JPH03296679A

JPH03296679A - 浸水検知方法及びそのシステム並びにこれに使用するコネクタ

Info

Publication number: JPH03296679A
Application number: JP2099626A
Authority: JP
Inventors: Mitsuhiro Tatsuta; 立田　光廣; Izumi Mikawa; 泉三川
Original assignee: Nippon Telegraph and Telephone Corp
Current assignee: Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date: 1990-04-16
Filing date: 1990-04-16
Publication date: 1991-12-27
Anticipated expiration: 2014-04-05
Also published as: JP2878778B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（産業上の利用分野）本発明は、光線路設備内に生じた浸水を検知する方法及
びそのシステム並びにこれに使用するコネクタに関する
ものである。

（従来の技術）近年、光線路設備の保守性向上のため、光フアイバケー
ブルの非ガス化が進められている。非ガス光フアイバケ
ーブル、即ちケーブル内にガスを封入しない光フアイバ
ケーブルの長期信頼性を保証するためには光ファイバの
劣化要因である歪量の測定と浸水の検知とが必要になる
。特に、光フアイバケーブルの接続点においては余長収
納の都合上、光ファイバに曲げ歪が付加されているため
、浸水による劣化が著しく、浸水の検知は不可欠である
。

従来、このような浸水の検知は吸水収縮性素材を用いた
センサにより光ファイバに曲げを与えて損失増を引き起
こし、これを光パルス試験器により検知するという方法
がとられていた。

第２図（ａ）　（ｂ）は吸水収縮性素材を用いた浸水検
知用のセンサモジュールを示すもので、図中、１は浸水
検知用の光ファイバ、２はリング状に形成された吸水収
縮性繊維３と固定枠４とからなるセンサモジュールであ
る。同図（ａ）は吸水前の状態を示すもので、光ファイ
バ１は曲りが加わらないように取付けられている。同図
（ｂ）はセンサモジュール１が浸水した時の状態を示す
もので、吸水収縮性繊維３が水を吸って収縮し、これに
よって光ファイバ１が曲げられ、損失増が生じる。

第３図は前述した浸水検知用のセンサモジュールを用い
た従来の浸水検知システムを示すもので、複数のセンサ
モジュール２を取付けた浸水検知用の光ファイバ１の一
端が光パルス試験器５に接続されている。光パルス試験
器５は被測定光ファイバに光パルスを送出し、これによ
って発生するレーレ−散乱光並びにフレネル反射光を検
出して該被測定光ファイバの損失分布や破断点位置を検
出するものであって、浸水検知システムにおいては浸水
検知用のセンサモジュールの設置点における光損失の変
化を検出するために用いられる。

第４図は第３図のシステムによる測定結果を示すもので
、図中、６は浸水前の特性、７は浸水後の特性を示し、
浸水検知用の光ファイバ１の損失が変化するようすが示
されている。

（発明が解決しようとする課題）しかしながら、前記従来の浸水検知システムには以下の
ような欠点があった。

第１に、浸水検知用のセンサモジュールという特別な部
品を必要とし、さらにこれを空間的にあまり余裕のない
光フアイバケーブルの接続点に設置しなければならず、
コスト及び空間利用の面で問題があった。

第２に、１本の浸水検知用の光ファイバに設置可能なセ
ンサモジュールの数に制限があるという問題があった。

なぜなら、浸水検知用の光ファイバの損失増により浸水
の有無を検知しているため、複数のセンサモジュールが
同時に浸水すると、ついには浸水検知用の光ファイバの
損失が光パルス試験器のダイナミックレンジ（測定可能
最大損失）を越え、遠方での状態が検知不可能となるか
らである。

本発明は前述した従来の欠点を除去し、特別な部品を必
要とせず、１本の浸水検知用の光ファイバで多数の浸水
検知地点における浸水の有無を検知可能な浸水検知方法
及びそのシステム並びにこれに使用するコネクタを提供
することを目的とする。

