JPS6137574B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS6137574B2 JPS6137574B2 JP1447177A JP1447177A JPS6137574B2 JP S6137574 B2 JPS6137574 B2 JP S6137574B2 JP 1447177 A JP1447177 A JP 1447177A JP 1447177 A JP1447177 A JP 1447177A JP S6137574 B2 JPS6137574 B2 JP S6137574B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- chopper
- optical path
- sample
- light
- light source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 11
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 17
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 3
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 3
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
- G01J3/0232—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using shutters
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、赤外線分析計に関する。
赤外線分析計においては検出器の出力信号を得
るために光源光束のチヨツピングを必要とする
が、従来は第１図に示すように回転軸１を光路と
略平行になるように配置し、この回転軸１に連結
された、チヨツパー２が光源窓３とサンプルセン
窓４の間で光路に対して直角に遮光するように回
転している。この場合、光源窓３とチヨツパー２
とサンプルセル窓４との間にデツドスペース５が
でき嵩高くなるとともに前記デツドスペース５内
に雰囲気ガスが流入（図中の矢印ａ）、この雰囲
気ガス中に測定ガスに対する妨害ガスが混入して
いると測定誤差が生じる。そしてこのような従来
装置においてデツドスペース５内に妨害ガスが混
入するのを防ぐのは困難であるし、且つ機構が複
雑で大がかりになり、さらにはチヨツパー２の回
転半径を必らず要し装置がコンパクトにならず、
又、チヨツピングによる光量の変化を、検出器の
出力信号に処理に好都合なサインカーブにのせる
ことが困難である等の欠点がある。
るために光源光束のチヨツピングを必要とする
が、従来は第１図に示すように回転軸１を光路と
略平行になるように配置し、この回転軸１に連結
された、チヨツパー２が光源窓３とサンプルセン
窓４の間で光路に対して直角に遮光するように回
転している。この場合、光源窓３とチヨツパー２
とサンプルセル窓４との間にデツドスペース５が
でき嵩高くなるとともに前記デツドスペース５内
に雰囲気ガスが流入（図中の矢印ａ）、この雰囲
気ガス中に測定ガスに対する妨害ガスが混入して
いると測定誤差が生じる。そしてこのような従来
装置においてデツドスペース５内に妨害ガスが混
入するのを防ぐのは困難であるし、且つ機構が複
雑で大がかりになり、さらにはチヨツパー２の回
転半径を必らず要し装置がコンパクトにならず、
又、チヨツピングによる光量の変化を、検出器の
出力信号に処理に好都合なサインカーブにのせる
ことが困難である等の欠点がある。
本発明は、上記従来欠点を解消し、光路上での
デツドスペースをなくし、雰囲気ガスの影響を受
けないコンパクトでしかもチヨツピングによる光
量の変化をサインカーブにのせることができる赤
外線分析計を提供しようとするものである。
デツドスペースをなくし、雰囲気ガスの影響を受
けないコンパクトでしかもチヨツピングによる光
量の変化をサインカーブにのせることができる赤
外線分析計を提供しようとするものである。
以下、本発明の実施例を図面について説明す
る。
る。
第２図において、６はいわゆるシングルセルタ
イプの赤外線ガス分析計であつて、７は赤外線を
発生する光源、８はサンプルセル、９は検出器で
ある。１０は前記サンプルセル８内において、光
源７から検出器９に至る光路に対し直交する方向
にむけて配置された回転軸で、モータ１１により
矢印ｂ方向に回転する。１２は平板状のチヨツパ
ーで、その板面が回転軸１０の軸線と平行となる
ように回転軸に取付けられており、回転軸１０の
回転に伴ない回転し、第２図及び第３図イに示す
位置にあるときには、光路を最大限開放し、又、
第３図ロに示す位置にあるときには、光路を最大
限閉塞する。尚、１３，１４はサンプルセル８に
設けられたサンプルガス入口及びサンプルガス、
１５はチヨツパー挿入用の孔、１６はシール部
材、１７，１８は赤外線を通過させる窓である。
