JPS61258138A - 光コネクタの接続損失測定方法 - Google Patents
光コネクタの接続損失測定方法Info
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- JPS61258138A JPS61258138A JP10068685A JP10068685A JPS61258138A JP S61258138 A JPS61258138 A JP S61258138A JP 10068685 A JP10068685 A JP 10068685A JP 10068685 A JP10068685 A JP 10068685A JP S61258138 A JPS61258138 A JP S61258138A
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- power meter
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
被測定コネクタをマスタコネクタに挿着して、接続損失
を測定する際に、マスタコネクタと被測定コネクタとの
端面間に異物が介在すると、光ファイバ端面での反射光
量が変化する。このことを利用して、マスタコネクタの
出射端面で反射する光量を測定して・異物の有無を判定
し、被測定コネクタの接続損失の測定精度の向上をはか
る。
を測定する際に、マスタコネクタと被測定コネクタとの
端面間に異物が介在すると、光ファイバ端面での反射光
量が変化する。このことを利用して、マスタコネクタの
出射端面で反射する光量を測定して・異物の有無を判定
し、被測定コネクタの接続損失の測定精度の向上をはか
る。
本発明は光−コネクタの接続損失測定方法の改良に関す
る。
る。
製作された光コネクタの接続損失は、マスタコネクタ同
志を直接結合した場合と、マスタコネクタ間に被測定コ
ネクタを挿入した場合との、光出力との差を求めること
により測定することができる。
志を直接結合した場合と、マスタコネクタ間に被測定コ
ネクタを挿入した場合との、光出力との差を求めること
により測定することができる。
この際、測定が容易で、且つ信頼度の高い接続損失の測
定方法が要望されている。
定方法が要望されている。
第２図は従来の光コネクタの接続損失測定手段を示す構
成図であって、１は一定の光を出射する光源（例えば半
導体レーザ）であって、光ファイバ２Ａが直接接続され
、光ファイバ２Ａの端末にはマスタコネクタ２が装着さ
れている。
成図であって、１は一定の光を出射する光源（例えば半
導体レーザ）であって、光ファイバ２Ａが直接接続され
、光ファイバ２Ａの端末にはマスタコネクタ２が装着さ
れている。
３は、マスタコネクタ２の出射光量を測定する光パワメ
ータであって、入力線である光ファイバ４Ａの端末には
パワメータ側マスタコネクタ４が装着されている。
ータであって、入力線である光ファイバ４Ａの端末には
パワメータ側マスタコネクタ４が装着されている。
７は被測定コネクタであって、伝送損失が既知の光ファ
イバ８の両端末に、それぞれ装着されている。
イバ８の両端末に、それぞれ装着されている。
この被測定コネクタ７の接続損失を測定する従来の方法
は、下記の如くである。
は、下記の如くである。
はじめに、アダプタ５の軸心孔の一方の開口側にマスタ
コネクタ２を挿入して固着し、他方の開口側にパワメー
タ側マスタコネクタ４を挿入して、光ファイバ２Ａの端
面と光ファイバ４Ａの端面を当接し、且つ光軸を一致さ
せて光結合し、光源１と光パワメータ３を接続する。
コネクタ２を挿入して固着し、他方の開口側にパワメー
タ側マスタコネクタ４を挿入して、光ファイバ２Ａの端
面と光ファイバ４Ａの端面を当接し、且つ光軸を一致さ
せて光結合し、光源１と光パワメータ３を接続する。
そしてこの状態で、光源１の光出力を光パワメータ３で
測定する。
測定する。
次に、アダプタ５からパワメータ側マスタコネクタ４を
抜去し、アダプタ５に一方の被測定コネクタ７を、挿着
する。そして、他方の被測定コネクタ７は、アダプタ６
の軸心孔の一方の開口側に挿着する。そして、アダプタ
６の他方の開口側にパワメータ側マスタコネクタ４を挿
着する。
抜去し、アダプタ５に一方の被測定コネクタ７を、挿着
する。そして、他方の被測定コネクタ７は、アダプタ６
の軸心孔の一方の開口側に挿着する。そして、アダプタ
６の他方の開口側にパワメータ側マスタコネクタ４を挿
着する。
このように、マスタコネクタ２とパワメータ側マスタコ
ネクタ４とを被測定コネクタ７を介して接続した後に、
光源１の光出力を光パワメータ３で測定する。