（課題を解決するための手段）本発明では前記目的を達成するため、請求項（１）とし
て、間隙を隔てて接続させた光ファイバの接続部を少な
くとも１つの浸水検知地点に配置し、前記光ファイバの
一端より波長を変えながら光パルスを繰返し送出すると
ともに、その反射光を測定し、着目する接続部における
フレネル反射光の波長に対する変動から該接続部におけ
るフレネル反射率の波長に対する変動周期を測定し、該
変動周期の変化より着目する接続部の間隙における屈折
率の変化を検知し、着目する浸水検知地点における浸水
の有無を検知するようになした浸水検知方法、請求項（
２）として、着目する接続部におけるフレネル反射光量
とその直前におけるレーレ−散乱光量との比の波長に対
する変動から該接続部におけるフレネル反射率の波長に
対する変動周期を測定するようになした請求項（１）記
載の浸水検知方法、請求項（３）として、少なくとも１
つの浸水検知地点まで配設した光ファイバと、該光ファ
イバを浸水検知地点にて間隙を隔てて接続するコネクタ
と、前記光ファイバの一端に接続され、該一端に波長を
変えながら光パルスを繰返し送出するとともに、その反
射光を測定する光パルス試験器と、着目するコネクタに
おけるフレネル反射光の波長に対する変動から該コネク
タにおけるフレネル反射率の波長に対する変動周期を測
定し、該変動周期の変化より着目するコネクタの間隙に
おける屈折率の変化を検知し、着目する浸水検知地点に
おける浸水の有無を検知するデータ処理手段とからなる
浸水検知システム、請求項（４）として、着目するコネ
クタにおけるフレネル反射光量とその直前におけるレー
レ−散乱光量との比の波長に対する変動から該コネクタ
におけるフレネル反射率の波長に対する変動周期を測定
し、該変動周期の変化より着目するコネクタの間隙にお
ける屈折率の変化を検知し、着目する浸水検知地点にお
ける浸水の有無を検知するデータ処理手段を用いた請求
項（８）記載の浸水検知システム、請求項（５）として
、光源として外部共振器付半導体レーザを有する光パル
ス試験器を用いた請求項（３）又は（４）記載の浸水検
知システム、請求項（６）として、波長の異なる複数の
光源と、該複数の光源のうちのいずれか１つを選択する
選択手段とを有する光パルス試験器を用いた請求項（３
）又は（４）記載の浸水検知システム、請求項（７）と
して、光ファイバの端面を固定把持する一対の中子部品
と、光ファイバの光軸が一致する如く前記一対の中子部
品を突合せる突合せ手段と、前記一対の中子部品の端面
を互いに押付ける押付は手段とを有し、前記一対の中子
部品のうちの少なくとも一方はその突合せ側の端面に、
他方の中子部品との接触面、浸水による水を光ファイバ
の端面に伝える水走り面及び光ファイバの端面間の間隙
を設定するだめの干渉面を備えたコネクタ、請求項（８
）として、水走り面又は干渉面の一方もしくは両方に親
水処理を施した請求項（７）記載のコネクタを提案する
。

（作　用）本発明の請求項（１）によれば、光ファイバの一端より
繰返し送出された光パルスは該光ファイバの接続部にお
いてフレネル反射される。フレネル反射率は光パルスの
波長に伴って周期的に変動するが、前記光パルスは波長
が変えられて繰返し送出されるため、フレネル反射率の
波長に対する変動周期が測定される。一方、該フレネル
反射率の変動周期は前記接続部の間隙における屈折率に
も依存し、該間隙が浸水して屈折率が変化すると前記変
動周期も変化し、これによって光ファイバの接続部、即
ち浸水検知地点における浸水が検知される。

また、請求項（２）によれば、着目する接続部における
フレネル反射光量とその直前におけるレーレ−散乱光量
との比は光パルスのパワーに拘りなく波長に依存するた
め、フレネル反射率の波長に対する変動周期が正確に測
定される。

また、請求項（３）によれば、光パルス試験器から光フ
ァイバの一端に繰返し送出された光パルスは該光ファイ
バのコネクタにおいてフレネル反射される。光パルス試
験器は波長を変えて光パルスを繰返し送出するが、フレ
ネル反射率は光パルスの波長に伴って周期的に変動する
ため、データ処理手段によりフレネル反射率の波長に対
する変動周期が測定される。一方、該フレネル反射率の
変動周期は前記コネクタの間隙における屈折率にも依存
し、該間隙が浸水して屈折率が変化すると前記変動周期
も変化し、これがデータ処理手段によって検知され、光
ファイバのコネクタ、即ち浸水検知地点における浸水が
検知される。

