JPS61292615A - Display device - Google Patents

Display device

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Publication number
JPS61292615A
JPS61292615A JP60134741A JP13474185A JPS61292615A JP S61292615 A JPS61292615 A JP S61292615A JP 60134741 A JP60134741 A JP 60134741A JP 13474185 A JP13474185 A JP 13474185A JP S61292615 A JPS61292615 A JP S61292615A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
film
semi
chromium
amorphous silicon
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60134741A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshihiro Yuasa
湯浅 良寛
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Sanyo Electric Co Ltd filed Critical Sanyo Electric Co Ltd
Priority to JP60134741A priority Critical patent/JPS61292615A/en
Publication of JPS61292615A publication Critical patent/JPS61292615A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To eliminate the need for separate source electrodes and to eliminate the loss of the area of segment electrodes at said points by providing a regment electrode formed with a semi-metallic layer consisting of a high melting metal diffused therein with the semiconductor component of a semiconductor film at the extended point of the semiconductor film of a switching transistor (TR). CONSTITUTION:Gate lines 18 having gate electrodes 19 consisting of two-layered films composed of gold and chrominum are formed on a glass substrate 10. An insulating film 12 consisting of silicon nitride is formed thereon and further an amorphous silicon film is formed thereon to simultaneously pattern and form amorphous silicon film lines 13, operating regions 14 of the switching TRs and electrode regions S1. The chromium film is deposited by evaporation only on the electrode region S1 continuous immediately with the operating region 14 and is subjected to a heating treatment. The semi-metallic layer S2 consisting of chromium and silicon is formed to about 50Angstrom on the surface. The remaining chromium is thereafter removed by etching, then the light transmittable segment electrode 11 consisting of the amorphous silicon having the semi-metallic layer S2 on the surface part is obtd.

Description

【発明の詳細な説明】 0) 産業上の利用分野 本発明はスイッチングトランジスタと結合したマトリク
ス状の表示セグメントを有するアクティブマトリクス型
の表示装置の製造方法に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION 0) Industrial Field of Application The present invention relates to a method of manufacturing an active matrix display device having a matrix of display segments coupled to switching transistors.

(ロ)従来の技術 マトリクス状の表示セグメントを有する表示装置として
は1日経エレクトロニクス1984年1月2日号の記事
「文書と画像表示をねらうフラット・パネル・ディスプ
レイ」に開示されている様に液晶表示器を用いたもの、
エレクトロ・ルミネッセンス表示器を用いたもの1等各
種の表示装置が存在するが、現在は低消費電力大容鰍化
が可能である点で液晶表示器の将来性が高く評価されて
いる。
(b) Conventional technology As a display device having matrix-like display segments, there is a liquid crystal display as disclosed in the article "Flat panel display aimed at displaying documents and images" in the January 2, 1984 issue of Nikkei Electronics. Those using a display device,
There are various types of display devices using electroluminescence display devices, but liquid crystal display devices are currently highly regarded for their potential in the future as they can be manufactured with low power consumption and large capacity.

斯様な従来の液晶表示装置の要部の平面図を第3図(a
)に示し、同図の)にそのX−X線断面図を示す。これ
等の図に於いて、(lQF!、第1のガラス基板。
A plan view of the main parts of such a conventional liquid crystal display device is shown in FIG.
), and a cross-sectional view taken along line X-X is shown in ) of the same figure. In these figures, (lQF!, first glass substrate.

