JPS6130287B2 - - Google Patents

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JPS6130287B2
JPS6130287B2 JP56113193A JP11319381A JPS6130287B2 JP S6130287 B2 JPS6130287 B2 JP S6130287B2 JP 56113193 A JP56113193 A JP 56113193A JP 11319381 A JP11319381 A JP 11319381A JP S6130287 B2 JPS6130287 B2 JP S6130287B2
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JP
Japan
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digitizer
cursor
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JP56113193A
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JPS5814287A (ja
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Hajime Kuwabara
Toshio Iino
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Yokogawa Electric Corp
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Yokogawa Hokushin Electric Corp
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/046Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by electromagnetic means

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、電磁結合方式によりカーソルの位置
を測定するデイジタイザに関するものである。
デイジタイザは図面等のアナログ表示からデイ
ジタル形式のデータを導き出すのに好適なもので
あるが、位置付け要素であるカーソルやペンの位
置をいかなる手段を用いて測定するかによつて
様々な種類がある。代表的なものとして、機械
式、静電式、電磁式、音響式、光式の手段があ
る。この中機械式は操作性に難点があり、静電式
と光式はデイジタイズ媒質の材料に制限を受け、
また音響式は気温などの変化を受けやすいので、
現在では電磁式が最も汎用性に富び欠点の少ない
ものと言われている。電磁式すなわち電磁結合方
式にも種々のものがあるが、第1図にその従来の
電磁結合方式によるデイジタイザの一例を示す。
第1図は特に位置検出部の要部を示す説明的構成
図である。すなわち、第1図イに示す平面板1に
形成されたジグザグ状の2相検出ループ(Xcos
線、Xsin線よりなる検出ループ)2,3で、カ
ーソル4かから発生する磁束を検出し、その位相
からカーソル4の位置を検出するものである。こ
の場合、カーソル4の相対位置と検出ループ2の
起電流との関係は、第1図ロに示すような関係に
あり、起電流より相対位置を検出することができ
る。しかし、第1図イに示すようなループにおい
ては1ピツチ隣りに位置した場合との区別がつか
ないので、第1図ハに示すような区域検出用ルー
プ5をもう1組併設し、判別できるように構成し
ている。
そのため、多数のループ基板を必要とし、これ
に関連して回路が複雑となるばかりでなく全体と
しても高価にもなるという欠点があつた。
本発明の目的は、このような欠点を解消し、従
来のデイジタイザと同程度の精度で位置座標を読
み取ることのできる安価なデイジタイザを提供す
ることにある。
以下図面を用いて本発明を詳細に説明する。第
2図は本発明に係るデイジタイザの一実施例を示
す要部構成図である。第2図において、30は磁束
発生コイル(図示せず)を有し、その中央部分に
位置合せ用の指標(十字状マークなど)を備えオ
ペレータが絶縁板20上を自由に任意方向に移動
し得るように構成された磁束発生カーソルで、発
振器26の基準クロツクを第1の分周器27で分
周して得たパルスP1によつて磁束発生コイルが駆
