JPS61292074A - ケ−ブルの残留電圧測定法 - Google Patents
ケ−ブルの残留電圧測定法Info
- Publication number
- JPS61292074A JPS61292074A JP11910085A JP11910085A JPS61292074A JP S61292074 A JPS61292074 A JP S61292074A JP 11910085 A JP11910085 A JP 11910085A JP 11910085 A JP11910085 A JP 11910085A JP S61292074 A JPS61292074 A JP S61292074A
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- Japan
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- voltage
- shielding layer
- conductor
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明はケーブルの絶縁劣化診断に使用する残留電圧の
測定方法の改良に関するものである。
測定方法の改良に関するものである。
〈先行技術と問題点〉
近来、ケーブルの絶縁劣化診断法の１つとして残留電圧
を測定する方法が提案されている。
を測定する方法が提案されている。
この残留電圧法においては、ケーブル導体に直
゛波高電圧を所定時間課電し、次いで、ケーブル導体を
所定時間接地し、而るのち、ケーブル導体の接地を開放
し、この開放後にケーブル導体に回復してくる残留電圧
を測定している。
゛波高電圧を所定時間課電し、次いで、ケーブル導体を
所定時間接地し、而るのち、ケーブル導体の接地を開放
し、この開放後にケーブル導体に回復してくる残留電圧
を測定している。
この残留電圧の発生メカニズムは、直流課電 □に
より絶縁体内部に空間電荷または分極が発生し、該発生
後でのケーブル導体の接地によりこの電荷に対応してケ
ーブル導体及びケーブル外部遮蔽層に誘導電荷が発生し
、この誘導電荷発生後にケーブル導体の接地を開放すれ
ば、その後の絶縁体内部の空間電荷または分極の移動ま
たは消滅に伴い、この電荷と上記の接地開放のケーブル
導体の誘導電荷とのバランスが崩れてケーブル導体とケ
ーブル遮蔽層間に電圧が現われることにある。
より絶縁体内部に空間電荷または分極が発生し、該発生
後でのケーブル導体の接地によりこの電荷に対応してケ
ーブル導体及びケーブル外部遮蔽層に誘導電荷が発生し
、この誘導電荷発生後にケーブル導体の接地を開放すれ
ば、その後の絶縁体内部の空間電荷または分極の移動ま
たは消滅に伴い、この電荷と上記の接地開放のケーブル
導体の誘導電荷とのバランスが崩れてケーブル導体とケ
ーブル遮蔽層間に電圧が現われることにある。
ところで、残留電圧測定法において、直流高電圧の前課
電並びにこの前課電後の残留電圧の測定には、共通のリ
ードケーブルを用いており、直流電圧の前課電時にリー
ドケーブルにも空間電圧が発生し、これが上記残留電圧
の測定誤差になる場合がある。
電並びにこの前課電後の残留電圧の測定には、共通のリ
ードケーブルを用いており、直流電圧の前課電時にリー
ドケーブルにも空間電圧が発生し、これが上記残留電圧
の測定誤差になる場合がある。
〈発明の目的〉
本発明の目的は、リードケーブルに起因するかかる測定
誤差を排除して被測定ケーブルの残留電圧を正確に測定
できる方法を提供することにある。
誤差を排除して被測定ケーブルの残留電圧を正確に測定
できる方法を提供することにある。
〈発明の構成〉
本発明に係るケーブルの残留電圧測定法は、被測定ケー
ブルにりｉドケーブルを介して直流電圧を前課電し、そ
の後接地し、更に該接地の解除後にクープル導体に回復
してくる電圧（残留電圧）を上記リードケーブルを介し
て測定する方法において、上記リードケーブルに、中心
導体上に中間遮蔽層並びに常時接地の外部遮蔽層を有す
る二重遮蔽ケーブルを使用し、直流電圧の前課電時には
、中心導体並びに中間遮蔽層を課電用導体に使用し導体
の接地以後及び残留電圧の測定期間中には中間遮蔽層を
接地することを特徴とする方法である。
ブルにりｉドケーブルを介して直流電圧を前課電し、そ
の後接地し、更に該接地の解除後にクープル導体に回復
してくる電圧（残留電圧）を上記リードケーブルを介し
て測定する方法において、上記リードケーブルに、中心
導体上に中間遮蔽層並びに常時接地の外部遮蔽層を有す
る二重遮蔽ケーブルを使用し、直流電圧の前課電時には
