JPS6140517A - 静電容量式デジタル電子秤 - Google Patents
静電容量式デジタル電子秤Info
- Publication number
- JPS6140517A JPS6140517A JP16029184A JP16029184A JPS6140517A JP S6140517 A JPS6140517 A JP S6140517A JP 16029184 A JP16029184 A JP 16029184A JP 16029184 A JP16029184 A JP 16029184A JP S6140517 A JPS6140517 A JP S6140517A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sensor
- oscillation frequency
- capacitance
- capacity
- weight
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は静電容量式デジタル電子秤におけるドリフト補
正に関する。
正に関する。
（発明が解決しようとする問題点）
重量を機械的な変化量に変換し、この変化量を静電容量
の変化量に変換し、前記重量をデジタルで表示する静電
容量式デジタル秤について、重量を機械的な変化量に変
換する手段であるコイルばね、又は板ばね、更にブロッ
ク材を利用した起歪体等の変換部材は計測中に於ける温
度変化によりコイルばね、板ばね、起歪体の、それぞれ
の弾性係数が変化してドリフト現象が起こり、このため
に計測中に重ＩＩ表示が同ＩＩにも係わらず重量表示が
唆化し、正確な重量表示ができず高精度の秤を提供する
には困難であった。
の変化量に変換し、前記重量をデジタルで表示する静電
容量式デジタル秤について、重量を機械的な変化量に変
換する手段であるコイルばね、又は板ばね、更にブロッ
ク材を利用した起歪体等の変換部材は計測中に於ける温
度変化によりコイルばね、板ばね、起歪体の、それぞれ
の弾性係数が変化してドリフト現象が起こり、このため
に計測中に重ＩＩ表示が同ＩＩにも係わらず重量表示が
唆化し、正確な重量表示ができず高精度の秤を提供する
には困難であった。
（発明の構成）
本発明は上記欠点を解消するために重量を機械的に変換
せしめる手段、即ち前記したコイルばね、板ばね、起歪
体等にその弾性計数の温度変化を補正するための温度補
正素子である抵抗体を密着して固定して設け、この抵抗
体を含む抵抗Ｒと前記機械的な変位−をセンサーＳにて
容量変換するセンサーＳの容ＩＣ８とを時定数の構成要
素とした発振器とし、ｎｑ記常時態に於けるセンサーＳ
の容量Ｃ８どほぼ同容量値のダミーコンデンサーＤをセ
ンサーＳと等価的に設け、このセンサーＳと、ダミーコ
ンデンサーＤのそれぞれの容ＩＣｓ 、 Ｃｄを交互に
切替えて計測し、これ等の容１ｃｓ、Ｃｄに対する前記
発振器の発振周波数の差を求めることによって計測中に
おける温度変化に対するドリフト現象を補正し、正確な
重量表示をする高精度の静電容量式デジタル電子秤を提
供することにある。
せしめる手段、即ち前記したコイルばね、板ばね、起歪
体等にその弾性計数の温度変化を補正するための温度補
正素子である抵抗体を密着して固定して設け、この抵抗
体を含む抵抗Ｒと前記機械的な変位−をセンサーＳにて
容量変換するセンサーＳの容ＩＣ８とを時定数の構成要
素とした発振器とし、ｎｑ記常時態に於けるセンサーＳ
の容量Ｃ８どほぼ同容量値のダミーコンデンサーＤをセ
ンサーＳと等価的に設け、このセンサーＳと、ダミーコ
ンデンサーＤのそれぞれの容ＩＣｓ 、 Ｃｄを交互に
切替えて計測し、これ等の容１ｃｓ、Ｃｄに対する前記
発振器の発振周波数の差を求めることによって計測中に
おける温度変化に対するドリフト現象を補正し、正確な
重量表示をする高精度の静電容量式デジタル電子秤を提
供することにある。
（実施例）
以下本発明の一実施例を図面、フローチャート、グラフ
、等に従って具体的に説明する。
、等に従って具体的に説明する。
１は重量を機械的な変位量に変換する手段の一つである
ブロック状の起歪体である。この場合起歪体はコイルば
