JPS6149486A - 発光ダイオ−ド - Google Patents

発光ダイオ−ド

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Publication number
JPS6149486A
JPS6149486A JP59172003A JP17200384A JPS6149486A JP S6149486 A JPS6149486 A JP S6149486A JP 59172003 A JP59172003 A JP 59172003A JP 17200384 A JP17200384 A JP 17200384A JP S6149486 A JPS6149486 A JP S6149486A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
active region
groove
layer
emitting diode
active
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP59172003A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshihiro Kokubo
小久保 吉裕
Kaname Otaki
大滝 要
Shigeki Horiuchi
堀内 茂樹
Saburo Takamiya
高宮 三郎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP59172003A priority Critical patent/JPS6149486A/ja
Publication of JPS6149486A publication Critical patent/JPS6149486A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/20Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate
    • H01L33/24Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate of the light emitting region, e.g. non-planar junction

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Led Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 この発明は、発光ダイオードの改良、特に周波数特性の
改良に関するものである。
〔従来技術〕
従来のこの種の発光ダイオードを第1図で説明する。第
1図は電流内部狭窄形発光ダイオードの断面図で、一部
省略して示したものである。
第1図において、1は半導体基板で、例えはP形のGa
Aaである。2は前記半導体基板1上に結晶成長した電
流狭窄層で1例えはN形のGaAsである。3は下クラ
ッド層で、電流狭窄層2の上に結晶成長した、例えばP
形のAlGaAsである。4Aは前記下クラッド層3の
上に結晶成長した活性層で、例えはP形のGaAsであ
る。5は前記活性層4Aの上に結晶成長した上クラッド
層で1例えばN形のAlGaAs である。6および7
は電極で、上クラッド層5または半導体基板1とはオー
ミックコンタクトになっている。8Aは前記電流狭窄層
2y!l一つき破って半導体基板1にまで達した溝で、
電流を流す活性領域となるものである。
このような発光ダイオードにおいて、電極7から注入さ
れた電流は、電流狭窄層2で制限され、溝8への場所の
みに流れるようになる。従って、活性層4Aにも溝8A
の場所のみに電流が流れ、この場所だけから光を発する
ようになる。
しかしながら、発光ダイオードの活性層厚は2〜3μm
程度か普通で、下クラッド層3を薄くしても電流は溝8
Aよりも数ミクpン程度拡かつて流れるようになり、こ
の周辺付近の電流密度が下かつて発光ダイオードのしゃ
断層波数か著しく下がる原因となっていた。
〔発明の概要〕
この発明は、かかる欠点を解消しようとするもので、活
性層において溝の中心付近を厚くその周辺を薄くするこ
とにより、溝の周辺部のキャリア密度を上げて発光ダイ
オードのしゃ断周波数か下からないようにしたものであ
る。以下、この発明の一実施例を図面について説明する
〔発明の実施例〕
第2図はこの発明の一実施例である発光ダイオードの断
面図で、一部省略して表わしたものである。なお、第1
図と同一または相当部分は同じ符号で示されている。
第2図において、4Bは厚さ分布を持った活性層で、8
Bは前記半導体基板1に達する溝で、電流を流す活性領
域となるものであり、溝8Aとは深さが異なることがあ
る。そして、活性層4Bは、溝8Bの中心付近を厚(形
成し、その周辺を薄(形成したものである。
このような発光ダイオードにおいては、溝8Bの周辺の
活性層4Bの厚さが中心付近に比べて薄いため、電極7
から注入され溝8Bから流れ出る電流か溝周辺で拡がっ
てもキャリア密度が下がらなくなるので、注入された少
数キャリアの寿命も長くならずにすみ、従って1発光ダ
イオードのしゃ断周波数も低くならない。すなわち、従
来のこの種の発光ダイオードのしゃ断周波数に比べ、こ
の発明による発光ダイオードのしゃ断周波数は約2倍以
上と飛躍的に向上させることができる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、この発明は活性層の厚さな電流を
流す活性領域の中心付近で厚く、周辺で薄くしたので、
発光ダイオードのしゃ断周波数の向上に極めて有効であ
る利点が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の発光ダイオードの断面図、第2図はこの
発明の一実施例による活性層の厚さを電流を流す活性領
域の周辺を薄くした発光ダイオードの断面図である。 図中、1は半導体基板、2は電流狭窄層、3は下クラッ
ド層、4Bは厚さ分布を持った活性層、5は上クラッド
層、6.7は電極、8Bは電流を流す活性領域となる溝
である。 なお、図中の同一符号は同一または相当部分を示す。 代理人 大 岩 増雄 (外2名) 第1図 1、事件の表示   特願昭59〜172003号21
発明の名称   発光ダイオード 3、補正をする者 5、補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄2図面の簡単な説明の欄
および図面 6、補正の内容 (1)明細書第2頁10行の「活性領域となるものであ
る。」を、「活性領域を決定するものである。」と補正
する。 (2)同しく第3頁6〜7行の「下からないように」を
、[下がらないように]と補正する。 (3)同じく第5頁3行の1活性領域となる溝」を、「
活性領域を決定する溝」と補正する。 (4)  第2図を別紙のように補正する。 以  上

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  発光ダイオードの活性層が電流を流す活性領域以外に
    も連続して拡がつている活性層を有する発光ダイオード
    において、前記活性層の活性領域の周辺部の厚さを前記
    活性領域の中心付近の厚さより薄くしたことを特徴とす
    る発光ダイオード。
JP59172003A 1984-08-17 1984-08-17 発光ダイオ−ド Pending JPS6149486A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59172003A JPS6149486A (ja) 1984-08-17 1984-08-17 発光ダイオ−ド

Applications Claiming Priority (1)

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JP59172003A JPS6149486A (ja) 1984-08-17 1984-08-17 発光ダイオ−ド

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6149486A true JPS6149486A (ja) 1986-03-11

Family

ID=15933713

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59172003A Pending JPS6149486A (ja) 1984-08-17 1984-08-17 発光ダイオ−ド

Country Status (1)

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JP (1) JPS6149486A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8017960B2 (en) 2005-01-05 2011-09-13 Dowa Electronics Materials Co., Ltd. Infrared emitting diode and method of its manufacture

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US8017960B2 (en) 2005-01-05 2011-09-13 Dowa Electronics Materials Co., Ltd. Infrared emitting diode and method of its manufacture

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