ネクタ４とを被測定コネクタ７を介して接続した後に、
光源１の光出力を光パワメータ３で測定する。
両者の測定値の差より光ファイバ８の伝送損失を引いて
、被測定コネクタ７の光コネクタの接続損失を測定して
いる。
、被測定コネクタ７の光コネクタの接続損失を測定して
いる。
しかしながら、第３図（ａ）に示すように、マスタコネ
クタ２の端面、即ち光ファイバ端面２ａが清浄の場合と
、第３図（ｂ）の如くに異物９が存在する場合とでは、
被測定コネクタ７−（パワメータ側マスタコネクタ４）
に入射する光量に差がある。
クタ２の端面、即ち光ファイバ端面２ａが清浄の場合と
、第３図（ｂ）の如くに異物９が存在する場合とでは、
被測定コネクタ７−（パワメータ側マスタコネクタ４）
に入射する光量に差がある。
即ち、清浄の場合には、光源１の出射光のうち、一部は
光ファイバ端面２ａで反射して戻り、残りの光は被測定
コネクタ７方向くパワメータ側マスタコネクタ４方向）
に出射される。
光ファイバ端面２ａで反射して戻り、残りの光は被測定
コネクタ７方向くパワメータ側マスタコネクタ４方向）
に出射される。
異物９が存在すると、異物９の種類により、被測定コネ
クタ７方向（パワメータ側マスタコネクタ４方向）に出
射される光が増減する。
クタ７方向（パワメータ側マスタコネクタ４方向）に出
射される光が増減する。
例えば、異物９が金属粉等の場合には、光が異物９で乱
反射して、光ファイバ録に戻る反射光が多くなり、また
異物９の屈折率が、光ファイバのコアの屈折率に近い場
合は、被測定コネクタ７方向（パワメータ側マスタコネ
クタ４方向）に出射する光が多くなる。
反射して、光ファイバ録に戻る反射光が多くなり、また
異物９の屈折率が、光ファイバのコアの屈折率に近い場
合は、被測定コネクタ７方向（パワメータ側マスタコネ
クタ４方向）に出射する光が多くなる。
上述のように、マスタコネクタ２等の端面に異物が存在
すると、光コネクタの接ＶＣ損失の精度が低下する。
すると、光コネクタの接ＶＣ損失の精度が低下する。
したがって、測定に先立ち、マスタコネクタ２゜パワメ
ータ側マスタコネクタ４及び被測定コネクタ７の端面を
洗浄などして、清浄にする必要がある。
ータ側マスタコネクタ４及び被測定コネクタ７の端面を
洗浄などして、清浄にする必要がある。
そして従来は、コネクタ端面が清浄か、否かの判定を肉
眼判定するか、或いはＺ−Ｑ ｍ鏡等を使用して判定し
ていた。
眼判定するか、或いはＺ−Ｑ ｍ鏡等を使用して判定し
ていた。
しかしながら、肉眼による手段は、小さい異物は見・落
とすことが多くて、接続損失の測定の信頼度が低いとい
う問題点があり、顕微鏡等による手段は、測定工数が増
加するという問題点がある。
とすことが多くて、接続損失の測定の信頼度が低いとい
う問題点があり、顕微鏡等による手段は、測定工数が増
加するという問題点がある。
上記従来の問題点を解決するため本発明は、例えば第１
図の実施例のように、光源１とマスタコネクタ２の接続
路に挿入された方向性結合器１０と、方向性結合器１０
より取り出されるマスタコネクタ２の端面よりの反射光
蓋を測定する反射光用パワメータ１２と、 マスタコネクタ２よりの出射光量を測定する光パワメー
タ３に直接接続されたパワメータ側マスタコネクタ４と
、光ファイバ８の両端部にそれぞれ装着され、マスタコ
ネクタ２とパワメータ側マスタコネクタ４の間に挿入す
る被測定コネクタ７とを備え、 マスタコネクタ２とパワメータ側マスタコネクタ４とを
直接結合した状態、及び被測定コネクタ７を介して結合
した状態での、マスタコネクタ２の端面よりの反射光量
を反射光用パワメータ１２で比較測定して、光ファイバ
端面の異物の有無を判定し、反射光量がほぼ等しい場合
に限り、光パワメータ３で被測定コネクタ７の接続損失
を測定するようにしたものである。
図の実施例のように、光源１とマスタコネクタ２の接続
路に挿入された方向性結合器１０と、方向性結合器１０
より取り出されるマスタコネクタ２の端面よりの反射光
蓋を測定する反射光用パワメータ１２と、 マスタコネクタ２よりの出射光量を測定する光パワメー
タ３に直接接続されたパワメータ側マスタコネクタ４と
、光ファイバ８の両端部にそれぞれ装着され、マスタコ
ネクタ２とパワメータ側マスタコネクタ４の間に挿入す
る被測定コネクタ７とを備え、 マスタコネクタ２とパワメータ側マスタコネクタ４とを
直接結合した状態、及び被測定コネクタ７を介して結合
した状態での、マスタコネクタ２の端面よりの反射光量
を反射光用パワメータ１２で比較測定して、光ファイバ
端面の異物の有無を判定し、反射光量がほぼ等しい場合
に限り、光パワメータ３で被測定コネクタ７の接続損失
を測定するようにしたものである。