ね、又は板ばねを利用した部材であっても良いが、ここ
では起歪体１を例に説明する。
ブロック状の起歪体である。この場合起歪体はコイルば
ね、又は板ばねを利用した部材であっても良いが、ここ
では起歪体１を例に説明する。
上記起歪体１の一端１ａは基台２に固定され、他端１ｂ
には受け■３が固定され、この受は皿３上に重量Ｗを荷
重することにｊ；って起歪体１を基台２に対して歪ませ
、機械的変位に変換せしめるブロック状の部材である。
には受け■３が固定され、この受は皿３上に重量Ｗを荷
重することにｊ；って起歪体１を基台２に対して歪ませ
、機械的変位に変換せしめるブロック状の部材である。
ＳはセンサーＳである。このセンサーＳは２枚の導電板
にて構成されており、一方の導電板４は絶縁部材５を介
して前記基台２又は起歪体１の一端１ａに固定され、他
方の導電板６は前記一方の導電板４に平行に相対向する
ごとく前記同様絶縁部材７を介して起歪体１の他端１ｂ
（受は冊３が固定されている側）に固定され、前記
型ＭＷの荷重による起歪体１の歪みの変化量を前記それ
ぞれの導電板４．６の間隙Ｊ重量に変換し、この間隙４
間に発生する静電容量Ｃｓを検知するセンサーＳである
。
にて構成されており、一方の導電板４は絶縁部材５を介
して前記基台２又は起歪体１の一端１ａに固定され、他
方の導電板６は前記一方の導電板４に平行に相対向する
ごとく前記同様絶縁部材７を介して起歪体１の他端１ｂ
（受は冊３が固定されている側）に固定され、前記
型ＭＷの荷重による起歪体１の歪みの変化量を前記それ
ぞれの導電板４．６の間隙Ｊ重量に変換し、この間隙４
間に発生する静電容量Ｃｓを検知するセンサーＳである
。
Ｌｐは温度補正用素子である。この温度補正用素子Ｌｌ
’ｌは本実施例では温度の上昇に従って抵抗値が直線的
に上昇する正特性の抵抗体であって前記起歪体１の一部
に埋め込み起歪体の温度を忠実に感知するために密着さ
せて接着剤等にて固定されている。
’ｌは本実施例では温度の上昇に従って抵抗値が直線的
に上昇する正特性の抵抗体であって前記起歪体１の一部
に埋め込み起歪体の温度を忠実に感知するために密着さ
せて接着剤等にて固定されている。
−４＝
上脱のセンサーＳ、温度補正用素子Ｌ ｐは容量ＣＯと
抵抗ＲＯを時定数とするコンパレーター８と積分器９で
構成された発振器１０を構成している。したがって発振
器１０の周波数ＦはＦ＝１／Ｃｏ ＸＲＯで表される。
抵抗ＲＯを時定数とするコンパレーター８と積分器９で
構成された発振器１０を構成している。したがって発振
器１０の周波数ＦはＦ＝１／Ｃｏ ＸＲＯで表される。
ところで上式より温度が上昇すると前記発振器１０の発
振周波数Ｆは温度補正用素子１ｐの抵抗値の変化に伴っ
て低下し、第３図に示すグラフの如くの特性から◎特性
へと徐々に変化する。又起歪体１自身は温度の上昇に従
って弾性係数の変化により同荷重において歪み量が第３
図に示すごとくのの位置からＯの位置へ変化する。
振周波数Ｆは温度補正用素子１ｐの抵抗値の変化に伴っ
て低下し、第３図に示すグラフの如くの特性から◎特性
へと徐々に変化する。又起歪体１自身は温度の上昇に従
って弾性係数の変化により同荷重において歪み量が第３
図に示すごとくのの位置からＯの位置へ変化する。
Ｄはダミーコンデンサーである。このダミーコンデンサ
ー〇の容ｌｃｄは前記センサーＳの常時態（起歪体１に
皿あるいは容器３ａ等を載置していない無荷重の状ｆｉ
ｌ）に於けるセンサーＳの容量Ｏｓと同等か又は少なめ
に設定した、温度特性の良好な例えばセラミックコンデ
ンサー等で、前記発振器１０に接続したセンサーＳに対
して等価的即ちセンサーＳとは単独に回路上に設ける。
ー〇の容ｌｃｄは前記センサーＳの常時態（起歪体１に
皿あるいは容器３ａ等を載置していない無荷重の状ｆｉ
ｌ）に於けるセンサーＳの容量Ｏｓと同等か又は少なめ
に設定した、温度特性の良好な例えばセラミックコンデ
ンサー等で、前記発振器１０に接続したセンサーＳに対
して等価的即ちセンサーＳとは単独に回路上に設ける。
１１は電気的な切替スイッチである。この切替えスイッ
チ１１は発振器１０に設けた前記センサー′Ｓの容量Ｏ
８とダミーコンデンサーＤの容量Ｃｄを交互に切替え、
