JPS61276229A - ウエハ位置検出装置 - Google Patents

ウエハ位置検出装置

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JPS61276229A
JPS61276229A JP11643185A JP11643185A JPS61276229A JP S61276229 A JPS61276229 A JP S61276229A JP 11643185 A JP11643185 A JP 11643185A JP 11643185 A JP11643185 A JP 11643185A JP S61276229 A JPS61276229 A JP S61276229A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
scanning
angle detector
image sensor
rotary angle
Prior art date
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Pending
Application number
JP11643185A
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English (en)
Inventor
Shigeo Otsuki
繁夫 大月
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、1次元イメージセ/すを用いウェハ外周ニ非
接触で、ウェハ粗位置合わせを行うための位置情報を検
出することに係シ、特に、縮小投影露光装置に好適な、
ウェハ位置検出装置に関する。
〔発明の背景〕
公知例によれば、各回転角に対するウェハ外縁位置デー
タを、マイクロコンピュータ内のメモリに記憶でせると
あるが、回転角の検出法、および回転角と外縁位置デー
タの関連性については配慮されていなかった。このため
、高精度位置合わせおよび高信頼性を確保する上で問題
となっていた。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、1次元イメージセンサを用いウェハ外
周に非接触でウェハの位置合わせを行う装置に対して、
回転角検出器を用い、回転角検出器の出力と1次元イメ
ージセンサの検出データとの間に関連性をもたせること
で、ウェハサイズの変更、および検出機構の負荷変動な
どの影、Wを受けない、高精度なウェハ外縁位置情報検
出手段を\、゛ パ提供することVCある。
〔発明の概要〕
本発明は、ウェハを回転させることでウェハ外縁を光学
的VC1次元イメージセンサ上に投影し、その外縁位置
検出データによシウエハ粗位置合わせを行う装置Ilに
おいて、高精度、かつ高信頼検出データを得るため回転
角検出器を設け、その出力信号を1次元イメージセンサ
の走査タイミングとして使用すれば、等間隔な回転角に
対する離散的なウェハ外縁位置情報を正確に検出できる
ことに着目し、また、回転テーブル上のウェハの存在、
およびその位置検出が可能なよう、外部信号、内部信号
、いずれによっても1次元イメージセンサを走査し、ウ
ェハ外縁位置情報を検出するようにしたものである。
〔発明の実施例〕
第1図に本発明の一実施例である、ウェハ位置検出装置
のブロック線図、第2図にその概略機構図を示す。まず
、第2図、第3図によってウェハ外縁位置情報検出装@
Vcついて説明する。
ウェハ20を真空吸着、回転せしめるθテープ/v21
、および軸の他端に回転角検出器1を備え、歯車22V
cよシ駆動モータ23の回転力を伝達する機構系、さら
に光源24、集光レンズ25Vcよシウエハ外縁を照射
し、結像レンズ26を通して1次元イメージセンサ10
上に、ウェハ20の外縁位置を結像させる光学系とから
成る装置において、第3図(a)VC示す如く、θテー
ブル211C対しウェハ20が偏心して真空吸着されて
いる場合、1次元イメージセンサ10上に投影されたウ
ェハ20の外縁位置像(映像信号)F′i第3図(b)
の如く暗部、明部のけつきりした2値化信号に近いもの
となる。
この明暗の分れ目、すなわちa点のCCDアドレスをウ
ェハ外縁位置データとし、前記、駆動モータ23によシ
θテーブル21すなわちウエノ九20を回転させながら
、回転角検出器1の出力信号である回転角データおよび
ウェハ外縁位置データを連続して検出することにより、
第3図(c)VC示すように離散的ではあるが、ウェハ
20,1WfJ分の等間隔な回転角αに対する外縁位置
データL、、l、。
t3・・・tn  合計n点のサンプリングデータを得
ることができる。ここでOはθテーブル210回転中心
、whウェハ20の中心を示すものである。
次に、第1図によt)n点のサンプリングデータの収集
法について説明する。計算機4はサンプリング数n、お
よび回転角検出器1の分解能にもとづき、プログラマブ
ル分周回路3vC分周比19をセットし、回転角検出器
1の出力信号によってウェハ外縁位置データが検出でき
るよう、走査信号切換回路6を制御する。一方、1次元
イメージセンサIOHダイナミックな素子であるためそ
の制御信号として、シフトクロック13および走査開始
信号14が必要となるが、クロック発振回路5で作成し
た基本クロック16および前記、走査信号切換回路6よ
シ出力される走査開始要求信号15がタイミング発生回
路7の内部で同期化され、前記、1次元イメージセンサ
10の制御信号として出力されるようになっている。す
なわち、駆動モータ23Vcよって回転されたウェハの
回転角情報が、回転角検出器1によって高精度に検出さ
れ、1次元イメージセンサ10を走査し、センサ出力信
号11が映像増幅回路9.2値化回路27を通してウェ
ハ外縁位置データ(CCDアドレス)28として計算機
4に入力されるようになっている。
こうすることによシ、駆動モータ23が回転ムラ(速度
変動)を起こしても、高精度に回転角と外縁位置データ
との相対関係を維持しつつ、n点のデータをサンプリン
グすることが可能となる。
ここでバイアス回路8は、センナを動作させるためのセ
ンサ駆動電圧12を発生するものである。
次に、1次元イメージセンサ10によるθテーブル21
上のウェハ20の存在、位置検出法について説明する。
前記n点データのサンプリング時は、θテーブル21を
回転させることによシ走査開始要求信号15を発生させ
