.5倍以下になつて欠落するようなことがなくなる。特
に、本実施例によれば、プリフオーマツト部22でも安定
したトラツキングが可能となる。この結果、トラツクア
クセス時にもトラツキングエラー信号の欠落がないた
め、トラツクカウントを確実に行うことができ、所望の
トラツクへのアクセス時間を短縮できる。
考案の効果 本考案は、上述したようにランド部に予め形成する凹
凸ピツトを、このランド部をトラツク方向に任意に抽出
される長さ200μm分の領域内に存在する凹凸ピツトの
長さの総和が50μm以下となる長さに形成したので、凹
凸ピツトがトラツキングエラー信号に悪影響を及ぼした
としても途切れることなくある程度のレベルを確保して
連続させることができ、安定したトラツキング制御が可
能となり、このために凹凸ピツトを深めに形成する必要
がなくなるため、製造が容易となり、歩留まりをも向上
させることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例のプリフオーマツト部とTE信
号との関係を示す説明図、第2図は光学系構成を示す概
略斜視図、第3図はプリフオーマツト部及びランド部構
成を展開的に示す説明図、第4図は従来例を示す概略斜
視図である。 16……透明基板、17……記録膜、20……案内溝、21……
ランド部、23……凹凸ピツト

Claims (1)

    (57)【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】波長λのレーザ光に対しλ/8相当の深さの
    トラツク案内溝を複数本形成し、各トラツク案内溝間の
    ランド部にプリフオーマツトによる凹凸ピツトを予め形
    成した透明基板と、この透明基板上に形成された光吸収
    反射性を持つ光記録膜とからなる光記録媒体において、
    前記ランド部に予め形成する前記凹凸ピツトを、このラ
    ンド部をトラツク方向に任意に抽出される長さ200μm
    分の領域内に存在する1個又は複数個の凹凸ピツトの長
    さの総和が50μm以下となる長さに形成したことを特徴
    とする光記録媒体。
JP1988078471U 1988-06-14 1988-06-14 光記録媒体 Expired - Lifetime JP2554514Y2 (ja)

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