JPS6130875A - 画像読取装置 - Google Patents
画像読取装置Info
- Publication number
- JPS6130875A JPS6130875A JP15357884A JP15357884A JPS6130875A JP S6130875 A JPS6130875 A JP S6130875A JP 15357884 A JP15357884 A JP 15357884A JP 15357884 A JP15357884 A JP 15357884A JP S6130875 A JPS6130875 A JP S6130875A
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- JP
- Japan
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- buffer
- output
- period
- reset
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
く技術分野〉
この発明はカラースキャナ等に用いられる画像読取装置
に関する。
に関する。
〈従来技術とその欠点〉
近年、画像読取装置の分解能の向上を計るため種々の提
案がなされ、画像読取装置の分解能は非常に向上した。
案がなされ、画像読取装置の分解能は非常に向上した。
しかし、高分解能の画像読み取りよりも、ある程度の分
解能で高速度な読み取りが要求される場合も多々ある。
解能で高速度な読み取りが要求される場合も多々ある。
その場合、従来から、画素の間引き、ハードウェアによ
るアナログ又はデジタル的な画素の平均化、ソフトウェ
アによるデジタル的な画素の平均化等が提案されていた
が、 画素の間引きは原稿全体を読み取らないため、真の読取
分解能を示さない。
るアナログ又はデジタル的な画素の平均化、ソフトウェ
アによるデジタル的な画素の平均化等が提案されていた
が、 画素の間引きは原稿全体を読み取らないため、真の読取
分解能を示さない。
ハードウェアによるアナログ又はデジタル的な画素の平
均化は平均化回路を構成するために回路構成が非常に複
雑になる。
均化は平均化回路を構成するために回路構成が非常に複
雑になる。
ソフトウェアによるデジタル的な画素の平均化は実時間
での処理ができない。
での処理ができない。
等の欠点があった。
〈発明の目的〉
この発明は上記欠点を解決するため、簡略な回am成で
画素の平均化による分解能変換を実現するとともに低分
解能時での実時間処理を可能にする画像読取装置を提供
することを目的とする。
画素の平均化による分解能変換を実現するとともに低分
解能時での実時間処理を可能にする画像読取装置を提供
することを目的とする。
〈発明の構成〉
この発明は要約すれば、濃度信号を蓄積して出力するバ
ッファをリセットするリセットパルスの周期をk (k
>1)個の画像濃度データが蓄積される期間に設定する
手段と、前記バッファ出方をkで除算して分解能を1/
kに設定する除算手段とを備えることを特徴とする。
ッファをリセットするリセットパルスの周期をk (k
>1)個の画像濃度データが蓄積される期間に設定する
手段と、前記バッファ出方をkで除算して分解能を1/
kに設定する除算手段とを備えることを特徴とする。
〈実施例〉
第1図はこの発明の実施例である画像読取装置のブロッ
ク図である。本実施例では分解能を1/3に低下させる
場合を示す。
ク図である。本実施例では分解能を1/3に低下させる
場合を示す。
センサ部1はセンサS、転送ゲート2.シフトレジスタ
SRで構成され、読取回路であるシフトレジスタSRは
バッファに接続されている。センサSは一列に配設され
たn素子のCCDであり原稿に相対する位置に設置され
ている。転送ゲート2は転送パルスΦiによってゲート
を開きシフトレジスタSRに前記センサSが読み取った
原稿の濃度信号を転送する。シフトレジスタSRは前記
n素子のCCDに対応するn素子のレジスタで構成され
シフトクロンクΦ3.Φ2によって図中右端の素子から
順にバッファ3へ濃度信号を出力してゆく。バッファ3
はフローティングキャパシタC,MOSトランジスタT
R,負荷抵抗R,リセットゲートRGで構成され、シフ
