JPS61290305A - 標準パタ−ン作成方法 - Google Patents

標準パタ−ン作成方法

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Publication number
JPS61290305A
JPS61290305A JP60132238A JP13223885A JPS61290305A JP S61290305 A JPS61290305 A JP S61290305A JP 60132238 A JP60132238 A JP 60132238A JP 13223885 A JP13223885 A JP 13223885A JP S61290305 A JPS61290305 A JP S61290305A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pattern
coordinates
circuit
similar shape
patterns
Prior art date
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Pending
Application number
JP60132238A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazumasa Okumura
一正 奥村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP60132238A priority Critical patent/JPS61290305A/ja
Publication of JPS61290305A publication Critical patent/JPS61290305A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明はパターンマツチングによシ位置認識を行なう場
合の標準パターン作成方法に関するものである。
従来の技術 近年、リードピッチの狭いICが使われるようになシミ
子機器を組立てる場合にICリードの位置を非接触で認
識してプリント基板等に実装されている。ICリードの
様に複数類似形状位置を認識する方法としては本願発明
人による特許58−86918に詳しく開示されている
ようにパターンマツチングを行ない一致度が周囲におけ
る一致度より大きくなる極大点を検出することにより実
現することができる。
次に上述したパターンマツチングにより複数類似形状の
位置認識をする場合の従来標準パターン作成方法につい
て図面を参照しながら説明する。
例えば対象物が第4図の様に撮像されているとする。こ
の5個の類似形状のうち任意のaの様な形状パターンを
nxm画素画素当し標準パターンとして作成していた。
発明が解決しようとする問題点 しかしながら上記のような方法では、例えば第5図Aの
ように平均的な形状パターンより上部が少し大田した形
状パターンをたまたま標準パターンとしたとしても多数
個の対象物を位置認識する際の対象形状パターンの多く
がBのように上部が少し落ち込んだ形状パターンになっ
ていたとするとパターンマツチングして求めた一致の度
合いが悪くなり認識できない場合も起こる。このように
従来の方法では複数如似形状の平均的な形状を標準パタ
ーンとすることが困難でパターンマツチングを行なって
も一致度が悪くなり認識できないことがあるという問題
点を有していた。
本発明は上記問題点に鑑みパターンマツチングにより複
数類似形状パターンを認識する場合の認識率を向上させ
る標準パターン作成方法を提供するものである。
問題点を解決するための手段 上記問題点を解決するだめに本発明の標準パターン作成
方法は、1ケ所のパターンを収集する手順と、収集した
パターンでパターンマツチングを行ない複数の類似形状
パターンを検出する手順と検出した複数の類似形状パタ
ーンを平均化して標準パターンとするという構成を備え
たものである。
作  用 本発明は上記した構成によって平均化した標準パターン
が得られることになり認識率の向上が図れることとなる
実施例 以下本発明の一実施例の標準パターン作成方法について
、図面を参照しながら説明する0第1図は本発明の第1
の実施例における標準パターン作成方法の構成を示すも
のである。第1図において、11は撮像装置、12は撮
像装置11を駆動するだめの同期信号発生回路、13は
走査ビームの位置を得るための座標発生回路、14は撮
像装置11からの映像信号を2値化する回路からなる前
処理回路、16はシフトレジスタからなる一時記憶回路
、16は一時記憶回路15に記憶されたパターンを2次
元的に切出すための2次元パターン切出し回路、17は
収集パターンの座標を指定するだめの座標指定回路、1
8は収集パターンを記憶するためのパターン記憶回路、
19は複数類似形状パターン検出回路、20はマイクロ
コンピュータ、21はパターンマツチングを行なうため
のマスターパターンを記憶する標準パターン記憶回路で
ある0 以上のように構成された標準パターン作成方法について
、第1図及び第2図及び第3図を用いてその動作を説明
する。
まずI C1,1−ド等の対象物は、撮像装置11によ
り映像信号に変換される。この時の走査ビームは同期信
号発生回路12が発生した同期信号に同期しておりその
座標は座標発生回路13より常時得られている。次に映
像信号は前処理回路14で2値化信号に変換されシフト
レジスタからなる一時記憶回路15へ入力される。この
中から次の2次元パターン切出し回路16によって映像
情報が縦横nxm画素の大きさをもった四角形のパター
ン情報として順次読み出される。座標指定回路17には
あらかじめマイクロコンビ、−夕20より第2図のイの
座標が登録指定されており、常時座標発生回路13から
の出力座標と比較していて指定された座標になった時、
2次元パターン切り出し回路1eより切り出されたパタ
ーンをパターン記憶回路18に記憶する。第2図のイ′
〜ホ′は画面内のイ〜ホの位置におけるわ×m画素のパ