また、請求項（４）によれば、着目するコネクタにおけ
るフレネル反射光量とその直前におけるレーレ−散乱光
量との比は光パルス試験器による光パルスのパワーに拘
りなく波長に依存するため、データ処理手段によりフレ
ネル反射率の波長に対する変動周期が正確に測定され、
これによって浸水検知地点における浸水も正確に検知さ
れる。

また、請求項（５）によれば、外部共振器付半導体レー
ザに対する動作条件を変えることによって波長の異なる
光パルスが発生される。

また、請求項（６）によれば、波長の異なる複数の光源
のうちのいずれか１つを選択手段により選択することに
よって波長の異なる光パルスが発生される。

また、請求項（７）によれば、一対の中子部品に固定把
持された光ファイバの端面は該一対の中子部品に対する
突合わせ手段により光軸が一致する如く突合わされ、さ
らに該一対の中子部品に対する押付は手段及び少なくと
も一方の中子部品の干渉面により間隙をもって押付けら
れる。

また、請求項（８）によれば、水走り面や干渉面に施さ
れた親水処理により、コネクタに対する浸水は光ファイ
バの端面に確実に到達する。

（実施例）第１図は本発明の第１の実施例を示すもので、図中、１
は浸水検知用の光ファイバ、８はコネクタ、９は光パル
ス試験器、１ｏはデータ処理部である。

コネクタ８は光ファイバ１を間隙を隔てて接続するもの
であって、該間隙は例えば、約１０μｍとなるように作
られており、予め測定されている。

光パルス試験器９は光ファイバ１の一端に接続され、該
一端に波長を変えながら光パルスを繰返し送出するとと
もに、その反射光を受光し光量を測定する。データ処理
部１０は各コネクタ８におけるフレネル反射光量とレー
レ−散乱光量との此の波長に対する変動から各コネクタ
８におけるフレネル反射率の波長に対する変動周期を測
定し、該変動周期の変化より各コネクタ８の間隙におけ
る屈折率の変化を検知し、各浸水検知地点における浸水
の有無を検知する。

以下、まず、本発明の詳細な説明する。

第５図はファイバ端面間での光の伝搬のようすを示すも
ので、図中、ｌａ、ｌｂは光ファイバ、ｌａ’、ｌｂ′
は光ファイバｌａ、ｌｂの端面、１１は端面１ａ、ｌｂ
−の間隙を満たす媒質であり、その屈折率をｎ１間隙の
大きさをｄとする。

光ファイバのコネクタにおける結合のように対向する光
フアイバ端面１ａ−１ｂ−の平面度が良好な場合には、
光ファイバ１ａから入射した光１２は端面１ａ＝、ｌｂ
−の間で多重反射して光ファイバ１ｂに伝搬する（１３
）。そのため、端面１ａ−、ｌｂ−から光ファイバ１ａ
に戻る合成反射光は入射光の波長、例えばλに依存して
周期的に変動する。

第６図は入射光の波長と反射光量との関係を示すもので
、図中、１４はその特性を示す。ここで、変動周期、例
えばΔλは間隙を往復する光の光路長２ｎｄの変化量が
１波長分となることから、下記式の如くなる。

Δλ＝λ２／２ｎｄ　　　　　　　　　・・・・・・（
１）従って、この変動周期Δλは間隙を満たす媒質１１
の屈折率ｎに依存する。即ち、空気の屈折率を１、水の
屈折率を１．３３とすれば、浸水後の変動周期Δλは浸
水前の変動周期Δλの７５％に変化するため、該変動周
期Δλを測定することにより浸水の有無を正確に検知す
ることができる。

一方、これまでの説明は光源の波長を変化させた時、光
源のパワーが変化しないという暗黙の仮定をおいていた
が、現実には必ずしもそうではない。例えば、スーパー
ルミネセントダイオードのようなパワースペクトルが一
様でない光源の光の一部をフィルタ等で分光して用いる
場合や、波長を変えるための手段（フィルタ、電流注入
等）により、一般にはパワー変動が伴うからである。

測定すべき浸水検知用の光ファイバへ光パルス試験器か
ら送出される光量が各波長毎に測定できる場合は何ら問
題がないが、通常の光パルス試験器の機能の範囲内では
この問題は次のようにして解決される。

