JPS6134682A - パタ−ン配列検査装置 - Google Patents
パタ−ン配列検査装置Info
- Publication number
- JPS6134682A JPS6134682A JP15626284A JP15626284A JPS6134682A JP S6134682 A JPS6134682 A JP S6134682A JP 15626284 A JP15626284 A JP 15626284A JP 15626284 A JP15626284 A JP 15626284A JP S6134682 A JPS6134682 A JP S6134682A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pattern
- circuit
- detecting circuit
- key top
- data
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Character Discrimination (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は各種電子機器の入力装置として使用されるキー
ボードの製造設備に係り、特にキートップに表示される
文字を検査する装置に関する。
ボードの製造設備に係り、特にキートップに表示される
文字を検査する装置に関する。
キーボードは第２図の斜視図に示す如く、プリント基板
１、押釦スイッチ２、コネクタ３および押釦スイッチ２
の頭部に嵌着するキートップ４からなり、図示してない
がキートップ４にはキーボードの用途に合わせて各種の
文字や記号が表示されており、文字や記号の配列、大き
ざ、字体、線の太さ等がキーボードの機種毎に異なって
いる。
１、押釦スイッチ２、コネクタ３および押釦スイッチ２
の頭部に嵌着するキートップ４からなり、図示してない
がキートップ４にはキーボードの用途に合わせて各種の
文字や記号が表示されており、文字や記号の配列、大き
ざ、字体、線の太さ等がキーボードの機種毎に異なって
いる。
キーボードは各種電子機器の入力装置としてオペレータ
を始めとして、不特定多数の目に触れる部分であり、文
字や記号の配列違いは絶対に許されない。
を始めとして、不特定多数の目に触れる部分であり、文
字や記号の配列違いは絶対に許されない。
しかるに上述の通り文字や記号の配列、大きさ、字体、
線の太さ等がキーボードの機種毎に異なっているために
、キーボードの製造においてはキートップの配列違いに
よる障害が屡々発生する。かかる障害を排除するために
キーボード１台毎に文字や記号の配列を検査しているが
、検査項目および検査対象が多いため、肉眼では時間が
掛かると共に、障害を見落とす可能性が多い。
線の太さ等がキーボードの機種毎に異なっているために
、キーボードの製造においてはキートップの配列違いに
よる障害が屡々発生する。かかる障害を排除するために
キーボード１台毎に文字や記号の配列を検査しているが
、検査項目および検査対象が多いため、肉眼では時間が
掛かると共に、障害を見落とす可能性が多い。
そこで検査精度を向上し、且つ検査時間の短縮を可能に
するパターン配列検査装置の提供が望まれている。
するパターン配列検査装置の提供が望まれている。
第３図は従来のパターン配列検査装置を示す図で、第３
図＋ａ）はブロックダイヤグラム、第３図ｆｂ）および
第３図ｆｃ）は動作を説明するための図である。
図＋ａ）はブロックダイヤグラム、第３図ｆｂ）および
第３図ｆｃ）は動作を説明するための図である。
パターン配列検査装置は第３図ｉａｌに示す如く、ＴＶ
カメラ等の撮像装置５、Ａ／Ｄ変換回路６、フレームメ
モリ７、画像切出回路８、辞書メモリ９、パターンメモ
リＩＯ、パターン照合回路１１、およびパターン判定回
路１２で構成されている。
カメラ等の撮像装置５、Ａ／Ｄ変換回路６、フレームメ
モリ７、画像切出回路８、辞書メモリ９、パターンメモ
リＩＯ、パターン照合回路１１、およびパターン判定回
路１２で構成されている。
撮像装置５によって撮像したキーボードの映像は、Ａ／
Ｄ変換回路６によってデジタル信号化されてフレームメ
モリ７に記憶される。しかしフレームメモリ７には撮像
装置５の視野に入る全てのパターンが記憶されており、
この状態ではそれぞれのパターンの特徴を表す情報の比
率が小さく高精度なパターン判別ができないため、第３
図（ｂｌに示す検査対象部分のみを画像切出回路８で切
り出しパターンメモリ１０に記憶する。
Ｄ変換回路６によってデジタル信号化されてフレームメ
モリ７に記憶される。しかしフレームメモリ７には撮像
装置５の視野に入る全てのパターンが記憶されており、
この状態ではそれぞれのパターンの特徴を表す情報の比
率が小さく高精度なパターン判別ができないため、第３