イプの赤外線ガス分析計であつて、７は赤外線を
発生する光源、８はサンプルセル、９は検出器で
ある。１０は前記サンプルセル８内において、光
源７から検出器９に至る光路に対し直交する方向
にむけて配置された回転軸で、モータ１１により
矢印ｂ方向に回転する。１２は平板状のチヨツパ
ーで、その板面が回転軸１０の軸線と平行となる
ように回転軸に取付けられており、回転軸１０の
回転に伴ない回転し、第２図及び第３図イに示す
位置にあるときには、光路を最大限開放し、又、
第３図ロに示す位置にあるときには、光路を最大
限閉塞する。尚、１３，１４はサンプルセル８に
設けられたサンプルガス入口及びサンプルガス、
１５はチヨツパー挿入用の孔、１６はシール部
材、１７，１８は赤外線を通過させる窓である。
従つて、サンプルガスをサンプルガス入口１３
から導入し、サンプルセル８内を通過させ後、サ
ンプルガス出口１４より排出させる一方、モータ
１１を駆動してチヨツパー１２を回転させる。す
ると第２図及び第３図イに示す位置にチヨツパー
１２があるときは光源７から放射された光束は、
チヨツパー１２に遮られることなく通過し検出器
９に到達する。この位置から回転軸１０が90度回
転し第３図ロに示す状態になると光源７から放射
された光束はチヨツパー１２に遮光されて検出器
９には殆んど到達しない。回転軸１０が180度回
転するチヨツパー１２は再び第２図及び第３図イ
に示す状態になり光束は通過する。回転軸１０が
270度回転した時は90度回転時と同じ状態になり
光束を遮光する。360度回転して初期の状態にも
どる。このようにしてチヨツパー１２が360度回
転すると光束の開放、遮光が２回くり返されて光
源光束のチヨツピングが行なわれるのである。
から導入し、サンプルセル８内を通過させ後、サ
ンプルガス出口１４より排出させる一方、モータ
１１を駆動してチヨツパー１２を回転させる。す
ると第２図及び第３図イに示す位置にチヨツパー
１２があるときは光源７から放射された光束は、
チヨツパー１２に遮られることなく通過し検出器
９に到達する。この位置から回転軸１０が90度回
転し第３図ロに示す状態になると光源７から放射
された光束はチヨツパー１２に遮光されて検出器
９には殆んど到達しない。回転軸１０が180度回
転するチヨツパー１２は再び第２図及び第３図イ
に示す状態になり光束は通過する。回転軸１０が
270度回転した時は90度回転時と同じ状態になり
光束を遮光する。360度回転して初期の状態にも
どる。このようにしてチヨツパー１２が360度回
転すると光束の開放、遮光が２回くり返されて光
源光束のチヨツピングが行なわれるのである。
以上、本発明と好ましい一実施例について説明
したが、本発明は上記実施例の具体的構成に限ら
れるものではなく、種々変形しうるものである。
したが、本発明は上記実施例の具体的構成に限ら
れるものではなく、種々変形しうるものである。
例えば、
サンプルはガスだけでなく液体であつてもよ
い。
い。
いわゆるシングルセルタイプだけでなく、ダ
ブルセルタイプのものに適用してもよい。
ブルセルタイプのものに適用してもよい。
チヨツパーの形状は円形に限らず多角形であ
つてもよく、遮光する部分が平板状であればよ
い。
つてもよく、遮光する部分が平板状であればよ
い。
チヨツパーの材質は全波長遮光のもの（例え
ばステンレス）及び特定波長遮光のもの（例え
ばソリツドフイルター）を含む。
ばステンレス）及び特定波長遮光のもの（例え
ばソリツドフイルター）を含む。
第４図に示すように、板状のチヨツパー１２
１，１２２（互いに遮光領域の異なるもの）の
回転角度を90度ずらして歯車１７，１８等によ
り両者を同期回転させてもよい。これにより干
渉ガスの影響をなくすことができる。又、第５
図イ，、ロに示すように、板状のチヨツパー１
２３，１２４（互いに遮光領域の異なるもの）
を直交させた状態で取付けてもよい。
１，１２２（互いに遮光領域の異なるもの）の
回転角度を90度ずらして歯車１７，１８等によ
り両者を同期回転させてもよい。これにより干
渉ガスの影響をなくすことができる。又、第５
図イ，、ロに示すように、板状のチヨツパー１
２３，１２４（互いに遮光領域の異なるもの）
を直交させた状態で取付けてもよい。
第６図に示すように、モータ１１、チヨツパ
ー１２をケース１９、透過窓２０，２１により
密閉し、その内部に特定ガスを封入するように
してもよい。これは、例えば(イ)測定対象が回転
軸１０やチヨツパー１２を腐蝕させる成分を含
んでいるような場合、(ロ)サンプルセル８の長さ
をごく短かくする必要のある場合（測定対象が
液体であたつたり、あるいは高濃度のガスであ
つて吸収感度がよい場合）、特に適している。
ー１２をケース１９、透過窓２０，２１により
密閉し、その内部に特定ガスを封入するように
してもよい。これは、例えば(イ)測定対象が回転
軸１０やチヨツパー１２を腐蝕させる成分を含
んでいるような場合、(ロ)サンプルセル８の長さ
をごく短かくする必要のある場合（測定対象が
液体であたつたり、あるいは高濃度のガスであ
つて吸収感度がよい場合）、特に適している。
第７図に示すように、チヨツパー１２配置個
