JPS6135304A - 圧延された金属薄板または金属薄板帯状体の厚み測定装置 - Google Patents

圧延された金属薄板または金属薄板帯状体の厚み測定装置

Info

Publication number
JPS6135304A
JPS6135304A JP15034885A JP15034885A JPS6135304A JP S6135304 A JPS6135304 A JP S6135304A JP 15034885 A JP15034885 A JP 15034885A JP 15034885 A JP15034885 A JP 15034885A JP S6135304 A JPS6135304 A JP S6135304A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
slit diaphragm
slit
ray receiver
ray tube
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP15034885A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0629722B2 (ja
Inventor
ヘルマン‐ヨーゼフ・コピネク
ヴオルフガング・ベツチヤー
エドヴアルト・アントプザト
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hoesch Werke AG
Original Assignee
Hoesch Werke AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hoesch Werke AG filed Critical Hoesch Werke AG
Publication of JPS6135304A publication Critical patent/JPS6135304A/ja
Publication of JPH0629722B2 publication Critical patent/JPH0629722B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • G01B15/04Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring contours or curvatures
    • G01B15/045Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring contours or curvatures by measuring absorption
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • G01B15/02Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
    • G01B15/025Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness by measuring absorption

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、X線管を有し、X線管の前方に設けられてい
る、動くスリット絞りを有し、スリット絞りから、距離
をおいて線に治って固定配置され、かつX線に配向され
たX線受信器を有し、その際、X線管ないし、スリット
絞りと、X線受信器との間のX線を横切って、測定しよ
うとする金属薄板または、金属薄板帯状体が移動するよ
うになっており、固定されたX線受信器のラインKGつ
て金属薄板または金属薄板帯状体の幅が延在しており、
かつX線の吸収量を測定し、金属薄板または金属薄板帯
状体の厚みおよび、金属薄板又は、金属薄板帯状体の幅
にわたって分布される測定点もしくは測定領域へ対応さ
せるための処理装置が、Xa受信器および距離発生器に
接続されており、該処理装置は、指示器に接続されてい
る圧延された、金属薄板または金属薄板帯状体の厚みを
測定する装置に関する。
従来技術及び発明が解決しようとする問題点厚み測定装
置は、ドイツ連邦共和国特許出願公開第314074号
公報から公知である。
この公知の測定装置は、かなり不正確な測定しか実施で