第７図は第１図のシステムによる測定結果の一例を示す
もので、ここでは−のフレネル反射点の近傍、即ちコネ
クタ８の近傍における試験データを示すものである。図
中、１５は試験データ、１６は該試験データにおけるフ
レネル反射光レベル、１７はフレネル反射点直前のレー
レ−散乱光レベル、１８は雑音レベルである。

前述したように浸水検知用の光ファイバに入射される光
パルスのパワーは用いる波長毎に異なる可能性があるた
め、フレネル反射光レベル１６と雑音レベル１８との差
α□に着目した測定は前記（１）式の意味する変動周期
Δλを正しく与えない。

しかしながら、フレネル反射光レベル１６とフレネル反
射点直前のレーレ−散乱光レベル１７との差α２は光源
波長による反射率変化を正しく反映し、（１）式の意味
する変動周期Δλを正しく与える。なぜなら、光源にお
けるパワー変化はフレネル反射光及びレーレ−散乱光の
両方に同じ変化を与えるからである。

光ファイバの端面に反射率の高い反射膜を設けるような
特別な処理を施さないコネクタの接続点において、浸水
前の前記差α１の原理的な最大値は約４４ｄＢ、最小値
はＯｄＢ、浸水後でも最大値は３６ｄＢ、最小値はＯｄ
Ｂである（但し、空気の屈折率を１、水の屈折率を１．
３３とし、レーレ−散乱光レベルを入射光より５０ｄＢ
小さい値とする。）。現実のコネクタの接続点では端面
の処理状態に依存するため反射光量は大幅に減衰するが
、１０ｄＢ程度の差α１の値が一般に観測され、変動周
期Δλの測定精度には全く問題がない。

また、これまでの説明は測定光源のコヒーレンス長が充
分長いという、もう１つの暗黙の仮定をおいていた。即
ち、第６図に示したようなフレネル反射光の波長依存性
が生じるためには光源の可干渉共１ｃが間隙ｄよりも大
きい必要がある。現在、最も一般的に用いられている光
パルス試験器の光源は半導体レーザであって、そのスペ
クトル幅はせいぜい数ｎｍ程度である。これは可干渉共
に換算すると１１１１Ｉｌ程度に相当する。通常、単一
モード光ファイバの低損失接続のための端面間隙は数１
０μｍ以下であるため、１ｃ）ｄが成立し、前記仮定は
満たされていることがわかる。

次に、本実施例の動作を説明する。

光パルス試験器９は波長を変えながら光パルスを繰返し
送出するとともに反射光を受光して、各コネクタ８に対
応した第７図に示すような測定データを次々と得て、こ
れをデータ処理部１０に転送する。各コネクタ８の設置
場所は予めわかっており、データ処理部１０ではコネク
タ８毎に第７図に示したようなフレネル反射光レベルと
レーレ−散乱光レベルとの差α□を各測定波長毎に算出
する。その結果、各コネクタ８毎に第６図に示すような
フレネル反射率の波長依存性データが得られ、変動周期
Δλが算出される。

測定波長がり、Ｓμｍの時、間隙ｄ＝１０μｍに対して
変動周期Δλは浸水前は８５μｍ、浸水後は６４μｍと
なるはずである。この値は予め測定した間隙ｄの値によ
り補正され、該変動周期Δλの値により浸水の有無が判
別される。

光源の波長を変化させる最も便利な方法は、単一の半導
体レーザの動作条件を変化させる方法である。外部共振
器付半導体レーザでは回折格子外部共振器の回転により
測定に適した１、３μｍ及び１゜５μｍの両方の波長帯
において８０ｎｍ程度の広い波長可変域が実現されてい
る（例えば、サンチック社製ＴＳＬ−８０）。そのため
、前記第１の実施例においては外部共振器付半導体レー
ザを測定用光源として用いている。

前記（１）式から、浸水後に１周期分のフレネル反射率
の変化を測定するために必要な端面間隔ｄを求めると、
ｄ＝８μｍとなる（但し、ｎ＝１．３３゜λ＝１．３μ
ｍ、Δλ＝８０ｎｍとする。）。即ち、ｄ≧８μｍの場
合は市販の光源を用いて本発明を実施することができる
。

