JPH06148337A - 放射能汚染モニタ校正方法及びこれに用いる線源固定治具 - Google Patents
放射能汚染モニタ校正方法及びこれに用いる線源固定治具Info
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- JPH06148337A JPH06148337A JP30070192A JP30070192A JPH06148337A JP H06148337 A JPH06148337 A JP H06148337A JP 30070192 A JP30070192 A JP 30070192A JP 30070192 A JP30070192 A JP 30070192A JP H06148337 A JPH06148337 A JP H06148337A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明は、短時間で操作ミス等を生ぜずに正確
な校正定数を求める。 【構成】放射能汚染モニタの測定エリアに、各放射線検
出器(1-1〜1-8)と対向する位置に各放射線源(22-1 〜22
-8) を設けた線源固定治具(20)を配置し、第１校正工程
においてβ線遮蔽板(23)を取り付けた状態での各放射線
検出器(1-1〜1-8)の計数値を求め、第２校正工程におい
てβ線遮蔽板(23)を取外した状態での各放射線検出器(1
-1〜1-8)の計数値を求め、第３校正工程において第１及
び第２校正工程により求められた各計数値から各放射線
検出器(1-1〜1-8)に対する各校正定数を算出する。
な校正定数を求める。 【構成】放射能汚染モニタの測定エリアに、各放射線検
出器(1-1〜1-8)と対向する位置に各放射線源(22-1 〜22
-8) を設けた線源固定治具(20)を配置し、第１校正工程
においてβ線遮蔽板(23)を取り付けた状態での各放射線
検出器(1-1〜1-8)の計数値を求め、第２校正工程におい
てβ線遮蔽板(23)を取外した状態での各放射線検出器(1
-1〜1-8)の計数値を求め、第３校正工程において第１及
び第２校正工程により求められた各計数値から各放射線
検出器(1-1〜1-8)に対する各校正定数を算出する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、原子力施設において使
用される体表面モニタや物品搬出モニタ、ランドリモニ
タ等の放射能汚染モニタ校正用方法及びこれに用いる線
源固定治具に関する。
用される体表面モニタや物品搬出モニタ、ランドリモニ
タ等の放射能汚染モニタ校正用方法及びこれに用いる線
源固定治具に関する。
【０００２】
【従来の技術】放射能汚染モニタは、測定対象物又は人
体の放射能汚染を、その放出される放射線量を放射線検
出器により計数し、その計数値の大きさで放射能汚染レ
ベルを測定するものである。
体の放射能汚染を、その放出される放射線量を放射線検
出器により計数し、その計数値の大きさで放射能汚染レ
ベルを測定するものである。
【０００３】図５はかかる放射能汚染モニタの構成図で
ある。各放射線検出器１−１〜１−８が互いに対向配置
されている。なお、これら放射線検出器１−１〜１−８
は、図６に示すようにモニタ枠２の内壁に配置され、こ
れら放射線検出器１−１〜１−８により囲まれる内側に
測定対象としての物や人体が配置される。又、これら放
射線検出器１−１〜１−８はデータ処理装置３に接続さ
れ、このデータ処理装置３において各放射線検出器１−
１〜１−８の各計数値が集計されて放射能レベルが測定
されるようになっている。なお、このデータ処理装置３
には計数開始スイッチ４、校正チャンネル選択スイッチ
５が接続されている。ところで、このような放射能汚染
モニタに対する校正は図７に示す校正流れ図に従って行
われる。
ある。各放射線検出器１−１〜１−８が互いに対向配置
