JPS61260377A - カ−ド読取装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明はＩＣカードの読取装ｆｆ１Ｋ係り、特に接触子
異常、ＩＣカード異常の識別に好適な接触子の検査機能
をもつＩＣカード読取装置に関する。

〔発明の背景〕

従来のＩＣカード接点とＩＣカード読取装置の接触子の
接続は一定押圧力においての接触となっていた。しかし
、ＩＣカードは手指の触れる機会が多いため、ＩＣカー
ド接点の汚れ等による接触異常の起る可能性がきわめて
高い。また、読取エラーが起った場合、そのエラーがＩ
Ｃカード接点の汚れ等による接触異常か、または接触子
自体の接触不良か識別するととに対しては配慮されてい
なかった。

〔発明の目的〕

本発明の目的は％　ＩＣカードの異常と読取装置の接触
子の異常を識別できる機能をもつＩＣカード読取装置を
提供することＫある。

〔発明の概要〕

ＩＣカードの接点は指の脂肪、はこり等の有機物で汚れ
てしまう。この汚れたＩＣカードを読取装置で読取る場
合、接触不良などによる読取エラーが発生する。本発明
は上記読取エラーの原因がＩＣカード自身の異常（デー
タ異常、接点汚れ）によるものか、あるいは読取装置の
接触子の異常によるものかを判別し、読取エラーの原因
を明確にすることを特徴とする。

〔発明の実施例〕

以下本発明の一実施例を図面に従って説明する。

第１図のＩＣカードＩＫはカード内の情報を外部に伝達
するための接点２が複数個配置されている。第２図に本
発明のＩＣカード読取装［８の構成を示す。４はＩＣカ
ードｌを読取装置８内に取込むためのドライブローラで
カードの位置決めも可能としている。接触子５はアクチ
ュエータ６の動作で矢印方向に上下動すると共ＫＩＣカ
ード１の接点２に一定の押圧力で接触する。７は接触子
５で読取ったＩＣカードｌのデータのデータ変換器で、
その変換データは制御部９内の制御用マイコンあるいは
ホストコンピュータ（図示せス）へ送信され石。

８は接触子５の接触異常を検査する接触子検査器である
。読取装置８全体の制御は制御部９で行う。

次に本実施例の動作を第２図・第８図を基に説明する０
第８図で各ステップに付された符号はステップ番号を示
す。

ン゛〔重装！Ｆｉｓ内に取込まれたＩＣカードｌけドラ
イブローラ４で位置決めされる（ｓｔ０２）。七の後。

アクチュエータ６によって接触子５けＩＣカード１の接
点２に接続され（Ｓ１０８）、データの読泡りが開始さ
れる。

ＩＣカード１から読取られたデータ（情報）をデータ変
換器７で変換後、制御部９内の制御用マイコンあるいけ
ホストコンピュータへ送信り、ＩＣが正しく作動してい
るか否かのチェックを行う意味で、ＩＣへ所定の信号を
与えこれに対する応答信号をチェックするという方法で
情報の照合を行う（８１０４）。との照合が良ければ読
取装置ｔ３はステップ１０？へ飛んで正規の処理を行い
次の工程へと処理が進む。万一照合で不一致と判断され
た場合Ｆ１５接触子５をカード接点２から一担離し。

再び接触子５とカード接点２の接続を行って（Ｓ１０５
）から再度データの情報を読取る（Ｓ１０６）。

仁の再接触動作は、接触子５がＩＣカードの接点の同一
点に接触するため、接点に脂肪等による薄い絶縁膜が形
成されていても容易に破壊することができるので、接触
を正常に戻すきわめて有効な方法である。

また再接触動作はステップ１０５で１回しか行ってない
が複数回連続して行うようＫしても良い。

このようなりトライ動作を行っても正常な読取ができな
い原因は、カード１のデータ異常（ＩＣ破ｊｌｌｌＫよ
るデータの破壊等）、カードｌの接点２汚れもしくけ読
取装置３内の接触子５異常による接触不良が考えられる
。

そこで次の動作としてステップ１０４で接触子５をＩＣ
カードｌから外し、ステップ１０９・１１０で接触子５
を接触子検査器８で検査する。この検査で接触子５に異
常があった場合は、接触子５の接触不良と判断してステ
ップ１１２で接触子５の交換指示コール銹の処理を行う
。また、接触子５に異常が認められない場合は、ＩＣカ
ード１自身の異常（ＩＣの異常あるいはＩＣの接点異常
）と判断できるためｔＣカードｌの不良として処理する
０次に接触子５の検査方法について第４図〜第７図に従
って具体的＃Ｃ１１１２明する。