、中心導体並びに中間遮蔽層を課電用導体に使用し導体
の接地以後及び残留電圧の測定期間中には中間遮蔽層を
接地することを特徴とする方法である。
〈実施例の説明〉
以下、図面により本発明を説明する。
第１図において、１は被測定用ケーブルである。Ａはケ
ーブル導体１１に接続したリードケーブルであり、第２
図にも示すように、中心導体２１上に内部絶縁層２１Ｏ
（ゴムまたはプラスチック）を介して中間遮蔽層２２を
設け、該中間遮蔽層２２上に外部絶縁層２２０（ゴムま
たはプラスチック）を介して外部遮蔽層２３を設けであ
る（２３０はゴムまたはプラスチックジーステする）。
ーブル導体１１に接続したリードケーブルであり、第２
図にも示すように、中心導体２１上に内部絶縁層２１Ｏ
（ゴムまたはプラスチック）を介して中間遮蔽層２２を
設け、該中間遮蔽層２２上に外部絶縁層２２０（ゴムま
たはプラスチック）を介して外部遮蔽層２３を設けであ
る（２３０はゴムまたはプラスチックジーステする）。
このリードケーブルＡの外部遮蔽層２３は常時接地であ
る。
る。
第１図において、ＤＣはリードケーブルＡの中心導体２
１に連結した直流高圧電源、ＲＩは充電抵抗、Ｒ２は放
電抵抗、ｓｗｌ、ｓｗ、、ｓｗ３並びにＳＷ４はスイッ
チ、■は電位計であり、リードケーブルＡの中心導体２
１と中間遮蔽層２２とはスイッチＳＷ１を介して結線し
である。ａ並びにｂは接点である。
１に連結した直流高圧電源、ＲＩは充電抵抗、Ｒ２は放
電抵抗、ｓｗｌ、ｓｗ、、ｓｗ３並びにＳＷ４はスイッ
チ、■は電位計であり、リードケーブルＡの中心導体２
１と中間遮蔽層２２とはスイッチＳＷ１を介して結線し
である。ａ並びにｂは接点である。
本発明を実施するには、まず、スイッチＳＷ□をａ接点
側に接触させ、被測定ケーブルｌのケーブル絶縁体に直
流高電圧ＤＣを課電し、ケーブル絶縁体内部に空間電荷
を発生させる。この場合、リードケーブルＡにおいては
、中間遮蔽層２２と中心導体２１とが共に課電電位であ
るために、この間には電界が作用せず、従って、第３図
に示すように内部絶縁層２１Ｏには空間電荷の発生はな
いが、中間遮蔽層２２と外部遮蔽層２３との間には電界
が作用するので、外部絶縁層２２０には空間電荷が発生
する。
側に接触させ、被測定ケーブルｌのケーブル絶縁体に直
流高電圧ＤＣを課電し、ケーブル絶縁体内部に空間電荷
を発生させる。この場合、リードケーブルＡにおいては
、中間遮蔽層２２と中心導体２１とが共に課電電位であ
るために、この間には電界が作用せず、従って、第３図
に示すように内部絶縁層２１Ｏには空間電荷の発生はな
いが、中間遮蔽層２２と外部遮蔽層２３との間には電界
が作用するので、外部絶縁層２２０には空間電荷が発生
する。
このようにしてケーブル導体１１に直流高電圧を前荷電
した後は、スイッチＳＷ２を閉にし、放電抵抗Ｒ２を介
して接地し、更にその後ＳＷ３を閉にし、ケーブル導体
１１およびリードケーブルＡの中間遮蔽層２２を完全接
地する。この中間遮蔽層２２の接地後は、第３図におい
てリードケーブルの中間遮蔽層２２と外部遮蔽層２３と
が共に接地電位となるから、リードケーブルＡの外部絶
縁層２２０に発生した上記の空間型荷を完全に遮蔽でき
る。
した後は、スイッチＳＷ２を閉にし、放電抵抗Ｒ２を介
して接地し、更にその後ＳＷ３を閉にし、ケーブル導体
１１およびリードケーブルＡの中間遮蔽層２２を完全接
地する。この中間遮蔽層２２の接地後は、第３図におい
てリードケーブルの中間遮蔽層２２と外部遮蔽層２３と
が共に接地電位となるから、リードケーブルＡの外部絶
縁層２２０に発生した上記の空間型荷を完全に遮蔽でき
る。
上記のように被測定ケーブルｌのケーブル導体１１を接
地したのち、所定時間経過後スイッチＳＷ、をｂ接点側
にし、更にＳＷ、を開にしてケーブル導体に回復してく
る残留電圧を電位計Ｖによって測定する。この場合、前
記リードケーブルの外部絶縁層の空間電荷は、中間遮蔽
層と外部遮蔽層との間にシールドしであるから、上記残
留電圧に影響を及ぼすようなことはない。
地したのち、所定時間経過後スイッチＳＷ、をｂ接点側
にし、更にＳＷ、を開にしてケーブル導体に回復してく
る残留電圧を電位計Ｖによって測定する。この場合、前
記リードケーブルの外部絶縁層の空間電荷は、中間遮蔽
層と外部遮蔽層との間にシールドしであるから、上記残
留電圧に影響を及ぼすようなことはない。
なお、ケーブル終端部において空間電荷の発生を防止す
るために、第１図において、点線で示すように、ケーブ
ル終端函にガード電極３゜３を設ける場合（例えば、半
導電性テープまたは金属箔の巻付けにより構成）、カー
ド電極３゜３をリードケーブルＡの中間遮蔽層２２に接