されている。なお、これら放射線検出器１−１〜１−８
は、図６に示すようにモニタ枠２の内壁に配置され、こ
れら放射線検出器１−１〜１−８により囲まれる内側に
測定対象としての物や人体が配置される。又、これら放
射線検出器１−１〜１−８はデータ処理装置３に接続さ
れ、このデータ処理装置３において各放射線検出器１−
１〜１−８の各計数値が集計されて放射能レベルが測定
されるようになっている。なお、このデータ処理装置３
には計数開始スイッチ４、校正チャンネル選択スイッチ
５が接続されている。ところで、このような放射能汚染
モニタに対する校正は図７に示す校正流れ図に従って行
われる。
【０００４】先ず、ステップ＃１においてデータ処理装
置３は、校正チャンネル選択スイッチ５から校正する放
射線検出器、例えば放射線検出器１−３の指示を受け、
続いてステップ＃２において計数開始スイッチ４から計
数開始の指示を受けると、ステップ＃３において放射線
検出器１−３に対する計数を開始してＴ秒間計数を行
う。そして、データ処理装置３は、放射線検出器１−３
の計数値を収集する。次に、予め放射能レベルの既知な
１つの放射線源（以下、線源と省略する）６を設けた治
具７を図５に示すように放射線検出器１−３に取り付け
る。
置３は、校正チャンネル選択スイッチ５から校正する放
射線検出器、例えば放射線検出器１−３の指示を受け、
続いてステップ＃２において計数開始スイッチ４から計
数開始の指示を受けると、ステップ＃３において放射線
検出器１−３に対する計数を開始してＴ秒間計数を行
う。そして、データ処理装置３は、放射線検出器１−３
の計数値を収集する。次に、予め放射能レベルの既知な
１つの放射線源（以下、線源と省略する）６を設けた治
具７を図５に示すように放射線検出器１−３に取り付け
る。
【０００５】次にデータ処理装置３は、ステップ＃５に
おいて計数開始スイッチ４から計数開始の指示を受ける
と、ステップ＃６において放射線検出器１−３に対する
計数を開始してＴ秒間計数を行う。そして、データ処理
装置３は、放射線検出器１−３の計数値を収集する。
おいて計数開始スイッチ４から計数開始の指示を受ける
と、ステップ＃６において放射線検出器１−３に対する
計数を開始してＴ秒間計数を行う。そして、データ処理
装置３は、放射線検出器１−３の計数値を収集する。
【０００６】次にデータ処理装置３は、ステップ＃７に
おいて線源６を外した状態のときの計数値と取り付けた
状態のときの計数値とから放射線検出器１−３に対する
校正定数を算出する。
おいて線源６を外した状態のときの計数値と取り付けた
状態のときの計数値とから放射線検出器１−３に対する
校正定数を算出する。
【０００７】次に全チャンネル、つまり全放射線検出器
１−１〜１−８に対する校正定数が求められたか判断
し、求められていなければ再びステップ＃１に戻って全
放射線検出器１−１〜１−８に対する各校正定数が求め
られる。次に、例えば放射線検出器１−４の校正定数を
求める場合、治具７は放射線検出器１−３から取り外さ
れ、放射線検出器１−４に取り付けられる。
１−１〜１−８に対する校正定数が求められたか判断
し、求められていなければ再びステップ＃１に戻って全
放射線検出器１−１〜１−８に対する各校正定数が求め
られる。次に、例えば放射線検出器１−４の校正定数を
求める場合、治具７は放射線検出器１−３から取り外さ
れ、放射線検出器１−４に取り付けられる。
【０００８】しかしながら、このような校正方法では、
各放射線検出器１−１〜１−８に対する校正定数を求め
る場合に、各放射線検出器１−１〜１−８ごとに治具７
を取り付け取り外ししなければならない。このため、１
回の計数に１００秒程度かかるので、全チャンネルの校
正定数を求めるのに、２〜３時間もかかってしまう。
又、操作回数も多くなるので、操作ミスにより間違った
校正定数が求められることがしばしばある。
