JPS6136608B2 - - Google Patents

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JPS6136608B2
JPS6136608B2 JP54084348A JP8434879A JPS6136608B2 JP S6136608 B2 JPS6136608 B2 JP S6136608B2 JP 54084348 A JP54084348 A JP 54084348A JP 8434879 A JP8434879 A JP 8434879A JP S6136608 B2 JPS6136608 B2 JP S6136608B2
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measuring device
jaw
temperature measuring
contact
casing
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JP54084348A
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Haakan Haakanson Bo
Esukiru Rennaato Peruson Peru
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Original Assignee
KURAFUON AB
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Publication date
Application filed by KURAFUON AB filed Critical KURAFUON AB
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Publication of JPS6136608B2 publication Critical patent/JPS6136608B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K1/00Details of thermometers not specially adapted for particular types of thermometer
    • G01K1/14Supports; Fastening devices; Arrangements for mounting thermometers in particular locations
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K1/00Details of thermometers not specially adapted for particular types of thermometer
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K7/00Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring And Recording Apparatus For Diagnosis (AREA)
  • Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、温度測定装置を把持し、かつこの測
定装置で得られた測定値を読取るための装置にお
いて、前記温度測定装置は、電気的特性、例えば
抵抗が温度とともに変化するような温度感知セン
サー、例えば、サーミスターを含み、また前記セ
ンサーは2つの接点を介して、支持板上に配置さ
れた2つの導電層に結合され、前記導電層は前記
センサーとは反対側の端部における2つの接触面
のところで終つている、温度測定装置を把持およ
び読取るための装置に関する。
本発明による装置は主として医療用温度測定の
ために用いようとするものである。しかしなが
ら、当業界にとつては本装置は他の雰囲気、例え
ば、純粋に産業界に用いることもできることは明
らかである。
本発明による装置の実施例は特に、スウエーデ
ン特許出願第78.03046−7(米国特許出願第
779152)、第78.04199−3(米国特許出願第
787442)および………(米国特許出願第879183)
に記載された型の温度測定装置のためのものであ
る。
本発明による他の実施例は特に、簡略化された
温度測定装置およびそのような装置の製造方法に
ついて記述された、同時に申請されたPCT出願
に詳細記述された温度測定装置のためのものであ
る。後者の温度測定装置はまた以下説明する図面
の内の第2図に示されている。
本発明による前記装置は、少なくとも2つの測
定装置接触面はやつとこ状の構造のあごの内側
(単数あるいは複数)に配置された前記接触面に
結合することができ、これらの測定装置接触面は
回路の一部分を構成し、前記回路はさらに電源
と、デイスプレーユニツトと、得られた測定値を