このような光ファイバの端面間に間隙を設ける方法とし
ては光ファイバを中央に埋め込むコネクタフェルールの
端面を凹球面状に研磨することにより実現できることが
確認されており、１７μｍの間隙による接続損失増は０
．１ｄＢ以下と小さい。

（例えば昭和５６年電子通信学会総合全国大会予稿集２
２５６．２２５７）。なお、コネクタ８の実施例につい
ては後述する。

第８図は本発明の第２の実施例を示すもので、ここでは
複数の固定波長光源を有する光パルス試験器を用いた例
を示す。即ち、図中、１９は光パルス試験器であって、
複数、ここでは４個の固定波長光源、例えばレーザ光源
２０ａ、２０ｂ。

２０ｃ、２０ｄと、これらのうちのいずれか一つを選択
して切替える切替部２１とを有している。

光ファイバの低損失波長域で且つ反射現象の安定な単一
モード動作域としては、１．１μｍ〈λ〈１．６μｍ程
度の範囲が使用可能であり、この範囲内の複数の波長の
光源を揃える。光源としては、ｍＷオーダの出力を持つ
レーザであれば良く、必ずしも半導体レーザである必要
はない。例えば、ＹＡＧレーザ（１，３１９μｍ）のよ
うな固体レーザも使用可能である。

第２の実施例では波長可変範囲が５００ｎｍ程度まで広
くとれるため、コネクタ８における光フアイバ端面の間
隙の制限はさらに緩やかとなる。

即ち、（１）式からｄ＞１．４μｍであれば、浸水の有
無を検知することができる。このことから、ＰＣコネク
タ（光フアイバ端面が完全に接触しているコネクタ）又
は屈折率整合剤入りのコネクタ以外であれば、いかなる
コネクタの接続点に対しても浸水の有無を検知できるこ
とがわかる。

本発明の第１及び第２の実施例のいずれの場合でも浸水
後の軽路損失増がないという大きな利点がある。即ち、
コネクタにおける反射損は光ファイバと間隙との屈折率
の差に依存し、浸水前の約８％の反射損が浸水後には１
％程度に小さくなる（但し、光ファイバの屈折率ｎｒ＝
１．５とし、反射損＝２　（（ｎｔ−ｎ）／　（ｎｒ　
＋ｎ））　２とする。）。従って、複数箇所の同時浸水
により検知不能領域が発生することはない。

第９図乃至第１１図は本発明のコネクタの一実施例を示
すもので、第９図は中子部品の構造を示す。図中、３０
は中子部品、３１は突合わせ時に対向する他方の中子部
品の端面と接触する接触面、３２は嵌合ビン孔、３３は
水走り面、３４は光ファイバの端面１ａ′　（又は１ｂ
′）を含む干渉面である。これを接続するには、第１０
図に示すように他方の中子部品４０と嵌合ピン５０によ
り接続し、押付は用ばね５１で押付けさせることによっ
て行なう。

第１１図は接続状態の要部の断面を示すもので、光ファ
イバ１ａ及び１ｂの端面１ａ−及びｌｂ−が干渉面３４
及び端面４１との間で間隙を隔てて結合されている。こ
こで、コネクタに侵入した水は水走り面３３を通して干
渉面３４まで伝わり、この結果、干渉面３４における光
ファイバ１ａ及び１ｂの端面間に毛細管現象によって水
が容易に侵入する。

さらに、水走り面３３及び干渉面３４にタンパク質、デ
ンプン、寒天、ゼラチン等の親水素材を塗付する等の浸
水処理を施すと、より水の侵入が確実となる。

（発明の効果）以上説明したように本発明の請求項（１）によれば、間
隙を隔てて接続させた光ファイバの接続部を少なくとも
１つの浸水検知地点に配置し、前記光ファイバの一端よ
り波長を変えながら光パルスを繰返し送出するとともに
、その反射光を測定し、着目する接続部におけるフレネ
ル反射光の波長に対する変動から該接続部におけるフレ
ネル反射率の波長に対する変動周期を測定し、該変動周
期の変化より着目する接続部の間隙における屈折率の変
化を検知し、着目する浸水検知地点における浸水の有無
を検知するようになしたため、特別な部品を光線路設備
内に挿入する必要がなく、従来の吸水収縮性素材を用い
たセンサによる方法に比べて、経済性及び空間利用の面
において優れており、また、浸水後の線路損失増がない
ため、１本の浸水検知用の光ファイバで多数の浸水検知
地点における浸水の有無を検知できる。

