JPS61279146A - 電子部品の脚片の不良検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、ＩＣ素子等の電子部品の不良品の検出及び除
去装置、特に基体とぞの両側に連結された複数の脚バー
から（２る電子部品を、傾斜した搬送路上を走行さ【！
ながら、その脚片の状態の良否を検出し、不良品を除去
するようにした装置に関する。

〈従来の技術〉 基体とぞの両側に連結された複数の脚片どからなる電工
部品を、予め回路板等の対応個所に股ＶＪられた複数の
細孔に挿入して、萌配電了部品を回路板上に固定りるよ
うにしているが、近年このＪ、うな挿入作業を高速の自
動挿入装置により行うＪ、うにしている。この場合、回
路板−１−の複数の細孔の相ｑの位置関係１．１１予め
決められているため、７６予部品の脚ｊ）の一部が曲が
るなどしでいると、電子部品を回路板［に挿入すること
がＣぎす、電子部品の一部が欠損【）たＲ綿製品が製造
されたり、作業を中断して不ｆｕ　／”Ｌ：製品をライ
ンから除去しなｃノればイＴらイＴい智の不都合が′１
する。

ぞこで、電子部品を回路板上に固定覆る前に、ぞの脚１
１の連結状態をチェックし、ぞの脚片の曲がりが人きく
回路板１の細孔に挿入できないしのをラインから除去で
る必要がある。

従来は、脚片の前後１１向Ｉ［１ら整列１）１＾ビ＼の
曲り（よ、複数の脚片のぞれぞれの而に光線を当ＩＣ１
その１ヅ０−＋光を検出し、ぞの画像ど往常／−ｊ電工
部品のｌ１１．Ｉｌハのイずｌ置関係を比較して、両省
が一致覆る一ｂの及び誤差か（イ・かで電工部品を回路
板１−に固定するのに支障がへいらのを合格品とし、他
を不良品としてラインから除去するＪ、うにしてい！、
：ｌ。

また、電子部品のＩｔ！、１１ハの整列１〕向に対して
ｌｉ′Ｉ交する向きへの曲りを検出づるためには、脚片
の後方から脚片とはば直交するように光線を照ｑ・１【
ノ、脚Ｈの前方或いは後方から脚ｙ１の状態を一次元画
像として検出し、この画像と正常４１脚ｊ−１の画像−
二を比較することにより脚片の異常を検出ηることが考
えられている。

〈発明か解決しようどする問題点〉 しかしながら、上記したようなｌｉ法では、脚Ｙ７の表
面状態によっては、原註４光の部品のばらつきが大きく
、脚片が正常な位置にあっても反口・１光を検出できず
に、本来合格品とリベきものよでラインから除去してし
まうおそれがある。しかも二次元画像を検出するため（
Ｊは二次元のイメージＰンリか必要となり、装置が複雑
化し］ストアツブにつながるという問題がある。

また、脚片の整列方向への曲りを検出する場合には、光
源或いは検出部か脚１１−の整列方向に整合覆る位置を
占め、電工部品を搬送リ−る際の障害となり、光源或い
は検出部を可動どした場合（、：、は、多数の電子部品
を検査づるＴ程を高速化することが困難とイｒる。

しか−ｂ、脚片の像を、脚片の整列７ｊ向から捕λよう
とするため、脚片列が奥行きを右し、焦点深度の大さい
光学系、またはレーリ゛光線による厳密な平行光線を必
要とし、装置が複♀１１かつ高価どなる不都合かある。

このＪ、うイｒ従来技術の欠点に鑑み、本発明の十イ【
１］的は、脚片の表面状態に左右されることイｒく、し
かも比較的簡単に脚片のいずれの方向への曲りをも検出
することかでき、ざらに高速で作動可能であって、不良
品のみを確実に検出し、かつこの不良品をラインから除
去するようにした装置を提供覆ることを目的どする。