切替えの制御は後説するマイクロコンピュータ１２（以
下マイコン）のプログラムによって切替えられる。
チ１１は発振器１０に設けた前記センサー′Ｓの容量Ｏ
８とダミーコンデンサーＤの容量Ｃｄを交互に切替え、
切替えの制御は後説するマイクロコンピュータ１２（以
下マイコン）のプログラムによって切替えられる。
１３は直線性補正回路部分で、前記センサーＳに発生す
る浮遊容量等にて発生する非直線要素を補正する補正部
分である。
る浮遊容量等にて発生する非直線要素を補正する補正部
分である。
上置した発振器１０を構成する容量ＣＯ（センサーＳの
容量Ｃ８１又はダミーコンデンサーＤの容量Ｃｄ ）と
、抵抗ＲＯ（ｍ度補正用素子ｌ−ｐと抵抗Ｒ１）の発振
時定数を構成要素とした発振器１０は直線性補正回路１
３で補正を行ないバッファ回路１４を介し、数置するマ
イコン１２のフローチャート（第４図）に示すプログラ
ムにて制御され表示部１５にデジタルで重量を表示する
。
容量Ｃ８１又はダミーコンデンサーＤの容量Ｃｄ ）と
、抵抗ＲＯ（ｍ度補正用素子ｌ−ｐと抵抗Ｒ１）の発振
時定数を構成要素とした発振器１０は直線性補正回路１
３で補正を行ないバッファ回路１４を介し、数置するマ
イコン１２のフローチャート（第４図）に示すプログラ
ムにて制御され表示部１５にデジタルで重量を表示する
。
上記構成における作用を以下に示すマイコンの制御順序
におけるをフローチャート（第４図）と、第３図のグラ
フに従って説明する。
におけるをフローチャート（第４図）と、第３図のグラ
フに従って説明する。
第１段階として（無Ｍ重時、直線のの状態）第１ステツ
プにおいて電源を印加すると同時に、その時点における
ダミーコンデンサーＤの容量Ｃｄを読み、このときの発
振器１０の発振周波数をｆｄｌとする。次の第２ステツ
プにて切替えスイッチ１１にて切替えられセンサーＳの
容量Ｏ８を読み、この時の発振周波数をｆｓｚとし次の
第３ステツプにて前記センサーＳとダミーコンデンサー
〇に於けるそれぞれの容量Ｃ３，ｃｄにおける発振周波
数の差を取って、この時の周波数の差をｆｚとして記憶
する。続いて次の第４ステツプにて再（資）ダミーコン
デンサーＤの容ＩＣｄを読み、このときの発振周波数を
ｆｄとし、次の第５ステツプにて更にセンサーＳの容量
Ｏ８を読み、この時の発振周波数をｆｓとし、第６ステ
ツプにて前記センサーＳの容１ｃｓにおける周波数ｆｓ
と、ダミーコンデンサーＤの容量Ｃｄにおける発振周波
数ｆｄとの差を計算し、この差の発振周波数をｆｘとす
る。ここでｆｘは現段階において無荷重時のため前記第
１ステツプ〜第３ステツプまで操作したｆｚと等しい。
プにおいて電源を印加すると同時に、その時点における
ダミーコンデンサーＤの容量Ｃｄを読み、このときの発
振器１０の発振周波数をｆｄｌとする。次の第２ステツ
プにて切替えスイッチ１１にて切替えられセンサーＳの
容量Ｏ８を読み、この時の発振周波数をｆｓｚとし次の
第３ステツプにて前記センサーＳとダミーコンデンサー
〇に於けるそれぞれの容量Ｃ３，ｃｄにおける発振周波
数の差を取って、この時の周波数の差をｆｚとして記憶
する。続いて次の第４ステツプにて再（資）ダミーコン
デンサーＤの容ＩＣｄを読み、このときの発振周波数を
ｆｄとし、次の第５ステツプにて更にセンサーＳの容量
Ｏ８を読み、この時の発振周波数をｆｓとし、第６ステ
ツプにて前記センサーＳの容１ｃｓにおける周波数ｆｓ
と、ダミーコンデンサーＤの容量Ｃｄにおける発振周波
数ｆｄとの差を計算し、この差の発振周波数をｆｘとす
る。ここでｆｘは現段階において無荷重時のため前記第
１ステツプ〜第３ステツプまで操作したｆｚと等しい。
次に第７ステツプにて前記発振周波数ｆ×から前記発振
周波数ｆｚを差引このときの発振周波数をｆｗとし、こ
の発振周波数ｆｗを重量に換算して第８ステツプにてデ
ジタルで重量表示せしめる。この第１段階では前説した
ごとく無荷重時のため、発振周波数ｆ×と発振周波数ｆ
ｚは等しいために発振周波数ｆｗは零となりループ１を
繰返し表示部１５には零と表示されつづける。
周波数ｆｚを差引このときの発振周波数をｆｗとし、こ
の発振周波数ｆｗを重量に換算して第８ステツプにてデ