前記デイスプレーユニツト上で読取る値に変換す
るための装置とを含むことを特徴とする。
本発明による装置を医療用温度測定装置に用い
る場合には、使用者はこのやつとこ状の構造を、
例えば患者の口の中に温度測定装置を配置して把
持させ、非常に信頼度高く、また迅速に温度を読
取ることができる。同時に、この把持と読取りと
は極めて衛生的に行なうことができる。
前記導電層が支持体の一方の同じ側部に配置さ
れている温度測定装置の場合には、やつとこ状構
造の各々のあごにはその内側に2つの測定接触面
が設けられ、前記導電層上のそれぞれの接触面と
結合する。これらの接触面は前記温度測定装置を
いずれかの側を上にして導き入れることができる
ように、各々のあごからの1つの表面と、2つと
2つの表面とが適当に結合されるようになつてい
る。
前記導電層が細片状支持体の両側に配置されて
いる温度測定装置の場合には、やつとこ状構造の
各々のあごには、その内側にただ1つの測定接触
面を設けることができる。
使用される温度測定装置は、使用後は廃棄する
ことができるように、できるだけ小さくかつ単純
にして適当に製作される。しかしながら、温度測
定装置の把持と読取りのための前記装置は普通の
取扱いにも適するようになつている。従つて、前
記装置に対して、温度測定装置とその接触面とを
案内するための装置を設けて、前記測定接触面と
信頼性高く接触させるようにすることは適切なこ
とである。
前記温度測定装置とその接触面とを案内するた
めの前記装置は、1つのあごの内側におけるほぼ
V字形の溝と、他のあごの内側における対応的な
突出部分とからなつている。
前記V字形の溝とそれに対応する前記突出部分
との断面積は、あごの内側へ進むに従つて減少
し、かつその最も遠いところにおいて温度測定装
置の巾に対応している。
本発明による装置は、ばねの力に抗して用いら
れる温度測定装置の周りを取囲むようになつてい
る。しかしながら、実際には、前記あごはばねの
力に抗して開けられるようになつていて、前記ば
ねは、あごが閉じた時に、前記装置の測定接触面
と、使用している温度測定装置の対応的な接触面
との間に、ある種の最小の接触圧力をつくり出す
ようになつていることが好ましいとわかつてい
る。
前記やつとこ状構造はハウジング状のケーシン
グを含み、前記ケーシングは前記電源、例えばバ
ツテリーと、得られた測定値を変換するための、
外部読取り窓を有した前記デイスプレーユニツト
を組込んだ、前記装置とを収納しており、前記ケ
ーシングは1つのあごを形成し、一方、他のあご
はケーシング内にばねを取付けた握り部分によつ
て形成されている。
第1図には、本発明に関連して使用することの
できる温度測定装置が示されている。しかしなが
ら、第2図には好ましい温度測定装置が示されて
いて、従つてこれの方を先に説明する。
前記装置は、例えばサーミスターでできたセン
サー1を含む。このサーミスターは、温度ととも
に電気抵抗が変化する内部のセラミツク材料2で
できている。前記サーミスターの下側には、例え
ば薄い銀の層でできた、2つの接点3,4が設け
られている。同様に、サーミスターの上側にはト
リミングされるようになつた銀の接点5が設けら
れている。このトリミングは、小さな領域6を機
械的処理、例えば、シヨツトピーニングによつ
て、あるいはレーザー光線の助を借りて、前記接
点から除去するようなやり方で行なわれる。
前記サーミスターは支持体7の上に配設され、
前記支持体は外側に金属被覆9,10を有した内
部プラスチツク材料8でできている。これらの金
属被覆は、例えば、銅でできていてもよい。前記
支持体7の前端、即ち、センサーの設けられてい
る端部においては、前記支持体ははんだ付け11
によつて短絡されており、金属被覆9が上部の層
10の一部分10′と接触されている。上部金属
被覆10の前記一部分10′は、切断部分12に
よつて残りの金属被覆部分から分離されており、
前記切断部分は2つの前記接点3と4とを互いに
他と電気的に隔離させている。
上述したサーミスター1を設けた前記支持体7
はさらに、幾分巾の広い細片13上に配置され
る。この細片13は、外側のプラスチツク被覆1
5,16を有した内部の厚紙材料でできていても
よい。前記支持体7は、サーミスター1が支持体
7をのせている幾分巾の広い細片13の表面17
の内部に完全に位置するように、配置されてい
る。他方、前記支持体の他端は、幾分巾の広い細
片13より先へ突出するように配置されている。
このことの裏の意味は、第2図の右側に示された
全体構造の内の一部分が絶縁性のプラスチツク被
覆の中へ浸けることができるようになつていて、
従つてサーミスター1と、結合接点3,4と、5
とは、導電層9,10の少なくとも最も近接した
部分と一緒になつて、幾分巾広い細片13の対応
的な端部とともにぴつたりと包み込むことができ
るようにすることにある。この前記プラスチツク
被覆は透明材料の助けを借りて、比較的薄く製作
することができ、従つて第2図には示していな
い。この構造物を使用するまで完全に包装してお
くための無菌パツケージもまた図示していない。
第1図に関する測定装置は原理的には第2図の