所に段部２２を設けてもよい。こうすれば光路
遮蔽時において、光の漏れる量を極小にするこ
とができる。
所に段部２２を設けてもよい。こうすれば光路
遮蔽時において、光の漏れる量を極小にするこ
とができる。
本発明は上述したように、光源と検出器との間
に設けられるサンプルセルの内部に、光路に対し
て直交する方向の回転軸と、この回転軸に板面が
前記回転軸の軸線と平行になるように取付けた平
板状チヨツパーとを設け、前記チヨツパーの回転
により光路を開閉するように構成したので、次の
ような効果を奏する。
に設けられるサンプルセルの内部に、光路に対し
て直交する方向の回転軸と、この回転軸に板面が
前記回転軸の軸線と平行になるように取付けた平
板状チヨツパーとを設け、前記チヨツパーの回転
により光路を開閉するように構成したので、次の
ような効果を奏する。
(1) 光源と検出器との間において従来装置におけ
るようなチヨツパー機構によるデツドスペース
（第１図中番号５で示す）がなくなり、従つて
雰囲気ガスに対するシールを簡転且つ完全に行
なえ、雰囲気ガス中の妨害ガスの影響をうけな
い正確な分析を行なうことができる。
るようなチヨツパー機構によるデツドスペース
（第１図中番号５で示す）がなくなり、従つて
雰囲気ガスに対するシールを簡転且つ完全に行
なえ、雰囲気ガス中の妨害ガスの影響をうけな
い正確な分析を行なうことができる。
(2) 前記したようなデツドスペースがないのでそ
れだけコンパクトにすることができる。又、従
来装置のようにチヨツパーの回転半径分のスペ
ースを余分に必要とすることがなく、とくにシ
ングルセルタイプのものにあつては、従来装置
よりはるかに小型化をはかることができる。
れだけコンパクトにすることができる。又、従
来装置のようにチヨツパーの回転半径分のスペ
ースを余分に必要とすることがなく、とくにシ
ングルセルタイプのものにあつては、従来装置
よりはるかに小型化をはかることができる。
(3) サンプルセル内部においてチヨツパーを回転
することにより、サンプル室内のサンプルの撹
拌を行なえ、特にサンプルが複数種類のガス
（又は液体）からなりその濃度が不均一な場合
は有効である。
することにより、サンプル室内のサンプルの撹
拌を行なえ、特にサンプルが複数種類のガス
（又は液体）からなりその濃度が不均一な場合
は有効である。
(4) チヨツパーの回転により、光源からの光量を
サインカーブ状に連続的に変化させることがで
きるので、検出器の出力信号をサインカーブに
近似した形状の波形として出力でき、その結果
この出力信号の処理が容易となり、Ｓ／Ｎ比が
向上する。
サインカーブ状に連続的に変化させることがで
きるので、検出器の出力信号をサインカーブに
近似した形状の波形として出力でき、その結果
この出力信号の処理が容易となり、Ｓ／Ｎ比が
向上する。
第１図は従来装置を示す要部断面図、第２図お
よび第３図イ，ロは本発明の第１実施例を示すも
ので第２図は要部断面図、第３図イ，ロは動作説
明図、第４図は本発明の第２実施例を示す説明
図、第５図イ，ロは同第３実施例を示す説明図、
第６図は同第４実施例を示す要部断面図、第７図
は同第５実施例を示す要部断面図である。 ７……光源、８……サンプルセル、９……検出
器、１０……回転軸、１２，１２１，１２２，１
２３，１２４……チヨツパー。
よび第３図イ，ロは本発明の第１実施例を示すも
ので第２図は要部断面図、第３図イ，ロは動作説
明図、第４図は本発明の第２実施例を示す説明
図、第５図イ，ロは同第３実施例を示す説明図、
第６図は同第４実施例を示す要部断面図、第７図
は同第５実施例を示す要部断面図である。 ７……光源、８……サンプルセル、９……検出
器、１０……回転軸、１２，１２１，１２２，１
２３，１２４……チヨツパー。
Claims (1)
- １ 光源と検出器との間に設けられるサンプルセ
ルの内部に、光路に対し直交する方向の回転軸と
この回転軸に板面が前記回転軸の軸線と平行にな
るように取付けた平板状チヨツパーとを設け、前
記チヨツパーの回転により光路を開閉するように
構成したことを特徴とする赤外線分析計。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1447177A JPS5399985A (en) | 1977-02-12 | 1977-02-12 | Optical system apparatus |
| US05/872,586 US4193695A (en) | 1977-02-12 | 1978-01-26 | Spectrographic apparatus with chopper means located in the sample cell |
| DE2804972A DE2804972C2 (de) | 1977-02-12 | 1978-02-06 | Optisches Analysengerät |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1447177A JPS5399985A (en) | 1977-02-12 | 1977-02-12 | Optical system apparatus |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5399985A JPS5399985A (en) | 1978-08-31 |