ジタルで重量表示せしめる。この第１段階では前説した
ごとく無荷重時のため、発振周波数ｆ×と発振周波数ｆ
ｚは等しいために発振周波数ｆｗは零となりループ１を
繰返し表示部１５には零と表示されつづける。
次に第２段階として重量Ｗの荷重を掛けると起歪体１の
歪み量が１だけ歪み（のの位置）センサーＳの間隙Ｊが
変化し発振周波数もこれに伴って上昇する。そこで上記
フローチャートのループ１は繰返されているために第４
ステツプにてダミーコンデンサーＤの容ＩＣｄにおける
発振周波数ｆｄ（ｇ点）を読み（第１段階で読んだ周波
数ｆｄと同値）次の第５ステツプでセンサーＳの容量Ｏ
６における発振周波数ｆ′（荷重時の周波数）１点を跣
１、んで、この荷重時における発振周波数ｆ
ｓ （１点）から前記第２段階で操作した発振周波数ｆ
ｄ（０点）を第６ステツプで差引きその発振周波数をｆ
ｘ（荷■時の周波数からダミーコンデンサーＤの容ｆｆ
１Ｃｄにおける発振周波数を差引いた周波数）とし、更
に次の第７ステツプにて前記第１段階で操作したｒｚを
差引き真の重量に対する発振周波数ｆｗとして第８ステ
ツプにて前記荷重。に対する重量値をデジタルで表示す
る。
歪み量が１だけ歪み（のの位置）センサーＳの間隙Ｊが
変化し発振周波数もこれに伴って上昇する。そこで上記
フローチャートのループ１は繰返されているために第４
ステツプにてダミーコンデンサーＤの容ＩＣｄにおける
発振周波数ｆｄ（ｇ点）を読み（第１段階で読んだ周波
数ｆｄと同値）次の第５ステツプでセンサーＳの容量Ｏ
６における発振周波数ｆ′（荷重時の周波数）１点を跣
１、んで、この荷重時における発振周波数ｆ
ｓ （１点）から前記第２段階で操作した発振周波数ｆ
ｄ（０点）を第６ステツプで差引きその発振周波数をｆ
ｘ（荷■時の周波数からダミーコンデンサーＤの容ｆｆ
１Ｃｄにおける発振周波数を差引いた周波数）とし、更
に次の第７ステツプにて前記第１段階で操作したｒｚを
差引き真の重量に対する発振周波数ｆｗとして第８ステ
ツプにて前記荷重。に対する重量値をデジタルで表示す
る。
ここで上記重量を計測中に雰囲気の澗痕が変化し起歪体
１に与える温度がＴ１からＴ２へと上昇したと仮定づる
と、このために起歪体１の弾性係数が変化し、同荷重に
対して起歪体１の歪み量が多くなり第３図のＯの位置か
ら○の位置に徐々に変化する。
１に与える温度がＴ１からＴ２へと上昇したと仮定づる
と、このために起歪体１の弾性係数が変化し、同荷重に
対して起歪体１の歪み量が多くなり第３図のＯの位置か
ら○の位置に徐々に変化する。
ところが起歪体１に密着固定した温度補正用素子Ｌｌｌ
である抵抗体は温度上昇にしたがって抵抗値が上昇し、
これに伴って前記発振器１０は容量ＣＯ低抵抗Ｏの時定
数により第３図のΦ特性から◎特性え徐々に変化する。
である抵抗体は温度上昇にしたがって抵抗値が上昇し、
これに伴って前記発振器１０は容量ＣＯ低抵抗Ｏの時定
数により第３図のΦ特性から◎特性え徐々に変化する。
上記変化状態において前記マイコン１２のフローチャー
トにおけるステップに基づいて説明すると、第１ステツ
プから第３ステツプまでの処理は第一段階で処理した周
波数であるために周波数ｆｚはそのまま記憶されている
、そこでループ１の処理°により第４ステツプでダミー
コンデンサーＤの容１ｃｄ ＜ｅ点）を読み、この時
における発振周波数をｆｄ（ｅ点）とする。つぎに第５
ステツプにてセンサーＳの容量Ｃｓ （３点）を読ん
でこのときの発振周波数をｆｓ （３点）とし、そして
次の第６ステツプにて３点における発振周波数ｆｓとｅ
点における発振周波数ｆｄの差をとりこの差の周波数を
ｆｘ−とし、この差の周波数ｆｘ′より第７ステツプで
前記初期に設定した周波数ｆｚを差引きこの差の発振周
波数をｆｗ−（重量に相当する発振周波数）とし、第８
ステツプにてこの発振周波数ｆｗ′を重量に換算して重
量表示する。したがってグラフで分るように周波数ｆｗ
と温度変化によるドリフト時の周波数ｆｗ”は全く同一
となる。
トにおけるステップに基づいて説明すると、第１ステツ
プから第３ステツプまでの処理は第一段階で処理した周
波数であるために周波数ｆｚはそのまま記憶されている
、そこでループ１の処理°により第４ステツプでダミー