それと対応している。従つて、同一の参考数字を
用いたが、小文字記号aを付加してある。主な相
違点は、2つの電気的な導電層9aと10aと
が、同一の支持プラスチツク層8aの一方の同一
側部に配置されていることである。さらに、この
構造においては、第2図の構造には存在した、厚
紙でできたプラスチツク被覆の支持板13がなく
なつている。
第3図ないし第12図において、本発明に関す
る装置の第1の実施例が示されている。この第1
実施例は主として、支持板8aの一方の同一側部
に配置された接点9a,10aを有した第1図の
温度測定装置のたのものである。
図示した構造物は第4図ないし第7図に示した
第1のやつとこ半体18と、第8図ないし第10
図に示した第2のやつとこ半体19とを含む。さ
らに、第11図および第12図に示したふた20
も含まれる。
この2つのやつとこ半体は軸21によつて互い
に他の上に取付けられ、通常はばね22によつて
開位置に保持されている。従つて前記やつとこは
このばねの力に打ちかつて閉じられる。前記やつ
とこ半体18の前端、即ち、下側のあご23に
は、ほぼV字形の溝24が設けられている。同じ
様に、他のやつとこ半体19の前端、即ち、上側
のあご25には、対応的な突出部26が設けられ
ている。このV字形溝とこの突出部とは、それぞ
れ図面においては、一定の断面積を有しているよ
うに示されている。しかしながら、実際には、そ
れらはあごの内側に近づくにつれてその断面積が
減少するような適当な形状になつており、従つて
それらは測定装置7aの接点9a,10aを案内
して、やつとこのあごの対応的な内側接触表面と
より一層の固定的な接触をして使用することがで
きる。この後者の接触表面については、例えば、
第25図および第26図を参照して、もつと詳細
に説明する。残りのものに関しては、第3図ない
し第12図で十分明らかになつており、これ以上
の詳細な説明は必要ではない。
第13図は設計の観点から好ましい本発明の実
施例を示している。設計の観点から好ましいこの
実施例が実際にはどのようにして製作されるか
は、第14図ないし第22図から明らかになるは
ずであり、これは類似の技術的構造を示している
が、しかし幾らかは修正された形状になつてい
る。
第13図ないし第20図に関する構造は、本質
的な部分においては、第3図ないし第12図に関
する構造に対応している。従つて、同一の参考数
字を用いているが、第13図には小文字記号b
を、第14図ないし第22図には小字文記号cを
付加してある。
第13図に関する構造は正方形状のケーシング
18bを含み、この一端はふた20bによつて閉
じられている。前記ケーシング18bの前端には
握り部分19bが取付けられている。さらに前記
ケーシング18bは読み取り窓27bを有し、こ
れは装置の内部に存在するデイスプレー装置の部
分を形成する。さらに、前記ケーシングは電気ス
イツチ28bを含み、このスイツチは温度を読取
りたい時に操作するものである。29bには電気
的接続部が示されており、これは装置の内部に配
置されたバツテリーを再充電するためのものであ
る。
第14図ないし第22図に関する構造もまた、
ほぼ正方形のケーシング18cと握り部分19c
とを含む。さらに、ふた20cも存在する。
第14図ないし第22図に関する構造は、主と
して第2図に関する測定装置とともに用いるよう
になつている。従つて、第3図ないし第12図に
関する装置と同じ様な、測定装置の案内は必要と
しない。従つて、ここではV字形溝24とV字形
突出部26とに対応する部品は存在しない。接点
の形状は第23図および第24図を参照しながら
以下もつと詳細に説明する。
握り部分19cは軸(図示せず)によつてケー
シング18cの中に取付けられ、この軸はそれぞ
れ穴21c′および21c″の中へ導き込まれるよう
になつている。さらに、この構造には、第3図に
関する構造におけるばね22に対応するばね(図
示せず)が設けられるようになつている。しかし
ながら、このばねは、通常時2つのあご23cと
25cとを互いに他に密接させて保持するよう
に、適当に配置される。従つてやつとこの開口は
ばねの力に対抗しなければならなくなつている。
従つて、用いている測定装置の接触面上に、ある
値の郭定された圧力をつくり出すのは、このばね
の力である。
第23図および第24図においては、第13図
に関する構造のために適した形状の接点が示され
ている。従つて、小文字記号bを付けた参考数字
が用いられている。しかしながら、これと同じ構
造はまた、第14図ないし第22図の実施例の中
で用いてもよい。
線30bは上部あご23bあるいは下部あご2
5bのいずれかのための外部輪郭を示している。
数字31bは下部あごの接触面の輪郭を示してお
り、一方、32bは上部あごの対応的な接触面を
示している。
第24図に示したようなそれぞれの接触面は、
それぞれ上部あご23b、下部あご25b内の溝
35b,36bにおいてれぞれ配置された細片3
3b,34bからなる。
さらに、上部あごの内側の下部あごにおいて、
別のU字形の細片を取付けることもまた考えられ