図（ｂｌに示す検査対象部分のみを画像切出回路８で切
り出しパターンメモリ１０に記憶する。
一方辞書メモリ９には第３図（Ｃ１に示す標準パターン
が記憶されており、標準パターンの位置をずらしてパタ
ーンメモリ１０に記憶されているパターンと重なった位
置で、辞書メモリ９の内容とパターンメモ１月０の内容
をパターン照合回路１１が細部にわたって照合し、パタ
ーン判定回路１２がパターンの一致、不一致を判定する
。
が記憶されており、標準パターンの位置をずらしてパタ
ーンメモリ１０に記憶されているパターンと重なった位
置で、辞書メモリ９の内容とパターンメモ１月０の内容
をパターン照合回路１１が細部にわたって照合し、パタ
ーン判定回路１２がパターンの一致、不一致を判定する
。
従来のパターン配列検査装置を用いて例えば第４図ｔａ
＋乃至第４図１ｃ）に示すパターンを検査する場合、第
４図ｆａｔに示すパターンと第４図ｆｂｌ或いは第４図
ｆｃｌに示したパターンとは別のパターンとして判別す
ることができる。
＋乃至第４図１ｃ）に示すパターンを検査する場合、第
４図ｆａｔに示すパターンと第４図ｆｂｌ或いは第４図
ｆｃｌに示したパターンとは別のパターンとして判別す
ることができる。
しかし同一パターンであっても第４図ｔａ＋に示す如く
キートップの中央にあれば中黒点であるが、中央の右斜
め下にあればピリオドを意味する。また第４図Ｔｂｌに
示す如くキートップの中央下方にあればコンマであるが
、中央の右斜め上にあればアポストロフィを意味する。
キートップの中央にあれば中黒点であるが、中央の右斜
め下にあればピリオドを意味する。また第４図Ｔｂｌに
示す如くキートップの中央下方にあればコンマであるが
、中央の右斜め上にあればアポストロフィを意味する。
このように同一パターンであってもキートップのどの位
置にあるかによって意味が異なる場合には、キートップ
とパターンの相対位置を検出していないため同一パター
ンと判定するという問題があった。
置にあるかによって意味が異なる場合には、キートップ
とパターンの相対位置を検出していないため同一パター
ンと判定するという問題があった。
Ｃ問題点を解決するための手段〕
上記の問題点はセル中心位置検出回路および位置ずれ検
出回路を設けてなる本発明のパターン配列検査装置によ
って解決される。
出回路を設けてなる本発明のパターン配列検査装置によ
って解決される。
セル中心位置検出回路によってキートップの中心座標を
検出し、パターン照合回路から出力されるパターンの中
心座標を表す位置データと、セル中心位置検出回路から
出力されるキートップの中心座標とを、位置ずれ検出回
路において比較することによって、同一パターンである
と判定されてもキートップのどの位置にあるかによって
意味が異なる、前記キートップを容易に判別することが
できる。
検出し、パターン照合回路から出力されるパターンの中
心座標を表す位置データと、セル中心位置検出回路から
出力されるキートップの中心座標とを、位置ずれ検出回
路において比較することによって、同一パターンである
と判定されてもキートップのどの位置にあるかによって
意味が異なる、前記キートップを容易に判別することが
できる。
以下添付図により本発明の詳細な説明する。
第１図は本発明になるパターン配列検査装置の一実施例
で第１図ｆａ）はブロックダイヤグラム、第１図山）は
動作を説明するための図である。なお第３図と同じ対象
物は同一符号で表している。
で第１図ｆａ）はブロックダイヤグラム、第１図山）は
動作を説明するための図である。なお第３図と同じ対象
物は同一符号で表している。
本発明になるパターン配列検査装置には第１図（ａｌに
示す如く、画像切出回路８の出力からキートップの中心
座標を検出するセル中心位置検出回路１３と、セル中心
位置検出回路１３によって検出されたキートップの中心
座標と、パターン照合回路１１から出力される標準パタ
ーンの中心座標を表す位置データから、両者の相対位置
を検出する位置ずれ検出回路１４が設けられている。例
えば第１図（ｂｌにおいて両者の位置ずれがΔＸ＜Ｏ，
ΔＹ＝０であればコンマを意味し、ΔＸ〉０、ΔＹ〉０
であればアポス←ロフィを意味する。
示す如く、画像切出回路８の出力からキートップの中心
座標を検出するセル中心位置検出回路１３と、セル中心
位置検出回路１３によって検出されたキートップの中心
座標と、パターン照合回路１１から出力される標準パタ
ーンの中心座標を表す位置データから、両者の相対位置
を検出する位置ずれ検出回路１４が設けられている。例
えば第１図（ｂｌにおいて両者の位置ずれがΔＸ＜Ｏ，
ΔＹ＝０であればコンマを意味し、ΔＸ〉０、ΔＹ〉０
であればアポス←ロフィを意味する。
パターン判定回路１２ではパターン照合回路１１から出
力されるパターンの照合データと、位置ずれ検出回路１
４から構成される装置ずれデータと、パターン判定回路
１２に予め登録されている位置ずれ許容範囲データ１５