ターンを拡大したものである。マイクロコンピュータ2
゜はパターン記憶回路18iC記憶されたパターンを読
み出すことによシイ′のパターンを得ることができる。
次にイ′のパターンをマイクロコンピュータ2゜にから
標準パターン記憶回路に記憶させる。そして同じ画像に
ついて同様の手段で2次元パターンを順次切り出し複数
類似形状パターン検出回路19へ入力する。複数類似形
状パターン検出回路19では2次元パターン切出し回路
16よシ切り出されるパターンと標準パターン記憶回路
21に記憶されているイ′のパターンと順次比較し一致
度を算出し一致度が周囲8近傍における一致度より高く
かつその−成度がしきい値より高い場合に類似形状とし
てイ′〜ホ′のパターンを検出する。この複数類似形状
パターンを検出する方法は本願発明人による特許58−
86918に詳しく示されている。
最後にマイクロコンピュータ2oにおいてイ′〜ホ′の
パターンの平均値をとシ第2図に示す標準パターンを作
成する。平均値を算出する場合nxm画素のすべての画
素について1画素ずつ濃度の平均を算出したのでは時間
がかかるので第3図に示すフローのように行なう。つま
りイ′のパターンと口′のパターンの排他的論理和をと
り不一致となる画素を示すマツプ1をつくる。同様にイ
′とハ′のパターンからマツプ2をつくる。マツプ1と
マツプ2の論理和をとシマツブ1とする。イ′のパター
ンと二′のパターンの排他的論理和をとり不一致となる
画素のマツプ3をつくる0マツプ1とマツプ3の論理和
をとりマツプ1とする。同様にイ′とホ′のパターンカ
ラマツプ4をつくシマツブ1と論理和をとりマツプ1と
する。マツプ1に示された画素についてのみ濃度の平均
値を算出しイ′のパター/を修正して標準パターンを作
成する。
以上のように本実施例によれば、1ケ所のパターンを収
集する手順と収集パターンでパターンマツチングを行な
い複数の類似形状パターンを検出する手順と検出した複
数類似形状パターン同志の不一致の画素について濃度の
平均値を算出し収集パターンを修正することばよシ標準
パターンを作成することができる。
発明の効果 以上のように本発明は、1ケ所のパターンを収集する手
順と収集したパターンでパターンマツチングを行ない複
数の類似形状パターンを検出する手順と検出した複数の
類似形状パターンを平均化する手順を有することによシ
平均的な標準パターンを作成することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例における標準パターン作成方
法の構成図、第2図は標準パターン作成方法を説明する
図、第3図は複数類似形状パターンを平均化するフロー
チャート図、第4図及び第5図は従来の標準パターン作
成方法を説明する図である。 11・・・・・・撮像装置、12・・・・・−同期信号
発生回路、13・・・・・・座標発生回路、14・・・
・・・前処理回路、15・・・・・・一時記憶回路、1
6・・・・・・2次元パターン切出し回路、17・・・
・・・座標指定回路、18・・・・・・パターン記憶回
路、19・・・・・・複数類似形状パターン検出回路、
20・・・・・・マイクロコンピュータ、21・・・・
・・標準パターン記憶回路。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名法 
  − 第2図 砲準パターン 第3図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)パターンマッチングで複数類似形状パターンの位
    置認識を行なう際に、1ケ所のパターンを収集する手順
    と、上記収集パターンでパターンマッチングを行ない複
    数の類似形状パターンを検出する手順と、上記検出した
    複数の類似形状パターンを平均化し標準パターンとする
    手順を有することを特徴とする標準パターン作成方法。
  2. (2)複数の類似形状パターンを平均化し標準パターン
    とする手順は、複数類似形状パターン相互の排他的論理
    和をとり不一致の画素についてのみ濃度の平均値を算出
    し収集したパターンを修正することにより複数の類似形
    状パターンを平均化する特許請求の範囲第1項記載の標
    準パターン作成方法。
JP60132238A 1985-06-18 1985-06-18 標準パタ−ン作成方法 Pending JPS61290305A (ja)

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JP60132238A JPS61290305A (ja) 1985-06-18 1985-06-18 標準パタ−ン作成方法

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JPS61290305A true JPS61290305A (ja) 1986-12-20

Family

ID=15076596

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JP60132238A Pending JPS61290305A (ja) 1985-06-18 1985-06-18 標準パタ−ン作成方法

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JP (1) JPS61290305A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03134779A (ja) * 1989-10-20 1991-06-07 Fuji Electric Co Ltd 画像処理装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03134779A (ja) * 1989-10-20 1991-06-07 Fuji Electric Co Ltd 画像処理装置

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