αD・・・は第1のガラス基板(1〔上に窒化シリコン
からなる絶縁膜a3ヲ介して行列配置(約25CIX1
500)された透明なITOからなるセグメント電極で
ある。α3・・・は上記セグメント電極nuttu・・
・間隙の絶縁膜Ω上に縦方向に複数本並列配置したアモ
ルファスシリコン膜ラインであり、各セグメント電極(
Ill(lυ・・・の左下方のスペースに突設した半導
体動作領域(141fi4・・・が設けられている。α
9・・・は各アモルファスシリコン膜ラインfi3・・
・上に配置されたアルミニウム腺からなるドレインライ
ンであり、上記各半導体動作領域(141(141の左
側辺上に重畳したドレイン電極α0161が突設されて
いる。(171(17)・・・は各半導体動作領域Q4
1(141・・・の右側辺上に一部重畳したアルミニウ
ム腺からなるソース電極であり、その右側辺は絶縁膜α
2上で対応する各セグメント電極α1lfiυ・・・の
左下端部と接続されている。a8・・・は上記セグメン
ト電極(113(111・・・間隙位置を横方向に複数
本並列配置されて上記$1のガラス基板(11と絶縁膜
αりとの1間に形成された金とクロムの2層膜からなる
ゲートラインであり、該ラインαの・・・には上記各ソ
ース電極面・・・とドレイン電極rie・・・との間隙
位置の半導体動作領域[141下のゲート電極a9・・
・が一体に突設されている。即ち1図中りで示すドレイ
ン電極αe・・・と、8で示すソース電極(17)・・
・と、Gで示すゲート電極α9・・・と、これ等電極り
、S、 Gに結合しているアモルファスシリコン膜から
なる半導体動作領域a4・・・箇所とに依って薄膜F’
BT構成のスイッチングトランジスタが行列配置されて
おり、各セグメント任υσD・・・は夫々に対応したこ
のスイッチングトランジスタを介してドレインラインa
5・・・に接続されるのである。(100)は上記各セ
グメント電極α1+(11)・・・上記ドレインライン
a9・・・及び上記スイッチングトランジスタ箇所を一
面に被覆した配向膜である。
αD... is a first glass substrate (1) arranged in rows and columns (approximately 25 CIX1
500) is a segment electrode made of transparent ITO. α3... is the segment electrode nuttu...
・It is an amorphous silicon film line arranged vertically in parallel on the insulating film Ω in the gap, and each segment electrode (
A semiconductor operating area (141fi4...) is provided protruding from the lower left space of Ill(lυ...).α
9... is each amorphous silicon film line fi3...
- It is a drain line consisting of an aluminum gland arranged above, and a drain electrode α0161 superimposed on the left side of each of the semiconductor operating regions (141 (141) is protruded. (171 (17) . . . Each semiconductor operating area Q4
1 (141...) is a source electrode consisting of an aluminum gland partially superimposed on the right side of the insulating film α.
2 and connected to the lower left end of each corresponding segment electrode α1lfiυ.... a8... are the segment electrodes (113 (111...) arranged horizontally in parallel at the gap position, and the gold formed between the glass substrate (11) and the insulating film α1 of $1 above. The gate line is made of a two-layer film of chromium, and the line α... has a semiconductor operating region [141 below the gate electrode] located in the gap between each source electrode surface... and the drain electrode rie... a9...
・Protruded integrally. That is, the drain electrode αe shown in Fig. 1, and the source electrode (17) shown by 8.
The thin film F' is formed by the gate electrode α9 indicated by G, and the semiconductor operating region a4 made of the amorphous silicon film bonded to these electrodes, S, and G.
Switching transistors of BT configuration are arranged in rows and columns, and each segment υσD... is connected to the drain line a through the corresponding switching transistor.
5... is connected. (100) is an alignment film that completely covers each of the segment electrodes α1+(11), the drain line a9, and the switching transistor.

一方、■は第2のガラス基板であり、その下面。On the other hand, ■ is the second glass substrate and its lower surface.

即ち第1のガラス基板a〔と対向する面には一面に共通
電極(2D、配向膜(200)が順次形成されている。
That is, a common electrode (2D) and an alignment film (200) are sequentially formed on the surface facing the first glass substrate a.

(至)は上記両差板(1〔、■間即ち面配向膜(100
)、(200)闇に封入された液晶物質であり。
(to) is the distance between the two plates (1 [, ■, that is, the plane alignment film (100
), (200) It is a liquid crystal substance sealed in darkness.

各マトリクスセグメント毎に上記スイッチングトランジ
スタがONする事に依って表示信号、即ち液晶励起電圧
が印加される第1のガラス基板(10のセグメント電極
aυ箇所の液晶物質間が電気光学効果を引き起こす事と
なる。
A first glass substrate to which a display signal, that is, a liquid crystal excitation voltage is applied by turning on the switching transistor for each matrix segment. Become.

(ハ)発明が解決しようとする問題点 上述の如き従来の表示装置に於いては、セグメント電極
αDがスイッチングトランジスタ箇所にてその角が凹ん
でおり、しかもこの角でソース電極(17)と重畳結合
されていたので、セグメント電極■の面積が小さくなる
欠点があった。
(c) Problems to be Solved by the Invention In the conventional display device as described above, the corner of the segment electrode αD is concave at the switching transistor location, and moreover, the segment electrode αD overlaps the source electrode (17) at this corner. Since the electrodes were connected together, there was a drawback that the area of the segment electrode (2) was small.

に)問題点を解決する為の手段 本発明の表示装置は、スイッチングトランジスタの半導
体膜を延在せしめた延在箇所上に高融点並属甲に半導体
膜の半導体成分が拡散されたセミメタル層を形成したセ
グメント電極を備えたものである。
2) Means for Solving the Problems The display device of the present invention includes a semi-metal layer in which the semiconductor component of the semiconductor film is diffused in a high melting point layer on the extended portion of the semiconductor film of the switching transistor. It is equipped with formed segment electrodes.