、〈問題点を解決覆るだめの手段〉 このような目的は、本発明にＪ、れば、基体の両側に沿
って整列した複数の脚片を有する電工部品の前記脚片の
不りを検出する装置に於て、前記電子８財Ａを重力にで
搬送可能とした傾斜搬送路と、前記電子部品を１個ずつ
送り出ずために前記搬送路の１流側にδＱ（プられ■＝
スケープメント手段と、下方からの入口・１光を、前記
電子部品の底面に略平行に、かつ前記脚片の整列方向に
対して略直交覆る向きに、前ＭＬ脚１・１に内側から外
側に向（−〕て照削して前記脚バーの前後方向の曲りを
検出ける第１の検出段と、斜め下方からの入射光を、前
記電子部品の底面に略平行に、かつ前記脚ｊ″ｉの整列
方向に対して斜め方向に、前記脚Ｊ１に内側から外側に
向けて照ｑ；１シて前記脚ｊ・１−の左右方向の曲りを
検出する第２の検出段と、前記第１及び第２の検出段の
少なくともいずれかで異常が検出された電子部品をＩＪ
Ｉ除するための排除手段とを具（ｉｆ１ｉリ−ることを
特徴とする電子部品の脚片の不ロ検出装冒をＪｆｉ：　
（ｉｔ、’ＪることにＪ、り達成される。

〈作用〉 このように、脚片の２方向への曲りを、電工部品の１般
送経路を耽ることへ“く、２段階の検出段により検出し
１ｑるため、極めて高速にて脚し″１０曲りをイイｒ実
に（６）出りる（：どか（さる３゜〈実Ｍｌｉ例〉 ｊ′ｌＩ・、木芹明のり「）１う実７＋ｌｌｉ例を添イ
・１の図面に′−）いて訂ｌノく説明覆る。

第′１図（４（１，１１常／１脚ｊ１をイ＋ｔＪるＩＣ
素了］からイｆる電ｒ部品をホ（）ており、１己−ルト
成形しく　／；る基体２０両側曲にぞれぞれ枚数の脚片
３．４か設ｃノられＣいる３、基体２の前幅：＋Ｊｔ＝
ｉ／）面識別用のノッ゛ｆ”）か設ｃノられｔいる。　
！、！休２体、１、金型の接合面電、二対１．ト、・す
る分肉１団１（６をイ１し、回部’ｔｊ　１．二梵／１
りるハＩＪ　〕／；Ｔ　メ１．’Ｔ、Ｉ　Ｃ素二ｒ１　
（７）ｉｉｌ（ｌ：ｉｊｉ面７　ｉ　４ｉ４　Ｑｌ、　
−Ｚして脚ｊ１のｈ’ｔ　ｔ？“ｅ゛を決定１すること
かζ′さくＮい。１本発明（コｉ（づり１・（置（，１
６、；、ｊｉｉＫ！線１−リノ１＼じ７．ＴＪ、う４１
脚ｊ１３．１のノ［イｌ）”Ｊ’　ｌｒ’ＩＩにび’ｒ
Ｍｔ後ＩＪ向の曲Ｖ）を検出７することか（゛きる１゜ 第２図１、ｊｌ、発明１７！、１づく装置〆Ｉの第′１
実）＋ｆ１例をホー（Ｊ歇１ｌｌ）１図（ル１６　＋１ １ｉ−−−シングー＋　１　Ｌｌ、、前後ツノ向（ごつ
い（の断面か１１角形をイ１しの−（、該）ｉ−シング
１１の上部側面１２及びト部側向１３Ｌｌ　、　？ｊい
に＼ｌ′行をなＥノ、かつ傾斜しでいる。各側面１２．
１３に（３ｒ５．１７４体２と脚片３．４どから／Ｔる
ＩＣ索子１か通過ｉｉＴ　ｒｌｌ；なＩＣＣ１０導入孔
１５及び取出孔１６かＶＸ、設されている。導入孔１５
及び取出孔１６の外側に（３１、マガジン（図ホｔ！ず
）が取着され、ＩＣ索子１を１列に複数個収容し得る筒
状体１４の聞［１部を、ぞれぞれ前記２９人孔１５及び
取出孔１６（Ｊ順次整合し得るＪ、うに４１つている、
１導入孔１ｈと取出孔１６との間には、搬ｊス路部材１
７が架設され、ＩＣ索子１が該搬走路部１，４１７十を
自車に、」、り走行し得るＪ、うになっている。