| JPS6137574B2 true JPS6137574B2 (ja) | 1986-08-25 |
Family
ID=11861962
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1447177A Granted JPS5399985A (en) | 1977-02-12 | 1977-02-12 | Optical system apparatus |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4193695A (ja) |
| JP (1) | JPS5399985A (ja) |
| DE (1) | DE2804972C2 (ja) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4398801A (en) * | 1981-05-14 | 1983-08-16 | Mcwilliams Roy A | Detonator-activated ball shutter |
| FR2531535B1 (fr) * | 1982-08-03 | 1985-08-30 | Onera (Off Nat Aerospatiale) | Procede et dispositif de dosage de faible teneur de composants gazeux |
| JPS6041850U (ja) * | 1983-08-30 | 1985-03-25 | 株式会社 堀場製作所 | ガス分析計 |
| US4866681A (en) * | 1988-03-09 | 1989-09-12 | Mine Safety Appliances Company | Photo-acoustic detector |
| DE4413670C2 (de) * | 1993-04-21 | 1998-02-12 | Palocz Andresen Michael Dr Ing | Infrarot-Gasanalysator |
| US5498873A (en) * | 1994-11-15 | 1996-03-12 | Tif Instruments, Inc. | Refrigerant impurity analyzer |
| JPH0996560A (ja) * | 1995-09-29 | 1997-04-08 | Shimadzu Corp | 電磁波チョッパ |
| DE10104556A1 (de) * | 2001-02-01 | 2002-02-07 | Siemens Ag | Nichtdispersiver Infrarot-Gasanalysator |
| DE102006019770A1 (de) * | 2006-04-28 | 2007-10-31 | Exner Process Equipment Ohg | Optischer Sensor |
| US9004454B1 (en) * | 2012-04-18 | 2015-04-14 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Container lift and leveling system |
| JP6325288B2 (ja) * | 2014-03-05 | 2018-05-16 | 旭化成エレクトロニクス株式会社 | ガス検出装置 |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2058939A (en) * | 1932-09-20 | 1936-10-27 | Gen Electric | Indicating instrument |
| US2709751A (en) * | 1951-01-17 | 1955-05-31 | Foxboro Co | Infrared concentrometer |
| NL280130A (ja) * | 1961-06-26 | |||
| US3414729A (en) * | 1964-09-22 | 1968-12-03 | Instr And Communications Inc | Phase null spectrophotometer |
| CH514838A (de) * | 1970-04-17 | 1971-10-31 | Jaeger Erich | Gerät zur Gasanalyse |
| DE2065118A1 (de) * | 1970-10-27 | 1972-07-20 | Siemens Ag | Lichtzerhacker für ein nach dem Zweistrahlprinzip arbeitendes Ultrarot-Gasanalysegerät. Ausscheidung aus: 2052609 |