上記本発明の手段によれば、マスタコネクタ２と被測定
コネクタ７の端面間に異物が介在すると、パワメータ側
マスタコネクタ４を直接マスタコネクタ２に接続した場
合と、被測定コネクタ７を介して接続した場合とでは、
マスタコネクタ２の端面の反射光量に差が生じるので、
反射光用パワメータ１２てこの反射光量を測定すること
により、異物の介在を判定することができる。
コネクタ７の端面間に異物が介在すると、パワメータ側
マスタコネクタ４を直接マスタコネクタ２に接続した場
合と、被測定コネクタ７を介して接続した場合とでは、
マスタコネクタ２の端面の反射光量に差が生じるので、
反射光用パワメータ１２てこの反射光量を測定すること
により、異物の介在を判定することができる。
したがって、異物を除去して、再度被測定コネクタ７を
接続することにより、コネクタの接Ｖｆ、損失の測定の
信頼度が向上する。
接続することにより、コネクタの接Ｖｆ、損失の測定の
信頼度が向上する。
また、異物の介在の判定に顕微鏡等を使用しないので、
測定工数が短縮される。
測定工数が短縮される。
なお、両者ともに同様に異物が付着していた場合には、
反射光量がほぼ等し。よって、異物の有無を判定するこ
とができない。しかし、このような場合にはパワメータ
側マスタコネクタ方向に出射され光量に差がないので、
接続損失の精度には影響しない。
反射光量がほぼ等し。よって、異物の有無を判定するこ
とができない。しかし、このような場合にはパワメータ
側マスタコネクタ方向に出射され光量に差がないので、
接続損失の精度には影響しない。
以下図示実施例により、本発明を具体的に説明する。な
お、全図を通じて同一符号は同一対象物を示す。
お、全図を通じて同一符号は同一対象物を示す。
第１図（ａｌ、 （ｂｌは、それぞれ本発明の１実施例
の測定過程を示す構成図である。
の測定過程を示す構成図である。
第１図において、光源１とマスタコネクタ２０間には方
向性結合器１０が挿入されている。
向性結合器１０が挿入されている。
方向性結合器１０は、光源１に接続した光ファイバの出
射端面に対向して軸心上に、マスタコネクタ２が装着さ
れた光ファイバ２Ａの入射端面を配置し、この端面間に
、光軸に４５度傾斜したハーフミラ１１を配設しである
。
射端面に対向して軸心上に、マスタコネクタ２が装着さ
れた光ファイバ２Ａの入射端面を配置し、この端面間に
、光軸に４５度傾斜したハーフミラ１１を配設しである
。
また、ハーフミラ１１を透過した光源１の出射光が、光
ファイバ２Ａに入射し、その一部がマスタコネクタ２の
端面（第３図に示す光ファイバ端面２ａ）で反射して方
向性結合器１０に戻り、ハーフミラ１１に投射して直角
に反射する方向には、端末に反射光用パワメータ１２が
接続された光ファイバの入射端面を配設しである。
ファイバ２Ａに入射し、その一部がマスタコネクタ２の
端面（第３図に示す光ファイバ端面２ａ）で反射して方
向性結合器１０に戻り、ハーフミラ１１に投射して直角
に反射する方向には、端末に反射光用パワメータ１２が
接続された光ファイバの入射端面を配設しである。
上述のように、方向性結合器１０と反射光用パワメータ
１２とを設けた光回路を用いて、被測定コネクタ７の接
続損失を測定するには、まず第１図（ａｌのように、ア
ダプタ５の軸心孔の一方の開口側にマスタコネクタ２を
挿入して固着し、他方の開口側にパワメータ側マスタコ
ネクタ４を挿着する。
１２とを設けた光回路を用いて、被測定コネクタ７の接
続損失を測定するには、まず第１図（ａｌのように、ア
ダプタ５の軸心孔の一方の開口側にマスタコネクタ２を
挿入して固着し、他方の開口側にパワメータ側マスタコ
ネクタ４を挿着する。
そしてこの状態で、光源１の光出力を光パワメータ３で
測定するとともに、反射光用パワメータ１２によりマス
タコネクタ２の出射端面で反射される反射光量を測定す
る。
測定するとともに、反射光用パワメータ１２によりマス
タコネクタ２の出射端面で反射される反射光量を測定す
る。
次に、第１図ｆｂ）のように、アダプタ５からパワメー
タ側マスタコネクタ４を抜去し、アダプタ５に光ファイ
バ８の両端末に接続された被測定コネクタ７の一方を挿
着する。そして、他方の被測定コネクタ７は、アダプタ
６０軸心孔の一方の開口側に挿着し、アダプタ６の他方
の開口側にパワメータ側マスタコネクタ４を挿着する。
タ側マスタコネクタ４を抜去し、アダプタ５に光ファイ
バ８の両端末に接続された被測定コネクタ７の一方を挿
着する。そして、他方の被測定コネクタ７は、アダプタ
６０軸心孔の一方の開口側に挿着し、アダプタ６の他方
の開口側にパワメータ側マスタコネクタ４を挿着する。
このように、マスタコネクタ２とパワメータ側マスタコ
