JPS6127683B2 - - Google Patents

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JPS6127683B2
JPS6127683B2 JP55057082A JP5708280A JPS6127683B2 JP S6127683 B2 JPS6127683 B2 JP S6127683B2 JP 55057082 A JP55057082 A JP 55057082A JP 5708280 A JP5708280 A JP 5708280A JP S6127683 B2 JPS6127683 B2 JP S6127683B2
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JP
Japan
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light
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outer diameter
area ratio
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JP55057082A
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Taku Sakamoto
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Publication of JPS6127683B2 publication Critical patent/JPS6127683B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F5/00Screening processes; Screens therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/28Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring areas
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/59Transmissivity
    • G01N21/5907Densitometers

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Facsimile Image Signal Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
本発明は、フイルムなどの透過率に基いて透過
濃度を測定したり、印刷物などの反射率に基いて
反射濃度を測定する網点画像濃度計、あるいは、
透過率又は反射率を測定し、それを面積に変換す
る方式の網点面積率計などにおける測定方法およ
び測定装置の改良に関するものである。 従来、このような測定装置においては、測定し
ようとする網点画像の階調変化は、微細な面積の
部分に亘つてまで存在するので、測定面積を定め
るアパーチヤ径は小さいもの程望ましい。しか
し、余り小さくすると、網点画像の測庭の際に、
アパーチヤと網点との相対位置の変化により、測
定値がバラつくと云う欠点がある。 このようなバラつきは、スクリーン線数が大き
いものではほとんど生じないが、スクリーン線数
の小さい粗線スクリーンのもの、特に、10線/cm
程度の印刷物管理用ゲージの測定において著し
い。このような印刷物管理用ゲージは、たとえ
ば、およそ5治×6mm程度の比較的小面積に印刷
されているので、ただアパーチヤ径(測定面積)
を大きくしただけで解決しうる問題とは云えな
い。 本発明は、上述の欠点を除去するためになされ
たもので、スクリーンピツチに比べて余り大きく
ない測定面で、平均網点透過率あるいは反射率
を、高い信頼性のある値で測定する方法を提供す
るものである。 以下、図面に基いて詳述する。 第1図aは、従来の透過型の濃度計あるいは面
積率計の光学系の構成の一例を示す図で、1は白
熱電球などから成る光源、2はコンデンサレン
ズ、3は測定面積を定めるアパーチヤで、遮光性
材料からなり、光源側へ向つて拡大するテーパー
状とすることにより、板の厚さに拘らず、測定面
における光量分布が一様になるようにしてある。
4は被測定物、5は外来光の進入を防止するアパ
ーチヤ、6は拡散板、7はコンデンサレンズ、8
は分光特性補正用フイルタ、9はフオトマルチプ
ライヤなどの光電変換素子である。 その動作概要は、光源1から発した光をコンデ
ンサレンズ2で集光し、アパーチヤ3で定まる測
定面について一様な光量分布を得る。この光は被
測定物4を透過し、被測定物4の透過率に応じて
減衰した光が、受光部へ送られる。受光部では、