(ホ)作 用 本発明の表示装置によれば、スイッチングトランジスタ
の半導体膜がそのままセミメタル化されたセグメント電
極に連なっているので、これ等を結合する為の別体のソ
ース電極が不要となる上にセグメント電極がスイッチン
グトランジスタに隣接する事となるので、この箇所での
セグメント電極の面積のロスはない。
(E) Function According to the display device of the present invention, since the semiconductor film of the switching transistor is directly connected to the semi-metalized segment electrodes, there is no need for a separate source electrode to connect them. Since the segment electrode is adjacent to the switching transistor, there is no area loss of the segment electrode at this location.

(へ)実施例 第1[J(a)、(1))に本発明の表示装置の平面図
、及び断面図を示す。同図に於いて、第2図の従来装置
と同一部分には同一符号を付す。同図の表示装置がM2
図のそれと異なる所はセグメント電極συにあり、さら
にこの相違により第1図の如き別体のソース電極(17
)が不要となっている。
(f) Example 1 [J(a), (1)] shows a plan view and a sectional view of a display device of the present invention. In this figure, the same parts as those of the conventional device shown in FIG. 2 are given the same reference numerals. The display device in the same figure is M2
The difference from that in the figure is in the segment electrode συ, and due to this difference, a separate source electrode (17
) is no longer necessary.

即ち、セグメント電極Iはアモルファスシリコン膜の動
作領域a4からさらに延在した電極領域(81)の表面
部に、クロムの如き高一点金属内に上記セグメント電極
頭域(Sl)のシリコンが拡散されてなるセミメタル層
(821形成したものであり、そしてこのセグメント電
極0はスイッチングトランジスタのソース電極部も兼ね
ている。
That is, the segment electrode I is formed by diffusing the silicon of the segment electrode head region (Sl) into a high point metal such as chromium on the surface of the electrode region (81) further extending from the operating region a4 of the amorphous silicon film. A semi-metal layer (821) is formed, and this segment electrode 0 also serves as the source electrode portion of the switching transistor.

斯るシリコン・クロムのセミメタル層(S2)はシート
抵抗がアモルファスVリコンに比べて大巾に小さく、シ
かもこのセミメタルの薄膜層には充分な透光性があるの
で、ITOに代る透明電極として使用し得るものであり
、さらには、ITOとは異なシ、アモルファスシリコン
に対してオーミックコンタクトが行なわれるので、アル
ミニウムの如き別材質のソース電極を必要としないので
ある。
The sheet resistance of such silicon-chromium semi-metal layer (S2) is much lower than that of amorphous V silicon, and this semi-metal thin film layer has sufficient light transmittance, so it can be used as a transparent electrode instead of ITO. Furthermore, since ohmic contact is made to amorphous silicon, which is different from ITO, there is no need for a source electrode made of a different material such as aluminum.

次に斯る表示装置の製造法を概説する。まず。Next, a method for manufacturing such a display device will be outlined. first.

ガラス基板α〔上に金とクロムの2層膜からなるゲート
電極1!Jを有するゲートラインα8t−形成する。
Glass substrate α [Gate electrode 1 consisting of two layers of gold and chromium on top! Form a gate line α8t with J.

その上にプラズマOvD法で窒化シリコンからなる絶縁
膜α2を膜付けし、さらに、プラズマOVD法で100
0A*32を下のアモルファスシリコン膜を膜付けする
。そしてこのアモルファスシリコン膜をフォトリングラ
フイー法にて、アモルファスシリコン膜ライン(13,
スイッチングトランジスタの動作領域(14,並びに電
極領域(31)t−同時にパターンニング形成する。次
に、このアモルファスシリコンからなる動作領域Iから
直ちに連なる電極領域(Sl)上にのみ500A厚程度
のクロム膜を蒸着し、200℃で30分間加熱処理を施
こす。この時1表示電極領域(Sl)のシリコンが高紘
点金属であるクロム中に拡散され、養水電極領域(Sl
)の表面にクロム・シリコンのセミメタル層(Sl)が
50R程度形成される。その後、該セミメタル@(a2
)上に残存したクロム膜1(NH4)20e(NOり6
水溶液中にてエツチング除去すれば、セミメタル層(S
l)を表面部に有するアモルファスシリコンからなる透
光性を有するセグメント電極αυが得られる。
On top of that, an insulating film α2 made of silicon nitride was deposited using the plasma OVD method, and then a 100%
0A*32 is applied to the underlying amorphous silicon film. Then, this amorphous silicon film was formed into amorphous silicon film lines (13,
The operating region (14) and electrode region (31) of the switching transistor are patterned and formed at the same time. Next, a chromium film with a thickness of about 500A is formed only on the electrode region (Sl) that immediately extends from the operating region I made of amorphous silicon. is vapor-deposited and heat-treated at 200°C for 30 minutes.At this time, silicon in one display electrode area (Sl) is diffused into chromium, which is a high-temperature metal, and
) A semi-metal layer (Sl) of chromium-silicon is formed to a thickness of about 50R. After that, the semimetal @(a2
) Remaining chromium film 1 (NH4) 20e (NO 6
If removed by etching in an aqueous solution, the semi-metal layer (S
A light-transmitting segment electrode αυ made of amorphous silicon having a surface portion of the segment electrode αυ is obtained.