ネクタ４とを被測定コネクタ７を介して接続した後に、
光源ｌの光出力を光パワメータ３で測定し、反射光用パ
ワメータ１２によりマスタコネクタ２の出射端面で反射
される反射光量を測定する。
ネクタ４とを被測定コネクタ７を介して接続した後に、
光源ｌの光出力を光パワメータ３で測定し、反射光用パ
ワメータ１２によりマスタコネクタ２の出射端面で反射
される反射光量を測定する。
そして、後で光結合したマスタコネクタ２と被測定コネ
クタ７の端面間、或いは先に光結合したマスタコネクタ
２とパワメータ側マスタコネクタ４の端面間に、異物が
介在していると、第３図を参照して先に説明したように
、両者の反射光量が異なる。
クタ７の端面間、或いは先に光結合したマスタコネクタ
２とパワメータ側マスタコネクタ４の端面間に、異物が
介在していると、第３図を参照して先に説明したように
、両者の反射光量が異なる。
よって、反射光用パワメータ１２の測定値を比較するこ
とにより、異物の有無を容易に判定することができる。
とにより、異物の有無を容易に判定することができる。
なお、被測定コネクタ７を介してマスタコネクタ２とパ
ワメータ側マスタコネクタ４を接続した場合には、光フ
ァイバ８の出射側の被測定コネクタ７ くアダプタ６に
挿着されている被測定コネクタ７）の端面でも光源１の
出射光の一部が反射して、光ファイバ８を戻る。
ワメータ側マスタコネクタ４を接続した場合には、光フ
ァイバ８の出射側の被測定コネクタ７ くアダプタ６に
挿着されている被測定コネクタ７）の端面でも光源１の
出射光の一部が反射して、光ファイバ８を戻る。
しかし、この反射光の大半は光ファイバ８の入射側の被
測定コネクタ７ （アダプタ５に挿着されている被測定
コネクタ７）の入射端面で反射して光ファイバ８を順方
向に戻り、反射光用パワメータ１２の測定値に悪影響を
与えることが少ない。
測定コネクタ７ （アダプタ５に挿着されている被測定
コネクタ７）の入射端面で反射して光ファイバ８を順方
向に戻り、反射光用パワメータ１２の測定値に悪影響を
与えることが少ない。
以上説明したように本発明は、被測定コネクタをマスタ
コネクタに挿着するあたり、両コネクタの端面間に介在
する異物の有無を、反射光の強弱で判定することにより
、光コネクタの接ＭＥ ｍ失の測定の信頼度が向上し、
且つ異物の有無の判定が容易で、測定工数が削減される
等、実用上で優れた効果がある。
コネクタに挿着するあたり、両コネクタの端面間に介在
する異物の有無を、反射光の強弱で判定することにより
、光コネクタの接ＭＥ ｍ失の測定の信頼度が向上し、
且つ異物の有無の判定が容易で、測定工数が削減される
等、実用上で優れた効果がある。
第１図の（ａ）、 （ｂ）は、それぞれ本発明の１実施
例の測定過程を示す構成図、 第２図は従来方法の構成図、 第３図はコネクタの挿着部分の要部断面図である。 図において、 ｌは光源、 ２はマスタコネクタ、 ３は光パワメータ、 ４はパワメータ側マスタコネクタ、 ５．６はアダプタ、 ７は被測定コネクタ、 ８は光ファイバ、 １０は方向性結合器、 １１はハーフミラ、 １２は反射光用パワメータを示す。 ／ρ方ｐ′Ｉ栓賠６番 頒） 杢鑑ＧＦ４ ｎ ｌ’ｌヱ遍程を示す講Ａ図＄１図
例の測定過程を示す構成図、 第２図は従来方法の構成図、 第３図はコネクタの挿着部分の要部断面図である。 図において、 ｌは光源、 ２はマスタコネクタ、 ３は光パワメータ、 ４はパワメータ側マスタコネクタ、 ５．６はアダプタ、 ７は被測定コネクタ、 ８は光ファイバ、 １０は方向性結合器、 １１はハーフミラ、 １２は反射光用パワメータを示す。 ／ρ方ｐ′Ｉ栓賠６番 頒） 杢鑑ＧＦ４ ｎ ｌ’ｌヱ遍程を示す講Ａ図＄１図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 光源（１）に接続されたマスタコネクタ（２）と、該マ
スタコネクタ（２）の光ファイバ端面よりの反射光量を
測定する手段と、 該マスタコネクタ（２）よりの出射光量を測定する光パ
ワメータ（３）に直接接続されたパワメータ側マスタコ
ネクタ（４）と、 光ファイバの両端部にそれぞれ装着され、該マスタコネ
クタ（２）と該パワメータ側マスタコネクタ（４）の間
に挿入する被測定コネクタ（７）とを備え、 該マスタコネクタ（２）と該パワメータ側マスタコネク
タ（４）とを直接結合した状態、及び該被測定コネクタ
（７）を介して結合した状態での、該マスタコネクタ（
２）の光ファイバ端面よりの反射光量を比較測定して、 該反射光量がほぼ等しい場合に限り、該光パワメータ（
３）で該被測定コネクタ（７）の接続損失を測定するこ