る。またこの設計は逆にしてもよく、従つて2つ
の細片が上部あごの中に配置され、下部あごにお
ける細片がちようどその中間に入るようにするこ
とができる。
前記細片は、良好な電気的接触をするような、
非酸化性の材料、例えば、銅で作る必要がある。
従つて、例えば、外層としては銀あるいは金を用
いることがある。さらに、回路内では無意識での
短絡が生じないという認識をすることが重要であ
る。
第25図には、第3図ないし第12図の実施例
における下部あご23にほぼ対応した下部あごに
おいて、いかにして2つの電気的導体31′を2
つの溝36′の中へ配置することができるかが示
されている。
第26図には、第3図ないし第12図に示した
本発明の実施例に適した、別の接点装置が示され
ている。ここでは下部あごは23″で示され、上
部あごは25″で示されている。さらに、下部あ
ごにおける電気接点は31″で、また上部あごに
おける電気接点は32″で示されている。接触板
38″と39″のおかげで、ここでは接点31″の
みを構造内に含まれる作動回路に対して結合させ
るだけで十分である。このことにもかかわらず、
第1図に示した測定装置はその頂部側を上方向あ
るいは下方向のいずれかへ転回させながら、あご
23″と25″との間へ導き入れることができる。
もし、第3図ないし第12図の構造を、1つの
あごにおける接点のみとともに用いたい場合に
は、第1図の測定装置は第27図および第28図
に示したように修正することができる。第27図
の構造においては、全体的な測定装置7dはサー
ミスター1dとは反対側の端部において折りたた
まれ、従つて導電体9a,10aに対応する導電
体9d,10dは測定装置の両側に存在すること
になる。
第28図の構造においては、導電体9e,10
eに代えられ、これらは測定装置7eのサーミス
ター1eとは反対側の端部のエツヂの周りで折り
曲げられる。
第29図ないし第32図には、別の接点装置が
概略図的に示されている。第29図および第31
図は第26図に最も密接に対応している。同様
に、第30図の構造は、第23図ないし第24図
の接点装置にほぼ対応する。第32図は、1つの
あごに2つの接点を設け、他のあごにはより巾の
広い接点を設けることもできることを示してい
る。
第33図、第34図には、どのようにして内部
電気的装置を配置して、ボード40′および4
0″の上でそれぞれ容易に交換できるようにする
かが概略的に示されている。数字41′,41″;
42′,42″;および43′,43″は、それぞ
れ、例えば、マイクロプロセツサー、トランジス
タ、および抵抗のような部品を表わしている。ボ
ード40′は、ばね状の滑り接点44′を介して接
点31a′および32a′に電気的に接続されてい
る。これと同様に、ボード40″は接続ケーブル
44″を介して接点32a″および31a″に接続さ
れており、このことは、前記電気的部品は、接点
31a″および32a″との接触をなくしてしまうこ
となしに、ケーシングの外へ取出すことができる
ことを意味している。
最後に、第35図においては、電気系統の簡単
な結線図が全体的に示されている。
数字1fは測定装置の部品を形成するサーミス
ターを示す。31fと32fとは測定装置上の接
触面を示しており、これはそれぞれのやつとこの
あごにおける対応的な接触面と同様に用いられ
る。数字45は、温度の変化に応じて変化する抵
抗を測定するために、サーミスター1fを流れる
微少電流を伝達する調整、供給要素を示してい
る。得られた値はプロセツサ46への信号という
形に調整され、このプロセツサは小さなマイクロ
コンピユータを構成するといつてもよい。前記マ
イクロコンピユータは異なつたプログラム、例え
ば、摂氏あるいは華氏で測定するようなプログラ
ムに対して処理できるような、計時要素および計
算要素を含む。正しいプログラムは制御ユニツト
47によつて選択される。数字48は読み取りが
必要な時に操作される操作ボタンを示す。最終的
に得られた数値はデイスプレーユニツト49上に
示される。必要なエネルギ源、例えば、バツテリ
は、例えば、部品45の中に含めてもよい。ある
いは、それは分離的に配置して、適当な方法で残
りの系統部品に結合させてもよい。
前記構成要素45ないし49は、広範な制限範
囲の中で、その構造および機能を変更してもよ
い。従つてこれらの部品についてもつと詳細に説
明することは必要ないと思われる。当業界におい
て、本発明を追求したいと思う者は、単にそのよ
うな部品の供給者に対する願望を詳細仕様にする
だけでよく、前記供給者は仕様に応じて部品を製
作することができる。
当然、本発明はここで記述したものだけに限ら
れるものではなく、添付した特許請求の範囲内に
おいて変更が可能である。例えば、サーミスタ1
あるいは1aの代わりに、温度に応じて起電力の
変化する熱電対を用いてもよい。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の装置とともに使用するのに適
した温度測定装置の第1の例、第2図は本発明の
装置とともに使用するのに適した温度測定装置の