搬）ス路８旧・４１７（７）士流畑には、２つの王アシ
リング１Ｂ、１９を前後に配置ジシてなる一１スケ−１
メン１〜装置かム′Ｊ、（−）られ。これら−１−７シ
リング１８．１９を交ｎに作動さｔ！、１０索了′１を
順次１１０送路の下流側に送り出ｉＩＪ：うにしＣいる
。これら両■アシリンダ゛１８．１９間に（９１１、ノ
ツＪ【′！ンリ２　Ｃ）か設Ｃノられ、ＩＣ素子１のフ
ッ−１ミ）を検出覆ることに」、す、その前後方向を識
別し１１７るＪ、う１こ１ノ（ある。このノツーｙレン
リ２０は、紹γ４−波式或いは光学代の６の（゛あって
良く、場合１こＪ、　−、＞−（は、−１アシリング１
８１、二Ｊ、り固定され／；７Ｔ（Ｃ先−Ｃ１の１１１
．１１Ｊ１３．４間の電気（１（抗を測定してＩ　Ｃ索
子１０萌俊ノＪ向を識別りるＪ、・）（ご（〕（Ａ６い
。

Ｔスクープメント」る置のト流側の搬送路部祠１７は、
ｌシ転部分２１をＱ：　Ｌ／でおり、ぞの下側に設（−
Ｊられｌこパルスを一タ２２の回転軸２３　／）’ｉ固
石され、］゛）アシリング２５１こより停止Ｉされ、か
つ二１−７′シリンダ２４（こＪ、り反転部分２１十に
固定されたＩＣ索子１の前後を反転しｌｆるＪ、うにし
である。

エアシリング２４によりＩ　Ｃ素子か固定されると１−
アシリング２５が引き」け゛られ、■アシリング２／′
ｌのビス１〜ン［１ツド２４ａがパルスモータ２２の回
転ｌｌｌ１ｌ１２３ど整合し−ｃいるため、ＩＣ索−７
’−１０＞反転が円滑（こ行われる。

反転部分２１の下流側に（３１、脚片の整合り自回ｔ５
前後方向への曲りを検出りる第１の脚）１小ｌ→１４）
出段が設ｃノられ−でいる。この脚１１不目検出段ト１
１、搬送路部（Ａ１７の左右に対称に配設された２つの
脚ｊ１不Ｉ」検出装置から＜２つ、ぞれぞ才し、基体２
の＝　９− 左右の脚片３．１の整列方向への曲りを同＋１．’ｌに
検出し得るようにしでいる。その下流側−１ｌｉ　（（
二Ｌｌ１、同部分にＩＣ索子１を一時停止１さ１！るた
めの１−ｊ）シリンダ２６が設しノられ゛（いる。

第３図は、この脚片不良検出駅買をハＹ細（、二示り説
明図である。

輻畢四角形状の断面を右１−る（１を体２の７１４１両
端からは枚数の脚）７３．４か突出し、それぞれ！ＩＬ
　’ＪＸ’＋近傍にて下向き（Ｊ折曲されている。Ｉｎ
了１１Ｊ、、１般送路１７十に跨ぐにうにして載１６さ
れ、／ｌｌｉ両側の脚バー３．４の列の間にイＶ！圃（
Ｊるｌ１ｆｌ送路１（′）の下部の１１−右にぞれぞれ
三角形（ハＪリズム２７．２８が配設されている。

プリズム２７．２Ｂの直トには光源２９が設置Ｆ／され
、光源２９からの光線（，１１、プリズム２７．２８に
Ｊ、り向きを☆史され、ぞれぞれ’！Ｆ石ＩＪ向を向く
二つの光線ｉ丁とされろ。本実施例〔１，）日ｉ対称形
をイＴしているため、以下、第３図に於Ｃ−Ｊる右、１
Ｊ向に進む光線についてのみ説明覆る。

右り向に進む光線れＹは、ぞの一部が脚ｊ″ｌ／ｌに当
って遮蔽され、残りが脚１１／ｌのｆｉ’／ｊへ１）Ｉ
Ｅシ、廃０＝ｌ鎖３０にＪ、り第３図に於ＣＩＪるト向
きに１路を一身えられ、レンズ゛３１（、二Ｊ、す、イ
メージ１′！ンリｒ３２−１に像を結ぶ。この像は、例
えば第４ε〕図（、二車゛ｃＪ通り、脚ｊ１／１か存７
１鳳する部分のみか１１ｎいシル１．Ｖｌ・像どイｆる
。Ｉ７ンリ３２の受感部３２ａ（ま線状をな−（１ｔ）
の【・、例えば第３ａ図に於い（線（［）（こＪ、り示
り部分の一次元画１ｇ（をとらえる。