コンデンサーＤの容１ｃｄ ＜ｅ点）を読み、この時
における発振周波数をｆｄ（ｅ点）とする。つぎに第５
ステツプにてセンサーＳの容量Ｃｓ （３点）を読ん
でこのときの発振周波数をｆｓ （３点）とし、そして
次の第６ステツプにて３点における発振周波数ｆｓとｅ
点における発振周波数ｆｄの差をとりこの差の周波数を
ｆｘ−とし、この差の周波数ｆｘ′より第７ステツプで
前記初期に設定した周波数ｆｚを差引きこの差の発振周
波数をｆｗ−（重量に相当する発振周波数）とし、第８
ステツプにてこの発振周波数ｆｗ′を重量に換算して重
量表示する。したがってグラフで分るように周波数ｆｗ
と温度変化によるドリフト時の周波数ｆｗ”は全く同一
となる。
すなわち上記処理を更に分り易く説明すれば第１ステツ
プ〜第３ステツプ間での処理した周波数ｆｚを算出し、
温度変化前（Ｔ１）のダミーコンデンサー〇における容
量Ｃｄ１Ｉによる発振周波数ｆｄ（ｇ点）と温度変化後
（Ｔ２）にドリフトが発生して変化したダミーコンデン
サーＤにおける容量ｃｄによる発振周波数ｆＣＩ（ｅ点
）を第６ステツプでそれぞれの荷重点の発振周波数ｆｓ
（ｈ、ｊ点）から差引いているためにｅ点と０点の出発
点は同一点と考えられ、これ等の出発点を１点に移動し
、この１点より６Ｉ、記■、■の特性を平行移動させた
特性■′、◎′で、前説した特性の、＠と同性質の特性
である。 したがってこの移動した特性ω′と、Ｏ′と
を比較すると第１ステツプ〜第３ステツプで処理した周
波数ｆｚ（ｋ点）を温度変化前（Ｔ１）の特性１紗ω′
における荷重点の発振周波数ｒｘ１（ｈ ′点）から差
引いた発振周波数ｆＷ１と、濡痩変化後（Ｔ２）特性＠
−における荷重点の発振周波数ｆｘｌ ′（ｊ一点）か
ら差引いた発振周波数ｒｗｉ −はグラフより明らかに
等しくなり、温度によるドリフトを完全に補正し、計測
中に温度変化があっても常に同重量値を示し、正確な重
量４測ができる。
プ〜第３ステツプ間での処理した周波数ｆｚを算出し、
温度変化前（Ｔ１）のダミーコンデンサー〇における容
量Ｃｄ１Ｉによる発振周波数ｆｄ（ｇ点）と温度変化後
（Ｔ２）にドリフトが発生して変化したダミーコンデン
サーＤにおける容量ｃｄによる発振周波数ｆＣＩ（ｅ点
）を第６ステツプでそれぞれの荷重点の発振周波数ｆｓ
（ｈ、ｊ点）から差引いているためにｅ点と０点の出発
点は同一点と考えられ、これ等の出発点を１点に移動し
、この１点より６Ｉ、記■、■の特性を平行移動させた
特性■′、◎′で、前説した特性の、＠と同性質の特性
である。 したがってこの移動した特性ω′と、Ｏ′と
を比較すると第１ステツプ〜第３ステツプで処理した周
波数ｆｚ（ｋ点）を温度変化前（Ｔ１）の特性１紗ω′
における荷重点の発振周波数ｒｘ１（ｈ ′点）から差
引いた発振周波数ｆＷ１と、濡痩変化後（Ｔ２）特性＠
−における荷重点の発振周波数ｆｘｌ ′（ｊ一点）か
ら差引いた発振周波数ｒｗｉ −はグラフより明らかに
等しくなり、温度によるドリフトを完全に補正し、計測
中に温度変化があっても常に同重量値を示し、正確な重
量４測ができる。
この様に極めて簡単な構成と処理により、温度変化によ
る起歪体１の弾性係数が変化しドリフト現象が起きても
、逐次上説の様に補正して重量表示゛をしているために
、正確な重量表示ができると共に、高精度の秤を提供で
き極めて有効である。
る起歪体１の弾性係数が変化しドリフト現象が起きても
、逐次上説の様に補正して重量表示゛をしているために
、正確な重量表示ができると共に、高精度の秤を提供で
き極めて有効である。
尚湿度変化は極めて緩慢なためにループ１に於けるダミ
ーコンデンサー〇の容量Ｃｄを読む（第４ステツプ）動
作は必ずしも毎回行なう必要はなく例えば数秒に一回で
もよい。
ーコンデンサー〇の容量Ｃｄを読む（第４ステツプ）動
作は必ずしも毎回行なう必要はなく例えば数秒に一回で
もよい。
第１図（ａ ）は本発明における秤の構造における側面
図、（ｂ）はＡ−Ａ−の断面図。 第２図は回路構成図。 第３図は本発明における温度に対するドリフト現象によ
る容量１／Ｃ８１又は１／Ｃｄに対する発振器１０の発
振周波数Ｆの特性グラフ。 第４図はマイコン１２のフローチャート図。 １・・・起歪体、 １０・・・発振器、