第2の例、第3図は特に第1図の温度測定装置と
ともに利用できるようになつた本発明に関する装
置、第4図ないし第7図は第3図における装置の
構成部品を互いに他に対して直角にみた4つの
図、第8図ないし第10図は同様に第3図におけ
る装置の第2の構成部品を互いに他に対して直角
にみた3つの図、第11図および第12図は同様
に第3図における装置の第3の構成部品を互いに
他に対して直角にみた2つの図、第13図は第2
図の温度測定装置とともに利用できるようになつ
た、本発明に関する装置の好ましい実施例、第1
4図ないし第17図は、外形については殆んど変
更のない、第13図に示したケーシングにほぼ対
応したケーシングの、部分断面的な、互いに他に
対して直角な3つの図、第18図ないし第20図
は第14図ないし第17図に示したケーシングに
適用される握り部分の、互いに他に対して直角に
みた3つの図、第21図および第22図は同様に
第14図ないし第17図のケーシングに適用され
るふたの、互いに他に対して直角にみた2つの
図、第23図および第24図は第13図に示した
構造におけるあごに適した接点の概略的な形状、
第25図および第26図は第3図ないし第12図
に示した構造に対してより適した他の接点の形
状、第27図および第28図は特に第1図に示し
た測定装置に対する1対の簡単な別の例、第29
図ないし第32図は4つの異なつた他の接点の概
略図、第33図および第34図は本発明のやつと
こ状構造のケーシングにおいて容易に交換可能に
なるように、異なつた電気的要素をどのようにし
て配置することができるかを示した概略図、第3
5図は電気装置のための概略的な結線図を示す。 図において、1……温度感知センサー、7,7
a……温度測定装置、8……支持体、9,10…
…導電層、18……ケーシング、23,25……
あご、24……V字溝、26……V字突出部分、
31,32……測定接触面、45……電源、46
〜48……変換装置、49……デイスプレーユニ
ツト。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 温度測定装置7を把持しかつこの測定装置で
    得られた測定値を表示するためのやつとこ状の装
    置であつて、前記温度測定装置は、電気的特性、
    例えば抵抗が温度とともに変化するような温度感
    知センサー1、例えば、サーミスターを含み、か
    つ前記センサーは2つの接点3,4を介して2つ
    の導電層9,10に結合され、前記導電体は前記
    センサー1と反対側の2つの第1接触面で終端し
    ており、把持装置はやつとこ状の装置のあごの1
    つ以上の内側に配置された少なくとも2つの第2
    接触面31b,32b;31′,31′;31″,
    31″;32″,32″;31a′,32a′;31
    a″,32a″を有し、かつ第2接触面はあごが閉じ
    られた時に前記第1接触面に結合され得るやつと
    こ状の装置において、これらの第2接触面31,
    32は回路の一部分を構成し、前記回路はさらに
    電源45と、デイスプレーユニツト49と、回路
    をやつとこ状の装置で閉じて温度測定装置7を適
    当に把持する時に得られた測定値を前記デイスプ
    レーユニツト49上に表示し得る値に変換するた
    めの装置と45,46,47,48とを前記やつ
    とこ状の装置内に含むことを特徴とするやつとこ
    状の装置。 2 支持体8aの一方の同じ側部に配置された前
    記導電体9a,10aを有する温度測定装置のた
    めの特許請求の範囲第1項に記載の装置におい
    て、やつとこ状構造の各あご23,25がその内
    側に2つの前記第2接触面(例えば、31′)を
    設けて前記導電体9a,10a上のそれぞれの第
    1接触面と接触し、これらの第2接触面は、前記
    温度測定装置7aをいずれかの側を上にして導き
    入れることができるように、各々のあごからの1
    つの表面と、2つと2つの表面とが適当に結合さ
    れるようになつていることを特徴とする装置。 3 ストリツプ状支持体8の両側に配置された前
    記導電体9,10を有する温度測定装置のための
    特許請求の範囲第1項に記載の装置において、や
    つとこ状装置の各あご(例えば23b,25b)
    がその内側に1つの第2接触面を設けていること
    を特徴とする装置。 4 特許請求の範囲第1項に記載の装置におい
    て、前記温度測定装置(例えば、7a)およびそ
    の第1接触面を案内して前記第2接触面(例え
    ば、31′)に接触させる装置(例えば24,2
    6)を有することを特徴とする装置。 5 特許請求の範囲第4項に記載の装置におい
    て、前記温度測定装置7a″およびその接触面を案
    内する前記装置は、一方のあご23の内側のほぼ
    V字形の溝24と、他方のあご24の内側の対応
    的する突出部分26とによつて構成されているこ
    とを特徴とする装置。 6 特許請求の範囲第5項に記載の装置におい