ＩＹンリ３２にし１１、ボールスクリコ−を内載りるパ
ルス」：一夕３３か）中結され、このパルス」−タ３３
にＪ、す１【ンリ３２　Ｃ１，第３図（こ想像線で承り
通りΔ右に移動し、同時に受感部３２ａもイｖ装置が変
わることにイｉる。移動した受感部３２ａに１−）１、
移動前とは巽イｊっだ経路の光線がへ〇Ｎ１シて像を結
ぶこととイ【る。この像は、第３図に於（Ｊる脚片４の
下部に対応部る一次元の像であり、例えば第４ａ図に於
τ線（Ｉ［）により示す部分の像となる。

センリ３２を０．１間的に走査することにＪ−４す、第
４１）図に示すように、とらえられた画像に対応部るパ
ルス信号を得ることができる。第４ｂ図の波形（’Ｉ’
＞（Ｔｒ）はそれぞれ前記線（１）（Ｉｆ）に対応部る
ーｂので、両部分のパルス信８か一致し、それぞれのパ
ルス周期ｐか一定であることから、検出対象となったＩ
Ｃ水子１の１即）’＋／Ｉに曲り、欠損等の不良が無か
ったことを示している。

第５ａ図に示されたノＦ端の脚片フ１　ａ　Ｌｌ　ｉＦ
常であるが、中央の２本の脚Ｈ４［）、４　Ｃｔ；１．
ぞれぞれ曲っており、第５　ｂ図に示されたように、対
応りるパルス波形に於ける対応部分のパルスタイミング
の不一致として検出される。第５ａ図の右端の脚片４　
ｄ　ｌｅｔ、基端部で曲り中間部から遁端部ＩＪか（）
て真直である。従って、第５）［）図に示１ノたＪ、う
（ご、両部分のパルスタイミングが一致ηるか、隣接覆
るパルス間の間隔ｐ′が前−記周期［）とＢ７，７　／
：ｚす、同じく脚片の曲りとしで検出されることとイＴ
る。第６ａ図に示された脚片４は、Ｊべて同一１ノ向に
曲っている。従って、パルス間の間隔ｐ　ｌ；１．一定
であるか、部分（Ｔ）（１１）のパルス波形の間に一定
のずれｑか発生する。

このように、二度の走査により、第１１ａ図（Ｔ）（Ｉ
【）に示１−両部分の像にＪ、るパルスのタイミングの
一致度ど隣接覆るパルス間の間隔が許容範囲内であれば
、号べての脚片がｉ［常であることがｔ）かる。従って
、このＩＣ水子は合格品であり、ぞのまま最終製品と覆
ることができる。このとぎ、脚Ｊ−１の不良の判定を二
つのパルス波形の比較及びパルス間隔の判別にＪ、り行
なうため、基体の位置決めを行う必要かなく、ＩＣ水子
の萌喘面にパリがあつ−Ｃ−ｂ何ら支障が牛し４ｉい３
゜第１の脚片不良検出段の下流側には、第２の脚片不良
検出段が配設されている。これは、脚片３．４の左右ｌ
ｊ向への曲りを検出するための・ｂので゛、１般送路部
＋４１７の左右に前後【ノで配設された２つの脚片ネ１
”Ｊ検出装置からなり、ぞれぞれ、基体ノＦ右の脚Ｂの
７１右ｊ）向への曲りを前後して検出し得るＪ＝う１．
’二／’Ｇつ（いる。ぞの下流側上方には、同部分にＩ
Ｃ素子を−１１：！Ｉ停＋ｔさせるための−［−アシリ
ンダ３４が設（すられ−（”いる。

第７図１５１１、この１ｌｔｌハネｐ検出装置を詳細に
承り説明図である。

偏平四角形状の断面を有する基体２の］ｒ右両端からは
殉教の脚片３．１が突出し、でれぞれ基端近傍にて下向
きに折曲されている。ＩＣ素子１は、搬送路１７上に跨
ぐようにして載置され、左右両側の脚片３．４の列の間
に位置覆る搬送路１７の下部に搬送面に対して約４５°
の角度をなすように反ａ＝Ｊ鏡３５が配設されている。

反射鏡３５の斜め下方にＩＪ団１１の反射鏡３６が設置
され、光源３７からの光線は、反射鏡３６．３５により
向きを変更され、第７図に於ける右方向を向く一つの光
線群とされる。