アパーチヤ5により外来光の進入は防止され、ア
パーチヤ3で定まる一定面積の光だけを採光し、
拡散板6あるいは拡散板6および図示を省略した
空洞部で拡散し、コンデンサレンズ7により集光
して、フイルタ8で分光特性を補正した後、光電
変換素子9に入力する。 このようにして、光電変換素子9においては、
被測定物4の透過率に比例した光電流を得ること
ができる。また、光電流を一定とした場合には、
光電変換素子9への印加電圧は、被測定物4の透
過濃度に比例する。かかる光電流あるいは印加電
圧を、濃度あるいは網点面積率に変換するのであ
る。 次に、第2図aに、従来の反射型濃度計あるい
は網点面積率計の光学系の構成の一例を示す。 1は白熱電球などから成る光源、2はコンデン
サレンズ、15は遮光筒、16は測定面積を定め
るアパーチヤ、17は被測定物、18はリング状
ミラー、8は分布特性を補正するフイルタ、9は
フオトマルチプライヤなどの光電変換素子であ
る。 その動作概要は、光源1から発した光をコンデ
ンサレンズ2で集光し、アパーチヤ16で定まる
測定面について一様な光量分布を得る。この光
は、被測定物17で反射し、被測定物17の反射
率で定まる減衰した光がリング状ミラー18で反
射し、フイルタ8で分光特性を補正された後、光
電変換素子9へ入力する。 このようにして、光電変換素子9においては、
被測定物17の反射率に比例した光電流を得る
か、もしくは光電流を一定とする場合には、、光
電変換素子9への印加電圧は被測定物17の反射
濃度に比例する。かかる光電流あるいは印加電圧
を濃度、あるいは面積に変換するものである。 本発明者は、上述の構造の濃度計において、ア
パーチヤ3あるいは16の直径を種々変えて、た
とえば、スクリーピツチ1mm(10線/cm)の面積
率50%の網点濃度を測定してみると、第3図示の
ような結果が得られることを見出した。 図において、実線はアパーチヤ3あるいは16
と網点との相対位置関係が、第4図aのように、
アパーチヤ3あるいは16の中心と網点の黒化部
の中心が一致している場合の測定値である。点線
は、アパーチヤ3あるいは16と網点との相対位
置関係が、第4図bのようにアパーチヤ3あるい
は16の中心と網目版の非黒化部の中心が一致し
ている場合の測定値である。 第3図からも明らかなように、スクリーンピツ
チのある定数倍の点に、周期的に、測定誤差が0
となる点が存在することがわかる。これらの点A
は、網点の形状が正方形の場合は、一般式で表わ
すと、およそ A=P×(n+0.25) (1) となる。ここで、nは正の整数、Pはスクリーン
ピツチである。 このような点が存在するのは、アパーチヤ3あ
るいは16の直径を変化させて、測定面に面積率
50%の網点をとらえた場合、網点の黒化部と非黒
化部との占める割合が、等しくなる直径値群があ
るということである。 さらに、このような直径値をもつたアパーチヤ
3あるいは16を使用した場合には、アパーヤチ
の中心と網点の黒化部もしくは非黒化部の中心と
が一致しない場合にも、測定値のバラツキが小さ
いことが確かめられている。 本発明は、同図の測定値の誤差が、プラス、マ
イナス周期的に変化しているので、プラス側誤差
とマイナス側誤差とを互いに打ち消せば、測定精
度を著しく向上させることができる点に着目した
ものである。その要旨は、被測定物の濃度あるい
は網点面積率が原信号である透過率あるいは反射
率を測定するに際して、測定面における透過光あ
るいは反射光の重みづけを、中央部が大きく、周
辺部へ行く程、順次重みを小さくすることにあ
る。 以下実施例について述べる。 まず、測定面の重みづけの特性曲線として考え
られるいくつかの例を、、第5図a〜gに示す。
同図は、測定面の直径方向での重みづけを示し、
重みづけを最大としている中央部の円形を内円と
呼び、その直径を内径と呼び、測定面の直径を外
径と呼ぶものとする。 第5図aは、内円での重みが最大で、内径から
外径にかけて、直線的に重みを低下させ、外径の
所で重みを0としたもの。 第5図bは、内円での重みが最大で、内径から
外径にかけて、非直線的(濃度で直線的)に重み
を低下させ、外径の所で重みを0としたもの。 第5図cは、中央の重みが最大で、以下外径ま
で直線的に重みを低下させ、外径の所で重みを0
としたもの。 第5図dは、中央の重みが最大で、以下外径ま
で指数関数(ガウス分布)的に重みを低下させ、
外径の所で重みを0としたもの。 第5図eは、中央の重みが最大で、以下外径ま
で正弦波的に重みを低下させ、外径の所で重みを
0としたもの。 第5図fは、内円での重みが最大で、内径から
外径にかけて階段的に重みを低下させ、外径の所
で重みが少し残つている場合。 第5図gは、内円での重みが最大で、内円の外
周で1段階重みを低下させ、以下外径にかけて直
線的に重みを低下させ、外径の所で重みが少し残
つている場合を、それぞれ示している。 上述の重みづけの例の全体的特徴あるいは部分