トレジスタSRから入力された濃度信号をフローティン
グキャパシタCに電荷として蓄える。このフローティン
グキャパシタCはMosトランジスタTRのゲート、ド
レイン間に挿入され、このMosトランジスタTRのド
レイン、ソース間に流れる電流を制御する。すなわち、
フローティングキャパシタCに蓄積された電FiJqに
よってV=Q/Cの電圧降下を発生させ、この電圧をト
ランジスタTRのソース側に負荷抵抗Rが接続されたソ
ースフォロワ回路によって信号化し、出力■として取り
出すようにしている。
SRで構成され、読取回路であるシフトレジスタSRは
バッファに接続されている。センサSは一列に配設され
たn素子のCCDであり原稿に相対する位置に設置され
ている。転送ゲート2は転送パルスΦiによってゲート
を開きシフトレジスタSRに前記センサSが読み取った
原稿の濃度信号を転送する。シフトレジスタSRは前記
n素子のCCDに対応するn素子のレジスタで構成され
シフトクロンクΦ3.Φ2によって図中右端の素子から
順にバッファ3へ濃度信号を出力してゆく。バッファ3
はフローティングキャパシタC,MOSトランジスタT
R,負荷抵抗R,リセットゲートRGで構成され、シフ
トレジスタSRから入力された濃度信号をフローティン
グキャパシタCに電荷として蓄える。このフローティン
グキャパシタCはMosトランジスタTRのゲート、ド
レイン間に挿入され、このMosトランジスタTRのド
レイン、ソース間に流れる電流を制御する。すなわち、
フローティングキャパシタCに蓄積された電FiJqに
よってV=Q/Cの電圧降下を発生させ、この電圧をト
ランジスタTRのソース側に負荷抵抗Rが接続されたソ
ースフォロワ回路によって信号化し、出力■として取り
出すようにしている。
前記MO3)ランジスタTRの出力はサンプルホールド
回路4に出力される。リセットゲートRGは前記フロー
ティングキャパシタCと並行に接続されている。後述す
るリセットパルスΦ7によってこのリセットゲー)RG
は開かれ、それによってフローティングキャパシタCは
電荷を放電しリセットする。
回路4に出力される。リセットゲートRGは前記フロー
ティングキャパシタCと並行に接続されている。後述す
るリセットパルスΦ7によってこのリセットゲー)RG
は開かれ、それによってフローティングキャパシタCは
電荷を放電しリセットする。
サンプルホード回路4は後述するサンプルパルスφIの
入力によってバッファ3の信号出力Vをサンプルホール
ドし、アナログ増幅器5に出力Vとして供給する。アナ
ログ増幅器5はオペアンプ等で構成され、サンプルホー
ルド回路4がら入力されるサンプルホールド11号Vを
増幅率Iで増幅する。その増幅率μはこのアナログ増幅
器5に負帰還をかけている帰還回路6によって制御され
ている。この帰還回路6にはサンプルクロックT、Hと
サンプルパルスΦ8、が入力されており1回すンプルパ
ルスΦKMが入力される間に入力されるサンプルクロッ
クTS)lの回数kに従って増幅率μ=μ。/k (μ
。:基本増幅率)となるようにアナログ増幅器5を制御
する。サンプルクロックTsHの回数には分解能の低下
に比例して多くなるようにされ、本実施例では分解能1
/3であるからに=3となる。この結果、アナログ増幅
器5の出力V′はサンプルホールド信号出力Vの1/3
となり、実質的にこのアナログ増幅器5においてバッフ
ァ出力が3で除されることになる。この帰還回路6がこ
の発明の除算手段に対応する。前記アナログ増幅器5で
増幅された濃度信号v′はアナログ・デジタル変換器7
に入力されデジタルデータに変換されたのちマイクロコ
ンピュータ8に入力される。
入力によってバッファ3の信号出力Vをサンプルホール
ドし、アナログ増幅器5に出力Vとして供給する。アナ
ログ増幅器5はオペアンプ等で構成され、サンプルホー
ルド回路4がら入力されるサンプルホールド11号Vを
増幅率Iで増幅する。その増幅率μはこのアナログ増幅
器5に負帰還をかけている帰還回路6によって制御され
ている。この帰還回路6にはサンプルクロックT、Hと
サンプルパルスΦ8、が入力されており1回すンプルパ
ルスΦKMが入力される間に入力されるサンプルクロッ
クTS)lの回数kに従って増幅率μ=μ。/k (μ
。:基本増幅率)となるようにアナログ増幅器5を制御