各放射線検出器１−１〜１−８に対する校正定数を求め
る場合に、各放射線検出器１−１〜１−８ごとに治具７
を取り付け取り外ししなければならない。このため、１
回の計数に１００秒程度かかるので、全チャンネルの校
正定数を求めるのに、２〜３時間もかかってしまう。
又、操作回数も多くなるので、操作ミスにより間違った
校正定数が求められることがしばしばある。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】以上のように治具７を
各放射線検出器１−１〜１−８に対して取り付け取り外
しするので、全チャンネルの校正定数を求めるのに時間
がかかる。又、操作ミスにより正確な校正定数が求めら
れない。
各放射線検出器１−１〜１−８に対して取り付け取り外
しするので、全チャンネルの校正定数を求めるのに時間
がかかる。又、操作ミスにより正確な校正定数が求めら
れない。
【００１０】そこで本発明は、短時間で操作ミス等を生
ぜずに正確な校正定数を求めることができる放射能汚染
モニタ校正方法及びこれに用いる線源固定治具を提供す
ることを目的とする。
ぜずに正確な校正定数を求めることができる放射能汚染
モニタ校正方法及びこれに用いる線源固定治具を提供す
ることを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明は、複数の放射線
検出器を配置し、これら放射線検出器により検出される
測定対象の放射線量から放射能汚染を測定する放射能汚
染モニタにおいて、各放射線検出器の配置位置に対応し
た形状に形成された固定枠と、各放射線検出器と対向す
る位置の固定枠上にそれぞれ固定された予め放射能レベ
ルの既知の各放射線源とを備えて上記目的を達成しよう
とする放射能汚染モニタ校正用の線源固定治具である。
検出器を配置し、これら放射線検出器により検出される
測定対象の放射線量から放射能汚染を測定する放射能汚
染モニタにおいて、各放射線検出器の配置位置に対応し
た形状に形成された固定枠と、各放射線検出器と対向す
る位置の固定枠上にそれぞれ固定された予め放射能レベ
ルの既知の各放射線源とを備えて上記目的を達成しよう
とする放射能汚染モニタ校正用の線源固定治具である。
【００１２】又、本発明は、各放射線検出器の配置位置
に対応した形状に形成された固定枠と、各放射線検出器
と対向する位置の固定枠上にそれぞれ固定された予め放
射能レベルの既知の各放射線源と、これら放射線源と各
放射線検出器との間に取付取外し自在に設けられるβ線
遮蔽板とを備えて上記目的を達成しようとする放射能汚
染モニタ校正用の線源固定治具である。
に対応した形状に形成された固定枠と、各放射線検出器
と対向する位置の固定枠上にそれぞれ固定された予め放
射能レベルの既知の各放射線源と、これら放射線源と各
放射線検出器との間に取付取外し自在に設けられるβ線
遮蔽板とを備えて上記目的を達成しようとする放射能汚
染モニタ校正用の線源固定治具である。
【００１３】
【作用】本発明の放射能汚染モニタ校正方法は、第１の
工程において線源を設置する前に各検出器の計数値を求
め計数時間で割り、バックグラウンド計数率を求め、次
の第２の工程において各放射線検出器のうち少なくとも
２つ以上の検出器について、各々の検出器の対向する位
置に各放射線源を設けた線源固定治具を配置し、前記各
放射線検出器の計数値を求め計数時間で割り、グロス計
数率を求め、次の第３の工程において第２のグロス計数
率から第１のバックグラウンド計数率を差引きその結果
を各線源強度で割り校正定数を算出する。
工程において線源を設置する前に各検出器の計数値を求
め計数時間で割り、バックグラウンド計数率を求め、次
の第２の工程において各放射線検出器のうち少なくとも
２つ以上の検出器について、各々の検出器の対向する位
置に各放射線源を設けた線源固定治具を配置し、前記各
放射線検出器の計数値を求め計数時間で割り、グロス計