この光線群は、ぞの一部が脚片４の部分（１）に当って
遮蔽され、残りが脚片４の右方へ直進し、反射鏡３８に
より第７図に於ける下向きに進路を変えられ、レンズ３
９により、イメージレンリー４０上に像を結ぶ。この伽
は、脚片４が存在する部分のみがＯｎいシルエツト像と
なる。センリ４０の受感部４０ａは線状をなすもので、
脚片４が成る水平向と交差する部分（Ｔ）の二次元画像
をとらえる。

１！ンリ４　（１（（１１１、ボールスクリ］−を内截
するパルスし一タ／１１か連結され、このパルスし一タ
４１にに　ｌ’）　１′ビンリ４０　（Ｊ：第７図（ご
想像線で承り通り〕「イー１−に移動し、同時に受感部
４　（’）　ａ　Ｇｉ）！置か変わるこ−Ｚ　ｌｔ−＜
Ｋる３、移動した受感部４０ａには、移動前と１ま巽り
った経路の光線が人則しτ像を結７沢こととイ【る。こ
の像（，１１、第２図（ご於Ｃｌる脚１１４のＶメイｆ
る水ψ線と交Ｈ−Ｊる部分（Ｉ［）の−・次ｉＥ像であ
る。

第８図及び第５）図（，１１、第７図の実ＭＧ例の側面
図び１１−！面図である。冴）−の反射鏡３６　Ｃ１，
搬送面（、二対して約５ε３葭を／１しており、第二の
反射鏡３５の反０１光（月般送面に平行な方向を向いｌ
いる。

イにっで、凹するに、光源３７Ｊ、りの光（Ｊ、ＩＣ索
子１の前方の斜めトｈから両旧１ハの列の間に向けて八
〇・１され、脚片り１１を通過した光線（−１、水平面
上を斜めｆｉ内向こ進行Ｊることと／Ｙる。

このよう（こ、本発明によれば、ａｌｌ　Ｉ’＋−Ｊｌ
ｌを斜め６面に透過しで来る）１１線を捕えるため、受
感部１、＝結は′れ１＝Ｆｔ！　１ご（まＩＩＪＩＩＪ
’＋のｊ巾近が像の人きざの違い２二して川われる。叩
ｔ）、第１０図に示したように、各脚片は、レンズの４
１’／置を表わ１１点から対応−ｉＪる脚片の張る角度
に比例する大ぎさの像どじて受感部４０ａ（こ結１９Ｚ
される。従って、脚Ｊ１を速い一部のから順に７１１〜
４４とし点Ｐから各脚片の張る角度をａ１〜ａ４とすれ
ば、ａｌ　＜ａ２　＜ａ３　＜ａｌとなる。各脚Ｌ１間
の間隔ｉ）１〜ｂ３についても同様の関係が成立する。

従って、イメージ゛１？ンリをｎ；’ｉ間的に走査゛り
ると、第１１図に示されたＪ、うな２つの波形か得られ
、各脚片４１〜／１／Ｉに対応η−るパルス幅Ａ１〜Ａ
４１ま、対応する角度ａ１〜ａ４に比例している。そこ
で、このＪこうへ遠近差の彩管を、幾何学的関係に基づ
゛いて補正することにより、脚片の曲りの判定精度を高
めることができる。

第１１図に示された波形図は、正常イｉ脚片から得られ
たもので、士下方向に間隔をおいて説定された脚片４の
２つの部分（Ｔ）（Ｈ＞に１）いて得られたパルスタイ
ミングが一致しており、しかもパルス間隔が所定の許容
範囲内にある。

第１２図１こ於て１、Ｌ１脚片−’１１が、内向きに曲
り、脚ｊ−’ｉ　／１３か夕Ｆ向き１こ曲っていること
か、２つの１０防から１−１６れだパルスのタイミング
の不一・独として検出される７、第１３図に示されｌこ
波形（こ於いτ１、Ｌ１各脚片−！′１１〜４４に対応
りるリーベてのパルスのタイミングが一致しているが、
隣接覆るパルス間の間隔か適切でイ【いものがあり、脚
片１３が１下方向（Ｊは真めであっても、イ１１しの脚
片よりも外側に張り出（］ていることが解る。

第２の脚片不良検出段の下流側には、不員４１脚Ｉｔを
イ１りるＩ　Ｃ索子を排除するための不也品除去段か設
けらてａ３す、ぞの下流側上方（こ（３１５、同部分に
ＩＣ索子１を一部、〜停止１さ【！るための］アシリン
ダ４２ｈＳＷ堪ノられている。