| US3729264A (en) * | 1971-08-09 | 1973-04-24 | Horiba Ltd | Analyzer using the rotor of a motor as a light chopper |
| US3966333A (en) * | 1975-02-03 | 1976-06-29 | Baxter Laboratories, Inc. | Magnetic stirrer noise cancellation system |
| DE2524430A1 (de) * | 1975-06-03 | 1976-12-16 | Heinz Dr Rer Nat Hummel | Betriebsphotometer mit zwei empfaengerschichten |
-
1977
- 1977-02-12 JP JP1447177A patent/JPS5399985A/ja active Granted
-
1978
- 1978-01-26 US US05/872,586 patent/US4193695A/en not_active Expired - Lifetime
- 1978-02-06 DE DE2804972A patent/DE2804972C2/de not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE2804972A1 (de) | 1978-08-17 |
| US4193695A (en) | 1980-03-18 |
| JPS5399985A (en) | 1978-08-31 |
| DE2804972C2 (de) | 1982-05-06 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3796887A (en) | Photometric analyzer | |
| EP0026885B1 (en) | Filterphotometer | |
| US4215940A (en) | Optode arrangement | |
| US4694173A (en) | Nondispersive gas analyzer having no moving parts | |
| US5920069A (en) | Apparatus for automatic identification of gas samples | |
| US3968367A (en) | Filter system for infrared analysis | |
| JPS6137574B2 (ja) | ||
| AU4113801A (en) | Method and apparatus for detecting mastitis by using visible light and/or near infrared light | |
| US3763374A (en) | Dynamic multistation photometer-fluorometer | |
| US3386332A (en) | Differential refractometry | |
| JPH0266428A (ja) | 多成分測光器 | |
| US4078896A (en) | Photometric analyzer | |
| US3733130A (en) | Slotted probe for spectroscopic measurements | |
| US3655288A (en) | Optical system for use in automatic, simultaneous multielement atomic spectroscopy sample analysis apparatus | |
| JPH0252980B2 (ja) | ||
| US3334537A (en) | Light scattering attachment | |
| JP2000504422A (ja) | ２つのコリメータマスクを有するｘ線分析装置 | |
| KR810002587Y1 (ko) | 광학계장치 | |
| US3283645A (en) | Laminar flow dichroism polarimeter | |
| JPH0230458B2 (ja) | ||
| US3758786A (en) | Apparatus for setting both beams of an optical two-beam instrument to equal intensity | |
| JPH02129534A (ja) | フォトクロミック反応測定装置 | |
| SU714169A1 (ru) | Устройство дл коммутации световых потоков | |
| JPH0736051U (ja) | ガス分析計 | |
| JPH05203573A (ja) | 赤外線ガス分析計 |