によってパターンの一致、不一致を判別する。
力されるパターンの照合データと、位置ずれ検出回路１
４から構成される装置ずれデータと、パターン判定回路
１２に予め登録されている位置ずれ許容範囲データ１５
によってパターンの一致、不一致を判別する。
このようにセル中心位置検出回路１３と位置ずれ検出回
路１４とを設けることにより、同一パターンであると判
定されてもキートップのどの位置にあるかによって意味
が異なる、キートップを容易に判別することができる。
路１４とを設けることにより、同一パターンであると判
定されてもキートップのどの位置にあるかによって意味
が異なる、キートップを容易に判別することができる。
以上述べたように本発明によれば、検査精度を向上し、
且つ検査時間の短縮を可能にする、パターン配列検査装
置を提供することができる。
且つ検査時間の短縮を可能にする、パターン配列検査装
置を提供することができる。
第１図は本発明の一実施例で、
第１図ｆａｔはブロックダイヤグラム、第１図ｆｂｌは
動作を説明するための図、第２図はキーボードを示す斜
視図、 第３図は従来のパターン配列検査装置で、第３図ｔａ＋
はブロックダイヤグラム、第３図（ｂｌおよび第３図ｆ
ｃｌは動作の説明図、第４図（ａｌ〜第４図（Ｃ）は従
来のパターン配列検査装置では判別できないパターンの
例、 である。図において ８は画像切出回路、 １１はパターン照合回路、 １２はパターン判定回路、 １３はセル中心位置検出回路、 】４は位置ずれ検出回路、 １５は位置ずれ許容範囲データ、 をそれぞれ示す。 ￥−４ （ｃＬ） （シ） ヒ０り大ト ′１−晶烈
動作を説明するための図、第２図はキーボードを示す斜
視図、 第３図は従来のパターン配列検査装置で、第３図ｔａ＋
はブロックダイヤグラム、第３図（ｂｌおよび第３図ｆ
ｃｌは動作の説明図、第４図（ａｌ〜第４図（Ｃ）は従
来のパターン配列検査装置では判別できないパターンの
例、 である。図において ８は画像切出回路、 １１はパターン照合回路、 １２はパターン判定回路、 １３はセル中心位置検出回路、 】４は位置ずれ検出回路、 １５は位置ずれ許容範囲データ、 をそれぞれ示す。 ￥−４ （ｃＬ） （シ） ヒ０り大ト ′１−晶烈
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 撮像装置、Ａ／Ｄ変換回路、フレームメモリ、画像切出
回路、辞書メモリ、パターンメモリ、パターン照合回路
およびパターン判定回路を具えてなるパターン配列検査
装置において、 セル中心位置検出回路および位置ずれ検出回路を設けた
ことを特徴とするパターン配列検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15626284A JPS6134682A (ja) | 1984-07-26 | 1984-07-26 | パタ−ン配列検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15626284A JPS6134682A (ja) | 1984-07-26 | 1984-07-26 | パタ−ン配列検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6134682A true JPS6134682A (ja) | 1986-02-18 |
Family
ID=15623954
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15626284A Pending JPS6134682A (ja) | 1984-07-26 | 1984-07-26 | パタ−ン配列検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6134682A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009068880A (ja) * | 2007-09-11 | 2009-04-02 | Hitachi Information & Control Solutions Ltd | 診断装置、診断方法、および検査装置 |
-
1984
- 1984-07-26 JP JP15626284A patent/JPS6134682A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009068880A (ja) * | 2007-09-11 | 2009-04-02 | Hitachi Information & Control Solutions Ltd | 診断装置、診断方法、および検査装置 |
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