数率を求め、次の第３の工程において第２のグロス計数
率から第１のバックグラウンド計数率を差引きその結果
を各線源強度で割り校正定数を算出する。
【００１４】
【実施例】以下、本発明の一実施例について図面を参照
して説明する。なお、図５と同一部分には同一符号を付
してその詳しい説明は省略する。図１は校正作業におけ
る放射能汚染モニタの全体構成図である。各放射線検出
器１−１〜１−８の配置された内側には、線源固定治具
２０が配置される。
して説明する。なお、図５と同一部分には同一符号を付
してその詳しい説明は省略する。図１は校正作業におけ
る放射能汚染モニタの全体構成図である。各放射線検出
器１−１〜１−８の配置された内側には、線源固定治具
２０が配置される。
【００１５】この線源固定治具２０は、図２の外観図に
示すように固定枠２１の内壁に各線源２２−１〜２２−
８が取り付けられている。これら線源２２−１〜２２−
８は、放射能汚染モニタに取り付けた場合、各放射線検
出器１−１〜１−８と対向する位置となっている。又、
この固定枠２１の外壁側には、β線遮蔽板２３が取付け
取外し自在に設けられている。
示すように固定枠２１の内壁に各線源２２−１〜２２−
８が取り付けられている。これら線源２２−１〜２２−
８は、放射能汚染モニタに取り付けた場合、各放射線検
出器１−１〜１−８と対向する位置となっている。又、
この固定枠２１の外壁側には、β線遮蔽板２３が取付け
取外し自在に設けられている。
【００１６】一方、データ処理装置２４は、β線遮蔽板
２３を取り付けた状態での各放射線検出器１−１〜１−
８の計数値を保持し、β線遮蔽板２３を取外した状態で
の各放射線検出器１−１〜１−８の計数値を保持し、こ
れら状態の各計数値から各放射線検出器１−１〜１−８
の各校正定数を算出する機能を有している。次に放射能
汚染モニタの校正作用について図３に示す校正流れ図に
従って説明する。
２３を取り付けた状態での各放射線検出器１−１〜１−
８の計数値を保持し、β線遮蔽板２３を取外した状態で
の各放射線検出器１−１〜１−８の計数値を保持し、こ
れら状態の各計数値から各放射線検出器１−１〜１−８
の各校正定数を算出する機能を有している。次に放射能
汚染モニタの校正作用について図３に示す校正流れ図に
従って説明する。
【００１７】先ず、ステップ＃１０において線源固定治
具２０が、放射能汚染モニタの各放射線検出器１−１〜
１−８による測定エリアに配置され、各線源２２−１〜
２２−８と各放射線検出器１−１〜１−８とが対向配置
される。この場合、β線遮蔽板２３は、取り付けた状態
となっている。
具２０が、放射能汚染モニタの各放射線検出器１−１〜
１−８による測定エリアに配置され、各線源２２−１〜
２２−８と各放射線検出器１−１〜１−８とが対向配置
される。この場合、β線遮蔽板２３は、取り付けた状態
となっている。
【００１８】次にステップ＃１１において計数開始スイ
ッチ４から計数開始の指示を受けると、データ処理装置
２４はステップ＃１２において全放射線検出器１−１〜
１−８に対する計数を開始してＴ秒間計数を行う。そし
て、データ処理装置３は、全放射線検出器１−１〜１−
８の各計数値Ｎａ１〜Ｎａ８を収集する。なお、以上の
動作は、放射能汚染モニタ周囲の放射線や各線源２２−
１〜２２−８から放出されるγ線成分の各放射線検出器
１−１〜１−８への影響分、つまりバックグラウンド計
数を補正するために行われる。
ッチ４から計数開始の指示を受けると、データ処理装置
２４はステップ＃１２において全放射線検出器１−１〜
１−８に対する計数を開始してＴ秒間計数を行う。そし
て、データ処理装置３は、全放射線検出器１−１〜１−
８の各計数値Ｎａ１〜Ｎａ８を収集する。なお、以上の
動作は、放射能汚染モニタ周囲の放射線や各線源２２−
１〜２２−８から放出されるγ線成分の各放射線検出器
１−１〜１−８への影響分、つまりバックグラウンド計