第４図・第５図はマスターＩＣｌ０を利用して接触子５
を検査する場合を示している。マスターＩＣｌ０はＩＣ
カードＩＶＣ内蔵されているＩＣ（図示せず）と少くと
も同等の性能もしくはそれ以上の性能のものを使用し、
ＩＣ内圧は、接触子５の各部分を均等に検査する各種の
検査データを記憶させである。ステップ１０８でカード
ｌがドライブローラ側に退避【、ている間にステップ１
０９によってＩＣカードｌの情報の読取エラーを生じた
接触子５を第５図のステップ２０１でアクチュエータ６
によってマスターＩＣｌ０の接点１１に＃続する。

その後制御部９内のマイコンによってマスターＩＣｌ０
内の検査データを読取シ、読取エラーのないことがチェ
ックされた場合は、接触子５とマスターＩＣの接点１１
との接触に異常がないと判断し接触子５を正常とみなし
、ＩＣカード１を不良として処理する（ステップ１１１
）。

また、マスターＩＣｌ０内の検査データの読取りを数回
繰返しくステップ２０４〜２０５）ても読取エラーが発
生する場合は接触子５の不良として処理する（ステップ
２０８）。数回の接触動作の繰返しで読取が正常に行え
九接触子５は、序耗等によって読取能力が低下している
ことの前兆のため、ステップ２０７で接触子５の交換等
の警告処理を行う。又同時にステップ２０６で通常の接
触子５のリトライ回数を増加させて接触子５の交換まで
の接触不良による読取エラーを防止する。

とじてＩＣカード内装置ものと全く同じマスターＩＣｌ
０Ｋよる接触子５の検査によれば、読取装置３内に特別
の検査回路等を設けることなく実現できるため、読取装
置８のコストを上げることなく読取装置８全体の自己検
査が可能となる効果がある。また、マスターＩＣとして
カードに埋設されているＩＣと同じＩＣを用いたときは
、検査としてＩＣカードと同じ照合動作を行なうことＫ
なる。

第６図・第７図は接触抵抗の測定による接触子５の検査
方法である。枦取装置３内に接触子５と接続するための
固定接触子１２と、接触抵抗の測定器１８が設けである
。ＩＣカードｌの情報の読取エラーを生じた接触子５を
アクチュエータ６によって固定接触子１２に接続する（
Ｓステップ３０１Ｌそのステップ８０２で後接触子５の
接触抵抗を測定器１８で測定し、抵抗値に異常のないと
きは接触子５を正常とみなし、ステップ８０８でＩＣカ
ード１１−不良としてカードを返却等の処理をする。

ま九、接触抵抗値に異常がある場合はステップ３０４で
接触動作の数回繰返しを行う。この繰返しでも接触抵抗
値に異常がある（ステップ３０５）ものはステップ８０
８で接触子５の不良として処理する。

接触動作の数回繰返しでステップ３０５で抵抗値が正常
となった接触子５は、その序耗状態で接触抵抗が異なる
ため、抵抗値に応じてステップ８０６で通常の接触子５
のＩＪ　）ライ回数を増加させて接触子５の交換までの
接触不良による読取エラーを防止する。

同時にステップ８０７で抵抗値に応じた接触子５の交換
時期等の警告処理を行う。

接触子の検査として接触抵抗の検査を行うこの実施例に
よれば、抵抗値に応じて接触子５の寿命を予測できる効
果がめる。

〔発明の効果〕 本発明によれば、異常のあるＩＣカードが読取装置内に
取込まれても、ＩＣカード自身の異常と読取装置自身の
異常の識別が可能なため、異常の原因所在を明確にでき
る効果がある。

また、ＩＣカードの無い状態で装置の接触子の自己管理
が出来るため、接触子の予防保守、予防管理が可能とな
る効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図はＩＣカードの斜視図、第２図はＩＣカード読取
装置の構成図、第８図は第２図の装置による異常識別フ
ローチャート、第４図はマスターＩＣ搭載の読取装置の
構成図、第５図は第４図の装置による接触子検査のフロ
ーチャート、第６図は接触抵抗測定器搭載の読取装置の
構成図、第７図は第６図の装置による接触子検査のフロ
ーチャートである。 ８・・・読取装置、５・・・接触子、８・・・接触子検
査器、１０・・・マスターＩＣ，１２・・・固定接触子
、１３・・・抵抗測定器。 第　（図 畢　２ＩＩ２１ ＃３　　　［２１ 第　４　図 マスターＩＣｌ０　　　　ＩＣカード１ｌＰｐｂ　　圀

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. １．集積回路（ＩＣ）が内蔵されたカード上の情報伝達
   用カード接点に電気的に接触する接触子と、上記接点と
   接触子を介して上記ＩＣ内のデータを読取る制御部を備
   えたカード読取装置において，上記接触子の接触状態を
   チエツクする接触子検査器を備えてなるカード読取装置
   。
2. ２．上記接触子検査器は、マスターＩＣを有し、上記制
   御部は上記接触子を必要に応じて上記マスターＩＣの接
   点に電気的に接触させてマスターＩＣから上記接触子の
   接触状態をチエツクするためのデータを読取るように構
   成されてなる特許請求の範囲第１項記載のカード読取装
   置。