する。サンプルクロックTsHの回数には分解能の低下
に比例して多くなるようにされ、本実施例では分解能1
/3であるからに=3となる。この結果、アナログ増幅
器5の出力V′はサンプルホールド信号出力Vの1/3
となり、実質的にこのアナログ増幅器5においてバッフ
ァ出力が3で除されることになる。この帰還回路6がこ
の発明の除算手段に対応する。前記アナログ増幅器5で
増幅された濃度信号v′はアナログ・デジタル変換器7
に入力されデジタルデータに変換されたのちマイクロコ
ンピュータ8に入力される。
クロック回路9は前記マイクロコンピュータ8の制御に
従って転送パルスΦ1.シフトクロックΦ1.Φ2.サ
ンプルクロックT Sl++ リセソトクロツクT、
を出力する。転送パルスΦ7はセンサSが原稿の濃度を
検知するごとに1回他のクロックに先立って出力される
。シフトクロックΦ1.Φ2は、後述の様にクロツク幅
TとTsの組合わせで形成されている。また、サンプル
クロ7りTS)IとリセットクロックT+tはそれぞれ
、サンプルパルスΦ、HとリセットパルスΦ、を形成す
るためのクロックとして利用されるようにしている。
従って転送パルスΦ1.シフトクロックΦ1.Φ2.サ
ンプルクロックT Sl++ リセソトクロツクT、
を出力する。転送パルスΦ7はセンサSが原稿の濃度を
検知するごとに1回他のクロックに先立って出力される
。シフトクロックΦ1.Φ2は、後述の様にクロツク幅
TとTsの組合わせで形成されている。また、サンプル
クロ7りTS)IとリセットクロックT+tはそれぞれ
、サンプルパルスΦ、HとリセットパルスΦ、を形成す
るためのクロックとして利用されるようにしている。
前記シフトクロックΦ1.Φ、はシフトレジスタSRに
出力され、転送パルスΦ1は転送ゲート2及びカウンタ
部10のゲートG1に出力され、リセットクロックTえ
はカウンタ部10のゲートG2に出力され、サンプルク
ロックTsHはカウンタ部10のゲー)G4及び帰還回
路6に出力されている。
出力され、転送パルスΦ1は転送ゲート2及びカウンタ
部10のゲートG1に出力され、リセットクロックTえ
はカウンタ部10のゲートG2に出力され、サンプルク
ロックTsHはカウンタ部10のゲー)G4及び帰還回
路6に出力されている。
カウンタ部10はカウンタCNT、ゲー)G1、G2.
G3.G4で構成されている。カウンタCNTは2進4
桁のカウンタでありカウント値が16になると、オーバ
ーフローする。端子A、 B、 C,Dには初期値がプ
リセットされ、その初期値にクロック入力端子CLKか
ら入力されるカウントパルス(反転されたリセットクロ
ックT++)を積算する。その積算値がオーバーフロー
した時端子RCOから“H”を出力する。前記初期値は
分解能によっ、て決定され、ブリセントされる初期値を
mとすると、m=15−にで求めることができる。この
カウンタCNTのロード端子LDにはゲートG1が接続
されこのゲートG1には転送パルスΦ7.前記端子RC
Oの出力が入力されている。このゲー1−Glは前記2
個の入力のいずれか一方が“H”になる毎に、“L”を
出力してカウンタCNTに前記初期値をブリセントさせ
る。ゲートG2はリセットクロフタΦ、を反転して前記
クロック入力端子CLKに供給している。ゲートG3は
アンドゲートであり、前記リセットクロックT、と端子
RCOの出力が入力されている。双方の出力が“H”に
なった時このゲートは“H′を出力する。ゲートG4は
アンドゲートであり、サンプルクロックT3Mと端子R
COの出力が入力されている。双方の出力が“H”にな
った時このゲートは“H゛を出力する。ゲートG3の出
力はリセットゲー)RGに供給され、ゲートG4の出力
はサンプルホールド回路4及び帰還回路6に供給されて
いる。以上の構成でに−3の場合のΦ。
G3.G4で構成されている。カウンタCNTは2進4
桁のカウンタでありカウント値が16になると、オーバ
ーフローする。端子A、 B、 C,Dには初期値がプ
リセットされ、その初期値にクロック入力端子CLKか
ら入力されるカウントパルス(反転されたリセットクロ
ックT++)を積算する。その積算値がオーバーフロー
した時端子RCOから“H”を出力する。前記初期値は
分解能によっ、て決定され、ブリセントされる初期値を
mとすると、m=15−にで求めることができる。この