数を補正するために行われる。
【００１９】次にステップ＃１３において線源固定治具
２０からβ線遮蔽板２３が取り外される。次にステップ
＃１４において計数開始スイッチ４から計数開始の指示
を受けると、データ処理装置２４はステップ＃１５にお
いて全放射線検出器１−１〜１−８に対する計数を開始
してＴ秒間計数を行う。そして、データ処理装置３は、
全放射線検出器１−１〜１−８の各計数値Ｎｂ１〜Ｎｂ
８を収集する。なお、以上の動作は、各線源２２−１〜
２２−８から放出されるβ線成分の計数を得るために行
われる。
２０からβ線遮蔽板２３が取り外される。次にステップ
＃１４において計数開始スイッチ４から計数開始の指示
を受けると、データ処理装置２４はステップ＃１５にお
いて全放射線検出器１−１〜１−８に対する計数を開始
してＴ秒間計数を行う。そして、データ処理装置３は、
全放射線検出器１−１〜１−８の各計数値Ｎｂ１〜Ｎｂ
８を収集する。なお、以上の動作は、各線源２２−１〜
２２−８から放出されるβ線成分の計数を得るために行
われる。
【００２０】次にステップ＃１６においてデータ処理装
置２４は、β線遮蔽板２３を取り付けたときの各計数値
Ｎａ１〜Ｎａ８、β線遮蔽板２３を取り外したときの各
計数値Ｎｂ１〜Ｎｂ８から各放射線検出器１−１〜１−
８に対する各校正定数Ｋ１〜Ｋ８を次式を演算して求め
る。すなわち、 Ｋ１＝Ｓ１・Ｔ／（Ｎｂ１−Ｎａ１） Ｋ２＝Ｓ２・Ｔ／（Ｎｂ２−Ｎａ２） ： ： Ｋ８＝Ｓ８・Ｔ／（Ｎｂ８−Ｎａ８）
置２４は、β線遮蔽板２３を取り付けたときの各計数値
Ｎａ１〜Ｎａ８、β線遮蔽板２３を取り外したときの各
計数値Ｎｂ１〜Ｎｂ８から各放射線検出器１−１〜１−
８に対する各校正定数Ｋ１〜Ｋ８を次式を演算して求め
る。すなわち、 Ｋ１＝Ｓ１・Ｔ／（Ｎｂ１−Ｎａ１） Ｋ２＝Ｓ２・Ｔ／（Ｎｂ２−Ｎａ２） ： ： Ｋ８＝Ｓ８・Ｔ／（Ｎｂ８−Ｎａ８）
【００２１】の各式を演算することにより各放射線検出
器１−１〜１−８に対する各校正定数Ｋ１〜Ｋ８を求め
る。ここで、Ｓ１、Ｓ２、…Ｓ８は各線源２２−１〜２
２−８の線源強度、Ｔは計数時間である。
器１−１〜１−８に対する各校正定数Ｋ１〜Ｋ８を求め
る。ここで、Ｓ１、Ｓ２、…Ｓ８は各線源２２−１〜２
２−８の線源強度、Ｔは計数時間である。
【００２２】このように上記一実施例においては、各放
射線検出器の測定エリアに、各放射線源２２−１〜２２
−８を設けた線源固定治具２０を配置し、第１校正工程
においてβ線遮蔽板２３を取り付けた状態での各放射線
検出器１−１〜１−８の各計数値を求め、第２校正工程
においてβ線遮蔽板２３を取外した状態での各放射線検
出器の各計数値を求め、第３校正工程においてこれら計
数値から各放射線検出器１−１〜１−８の各校正定数Ｋ
１〜Ｋ８を算出するようにしたので、各チャンネルの放
射線検出器１−１〜１−８の各校正定数を同時に求める
ことができ、校正作業時間の短縮が図れるとともにその
校正作業を単純化できる。これにより、短時間で操作ミ
スなく正確に各校正定数Ｋ１〜Ｋ８を求めることができ
る。
射線検出器の測定エリアに、各放射線源２２−１〜２２
−８を設けた線源固定治具２０を配置し、第１校正工程
においてβ線遮蔽板２３を取り付けた状態での各放射線
検出器１−１〜１−８の各計数値を求め、第２校正工程
においてβ線遮蔽板２３を取外した状態での各放射線検
出器の各計数値を求め、第３校正工程においてこれら計
数値から各放射線検出器１−１〜１−８の各校正定数Ｋ
１〜Ｋ８を算出するようにしたので、各チャンネルの放
射線検出器１−１〜１−８の各校正定数を同時に求める
ことができ、校正作業時間の短縮が図れるとともにその
校正作業を単純化できる。これにより、短時間で操作ミ
スなく正確に各校正定数Ｋ１〜Ｋ８を求めることができ
る。
【００２３】次にランドリモニタや大物物品搬出モニタ
に適用した場合について図４を参照して説明する。コン