続しておけば、カード電極３，３を上記スイッチＳＷ、
〜ＳＷ４の操作と同時に操作でき、作業上有利である。
るために、第１図において、点線で示すように、ケーブ
ル終端函にガード電極３゜３を設ける場合（例えば、半
導電性テープまたは金属箔の巻付けにより構成）、カー
ド電極３゜３をリードケーブルＡの中間遮蔽層２２に接
続しておけば、カード電極３，３を上記スイッチＳＷ、
〜ＳＷ４の操作と同時に操作でき、作業上有利である。
本発明に係るケーブルの残留電圧測定法は上述した通り
、リードケーブルに空間電荷が発生しても、この空間電
荷をケーブル導体の残留電圧に対して遮蔽でき、ケーブ
ル導体の残留電圧を正確に測定できる。
、リードケーブルに空間電荷が発生しても、この空間電
荷をケーブル導体の残留電圧に対して遮蔽でき、ケーブ
ル導体の残留電圧を正確に測定できる。
第１図は本発明において使用するケーブルの残留電圧測
定装置を示す回路図、第２図は本発明において使用する
リードケーブルを示す説明図、第３図は本発明における
リードケーブルの空間電荷の発生状態を示す説明図であ
る。 図において、１は被測定ケーブル、Ａはリードケーブル
、２１は中心導体、２２は中間遮蔽層、２３は外部遮蔽
層、ＤＣは直流高圧電源、■は電位計である。 ３１ｆＪ
定装置を示す回路図、第２図は本発明において使用する
リードケーブルを示す説明図、第３図は本発明における
リードケーブルの空間電荷の発生状態を示す説明図であ
る。 図において、１は被測定ケーブル、Ａはリードケーブル
、２１は中心導体、２２は中間遮蔽層、２３は外部遮蔽
層、ＤＣは直流高圧電源、■は電位計である。 ３１ｆＪ
Claims (1)
- 被測定ケーブルにリードケーブルを介して直流電圧を前
課電し、その後接地し、更に該接地の解除後にケーブル
導体に回復してくる電圧を上記リードケーブルを介して
測定する方法において、上記リードケーブルに、中心導
体上に中間遮蔽層並びに常時接地の外部遮蔽層を有する
二重遮蔽ケーブルを使用し、直流電圧の前課電時には中
心導体並びに中間遮蔽層を課電用導体に使用し、導体の
接地以後及び上記電圧の測定期間中には中間遮蔽層を接
地することを特徴とするケーブルの残留電圧測定法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11910085A JPS61292074A (ja) | 1985-05-31 | 1985-05-31 | ケ−ブルの残留電圧測定法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11910085A JPS61292074A (ja) | 1985-05-31 | 1985-05-31 | ケ−ブルの残留電圧測定法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61292074A true JPS61292074A (ja) | 1986-12-22 |
| JPH0525074B2 JPH0525074B2 (ja) | 1993-04-09 |
Family
ID=14752905
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11910085A Granted JPS61292074A (ja) | 1985-05-31 | 1985-05-31 | ケ−ブルの残留電圧測定法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61292074A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015078905A (ja) * | 2013-10-17 | 2015-04-23 | 株式会社ビスキャス | 空間電荷測定用の校正試料及びこれを用いた校正方法 |
-
1985
- 1985-05-31 JP JP11910085A patent/JPS61292074A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015078905A (ja) * | 2013-10-17 | 2015-04-23 | 株式会社ビスキャス | 空間電荷測定用の校正試料及びこれを用いた校正方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0525074B2 (ja) | 1993-04-09 |
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