的特徴の組合わせ、および部分的変更などを含め
ると、重みづけの特性曲線は、図示以外にも数多
く考えられる。 上述の重みづけを実施することを考えてみる
と、走査型の光学系を有する濃度計あるいは網点
面積率計においては、後述のように、、光学系に
手を加えても良いし、光学系はそのままにして、
得られた光電信号をデイジタル化し、マイクロコ
ンピユータ等を使用し、第5図示などの重みづけ
にしたがい演算して、濃度あるいは面積率を算出
することも考えられるが、これらはいずれも若干
高価につくものと思われる。 したがつて、第1図aあるいは第2図aに示す
ような一般的によく使われている、濃度計あるい
は網点面積率計の光学系に第5図示などの重みづ
けを実施することを考えてみると、透過型の場合
は、第1図bおよび第7図a,bなどが考えら
れ、反射型の場合は、第2図b,cなどが考えら
れる。 第1図bにおいて、従来の光学系と異なる点
は、被測定物4の手前(光源側)に位置するアパ
ーチヤである。 すなわち、10は遮光板で、その開口10a
は、半透光性板11の有するテーパー状の開口1
1aの大きい側、すなわち光源側の口径と等しく
なつている。11は、プラスチツク、ガラスなど
の半透光性性料よりなるものである。 その光学的性質は、開口部の透過率が最大で、
その外縁で1段階透過率が低下し、以下外径まで
直線的に透過率が低下し、外径の所で少し透過率
を有しているもので、その重みづけの特性曲線
は、第5図gの如くである。 また、上記遮光板10および半透光性板11か
らなるアパーチヤの代りに、第6図示のように、
遮光性板12の中央附近に、周辺部に行く程、幅
が狭くなる多数の微細な放射状切り込みを入れた
開口12aを設けて用いることも出来る。なお、
同図では、簡単のために、切り込みの数は、実際
よりも少くしてある。この場合の重みづけの特性
曲線は、第5図aの如くである。 なお、このようなアパーチヤの例としては、上
述の他に、蒸着の膜厚を周辺に行く程順次厚くし
たもの、写真により周辺に行く程順次濃度を高く
したもの、あるいは、印刷により周辺に行く程順
次濃度を高くしたフイルム状のものなどが考えら
れる。 さらに、アパーチヤとして単なる開口を用い、
第7図aに示すように、投光側のアパーチヤ25
を測定面より浮かせて設置し、測定面の内円が1
番光量が大きく、以下周辺に行く程順次光量が小
さくなるような照射を行なつてもよく、また同図
bに示すように、前記アパーチヤ3を使用して、
測面が一様な光量となるように照射し、かつ受光
側のアパーチヤ26を測定面より浮かせて設置す
ることにより、測定面の内円はそのまま受光し、
以下周辺に行く程、順次受光量を低下させること
も可能である。 次に、反射型の濃度計あるいは網点面積率計
に、本発明を適用した例について説明する。 第2図bは、第6図で例示したような重みづけ
特性を有するフイルム板19を、光源1の近くに
設置し、測定面の中央部分の光量が1番大きく、
以下周辺に行く程順次光量が小さくなるような照
明をした例を示す。 第2図cは、前記のような重みづけ特性を有す
るフイルム板20を、測定面を定めるアパーチヤ
16の近くに設定し、中央部分の光量が一番大き
く、以下周辺に行く程順次光量が小さくなるよう
な照明方法および受光方法を同時に実施した場合
で、その重みづけ特性曲線は、フイルム板20単
独の透過性曲線の2乗特性となる。 次に、上述の外径と内径の寸法の定め方の例
を、いくつか述べる。 まず、外径については、これを小さくすること
は可能ではあるが、汎用性を持たせる意味から
も、また印刷物管理用ゲージの印刷面積が5mm×
6mm程度であることを考慮して、これが測定でき
る寸法である3mm〜5mm程度に定めればよいと思
われる。 次に、内径は、外径との差を勘案しながら定め
られる。 (A 例) (1)式より算出される直径を、内径と外径のほぼ
中央に設定し、その前後に比較的小さい直径差を
設ける。たとえば、測定するスクリーンピツチの
最大値を1mm(10線/mm)とし、4.25mmを中央と
して、プラスマイナス0.25mm程度の偏差を設定
し、内径を4mm、外径を4.5mmとすることが考え
られる。なお、この場合プラスとマイナス側の偏
差を、必ずしも同一に設定する必要はない。 (B 例) 外径を、上述のような物理的な制約などから定
め、外径との差が、測定すべきスクリーンピツチ
の2n倍(n=1,2,3…)程度となるように
内径を設定し、プラス側誤差とマイナス側誤差と
が互いに打ち消すようにする。たとえば、測定す
るスクリーンピツチの最大値を1mmとし、外径を
4.5mmに設定し、内径との差が、網目版ピツチの
2倍となるように、内径を2.5mmとすることなど
が考えられる。 (C 例) 外径を、上述のような物理的な制約などから定
め、外径との差が、測定すべきスクリーンピツチ
の5,6倍以上となるように内径を設定し、プラ
ス側誤差とマイナス側誤差とが互いに打ち消せな