たが、ウェハの存在、あるいけその位置を検出する場合
VCは、θテーブル21を回転させずとも、プログラマ
ブル分周回路3から出力される外部走査信号18と等価
な内部走査信号17を、内部走査信号発生回路2よシ走
査信号切換回路6に入力することで、1次元イン、−ジ
センサ10を動作させることが可能となつ−′ており、
これらの切換えは、計算機4からの命令で行えるように
なっている。
第4図は、ウェハ20と1次元イメージセンサ10の相
対位iffに対する外縁位置像との関係を示したもので
ある。第4図(a)、 (b)は共に明暗の分かれ目が
あり、これらの位置関係の違いは外縁位置a点の前後を
調べること、すなわち立上シなのか立下りなのかを判定
することにより両者の区別が可能である。また、84図
(C)、 (d)は共に外縁位置a点が見つからない場
合であるが、(C)はウェハが1次元イメージセンサを
まったく覆ってしまった場合、(b)H1次元イメージ
センサ上にウェハが無い場合で、これら両者の区別は、
1次元イメージセンサの出力を走査開始から走査終了ま
での期間、明暗を判定することで可能となる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明によれば、1次元イメージ
センサを用い、ウェハ外周に非接触でウェハの位置合わ
せを行う装@VC対して、ウェハサイズが変更になった
場合の検出精度の維持、および検出機構の負荷変動、回
転ムラ等の影響防止による検出精度向上に効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はウェハ外縁位置検出装置のブロック線図、第2
図はウェハ外縁位置検出装置の概略機構図、第3図、第
4図はウェハと1次元イメージセτ\ ン茗との相対位置関係に対する外縁付着データのプロフ
ィールを示す図である。 1・・・回転角検出器、2・・・内部走査信号発生回路
、3・・・プログラマブル分周回路、4用計算機、5・
・・クロック発振回路、6・・・走査信号切換回路、7
・・・タイミング発生回路、8・・・バイアス回路、9
用映儂増幅回路、10・・・1次元イメージセンサ(C
CD)、11・・・センサ出力信号、12・・・センサ
駆動電圧、13・・・シフトクロック、14・・・走査
開始信号、15・・・走査開始要求信号、16・・・基
本クロック 17・・・内部走査信号、18・・・外部
走査信号、19・・・分周比、20・・・ウェハ、21
・・・θテーブル、22・・・歯車、23・・・駆動モ
ータ、24・・・光源、25・・・集光レンズ、26・
・・結像レンズ、27・・・21化回路、28・・・ウ
ェハ外縁位置データ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、半導体製造装置用ウェハ位置検出装置において、1
    次元イメージセンサ(CCD)、および、光源、さらに
    ウェハを真空吸着、回転させるθテーブル、および回転
    角検出器を具備し、透過光を用いウェハ1周にわたり、
    n点の等間隔な回転角に対する離散的なウェハ外縁位置
    情報を検出する手段において、 (1)回転角検出器の分周出力に同期して1次元イメー
    ジセンサを走査し、n点のウェハ外縁位置情報を得るこ
    と(外部同期走査)。 (2)前記、1次元イメージセンサにてθテーブル上の
    ウェハの存在、およびその位置検出が可能なよう、内部
    信号に同期して走査しウェハ位置情報を得ること(内部
    同期走査)。 (3)前記、2つの走査方式が主制御装置である計算機
    からの命令で切換え可能であること。 (4)ウェハサイズの変更等による検出精度低下を防ぐ
    ため、回転角検出器の分周出力が計算機からプログラマ
    ブルに設定できること、 を特徴とするウェハ位置検出装置。
JP11643185A 1985-05-31 1985-05-31 ウエハ位置検出装置 Pending JPS61276229A (ja)

Priority Applications (1)

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JP11643185A JPS61276229A (ja) 1985-05-31 1985-05-31 ウエハ位置検出装置

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Publications (1)

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JPS61276229A true JPS61276229A (ja) 1986-12-06

Family

ID=14686929

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JP11643185A Pending JPS61276229A (ja) 1985-05-31 1985-05-31 ウエハ位置検出装置

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JP (1) JPS61276229A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01132124A (ja) * 1987-08-28 1989-05-24 Teru Kyushu Kk 露光方法及びその装置
JPH0373553A (ja) * 1989-08-14 1991-03-28 Dainippon Screen Mfg Co Ltd ウエハの位置検出装置
JP2008004748A (ja) * 2006-06-22 2008-01-10 Yaskawa Electric Corp ウエハプリアライメント装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH01132124A (ja) * 1987-08-28 1989-05-24 Teru Kyushu Kk 露光方法及びその装置
JPH0373553A (ja) * 1989-08-14 1991-03-28 Dainippon Screen Mfg Co Ltd ウエハの位置検出装置
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