きないという難点をもつ。測定されない領域を持たない
狭い領域に、測定すべき金属薄板帯状体を区分すること
は、受信器の大きさから不可能である。もう1つの難点
は、使用するX線受信器の数が多いので、装置が複雑に
なり、高価になることである。米国特許第386604
7号明細書から、幅広X線受信器と可動のスリット絞り
で作動するため、上述の難点を克服する装置が、公知で
ある。
この装置の難点は、次の点にある。すなわち、スリット
絞りを金属薄板の測定のために使用する時、高いX線エ
ネルギーが必要なので、スリット絞りは、遮蔽機能のた
めに大きな質量を有していなければならない。そのため
、スリット絞りは非常に緩慢に振動をしながらしか動け
ないので、−秒当りの測定数が小であるという欠点を有
する。上述の重量が、大であることが、全架台上での振
動運動の原因にもなっている。
上述のことにより、特にX線源とX線受信器の間の、距
離が遠い時、測定領域が狭いため良好な測定が不可能で
ある。
上述の装置は、−秒ごとの測定数が少なので、速く走行
する圧延作業を監視するのに適しない。
圧延作業、特に幅広の圧延作業への使用のために、他に
X線とX線受信器との間に非常に広い自由な空間があっ
て、その空間を経て測定すべき金属薄板帯状体を通す必
要がある。ロールガング上を、特に金属薄板帯状体の始
端が、しばしば測定装置を打つので、ロールガングから
2000m以上上の空間がない場合、金属薄板帯状体が
、測定装置を破壊してしまうことがある。
問題を解決するための手段 本発明によれば、上述の難点を回避するために、スリッ
ト絞りが、X線管のX線を放射する部分の周りに円形に
、取巻くように構成され、かつ回転可能に設けられ、1
つの駆動装置によって、駆動されるようにする。
実施例 次に本発明の実施例を図面を用いて詳しく説明する。
X線管11をスリット絞り12が環状に取囲んでいる。
スリット絞りには、3つのローラ28.2Q 、30が
設けられている。このローラのうちの1つは、回転数が
、非常に正確に調整されているモーターによって駆動さ
れる。
回転数は、均一であってもよい。しかし、回転速度が変
化していてもよい、たとえば、変化する帯状体速度と連
動するようにしてもよい。
スリット絞り12において、このスリット絞りが、相当
大きな回転数を有する場合、1つのスリット13のみが
あればよい。
スリット絞り12において、スリットが1つ以上あれば
、回転数はそれに相応して低く選ぶことができる。
スIJ ット13の数は、一方のエツジにある新しいX
線が、そのエツジを去ってからすぐに、もう一方のエツ
ジで、X線受信器にはいる程度に存在すれば十分である
、第1図では、測定しようとする金属薄板帯状体の下方
に、10個のX線受信器14〜23が設けられている。
このX線受信器用に、たとえばほぼ36°の角度をなす
X線円錐が必要である。
スリット絞り12に対応するほぼ36°の角度のセグメ
ント上に、最高10個のスリットを設けてもよい。
X線受信器のラインの最初に、補助検出器25が、取付
けられている。スリット絞り12のところに示す矢印2
6は、スリット絞りの回転方向を示す。
スリット13のX線は、まず補助検出器25に当たる。
この検出器の出力信号により断続器42がスタートさせ
られる。
断続器42は、X線受信器14〜23から出るすべての
測定信号を時間間隔にて区分して、金属薄板帯状体24
上の測定領域の幅を掃引するために、X線が必要とする
だけ持続するようにする。X線受信器の幅は複数の測定
領域の幅に相当する。
第2図に示すX線受信器14は、破線で示された31〜
35の5つの測定領域を有する。X線受信器14に隣接
しているX線受信器15は、測定領域36〜3゛9を有
している。第2図では、スリット絞り12のスリットを
通過したX線40は、丁度測定領域32に達しており、
スリット絞り12の次のスリットは、X1lii41を
次のX線受信器15の測定領域37に貫通させる。第1
図では、少数のスリットだけ示されている。
第2図のX線40と41によって示されているように、
X線が、非常に密に続いて到達するようにしようとする
場合、さらに多くのスリットを設けなければならない。
スリット絞り12が、矢印26に示すように回転する場
合X線40は、X線受信器14の測定領域をX線受信器
15の方向で掃引移動する。
X線40は、まず補助検出器25に当たり、この補助検
出器の出力は、電流インパルスを断続器に送出する。