同部分（ご於（−Ｊる搬送路の一部が搬送路部Ｉ４１７
と（ま別体の（μ肴部材４３からなってａ３す、該枢着
部材の下流側端か俳ＩＩＩＩＩＩ４４により相着され、
該（Ｖ谷部（Ａの中間部の下部にエアシリンダ４５の作
動端が連結されている。ｔ、ｔって、枢着部材４３は下
方の工）７シリンダ４５にＪ：す１μ軸４４を中心に下
向きに回動可１１Ｌとされ−Ｃいる。

各脚片不良検出装置のセンサ３２．４０で得られた検出
結束は、］ン１〜ローラ＝１６に集ｈ１され、ＩＣ素子
の前後が逆であれば、パルス上−タ２２を作動さ！！て
１Ｃ素子の向きを反転さけ、］ごンリ３２．４０の検出
結束に一つでｂ安常か認められたとき１３王、Ｉ［アシ
リンダ／１５を作動さｌｔで、不良な脚Ｊ１を有するＩ
Ｃ素子を相？１部材４３にＪ、す）４置からｉｌｌ除Ｊ
る。

要するに、筒状体１４にＩｌ’２納されＩこＩｎ子１は
、自重により導入孔１５からケーシング１１内の搬送路
部月１７に脣かれて搬送路部＋Ａ１７トを走行する。そ
の間にエアシリング１８により搬送路＃Ａ　１７−１■
の所要個所に２時停止１シて、ノッ・ｆセンサ−２０に
より前後を識別され、向きか逆であれば、反転部材２１
により前後７ｉ向の向きを適１［−化され、第１及び第
２の脚片ネ■（検出ＰＵ　に二Ｊ、り脚片３．１の連結
状態をチェックされる。

第１及び第２の脚片ネ良（類１１段により脚Ｂ−３，４
の前後／ｉ　イｊ方向のいずれかの曲りか検出されｌ、
二どき１．１１、］ン１へＩ’ｌ−ラフ′１６１．二Ｊ
、すｌノ′シリング４５か作動しく、曲−）た脚ｊ１を
イー１−ｄるＩＣ索了１か）］ｘ　和Ｒ旧・Ａ／１３＋
に来たどき（こ、す！像線で示Ｊ通り（１６部（・４４
３をＦ向きに回動さ１ＩＣ１不１良晶イｆ１０索子をフ
ィンから除去りる。１ｌｉｌｌ　Ｉ　’＋　３．７１１
．ＡＣ７１シ゛か検出され＜２かったＩＣ索了−１１Ｊ
、、イ１メ盾部イイ／′１３−１を通過覆る際＋１アシ
リング４ｈか作動１！リー、取出孔１０を通−Ｙ（上部
の筒状体１／１に合楕晶として収納８れる３゜ 〈弁明の効果〉 本発明Ｃ３１２、脚ｊ１の☆荀を検知し４：Ｉ′る☆イ
）′！検出器を設（−）たｌＩｖ送路部＋ｔ、ｌを、電
子部品をぞの山中１こより走行さ一電！、脚Ｊ、−１に
変位が検出され１．Ｔとさ（こ、該検出（こ基いτ１１
直送路部（（から変イ☆が検出された電子部品を除去す
るＪ、うに（ノである。更に、脚）１の☆イス！の検出
１５陵Ｑ−１光を用いず、また、検出）こ置の一部か検
出λ・１象の搬送路ｌ−に突出りることかイ１０゜従っ
て、本発明に基づく装置（ＪＪ、れば、ｔｌｌｌｌ）’
ｉの表面状態によることなく、自動的に電子部品の脚ｊ
１の状態の良否を検出（）て不但品をラインから除去Ｊ
ることがでさ、特に、電子部品は人Ｑｊ　／Ｉ−Ｊｌγ
される場合か多いため、ぞれを高速にしかしかつ精麻良
く検査し１１７ることは経論的＜ｒす＋４１ｊか（−１
メめで大ぎい。