    て、前記V字形の溝24とそれに対応する前記突
    出部分26との断面積は、あごの内側へ進むに従
    つて減少し、かつその最も遠いところにおいて温
    度測定装置7aの巾に対応していることを特徴と
    する装置。 7 特許請求の範囲第1項に記載の装置におい
    て、前記あごは、前記あごが温度測定装置および
    その接触面を取囲む時に必要な結合圧力をつくり
    出すようになつているばねの力に対抗して、開か
    れるようになつていることを特徴とする装置。 8 特許請求の範囲第1項から第7項のいずれか
    1つに記載の装置において、前記やつとこ状装置
    はハウジング状のケーシング(例えば、18b)
    を含み、前記ケーシングは前記電源45、例えば
    バツテリーと、外部読取り窓(例えば、27bを
    有する前記デイスプレーユニツト49と一緒に得
    られた測定値を変換する前記装置46ないし48
    とを収納しており、前記ケーシング18は一方の
    あご23bを形成し、他方のあごはケーシング内
    にばねを取付けた握り部分19bによつて形成さ
    れていることを特徴とする装置。
JP8434879A 1978-07-03 1979-07-03 Device for holding and reading temperature measuring device Granted JPS5554422A (en)

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PCT/SE1978/000013 WO1980000192A1 (en) 1978-07-03 1978-07-03 A device for the gripping of a temperature measuring device and for the reading of measuring values obtained with the device

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JPS5554422A JPS5554422A (en) 1980-04-21
JPS6136608B2 true JPS6136608B2 (ja) 1986-08-19

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ID=20333565

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JP8434879A Granted JPS5554422A (en) 1978-07-03 1979-07-03 Device for holding and reading temperature measuring device

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EP (1) EP0016752B1 (ja)
JP (1) JPS5554422A (ja)
AU (1) AU527090B2 (ja)
BE (1) BE876695A (ja)
CA (1) CA1134646A (ja)
DD (1) DD144688A5 (ja)
DE (1) DE2862326D1 (ja)
DK (1) DK156329C (ja)
ES (1) ES481756A1 (ja)
FI (1) FI69705C (ja)
IE (1) IE47978B1 (ja)
IT (1) IT1202937B (ja)
NL (1) NL7905173A (ja)
NO (1) NO151059C (ja)
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ES481756A1 (es) 1980-02-16
FI69705B (fi) 1985-11-29
FI792033A (fi) 1980-01-04
IE47978B1 (en) 1984-08-08
FI69705C (fi) 1986-03-10
DK156329C (da) 1989-12-27
EP0016752B1 (en) 1983-10-05
IT1202937B (it) 1989-02-15
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DK156329B (da) 1989-08-07
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NL7905173A (nl) 1980-01-07
NO151059C (no) 1985-01-30
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PL216794A1 (ja) 1980-04-08

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