カウンタCNTのロード端子LDにはゲートG1が接続
されこのゲートG1には転送パルスΦ7.前記端子RC
Oの出力が入力されている。このゲー1−Glは前記2
個の入力のいずれか一方が“H”になる毎に、“L”を
出力してカウンタCNTに前記初期値をブリセントさせ
る。ゲートG2はリセットクロフタΦ、を反転して前記
クロック入力端子CLKに供給している。ゲートG3は
アンドゲートであり、前記リセットクロックT、と端子
RCOの出力が入力されている。双方の出力が“H”に
なった時このゲートは“H′を出力する。ゲートG4は
アンドゲートであり、サンプルクロックT3Mと端子R
COの出力が入力されている。双方の出力が“H”にな
った時このゲートは“H゛を出力する。ゲートG3の出
力はリセットゲー)RGに供給され、ゲートG4の出力
はサンプルホールド回路4及び帰還回路6に供給されて
いる。以上の構成でに−3の場合のΦ。
、Φ8、φ8、Φ、Hのタイミングを示すと第2図の様
になる。
になる。
次に上記の構成からなる画像読取装置の動作を第3図の
タイミングチャートを参照して説明する。最初にカウン
タCNTに初期値mがブリセントされ、センサSが原稿
の微少面積の濃度を検知しはじめるとクロック回路9は
転送パルスΦ1を出力してその濃度信号をシフトレジス
タSRに転送し、同時にリセットクロックTllによっ
てカウンタCNTが計数しはじめる。次にクロック回路
9はシフトクロックΦ1.φ、を出力してシフトレジス
タSRの出力信号を順次フローティングキャパシタCに
蓄積してゆく。k回の蓄積が行われるとカウンタ部10
はサンプルパルスΦ□を出力し、バッファ3の信号出力
■をその時点でサンプルホールドする。即ち、k個のデ
ータがフローティングキャパシタCに蓄積されると、リ
セットクロックT、もに回出力されているのでカウンタ
CNTはオーバーフローし端子RCOから“H”を出力
する。そのためゲートG4からはサンプルパルスΦ、H
が出力され、このパルスΦS、によってサンプルホール
ドされる。またこのときゲートG3からもリセットパル
スΦ8が出力される。それによって、フローティングキ
ャパシタCはリセットされる。アナログ増幅器5は入力
されたサンプルホールド出力Vを増幅率μで増幅し、ア
ナログ・デジタル変換器7に出力する。増幅率μはμ=
μ。
タイミングチャートを参照して説明する。最初にカウン
タCNTに初期値mがブリセントされ、センサSが原稿
の微少面積の濃度を検知しはじめるとクロック回路9は
転送パルスΦ1を出力してその濃度信号をシフトレジス
タSRに転送し、同時にリセットクロックTllによっ
てカウンタCNTが計数しはじめる。次にクロック回路
9はシフトクロックΦ1.φ、を出力してシフトレジス
タSRの出力信号を順次フローティングキャパシタCに
蓄積してゆく。k回の蓄積が行われるとカウンタ部10
はサンプルパルスΦ□を出力し、バッファ3の信号出力
■をその時点でサンプルホールドする。即ち、k個のデ
ータがフローティングキャパシタCに蓄積されると、リ
セットクロックT、もに回出力されているのでカウンタ
CNTはオーバーフローし端子RCOから“H”を出力
する。そのためゲートG4からはサンプルパルスΦ、H
が出力され、このパルスΦS、によってサンプルホール
ドされる。またこのときゲートG3からもリセットパル
スΦ8が出力される。それによって、フローティングキ
ャパシタCはリセットされる。アナログ増幅器5は入力
されたサンプルホールド出力Vを増幅率μで増幅し、ア
ナログ・デジタル変換器7に出力する。増幅率μはμ=
μ。
/にとなっているから、アナログ増幅器の出力は入力を
kで除した大きさになっている。以下同じ様にして、全
てのシフトレジスタの濃度信号をシフトするまで、前記
の動作を繰り返す。
kで除した大きさになっている。以下同じ様にして、全
てのシフトレジスタの濃度信号をシフトするまで、前記
の動作を繰り返す。
以上の動作によって画素の間引き等を行わなくても複数
個の画素の濃度平均をとって分解能を変換することが出
来る。なお、本実施例ではカウンタCNTに任意の値を
プリセットできるためkを変えることが容易である。こ
のため例えば12d0ts/IIIIlのCCDを使用
した場合、K=2.3,4,6.12に設定すると6.