【図面の簡単な説明】

第１図（Ｊ、脚片の曲りを想像線にＪ、り示り電子部品
の斜視図である。 第２図１Ｊｔ本発明（Ｊ基づく装置の実ｈ９（例をｉｊ
いＪ概略説明図である 第３図は第１の検出段を示Ｊ説明図−（ある。 第１Ｉａ〜６ａ図（ン１．イメージレンリ１−に結像さ
れるシル−１−ット像を示Ｊ畢面図である。。 第４［）〜６［）図（，１１、それぞれえ１応（Ｊる像
にス・Ｉ　ｌ１ｉｊｉづるイメージセンリの出力波形を
示り一波形図である。 第７図（３を第２の検出段を示Ｍ説明図である。 第８図及び第９図は、ぞれぞれ第７図に示し！、：実施
例の要部の側面図及び平面図である。 第１０図は脚Ｌ１の遠近差による対応脚ｊ１像の大小関
係を示す説明図である。 第１１−’ｔ　３図（？１．イメージ［′！ンリから得
られる伏目の波形図である。 １・・・ＩＣ：水子　　　　２・・・基体３．４・・・
脚ｊ“１　　　５・・・ノツＪ６・・・分肉１１線　　
　　　７・・・端面１１・・・ｌ−レンズ　　１２．１
３・・・側面１４・・・筒状体　　　　１５・・・尋人
孔１６・・・取出孔　　　　１７・・・搬送路部材１ε
３．１０・・・］アシリンダ ２０・・・ノツ°ｙ　ｔ＝ンリ　２１・・・反転部４Ａ
２２・・・パルスし一部　２３・・・回転軸２４〜２６
・・・−１ｊノシリンダ ２７．２ε３・・・−／′リズム２９・・・光源３０・
・・陵ａ＝１１’！　　　　　３１・・・レンズ３２・
・・１？ンリ　　　　３２ａ・・・受感部３３・・・パ
ルス上−タ　３４・・・、［アシリング３５．３（５・
・・反射鏡　３７・・・）￥；源３Ｆ３・・・艮ｑ・１
鏡　　　　３９・・・レンズ７ＩＯ・・・ｌ？ン−リ　
　　　４０ａ・・・受感部４１・・・パルス−し−タ　
４２・く］アシリンダ４３・・・枢着部材　　　４４・
・・枢軸４５・・・二Ｆアシリンダ　７′１６・・・Ｌ
Ｉン］〜ローラ特許出願人　「１本発条株式会ネ１ 代　　　理　　　人　　弁理」　人　島　陽　−第７図 第８図 第９図 第１２図 手続補正用（方式） ％式％ ２、発明の名称 電子部品の脚片の不良検出１ム置 ３、補正を覆る者 事イ４１どの関係　　特許出願人 名　　称　　　　（／１６／ｌ）日本発条株式会ネ１４
、代理人 居　所　　〒１０２　　東京都千代田区飯田橋１−８−
６渋澤ビル　　電話　２６２−１７６１ 昭和６０年８月７Ｆ目昭和６０年８月２７日発送）６、
補正の対象　願出の図面の簡単な説明の１閑７、補正の
内容　別紙の通り （１）明細１ｊｆｆ３２０頁第１１行の１第４ａ〜６８
図」を「第４図〜第６図のａ」と旧市する。 （２）同第２０頁第１３行の１第４Ｆ）〜６ｂ図−１を
「第４図〜第６図のｂ」と訂正覆る。 （以　十） ＝　１　＝

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）基体の両側に沿って整列した複数の脚片を有する
   電子部品の前記脚片の不良を検出する装置に於て、 前記電子部材を重力にて搬送可能とした傾斜搬送路と、 前記電子部品を１個ずつ送り出すために前記搬送路の上
   流側に設けられエスケープメント手段と、下方からの入
   射光を、前記電子部品の底面に略平行に、かつ前記脚片
   の整列れ向に対して略直交する向きに、前記脚片に内側
   から外側に向けて照射して前記脚片の前後方向の曲りを
   検出する第１の検出段と、 斜め下方からの入射光を、前記電子部品の底面に略平行
   に、かつ前記脚片の整列方向に対して斜め方向に、前記
   脚片に内側から外側に向けて照射して前記脚片の左右方
   向の曲りを検出する第２の検出段と、 前記第１及び第２の検出段の少なくともいずれかで異常
   が検出された電子部品を排除するための排除手段とを具
   備することを特徴とする電子部品の脚片の不良検出装置
   。
2. （２）前記第１の検出段が左右に設けられた１対の検出
   装置からなり、前記第２の検出段が前後に設けられた１
   対の検出装置からなることを特徴とする特許請求の範囲
   第１項に記載の電子部品の脚片の不良検出装置。