とを特徴とする光コネクタの接続損失測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10068685A JPS61258138A (ja) | 1985-05-13 | 1985-05-13 | 光コネクタの接続損失測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10068685A JPS61258138A (ja) | 1985-05-13 | 1985-05-13 | 光コネクタの接続損失測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61258138A true JPS61258138A (ja) | 1986-11-15 |
Family
ID=14280616
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10068685A Pending JPS61258138A (ja) | 1985-05-13 | 1985-05-13 | 光コネクタの接続損失測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61258138A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07294780A (ja) * | 1994-04-28 | 1995-11-10 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光コネクタ光学特性測定用レセプタクルと光学特性測定方法 |
| EP1798537A1 (de) | 2005-12-17 | 2007-06-20 | Schäfer Werkzeug- und Sondermaschinenbau GmbH | Vorrichtung zur Endkontrolle von Lichtwellenleitern mit Ferrulen und Methode der Kalibrierung |
| JP2011193923A (ja) * | 2010-03-17 | 2011-10-06 | Terumo Corp | 画像診断装置及びその処理方法 |
| JP2013145152A (ja) * | 2012-01-13 | 2013-07-25 | Fujikura Ltd | 接続損失測定方法及び挿入損失測定方法 |
| JP2014000301A (ja) * | 2012-06-20 | 2014-01-09 | Fujifilm Corp | 光源装置及び内視鏡システム |
| CN103630331A (zh) * | 2012-08-27 | 2014-03-12 | 上海光之虹光电通讯设备有限公司 | 多通道光纤插回损测试仪及测试校准方法 |
| JP2014087711A (ja) * | 2014-02-18 | 2014-05-15 | Terumo Corp | 画像診断装置及びその処理方法 |
| EP2887044A1 (en) * | 2013-12-19 | 2015-06-24 | Rigas Tehniska Universitate | Method and system for stimulated Brillouin scattering threshold power measurement |
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-
1985
- 1985-05-13 JP JP10068685A patent/JPS61258138A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| EP1798537A1 (de) | 2005-12-17 | 2007-06-20 | Schäfer Werkzeug- und Sondermaschinenbau GmbH | Vorrichtung zur Endkontrolle von Lichtwellenleitern mit Ferrulen und Methode der Kalibrierung |
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| CN105588709A (zh) * | 2015-12-24 | 2016-05-18 | 深圳市杰普特电子技术有限公司 | 自由空间隔离器隔离度的测试装置及方法 |
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