ベア３０は測定対象物を搬送するもので、そのベルト３
１を挟むように各放射線検出器３２、３３が配置されて
いる。又、このコンベア３０の上流側には測定物検知ス
イッチ３４が配置されている。これら放射線検出器３
２、３３及び測定物検知スイッチ３４はデータ処理装置
３５に接続されている。
に適用した場合について図４を参照して説明する。コン
ベア３０は測定対象物を搬送するもので、そのベルト３
１を挟むように各放射線検出器３２、３３が配置されて
いる。又、このコンベア３０の上流側には測定物検知ス
イッチ３４が配置されている。これら放射線検出器３
２、３３及び測定物検知スイッチ３４はデータ処理装置
３５に接続されている。
【００２４】ベルト３１上には線源固定治具４０が載置
される。この線源固定治具４０は、固定枠４１と、各放
射線検出器３２、３３の対向位置に設けられた各線源４
２、４３と、各放射線検出器３２、３３及び各線源４
２、４３の間に取付取外し自在のβ線遮蔽板４４、４５
とから構成されている。
される。この線源固定治具４０は、固定枠４１と、各放
射線検出器３２、３３の対向位置に設けられた各線源４
２、４３と、各放射線検出器３２、３３及び各線源４
２、４３の間に取付取外し自在のβ線遮蔽板４４、４５
とから構成されている。
【００２５】一方、データ処理装置３５は、β線遮蔽板
４４、４５を取り付けた状態での各放射線検出器１−１
〜１−８の各計数値を保持し、β線遮蔽板４４、４５を
取外した状態での各放射線検出器３２、３３の各計数値
を保持し、これら状態での各計数値から各放射線検出器
３２、３３の校正定数を算出する機能を有している。
４４、４５を取り付けた状態での各放射線検出器１−１
〜１−８の各計数値を保持し、β線遮蔽板４４、４５を
取外した状態での各放射線検出器３２、３３の各計数値
を保持し、これら状態での各計数値から各放射線検出器
３２、３３の校正定数を算出する機能を有している。
【００２６】かかる構成であれば、各β線遮蔽板４４、
４５を取り付けた線源固定治具４０がコンベア３０によ
り搬送され、これが測定物検知スイッチ３４により検出
されると、データ処理装置３５は各放射線検出器３２、
３３の計数を開始し、一定時間の計数値を保持する。
４５を取り付けた線源固定治具４０がコンベア３０によ
り搬送され、これが測定物検知スイッチ３４により検出
されると、データ処理装置３５は各放射線検出器３２、
３３の計数を開始し、一定時間の計数値を保持する。
【００２７】次に各β線遮蔽板４４、４５を取り外した
線源固定治具４０をコンベア３０に搬送する。この線源
固定治具４０が測定物検知スイッチ３４により検出され
ると、データ処理装置３５は各放射線検出器３２、３３
の計数を開始し、一定時間の計数値を保持する。
線源固定治具４０をコンベア３０に搬送する。この線源
固定治具４０が測定物検知スイッチ３４により検出され
ると、データ処理装置３５は各放射線検出器３２、３３
の計数を開始し、一定時間の計数値を保持する。
【００２８】次にデータ処理装置３５は、各β線遮蔽板
４４、４５を取付けた状態及び取外した状態での各計数
値から各放射線検出器３２、３３に対する各校正定数を
算出する。このようにランドリモニタや大物物品搬出モ
ニタに適用した場合でも上記一実施例と同様の効果を奏
することができる。なお、本発明は上記一実施例に限定
されるものでなくその要旨を変更しない範囲で変形して
もよい。
４４、４５を取付けた状態及び取外した状態での各計数
値から各放射線検出器３２、３３に対する各校正定数を
算出する。このようにランドリモニタや大物物品搬出モ
ニタに適用した場合でも上記一実施例と同様の効果を奏
することができる。なお、本発明は上記一実施例に限定
されるものでなくその要旨を変更しない範囲で変形して
もよい。
【００２９】例えば、コンベア３０により各線源４２、
４３を搬送する場合、データ処理装置３５において一定