この電流インパルスにより、断続器42が、作動を開始
させられる。X線40が、測定領域31を掃引する場合
、金属薄板帯状体24の通過する厚さに応じてX線は減
衰される。
X線受信器14VCおいて、X線40の強度に依存する
電流が発生する。この電流は、増幅器43と、断続器4
2を介して距離発生器44に流れる。距離発生器44の
出力は処理装置45に供給され、ここで電流は、金属薄
板帯状体24の厚さに相応する測定量に処理される。こ
の測定量は、指示器46にさらに供給される。指示器に
付加的に、たとえば圧延工程を補正するためにもう1つ
の装置が接続されている。
断続器42は、すべてのX線受信器から到来する電流を
短い時間で遮断する。
遮断の頻度は、スリット13の数とスリット120回転
数に合わせて時間的に調節されている。距離発生器44
において、断続器の電流遮断数は、補助検出器25の作
動を開始してから計数される。断続器42が2回遮断す
る間の持続時間は、X線40が、たとえば測定領域31
を掃引するのに必要とする持続時間に相応する。
増幅器43は、他のX線受信器に後置接続されている他
の増幅器の識別信号とは異なる、識別信号を、出力電流
に重畳する。距離発生器44は、この識別信号から、測
定量が、どのX線受信器からのかを識別し、そして断続
器42の遮断の計数値から、X線が当該X線受信器のど
の領域にあるのかを識別する。
距離発生器44は、処理装置45にそれぞれの測定領域
に対応する信号と一緒に測定量を供給する。この処理装
置は実質的には公知のように、受信されたX線の測定強
度から、金属薄板帯状体24の厚さを計算するようにプ
ログラミングされたコンピュータである。その際、妨害
の影響も、同時に補正される。たとえば、X線窓の幅に
わたってX線管11のX線の強度分布が均一でないこと
を考慮し、補正する。他にたとえば金属薄板帯状体24
の中心にあるX線受信器と、端部にあるX線受信器との
間にあるX線受信器におけるX線路の長さの差、および
入射角度の差、又はX線受信器の幅にわたっての感度の
差が補正される。各々の測定領域の値は指示器46に供
給され、指示器46の指示画像スクリーンは、測定領域
と同じ数に分割されている。測定領域3]〜39のいず
れも、指示器46の画像スクリーン上に狭幅のストライ
プにて位置的にも形状的にも対応している。このストラ
イプは、破線で示されている。金属薄板帯状体24の厚
さの値は、デジタルで示されるが、画像スクリーン上に
点(ドツト)として示すこともできる。その際点(ドツ
ト)の位置の高さは厚さの値に対応する。点は、また曲
線に結んでもよい。任意の他の指示器を接続することも
できる。
により遮断される。すると、短い休止期間が、新たなX
線が補助検出器25にあたるまで生ずる。
スリット絞り12と断続器42との間の同期は、精密な
回転数測定器をスリット絞り12に取り付け、その回転
数測定器を、断続器の周波数発生器と結合することによ
り可能である。断続器は、トリガパルス発生器として構
成してもよい。
X線受信器として、たとえば公知のように、光電子増倍
管および増幅器または計数装置が、後置接続されている
プラスチック−シンチレータが適する。
スリット絞り12は、第3図で示されているように2つ
の同心の環から成っており、2つの環は、たとえば幅4
7と48に接続されている。
また環を2個以上使用してもよい。
測定の高い分解能のため、測定値から金属薄板帯状体の
エツジの位置、ひいてはその幅を簡単に検出することが
できる。本発明は上述の実施例に限定されず、本発明の
思想を逸脱することなく種々の変形実施例が可能である
発明の効果 本発明による圧延作業やロールガングを使用するための
測定装置は、−秒当り測定数が非常に犬であり測定精度
が極めて大きく、幅広の金属薄板帯状体を効果的に測定
することができる。
またスリット絞りとX線受信器との間の距離は、安全の
理由から非常に大きくとれると云う利点もある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、X線管とスリット絞りとX線受信器とを有す
装置の概略図である。第2図は、X線受信器に後置され
た装置の概略図である。第3図は、2つの環から形成さ
れているスリット絞りの略図である。 11・・・X線管、12・・・スリット絞り、14〜2
3・・・X線受信器、24・・・金属へ帯状牛、25・
・・補助検出器、44・・・距離発生器、45・・・処
理装置、46・・・指示器