動されるようになつている。20はプリント板又
はガラス等のような絶縁板で、その表面に複数の
導体ループ21(図では6個のループ21〜2
を示す)を一定のピツチで配設したものであ
る。導体ループ21の端はスイツチ22に接続さ
れ、このスイツチは入力端24に印加されるパル
スP2に同期してループ21〜21の出力信号
を順次切換えて同調回路31へ導くようになつて
いる。パルスP2は前記磁束発生カーソル30を付
勢するパルスP1を第2の分周器28で分周して得
ており、実施例では第3図に示すようにパルスP1
を1/2分周したものとなつている。同調回路31
は第4図に示すようなバンドパス特性を有し、そ
の同調周波数をカーソル30に与えられるパルス
P1の周波数と等しくなつたもので、導体ループ2
〜21に生ずる起電力信号の中からパルス
励磁によつて生じた高調波を減衰除去して同調周
波数近傍の信号のみを通過するように作用するも
のである。同調回路31の出力は増幅器32を介
して有極性検波器33に導かれている。この検波
器33としては同期検波器などを使用することが
できる。検波器33の出力は第5図に示すような
波形で、この波形の生ずる発生時間は外側のルー
プ21からカーソル30までの離間距離に対応
している。バンドパスフイルタ34は検波器33
の出力の基本波(第6図のロ)のみ取り出すもの
である。カウンタ35は、スイツチ22がループ
出力を走査し始めてからフイルタ34の出力が正
から負に向う途中で零を横切るまでの期間発振器
26のクロツクを計数する。この場合、零を横切
る点はカーソル30の位置より90゜ズレているの
で、最初に走査される導体ループ21より90゜
位相のずれた位置に配設されている導体ループ
(21i)を選択し駆動するときのパルスP2がスイ
ツチ22の出力端25より出力され、このパルス
をカウンタ35のスタートパルスとして使用して
いる。
なお、前記導体ループ21iが何番目の導体ル
ープに当たるかは、導体ループの数と導体ループ
のスキヤン周波数(パルスP2の周波数)によつて
定まる。
このような構成における本発明の動作を次に説
明する。発振器26のクロツクを分周器27で分
周して得た第3図のイに示すパルスP1によつてカ
ーソル30のコイルを付勢し磁束を発生させる。
そこで、パルスP1を更に分周器27で分周して得
た第3図ロに示すパルスP2に同期して、同図ハ〜
チに示すように導体ループ21〜21を順次
に選択する。導体ループに生じた信号は同調回路
31を介して高調波が除去され、続いて増幅器3
2で適宜に増幅された後有極性検波器33に導か
れる。この交流信号はここで検波され第5図に示
すような脈流信号となる。続いて、バンドパスフ
イルタ34により脈流信号の基本波を検出し第6
図ロに示すような正弦背状の出力を得る。一方、
カウンタ35は第6図イに示すような、スイツチ
22の出力端25より与えられるスタートパルス
により、発振器26からのクロツクの計数を開始
し、前記基本波が零を横切る時点で第6図ハのよ
うに計数動作を停止する。このときのカウンタ3
5の計数値はカーソル30の導体ループ21
らの離間距離に対応している。この対応関係につ
いて詳述すれば次の通りである。
今かりに、カウンタが、導体ループ21を選
択するときのパルスP2をスタートパルスとして受
けて計数動作を開始し、導体ループからの信号の
ピーク値を検出した時点で計数動作を停止するよ
うになつているとすると、カーソル30が導体ル
ープ21上にある場合にはスイツチ22で走査
を開始した直後に信号の最大値が検出され(した
がつてカウンタの計数値は零)、カーソル30が
導体ループ21の上にある場合には操作の最後
の時点で信号のピークが検出される(カウンタの
計数値は最大となる)。この場合、カウンタの計
数値はカーソル30の導体ループ21からの離
間距離に対応する。
ところで、本発明では、上記のようなピーク値
検出時点ではなく、このピーク時点より90゜位相
のずれたゼロクロスの時点を参照してカウンタの
計数動作の開始と停止を行うようにしている。た
だし、この場合、計数動作の開始と停止のタイミ
ングが位相分にして90゜だけずれただけであり、
カウンタの計数値は上記と同様にカーソル30の
導体ループ21からの離間距離に対応する。こ
のようにして絶縁板20上のカーソル30の位置
を検出することができる。
なお、第2図に示す実施例はカーソル30の1
次元的位置を測定する場合のものであるが、2次
元的位置を測定する場合には第7図のように構成
すればよい。すなわち、第2図に示す絶縁板20