い部分が残つてもその影響が極めて小さくなるよ
うにする。たとえば、最適値と云う意味ではない
が、前例の外径を4.5mm、内径を2.5mmと設定した
場合、外径と内径との差は2mmである。これは、
スクリーンピツチ0.391mm(25.6線/cm)に対し
ては5倍強となり、スクリーンピツチ0.254mm
(39.4線/cm)に対しては8倍弱となる。 つづいて、本発明による測定方法により、面積
率50%の網点濃度を測定した場合の測定値例を、
従来の濃度計によるそれと比較すると、下表のよ
うになる。
【表】 上表において、A例は、従来の濃度計におい
て、測定面の直径を4.5mmとした場合、B例は、
本発明の実施例であり、測定面の重みづけ特性が
第5図aのような濃度計において、内径を4.0
mm、外径を4.5mmとした場合である。 この表からも明らかなように、本発明の実施例
の方が、測定誤差が小さく、効果のあることが実
証されている。 以上、網点画像濃度計を主体として説明した
が、本発明は、網点面積率計にも適用できるもの
はもちろんである。 以上、詳述したように、本発明によれば、スク
リーンピツチに比べて余り大きくない測定面を用
いても、網点画像濃度あるいは網点面積率を、高
い信頼性をもつて測定できると云う顕著な効果が
得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、透過型濃度計あるいは網点面積計の
光学系の概略構成図であり、aは従来品、bは本
発明の一実施例を示すものである。第2図は、反
射型濃度計あるいは網点面積率計の光学系の概略
構成図であり、aは従来品、b,cは本発明の一
実施例を説明するため主要部のみ示す図である。
第3図は、スクリーンピツチ1mmの面積率50%の
網点の濃度を、アパーチヤ径を種々変えて測定し
た結果を示す図であつて、実線は、アパーチヤと
網点との相対位置が、次に示す第4図aのような
場合、点線は、アパーチヤと網点との相対位置関
係が、第4図bのような場合を示している。第4
図は、アパーチヤと網点との相対位置関係を示す
図で、aはアパーチヤの中心と網点の黒化部の中
心が一致した場合であり、bはアパーチヤの中心
と網点の非黒化部の中心が一致した場合を示して
いる。第5図は、測定面直径方向における重みづ
け特性曲線のいくつかの例を示す図である。第6
図は、第5図aの重みづけ特性を有するアパーチ
ヤの実施例を示す図である。第7図は、アパーチ
ヤを測定面より少し浮かして設置し、中央部の重
みが大きく、周辺に行く程順次重みが小さくなる
ようにした一実施例を示し、aは投光側アパーチ
ヤを、bは受光側アパーチヤをそれぞれ加工した
場合を示す図である。 1……光源、2,7……コンデンサレンズ、3
……アパーチヤ、4……被測定物(透過型)、5
……アパーチヤ、6……拡散板、8……分光特性
補正用フイルタ、9……光電変換素子、10……
遮光板、11……半透光性板、12……遮光性
板、12a……開口、15……遮光筒、16……
アパーチヤ、17……被測定物(反射型)、18
……リング状ミラー、19,20……重みづけ特
性を有するフイルム板、25,26……アパーチ
ヤ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 光源と光電変換素子とを備え、それらの間の
    光路上に被測定物を置き、被測定物からの透過光
    あるいは反射光に基いて、濃度あるいは網点面積
    率を求める濃度計あるいは網点面積率計におい
    て、測定面における透過光あるいは反射光の重み
    づけを、実質的に中央部が大きく、周辺に行くに
    したがつて順次小さくなるようにすることを特徴
    とする網点画像濃度あるいは網点面積率の測定方
    法。
JP5708280A 1980-05-01 1980-05-01 Measuring method and device for mesh image density or mesh area rate Granted JPS56154604A (en)

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GB8113160A GB2075186B (en) 1980-05-01 1981-04-29 Measuring halftone dor area rate
US06/259,080 US4465375A (en) 1980-05-01 1981-04-30 Method and device for measuring a halftone dot area rate or a halftone picture density
FR8108650A FR2481800A1 (fr) 1980-05-01 1981-04-30 Procede et dispositif de mesure du pourcentage des parties sombres ou claires par unite de surface de points de demi-teinte d'une image