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、X線管(11)を有し、X線管の前方に設けられて
    いる、動くスリット絞り(12)を有し、スリット絞り
    から距離をおいてラインに沿って固定配設され、かつX
    線に配向された、X線受信器(14〜23)を有し、X
    線管(11)ないし、スリット絞り(12)と、X線受
    信器(14〜23)との間のX線を横切って測定しよう
    とする金属薄板または金属薄板帯状体(24)が移動す
    るようになっており、固定されたX線受信器(14〜2
    3)のラインに沿って金属薄板または金属薄板帯状体の
    幅が延在しており、X線の吸収量を測定しかつ、金属薄
    板または、金属薄板帯状体の厚みおよび金属薄板又は金
    属薄板帯状体の幅にわたって分布され測定点もしくは測
    定領域へ対応させるための処理装置(45)が、X線受
    信器および距離発生器(44)に接続されており、該処
    理装置は、指示器(46)に接続されている圧延された
    金属薄板または金属薄板帯状体の厚みを測定する装置に
    おいて、スリット絞り(12)が、X線管(11)のX
    線を放射する部分の周りを円形に、取巻くように構成さ
    れかつ回転可能に設けられており駆動装置によって、駆
    動されることを特徴とする、圧延された金属薄板または
    、金属薄板帯状体の厚みを測定する装置。 2、スリット絞り(12)が、1個以上のスリットを有
    する、特許請求の範囲第1項記載の装置。 3、スリット絞り(12)とX線受信器(14〜23)
    との間の距離が1500mmより大であり、スリット絞
    り(12)を有するX線管(11)と、X線受信器(1
    4〜23)が、別個の架台に設けられており、一方距離
    発生器(44)用の補正手段が設けられており、スリッ
    ト絞り(12)およびX線受信器(14〜23)の取付
    点の位置のわずかなずれが、その補正手段により考慮さ
    れる、特許請求の範囲第1項または第2項記載の装置。 4、距離発生器(44)が、X線受信器(14〜23)
    を有する架台に設けられており、測定領域の端に、補助
    検出器(25)が設けられており、この補助検出器は、
    X線がはいると、断続器(42)の作動を開始するか又
    は停止し、その際、断続器(42)は、X線受信器(1
    4〜23)と、処理装置(45)の間に設けられており
    、断続器の遮断頻度は、スリット絞り(12)の回転数
    に、時間的に同調されている、特許請求の範囲第1項〜
    第3項のいずれかの項に記載の装置。 5、処理装置(45)に、吸収測定値に対する誤差補正
    装置が設けられ、この誤差補正装置において、X線ウイ
    ンドウの幅にわたってX線管(11)のX線の強度が一
    様でないこと、または、X線受信器までのX線行程路長
    さの相異またはX線受信器に入射するX線の角度の相異
    を考慮して補正が行なわれる、特許請求の範囲第1項〜
    第4項のいずれかの項に記載の装置。 6、スリット絞り(12)が、複数の環からなっており
    、その環は、同心にそれぞれ距離を置いて設置され、輻
    またはリブもしくは金属の薄板によってお互いに連結さ
    れている、特許請求の範囲第1項〜第5項のいずれかの
    項に記載の装置。
JP60150348A 1984-07-10 1985-07-10 圧延された金属薄板または金属薄板帯状体の厚み測定装置 Expired - Lifetime JPH0629722B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE3425295A DE3425295C2 (de) 1984-07-10 1984-07-10 Vorrichtung zur Messung des Dickenprofils von gewalzten Blechbändern
DE3425295.9 1984-07-10