をもう1組使用し、互いに導体ループが直交する
ように配置する。新たな絶縁板20aの導体ルー
プはスイツチ22と同様のスイツチ22aで切換
え選択される。スイツチ22aもまたパルスP2
よつて駆動されるが、スイツチ22とスイツチ2
2aは時分割で交互に駆動されるように構成して
ある。例えば、絶縁板20ではカーソル30のX
軸方向の位置を、絶縁板20aではY軸方向の位
置を読み取るものとすれば、スイツチ22,22
aの駆動と同期してX軸座標及びY軸座標を交互
に検出することができる。なお、この場合は、検
出系31〜35をX線座標検出とY軸座標検出に
兼用したが、この検出系も2組用意し、各座標を
同時に測定するように構成してもよい。
更に、絶縁板は1枚にし、その表側と裏側に互
いに直交する導体ループをそれぞれ形成したもの
であつてもよい。また、スイツチ22,22a
も、1組にまとめて同様に作用させることもでき
る。
第2図及び第7図において検波器33は有極性
型のものとしたが、フイルタ34に十分に大きい
Qがあり高調波を減衰除去することができれば、
ダイオードなどの無極性検波器を使用することも
でき、構成の簡単化に役立つ。しかし、このよう
な原理に基づくデイジタイザにおいて最も大きな
誤差を生ずる可能性はバンドパスフイルタ34に
ある。すなわち、フイルタの中心周波数が温度変
化や部品の経時変化等で変化すると、通過周波数
の位相が変化し、直接にカーソル位置の測定誤差
となる。これを解決するために、一例として、第
8図に示すように増幅器32と検波器33又は3
3aとの間にアナログスイツチ41を挿入接続
し、模擬入力により検出系の校正ができるように
構成する。このような構成によれば、第9図に示
すようにカーソル30の位置測定の間にスイツチ
41を切換えて校正モードとし、校正用の模擬入
力をスイツチ41を介して検波器33aに印加し
て時間差を測定しフイルタ34を含む検出系の校
正を行ない、カーソル位置の実測値を補正するこ
とができる。この場合校正モードは必ずしも第9
図のようにカーソル位置測定後に毎回設ける必要
はなく、検出系の安定時間を考慮して適当に間引
いた間隔としてもよい。
なお、模擬入力を与える代りに第10図に示す
ように絶縁板(図示せず)裏側の定められた位置
に固定の磁束発生カーソル30aを配設し、カー
ソル30と30aとの入力をスイツチ41aで択
一的に切換え付勢することにより校正することも
できる。
第11図は第2図又は第7図のデイジタイザを
用いて測定を行なつた場合の誤差曲線を示すもの
で、縦軸は誤差、横軸はカーソルの位置(X軸又
はY軸方向の位置)を表わす。デイジタイズ領域
の中央部は誤差が小さいが、端に近づくにつれて
急激に誤差が増大する。これは第12図からも明
らかなようにカーソル30が端に近づくにつれ
て、導体ループが有限なために片側のサイドロー
プが減少し、フイルタ34を通過した後の出力信
号のピークと通過前の信号のピークとに位相のず
れが生ずるためである。
第13図は第11図に示す誤差の小さい範囲い
わゆる使用可能範囲を拡大したデイジタイザの実
施例を示す構成図で、検波器33とフイルタ34
の間に可変スレツシヨルドの整流回路51を挿入
接続した点を除いては第7図のものと同じであ
る。この整流回路51の出力波形を第14図に示
す。第14図のイは検波器33として有極性型の
ものを使用した場合でかつ整流回路51のスレツ
シヨルド・レベルを零とした場合の出力波形(実
線部)を示し、また第14図のロは無極性検波器
33aを使用した場合であつてかつスレツシヨル
ド・レベルを適宜に高くした場合の出力波形(実
線部)を示す。要するに、この整流回路51を使
用することにより、カーソルの外側に位置する導
体ループからの情報であるサイドローブを除去
し、ループ21,21aが有限であることの影響
を除去することができる。第15図は第13図の
デイジタイザにおいて実測した誤差分布図であつ
て、実質上全面が使用可能範囲となつていること
を示している。
第16図は本発明の他の実施例で、フイルタ3
4の出力電圧を常に一定にし、整流回路51のス
レツシヨド・レベルを一定にしたままでカーソル
位置を測定することのできるデイジタイザの構成
図である。すなわち、前述した第13図のデイジ
タイザにピーク電圧検出器61と比較器62を追
加し、更に増幅器32を可変ゲイン増幅器32a
に置き替えたものである。このピーク検出器61
はフイルタ34の出力電圧のピークを検出し、こ
れを比較器62で比較電圧と比較する。その比較
結果に基づき可変ゲイン増幅器32aのゲインを