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JP (1) JPS56154604A (ja)
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FR (1) FR2481800A1 (ja)
GB (1) GB2075186B (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DK552983A (da) * 1983-12-01 1985-06-02 Eskofot As Fremgangsmaade til ved reflektion at maale forholdet mellem svaertet areal og usvaertet areal
JPH0482373A (ja) * 1990-07-25 1992-03-16 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 画像走査読取装置
WO2003085385A1 (de) * 2002-04-04 2003-10-16 Lla Instruments Gmbh Verfahren und spektrometer zur spektroskopischen messung der extinktion, der transmission, der remission oder der reflexion von proben
CZ301842B6 (cs) * 2006-06-21 2010-07-07 Fakulta chemicko-technologická Merení tlouštky transparentních mikrovrstev na transparentním substrátu a optický kalibr
JP2010262012A (ja) * 2009-04-30 2010-11-18 Panasonic Corp 刷版パターンの面積率の測定方法
CN102221525B (zh) * 2010-04-14 2015-04-15 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 一种样本检测光学系统、样本分析装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3053181A (en) * 1958-10-30 1962-09-11 Lithographic Technical Foundat Method for controlling print quality for lithographic presses
US3393602A (en) * 1963-11-22 1968-07-23 David S. Stouffer Light density scanning device
US3375751A (en) * 1964-03-16 1968-04-02 Barnes Eng Co Negative and print densitometer
US3843235A (en) * 1968-09-14 1974-10-22 Minolta Camera Kk Image forming optical system wherein defocus images are improved
US4371265A (en) * 1977-09-13 1983-02-01 Dai Nippon Insatsu Kabushiki Kaisha Dot percentage measuring device
US4264210A (en) * 1977-09-13 1981-04-28 Dai Nippon Insatsu Kabushiki Kaisha Dot percentage measuring device
DE3063518D1 (en) * 1979-09-28 1983-07-07 Gretag Ag Measuring head for a densitometer

Also Published As

Publication number Publication date
GB2075186A (en) 1981-11-11
GB2075186B (en) 1984-07-04
DE3117336A1 (de) 1982-02-18
US4465375A (en) 1984-08-14
JPS56154604A (en) 1981-11-30
FR2481800A1 (fr) 1981-11-06

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