１１１・・・切替えスイッチ、 Ｌｒ＋・・・温度補正用素子、 ８・・・センサー、 Ｏ８・・・センサーＳの容量、 Ｄ・・・ダミーコンデンサー、 Ｑｄ・・・ダミーコンデンサー〇の容量、特許出願人
株式会社 タニタ製作所邦１図 （θ、） 一へ１ （ｂ） Ａ−Ａ’断面 第３１１
図、（ｂ）はＡ−Ａ−の断面図。 第２図は回路構成図。 第３図は本発明における温度に対するドリフト現象によ
る容量１／Ｃ８１又は１／Ｃｄに対する発振器１０の発
振周波数Ｆの特性グラフ。 第４図はマイコン１２のフローチャート図。 １・・・起歪体、 １０・・・発振器、
１１１・・・切替えスイッチ、 Ｌｒ＋・・・温度補正用素子、 ８・・・センサー、 Ｏ８・・・センサーＳの容量、 Ｄ・・・ダミーコンデンサー、 Ｑｄ・・・ダミーコンデンサー〇の容量、特許出願人
株式会社 タニタ製作所邦１図 （θ、） 一へ１ （ｂ） Ａ−Ａ’断面 第３１１
Claims (1)
- 重量を機械的に変位せしめる手段に温度補正用素子を設
け、前記機械的変化量をセンサーＳにて容量変換し、こ
の容量変化を前記温度補正用素子と共に発振時定数の構
成要素とした発振器とし、この発振器に常時態に於ける
前記センサーＳの容量Ｃｓとほぼ同値の容量に相当する
ダミーコンデンサーＤを前記センサーＳと等価的に設け
、このセンサーＳの容量ＣｓとダミーコンデンサーＤの
容量Ｃｄとを交互に切替えて計測し、重量表示すること
を特徴とする静電容量式デジタル電子秤。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16029184A JPS6140517A (ja) | 1984-08-01 | 1984-08-01 | 静電容量式デジタル電子秤 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16029184A JPS6140517A (ja) | 1984-08-01 | 1984-08-01 | 静電容量式デジタル電子秤 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6140517A true JPS6140517A (ja) | 1986-02-26 |
| JPH0347693B2 JPH0347693B2 (ja) | 1991-07-22 |
Family
ID=15711803
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16029184A Granted JPS6140517A (ja) | 1984-08-01 | 1984-08-01 | 静電容量式デジタル電子秤 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6140517A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0322193A2 (en) * | 1987-12-23 | 1989-06-28 | Tokyo Electric Co. Ltd. | Electronic weighing instrument of the electrostatic capacity type |
| JPH0267925A (ja) * | 1988-09-02 | 1990-03-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 重量検出装置 |
| JPH0267926A (ja) * | 1988-09-02 | 1990-03-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 重量検出装置 |
| JPH02106617A (ja) * | 1988-10-14 | 1990-04-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 加熱装置 |