制御し、フイルタ34の出力電圧を一定に保持す
る。したがつて、整流回路51に入力される信号
の大きさは常に一定となり、たとえカーソルと導
体ループとの間隔が大きくなつてカーソルの出力
電圧が小さくなつたとしても、スレツシヨルドは
一定のレベルにしたままで位置測定をすることが
できる。
第17図は他の実施例で、スレツシヨルド制御
回路71を用いた点を除けば第7図のものと同じ
である。このスレツシヨルド制御回路71はバン
ドパスフイルタ34のピーク値出力に関連してス
レツシヨルド電圧を定めるもので、例えばフイル
タ34のピーク値が1/2になると整流回路51の
スレツシヨルド電圧も1/2にする。この結果前述
と同様にカーソル信号のサイドロープの影響を除
去した測定を行なうことができる。
以上に述べたデイジタイザの分解能は、主とし
てフイルタ34の短期安定度で決まる。この短期
安定度とは数10〜数100KHzのオーダの位相のフ
ラツキで、ドリフトのような遅い位相の変化は前
述した校正モードを採用することによつて除去で
きるが、この短期安定度は一般には周期測定を何
回か行なつて平均化する以外には手頃な解決策が
ない。例えば、360mmを0.1mmの分解能で測定する
には位相の短期安定度が0.1゜以下である必要が
あるが、これはかなり実現性が困難である。第1
8図はこの問題を解決するための構成を示すもの
で、第17図(第7図、第13図及び第16図も
含む)と異なる点は導体ループの選択にモード可
変型のスイツチ81,81aを用いたことであ
る。このスイツチ81,81aは、ある一定間隔
ごとに並列的にループを同時選択してゆくモード
も持つている。第19図はこの様子を示したもの
で、同図イのモードA(微測定)では測定範囲の
N本のループが順次に選択され、同図ロのモード
B(粗測定)では1本のロープのみが順次に選択
される様子を示してある。図中波線で示した波形
はフイルタ34の出力を示すもので、モードAで
は360゜の位相変化によつて測定する範囲がモー
ドBの1/Nになつており、したがつてそれだけ
分解能を向上させることができる。
ただしこの場合、モードAのみでは第19図イ
からも明らかなように360゜位相のずれた位置で
はそれらは互いに区別がつかないので、モードB
によつてこの区別を行なう。ただし、モードBは
前記区別ができればよいだけであるから、特に高
分解能を必要としない。第20図は動作遷移の一
例を示すもので、特に前述した校正モードを織り
混ぜ、X軸位置測定において校正モード→モード
A→モードB、Y軸位置測定において校正モード
→モードA→モードBという順序で位置測定動作
が行なわれる様子を示してある。
なお、第18図のデイジタイザにおいて、モー
ドAでのフイルタ34の出力波形の周波数はモー
ドBでのそれのN倍である。したがつて検出系と
してN倍の周波数信号に適したもう1組の検出系
を用意する必要があるが、系の簡略化、低廉化を
図る上でスイツチ81,81aにはモードAのと
きのみ一方の入力パルスP2を更に1/Nに分周し
て入力するように構成することにより検出系を1
組とすることができる。
以上説明したように、本発明のデイジタイザに
よれば、従来のデイジタイザが必要とした区域検
出用の導体ループを使用することなく、高精度、
高速でカーソルの位置座標を測定することがで
き、また、信号検出にも高価なAD変換器などを
要することなく更に位置に比例した出力が直接得
られることから補間や非線形補正を全く必要とし
ないので高速で安価なデイジタイザを実現するこ
とができる。
また、カーソルと導体ループの間隔が離れてカ
ーソルの出力が小さくなつても、位相を検出して
いるので出力の大小は誤差にならず、環境条件の
影響を受けにくいデイジタイザを実現することが
できる。
更に、模擬入力あるいはあらかじめ位置付けし
た導体ループ及びカーソルを配設して校正するこ
とにより容易に検出系のドリフト等による位相変
化の影響を除去することができ、またモードAと
モードBとによる微測定と粗測定によつて導体ル
ープ等の密度を上げることなく容易に分解能の向
上を図ることができるなど、実用に供してその効
果は大きい。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のデイジタイザの要部構成図、第
2図は本発明に係るデイジタイザの実施例を示す
要部構成図、第3図は導体ループの選択のタイミ
ングを示す図、第4図は同調回路31の周波数特
性を示す図、第5図は検波器33の出力波形図、
第6図はカウンタ35の動作を説明するための
図、第7図、第13図、第16図、第17図及び