時間の計数を行う代わりに、計数率により校正定数を求
めてもよい。この場合、β線遮蔽板４４、４５を取付け
た状態及び取外した状態での各線源４２、４３の通過時
の各最大計数率をＲａ１、Ｒｂ１及びＲａ２、Ｒｂ２と
すると、各放射線検出器３２、３３の校正定数Ｋｘ、Ｋ
ｙは、 Ｋｘ＝Ｓｘ・Ｔ／（Ｒｂ１−Ｒａ１） Ｋｙ＝Ｓｙ・Ｔ／（Ｒｂ２−Ｒａ２） を演算することにより求められる。ここで、Ｓｘ、Ｓｙ
は各線源４２、４３は線源強度である。
４３を搬送する場合、データ処理装置３５において一定
時間の計数を行う代わりに、計数率により校正定数を求
めてもよい。この場合、β線遮蔽板４４、４５を取付け
た状態及び取外した状態での各線源４２、４３の通過時
の各最大計数率をＲａ１、Ｒｂ１及びＲａ２、Ｒｂ２と
すると、各放射線検出器３２、３３の校正定数Ｋｘ、Ｋ
ｙは、 Ｋｘ＝Ｓｘ・Ｔ／（Ｒｂ１−Ｒａ１） Ｋｙ＝Ｓｙ・Ｔ／（Ｒｂ２−Ｒａ２） を演算することにより求められる。ここで、Ｓｘ、Ｓｙ
は各線源４２、４３は線源強度である。
【００３０】又、各放射線検出器での計数値を求める場
合、β線遮蔽板２３又は４４、４５を取付けた状態で求
めているが、これを各線源２２−１〜２２−８又は４
２、４３を外した状態で求めてもよい。
合、β線遮蔽板２３又は４４、４５を取付けた状態で求
めているが、これを各線源２２−１〜２２−８又は４
２、４３を外した状態で求めてもよい。
【００３１】
【発明の効果】以上詳記したように本発明によれば、短
時間で操作ミス等を生ぜずに正確な校正定数を求めるこ
とができる放射能汚染モニタ校正方法及びこれに用いる
線源固定治具を提供できる。
時間で操作ミス等を生ぜずに正確な校正定数を求めるこ
とができる放射能汚染モニタ校正方法及びこれに用いる
線源固定治具を提供できる。
【図１】本発明に係わる放射能汚染モニタ校正方法を適
用した場合の放射能汚染モニタの一実施例を示す全体構
成図。
用した場合の放射能汚染モニタの一実施例を示す全体構
成図。
【図２】同モニタ校正方法に用いられる線源固定治具の
外観図。
外観図。
【図３】同モニタ校正方法における校正流れ図。
【図４】同モニタ校正方法をランドリモニタに適用した
場合の構成図。
場合の構成図。
【図５】従来のモニタ校正方法を説明するための図。
【図６】放射能汚染モニタの外観図。
【図７】従来のモニタ校正方法における校正流れ図。
１−１〜１−８…放射線検出器、２０…線源固定治具、
２１…固定枠、２２−１〜２２−８…線源、２３…β線
遮蔽板、２４…データ処理装置。
２１…固定枠、２２−１〜２２−８…線源、２３…β線
遮蔽板、２４…データ処理装置。
Claims (3)
- 【請求項１】 複数の放射線検出器を配置し、これら放
射線検出器により検出される測定対象の放射線量から放
射能汚染を測定する放射能汚染モニタにおいて、 線源を設置する前に各検出器の計数値を求め計数時間で
割り、バックグラウンド計数率を求める第１の工程と、
各放射線検出器のうち少なくとも２つ以上の検出器につ
いて、各々の検出器の対向する位置に各放射線源を設け
た線源固定治具を配置し、前記各放射線検出器の計数値
を求め計数時間で割り、グロス計数率を求める第２の工
程と、第２のグロス計数率から第１のバックグラウンド
計数率を差引きその結果を各線源強度で割り校正定数を
算出する第３の工程とから成ることを特徴とする放射能
汚染モニタ校正方法。 - 【請求項２】 複数の放射線検出器を配置し、これら放
射線検出器により検出される測定対象の放射線量から放
射能汚染を測定する放射能汚染モニタにおいて、 前記各放射線検出器の配置位置に対応した形状に形成さ
れた固定枠と、前記各放射線検出器と対向する位置の前
記固定枠上にそれぞれ固定された予め放射能レベルの既
知の各放射線源とを具備したことを特徴とする放射能汚
染モニタ校正用の線源固定治具。 - 【請求項３】 複数の放射線検出器を配置し、これら放