| WO2003008899A1 (fr) * | 2001-07-11 | 2003-01-30 | Sony Corporation | Appareil de detection de capacite electrostatique et appareil utilise dans la comparaison d'empreintes digitales |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1391950B1 (en) | 2001-04-20 | 2010-08-25 | GS Yuasa Corporation | Anode active matter and production method therefor, non- aqueous electrolyte secondary battery-use anode, and non-aqueous electrolyte secondary battery |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5113270A (ja) * | 1974-07-24 | 1976-02-02 | Hitachi Ltd | Anaroguhenikenshutsukairo |
| JPS5821502A (ja) * | 1981-07-31 | 1983-02-08 | Fuji Electric Co Ltd | 静電容量式変位検出回路 |
-
1984
- 1984-08-01 JP JP16029184A patent/JPS6140517A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5113270A (ja) * | 1974-07-24 | 1976-02-02 | Hitachi Ltd | Anaroguhenikenshutsukairo |
| JPS5821502A (ja) * | 1981-07-31 | 1983-02-08 | Fuji Electric Co Ltd | 静電容量式変位検出回路 |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0322193A2 (en) * | 1987-12-23 | 1989-06-28 | Tokyo Electric Co. Ltd. | Electronic weighing instrument of the electrostatic capacity type |
| JPH0267925A (ja) * | 1988-09-02 | 1990-03-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 重量検出装置 |
| JPH0267926A (ja) * | 1988-09-02 | 1990-03-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 重量検出装置 |
| JPH02106617A (ja) * | 1988-10-14 | 1990-04-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 加熱装置 |
| WO2003008899A1 (fr) * | 2001-07-11 | 2003-01-30 | Sony Corporation | Appareil de detection de capacite electrostatique et appareil utilise dans la comparaison d'empreintes digitales |
| US6937031B2 (en) | 2001-07-11 | 2005-08-30 | Sony Corporation | Electrostatic capacity detection apparatus and fingerprint crosscheck apparatus using the same |
Also Published As
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