第18図は本発明の他の実施例を示す要部構成
図、第8図及び第10図は校正モードを実現する
場合に採用する部分の要部構成図、第9図は校正
モードを実施する場合の動作遷移図、第11図及
び第15図は絶縁板上でのカーソル位置と誤差と
の関係を示す図、第12図はバンドパスフイルタ
34の入力と出力との関係を示す図、第14図は
整流回路51の機能を説明するための図、第19
図は第18図のデイジタイザで実施するモードA
とモードBを説明するための図、第20図は第1
8図のデイジタイザの動作遷移図である。 20,20a……絶縁板、21,21a,21
〜21,21c……導体ループ、22,22
a……スイツチ、26……発振器、27……第1
の分周器、28……第2の分周器、30,30a
……磁束発生カーソル、31……同調回路、3
2,32a……増幅器、33,33a……バンド
パスフイルタ、35……カウンタ、41,41a
……アナログスイツチ、51……整流回路、61
……ピーク電圧検出器、62……比較器、71…
…スレツシヨルド制御回路、81,81a……電
流スイツチ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 基準クロツクを分周して所定の周波数のクロ
    ツクパルスを得る手段と、前記クロツクに同期し
    て磁束を発生する磁束発生カーソルと、前記磁束
    発生カーソルより発生する磁束を検出するための
    複数個の導体ループを配置してなる絶縁板と、前
    記分周手段から与えられるパルスに同期して前記
    導体ループを順次に選択するスイツチと、前記ス
    イツチからの出力信号を検波する有極性検波器
    と、該検波器からの出力の基本数のみを通過する
    バンドパスフイルタと、前記スイツチからの信号
    により計数動作を開始し前記バンドパスフイルタ
    からの出力信号に基づき計数動作を停止するよう
    に構成され前記クロツクを計数するカウンタを具
    備し、前記導体ループの出力信号の位相に対応し
    て得られた前記カウンタの計数値より前記絶縁板
    上のカーソルの位置を検出できるようにしたこと
    を特徴とするデイジタイザ。 2 2組の導体ループを互いに直交関係で配置
    し、2次元の座標読取りができるようにしたこと
    を特徴とする特許請求の範囲第1項記載のデイジ
    タイザ。 3 前記検波器として無極性検波器を使用したこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のデイ
    ジタイザ。 4 前記カーソルの位置測定の間に検出系の校正
    を行うように構成したことを特徴とする特許請求
    の範囲第1項記載のデイジタイザ。 5 前記バンドパスフイルタの部分は、可変スレ
    ツシヨルドの整流回路を前段に含み、前記検波器
    の出力を適宜のスレツシヨルド・レベルで整流す
    るように構成されたことを特徴とする特許請求の
    範囲第1項記載のデイジタイザ。 6 前記バンドパスフイルタの部分は、可変スレ
    ツシヨルドの整流回路を前段に含み、前記検波器
    の出力を適宜のスレツシヨルド・レベルで整流す
    るように構成されると共に、前記検出器の部分
    は、前記バンドパスフイルタの出力に応じて入力
    信号の増幅率を制御するように構成され、前記ス
    レツシヨルド・レベルを一定にしたままで位置測
    定が行われるようにしたことを特徴とする特許請
    求の範囲第1項記載のデイジタイザ。 7 前記スイツチを、更に一定間隔ごとの導体ル
    ープを同時に選択できるように構成し、微測定及
    び粗測定によりカーソル位置を測定するように構
    成したことを特徴とする特許請求の範囲第1項記
    載のデイジタイザ。
JP56113193A 1981-07-20 1981-07-20 デイジタイザ Granted JPS5814287A (ja)

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JPS60122421A (ja) * 1983-12-06 1985-06-29 Seiko Instr & Electronics Ltd 座標読取装置
JPH0413721Y2 (ja) * 1987-03-13 1992-03-30
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