射線検出器により検出される測定対象の放射線量から放
射能汚染を測定する放射能汚染モニタにおいて、 前記各放射線検出器の配置位置に対応した形状に形成さ
れた固定枠と、前記各放射線検出器と対向する位置の前
記固定枠上にそれぞれ固定された予め放射能レベルの既
知の各放射線源と、これら放射線源と前記各放射線検出
器との間に取付取外し自在に設けられるβ線遮蔽板とを
具備したことを特徴とする放射能汚染モニタ校正用の線
源固定治具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30070192A JPH06148337A (ja) | 1992-11-11 | 1992-11-11 | 放射能汚染モニタ校正方法及びこれに用いる線源固定治具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30070192A JPH06148337A (ja) | 1992-11-11 | 1992-11-11 | 放射能汚染モニタ校正方法及びこれに用いる線源固定治具 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06148337A true JPH06148337A (ja) | 1994-05-27 |
Family
ID=17888047
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30070192A Pending JPH06148337A (ja) | 1992-11-11 | 1992-11-11 | 放射能汚染モニタ校正方法及びこれに用いる線源固定治具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06148337A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5841016A (en) * | 1996-09-12 | 1998-11-24 | Advanced Micro Devices, Inc. | Ultra-low level standard for concentration measurements |
| US5866899A (en) * | 1996-09-12 | 1999-02-02 | Advanced Micro Devices, Inc. | Concentration measurement apparatus calibration method |
| JP2006153551A (ja) * | 2004-11-26 | 2006-06-15 | Fuji Electric Systems Co Ltd | 物品搬出モニタ |
| JP2011226997A (ja) * | 2010-04-22 | 2011-11-10 | Fuji Electric Co Ltd | 校正治具 |
| CN110988972A (zh) * | 2019-10-12 | 2020-04-10 | 中国辐射防护研究院 | 高精度三维便携式表面污染仪检定装置 |
-
1992
- 1992-11-11 JP JP30070192A patent/JPH06148337A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN110988972A (zh) * | 2019-10-12 | 2020-04-10 | 中国辐射防护研究院 | 高精度三维便携式表面污染仪检定装置 |
| CN110988972B (zh) * | 2019-10-12 | 2022-10-21 | 中国辐射防护研究院 | 高精度三维便携式表面污染仪检定装置 |
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