4. 3. 2. 1dots/IIIIIlの分解
能を得ることが容易にできる。また、本実施例では第2
図に示すようにシフトクロックΦ8.Φ2をクロック幅
T、 Ts (T<Ts )として、短いパルス幅T
の部分の立ち上がり、立ち下がりにてシフトするように
しているため、信号出力読み出し時間が短くなり、高速
化する利点がある。
個の画素の濃度平均をとって分解能を変換することが出
来る。なお、本実施例ではカウンタCNTに任意の値を
プリセットできるためkを変えることが容易である。こ
のため例えば12d0ts/IIIIlのCCDを使用
した場合、K=2.3,4,6.12に設定すると6.
4. 3. 2. 1dots/IIIIIlの分解
能を得ることが容易にできる。また、本実施例では第2
図に示すようにシフトクロックΦ8.Φ2をクロック幅
T、 Ts (T<Ts )として、短いパルス幅T
の部分の立ち上がり、立ち下がりにてシフトするように
しているため、信号出力読み出し時間が短くなり、高速
化する利点がある。
〈発明の効果〉
以上のようにこの発明によればバッファのリセットパル
ス周期を設定し、且つ、その周期に応じてバッファ出力
を除するようにしたので、複雑な画素平均化のためのハ
ードウェア、ソフトウェア手段を不必要とし、回路構成
が非常に簡単になる。またソフトウェアによる平均化処
理がないために分解能を低下させても実時間で処理でき
る利点がある。
ス周期を設定し、且つ、その周期に応じてバッファ出力
を除するようにしたので、複雑な画素平均化のためのハ
ードウェア、ソフトウェア手段を不必要とし、回路構成
が非常に簡単になる。またソフトウェアによる平均化処
理がないために分解能を低下させても実時間で処理でき
る利点がある。
第1図はこの発明の実施例である画像読取装置のブロッ
ク図、第2図は主要クロック、パルスのタイミングを示
す図、第3図は上記実施例のタイミングチャートである
。 l−センサ部、2−転送ゲート、 3−バッファ、4−サンプルホールド回路5−アナログ
増幅器、6−帰還回路、 9−クロック部、10−カウンタ部、 S−センサ、SR−シフトレジスタ、 C−フローティングキャパシタ、 RG−リセットゲート、 CNT−カウンタ、 Gl、G2.G3.G4−ゲート。
ク図、第2図は主要クロック、パルスのタイミングを示
す図、第3図は上記実施例のタイミングチャートである
。 l−センサ部、2−転送ゲート、 3−バッファ、4−サンプルホールド回路5−アナログ
増幅器、6−帰還回路、 9−クロック部、10−カウンタ部、 S−センサ、SR−シフトレジスタ、 C−フローティングキャパシタ、 RG−リセットゲート、 CNT−カウンタ、 Gl、G2.G3.G4−ゲート。
Claims (2)
- (1)原稿の微少面積の濃度を検出するセンサを一列に
配列するとともに、前記センサによって検知された原稿
の各微少面積の濃度信号をシリアルに出力する読取回路
と、この読取回路からシリアルに出力される濃度信号を
蓄積して出力するとともに、一定時間毎にリセットして
初期状態に設定されるバッファとを備える画像読取装置
において前記バッファをリセットするリセットパルスの
周期をk(k>1)個の画像濃度信号が蓄積される期間
に設定する手段と、前記バッファ出力をkで除算して分
解能を1/kに設定する除算手段と、を備えてなる画像
読取装置。 - (2)前記除算手段は、バッファ出力を増幅するアンプ
の増幅率を1/kに低下させる手段である特許請求の範
囲第1項記載の画像読取装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15357884A JPS6130875A (ja) | 1984-07-23 | 1984-07-23 | 画像読取装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15357884A JPS6130875A (ja) | 1984-07-23 | 1984-07-23 | 画像読取装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6130875A true JPS6130875A (ja) | 1986-02-13 |
Family
ID=15565551
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15357884A Pending JPS6130875A (ja) | 1984-07-23 | 1984-07-23 | 画像読取装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6130875A (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57138262A (en) * | 1981-02-20 | 1982-08-26 | Fuji Xerox Co Ltd | Conversion system for main scanning line density |
-
1984
- 1984-07-23 JP JP15357884A patent/JPS6130875A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57138262A (en) * | 1981-02-20 | 1982-08-26 | Fuji Xerox Co Ltd | Conversion system for main scanning line density |
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