最後にアルミニクムにてドレイン電極net有するドレ
インラインr1?)1に形成し、さらに、配向膜(10
0)1に膜付けして、第1のガラス基板側の製造が完了
する。
Finally, drain line r1 with drain electrode net made of aluminum? ) 1, and further an alignment film (10
0) A film is applied to 1 to complete the production of the first glass substrate side.

以上の説明に於いては高鯖点金属としてクロムについて
例示したが、これはクロムに限定されるものではなく、
半導体成分の拡散によって導電性を程するものであれば
よい。
In the above explanation, chromium was exemplified as a high point metal, but this is not limited to chromium.
Any material may be used as long as the conductivity is improved by diffusion of the semiconductor component.

(ト)発明の効果 本発明の表示装置によれば、スイッチングトランジスタ
の半導体膜がそのままセミメタル化されたセグメント電
極に連なっているので、これ等を結合する為の別体のソ
ース電極が不要となる上にセグメント電極がスイッチン
グトランジスタに隣接する事となるので、この箇所での
セグメント電極の面積のロスはない。従って、斯様な表
示装置を液晶表示に採用すれば、各セグメント毎の充分
な光量が得られる事となるので、高品質の画像表
(g) Effects of the Invention According to the display device of the present invention, the semiconductor film of the switching transistor is directly connected to the semi-metalized segment electrodes, so there is no need for a separate source electrode to connect them. Since the upper segment electrode is adjacent to the switching transistor, there is no area loss of the segment electrode at this location. Therefore, if such a display device is used for a liquid crystal display, a sufficient amount of light can be obtained for each segment, resulting in a high-quality image display.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図(a)、(至)は本発明の表示装置の平面図、及
びそのX−X線断面図、第2図(!L)、(1))は従
来装置の平面図、及びそのX−X線断面図である。 α1)d・・・セグメント電極、r1ト・絶縁膜、(1
m−・アモルファスシリコン膜ライン、 (141・・
・動作領域、U51・・・ドレインライン、σG・・・
ドレイン電極、(81)・・・電極領域、(82)・・
・セミメタル。
Figures 1(a) and (1) are a plan view of the display device of the present invention and a sectional view taken along the line X-X, and Figures 2 (!L) and (1)) are a plan view of a conventional device and its cross-sectional view. It is a sectional view taken along the line X-X. α1) d... Segment electrode, r1 to insulating film, (1
m-・Amorphous silicon film line, (141・・
・Operating area, U51...Drain line, σG...
Drain electrode, (81)...electrode region, (82)...
・Semi-metal.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1)並列配置された複数本のゲートラインと、該ゲート
ライン上に層間絶縁膜を介して並列配置された複数本の
ドレインラインとが交差し、このマトリクス状の各交差
点に半導体膜を配置してFETからなるスイッチングト
ランジスタを構成してなり、該各トランジスタのソース
側に表示セグメント電極を結合してなる表示装置に於い
て、上記表示セグメント電極は、上記スイッチングトラ
ンジスタの半導体膜の延在箇所表面部に高融点金属中に
半導体膜の半導体成分が拡散されたセミメタル層を形成
してなる事を特徴とした表示装置。
1) A plurality of gate lines arranged in parallel intersect with a plurality of drain lines arranged in parallel on the gate lines via an interlayer insulating film, and a semiconductor film is arranged at each intersection in the matrix. In a display device comprising switching transistors consisting of FETs, and a display segment electrode coupled to the source side of each transistor, the display segment electrode is located on the surface of the extending portion of the semiconductor film of the switching transistor. A display device comprising a semi-metal layer in which a semiconductor component of a semiconductor film is diffused in a high-melting point metal.
JP60134741A 1985-06-20 1985-06-20 Display device Pending JPS61292615A (en)

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JP60134741A JPS61292615A (en) 1985-06-20 1985-06-20 Display device

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JP60134741A JPS61292615A (en) 1985-06-20 1985-06-20 Display device

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0380226A (en) * 1989-08-23 1991-04-05 Nec Corp Active matrix substrate for liquid crystal display element and production thereof

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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