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6135304A true JPS6135304A (ja) 1986-02-19
JPH0629722B2 JPH0629722B2 (ja) 1994-04-20

Family

ID=6240224

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60150348A Expired - Lifetime JPH0629722B2 (ja) 1984-07-10 1985-07-10 圧延された金属薄板または金属薄板帯状体の厚み測定装置

Country Status (5)

Country Link
EP (1) EP0170778B1 (ja)
JP (1) JPH0629722B2 (ja)
AT (1) ATE35186T1 (ja)
CA (1) CA1256219A (ja)
DE (2) DE3425295C2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0288952A (ja) * 1988-07-29 1990-03-29 Hoesch Stahl Ag 組織を分析する方法および装置
JP2011112482A (ja) * 2009-11-26 2011-06-09 Yokogawa Electric Corp X線測定装置

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3530109A1 (de) * 1985-08-23 1987-03-05 Hoesch Stahl Ag Vorrichtung zur messung des dickenprofils von gewalzten baendern
US5351203A (en) * 1992-08-03 1994-09-27 Bethlehem Steel Corporation Online tomographic gauging of sheet metal
DE19540182A1 (de) * 1995-10-27 1997-04-30 Meselektronik Dresden Gmbh I G Vorrichtung und Meßverfahren zur Bestimmung des Absorptions- und/oder Streuungsgrades eines Mediums
CA3038417A1 (en) * 2016-09-29 2018-04-05 Marel Iceland Ehf. A method of generating a three dimensional surface profile of a food object

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4846382A (ja) * 1971-10-14 1973-07-02
JPS5999210A (ja) * 1982-11-30 1984-06-07 Toshiba Corp 放射線厚さ計

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR1234209A (fr) * 1959-05-12 1960-10-14 Perfectionnements aux installations radioscopiques et radiographiques à télévision
US3866047A (en) * 1968-08-23 1975-02-11 Emi Ltd Penetrating radiation examining apparatus having a scanning collimator
US3718817A (en) * 1970-11-27 1973-02-27 V Afanasiev Device for determining the level and surface profile of materials utilizing hard radiation
US4342914A (en) * 1980-09-29 1982-08-03 American Science And Engineering, Inc. Flying spot scanner having arbitrarily shaped field size
DE3140714A1 (de) * 1981-10-14 1983-04-28 Paul Ing.(Grad.) Flormann Vorrichtung zur dickenmessung von flachprofilen

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4846382A (ja) * 1971-10-14 1973-07-02
JPS5999210A (ja) * 1982-11-30 1984-06-07 Toshiba Corp 放射線厚さ計

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0288952A (ja) * 1988-07-29 1990-03-29 Hoesch Stahl Ag 組織を分析する方法および装置
JP2011112482A (ja) * 2009-11-26 2011-06-09 Yokogawa Electric Corp X線測定装置
US8488744B2 (en) 2009-11-26 2013-07-16 Yokogawa Electric Corporation X-ray measurement apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
CA1256219A (en) 1989-06-20
ATE35186T1 (de) 1988-07-15
DE3425295C2 (de) 1986-07-24
DE3425295A1 (de) 1986-03-20
EP0170778A1 (de) 1986-02-12
JPH0629722B2 (ja) 1994-04-20
DE3563387D1 (en) 1988-07-21
EP0170778B1 (de) 1988-06-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4150293A (en) Tomographic apparatus for producing transverse layer images
EP0220264B1 (en) A method relating to three dimensional measurement of objects
US4633420A (en) Profile measurement apparatus using radiation
EP0089096B1 (en) Computed tomography apparatus with detector sensitivity correction
US3936638A (en) Radiology
US4114041A (en) Radiography
JPS6135304A (ja) 圧延された金属薄板または金属薄板帯状体の厚み測定装置
JPH0423230B2 (ja)
US4592080A (en) Computer tomograph
JPH0311646B2 (ja)
US4759046A (en) Apparatus for measuring the thickness profile of rolled strips
US4292524A (en) Examining device for determining local absorption values in a slice of a body
US11215718B2 (en) System and method for sampling frequency adjustment for radiation imaging system
JPS60230009A (ja) 放射線厚さ計
JPH06148337A (ja) 放射能汚染モニタ校正方法及びこれに用いる線源固定治具
JP3103399B2 (ja) 箔厚み連続測定装置
GB872464A (en) Apparatus for measuring the thickness of a coating on a base material
Collett et al. Two‐dimensional photon counter for x‐ray imaging
JPS58707A (ja) 板材の断面板厚形状測定装置
Smith et al. Improved methods for obtaining high background rejection in proportional counters using guard cathodes
JPS60230008A (ja) 放射線厚さ計
SU1047282A1 (ru) Устройство дл измерени зазоров (его варианты)
JPS6459044A (en) X-ray analyzer
JPH0743642Y2 (ja) X線回折装置
Fairbairn Improvements in or relating to radiography