また、請求項（２）によれば、着目する接続部における
フレネル反射光量とその直前におけるレーレ−散乱光量
との比の波長に対する変動から該接続部におけるフレネ
ル反射率の波長に対する変動周期を測定するようになし
たため、光パルスのパワーが波長によって変化してもフ
レネル反射率の波長に対する変動周期を正確に測定でき
、浸水の有無を正確に検知できる。

また、請求項（３）によれば、特別な部品を光線路設備
内に配置する必要がなく、従来の吸水収縮性素材を用い
たセンサによるシステムに比べて、経済性及び空間利用
の面において優れているだけでなく、浸水後の線路損失
増がないため、１本の浸水検知用の光ファイバで多数の
浸水検知地点における浸水の有無を検知できるシステム
を提供できる。

また、請求項（４）によれば、光パルスのパワーが波長
によって変化してもフレネル反射率の波長に対する変動
周期を正確に測定でき、浸水の有無を正確に検知できる
システムを提供できる。

また、請求項（５）によれば、光源として外部共振器付
半導体レーザを有する光パルス試験器を用いたため、動
作条件を変えることによって波長の異なる光パルスが容
易に得られる。

また、請求項（６）によれば、波長の異なる複数の光源
と、該複数の光源のうちのいずれが１つを選択する選択
手段とを有する光パルス試験器を用いたたぬ、光パルス
の波長可変範囲が広く取れ、その分、ファイバ端面間の
間隙に対する制限が緩やかとなり、使用するコネクタに
対する制限も緩やかとなる。

また、請求項（７）によれば、光ファイバの端面を固定
把持する一対の中子部品と、光ファイバの光軸が一致す
る如く前記一対の中子部品を突合せる突合せ手段と、前
記一対の中子部品の端面を互いに押付ける押付は手段と
を有し、前記一対の中子部品のうちの少なくとも一方は
その突合せ側の端面に１．他方の中子部品との接触面、
浸水による水を光ファイバの端面に伝える水走り面及び
光ファイバの端面間の間隙を設定するための干渉面を備
えたため、コネクタに侵入した水が水走り面を通して干
渉面に伝わり、ファイバ端面間に到達することになり、
浸水を確実に検知し得るコネクタを提供することができ
る。

また、請求項（８）によれば、水走り面又は干渉面の一
方もしくは両方に親水処理を施したため、水の侵入がさ
らに確実となり、より優れたコネクタを提供できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第１の実施例を示すシステム構成図、
第２図（ａ）　（ｂ）は従来の浸水検知用のセンサモジ
ュールを示す側面図、第３図は従来の浸水検知システム
の一例を示す構成図、第４図は第３図のシステムによる
測定結果を示す説明図、第５図はファイバ端面間での光
の伝搬のようすを示す説明図、第６図は入射光の波長と
反射光量との関係を示す説明図、第７図は第１図のシス
テムによる測定結果を示す説明図、第８図は本発明の第
２の実施例を示すシステム構成図、第９図は本発明のコ
ネクタの中子部品の構造を示す斜視図、第１０図は本発
明のコネクタの接続のようすを示す斜視図、第１１図は
本発明のコネクタの接続状態の断面図である。１、ｌａ、Ｉｂ・・・浸水検知用の光ファイバ、ｌａ”
、ｌｂ−・・・光ファイバの端面、８・・・コネクタ、
９．１９・・・光パルス試験器、１０・・・データ処理
部、２０ａ〜２０ｄ・・・レーザ光源、２１・・・切替
部、３０．４０・・・中子部品、３１・・・接触面、３
３・・・水走り面、３４・・・干渉面、５１・・・押付
は用ばね。

Claims

【特許請求の範囲】

（１）間隙を隔てて接続させた光ファイバの接続部を少
なくとも１つの浸水検知地点に配置し、前記光ファイバ
の一端より波長を変えながら光パルスを繰返し送出する
とともに、その反射光を測定し、着目する接続部におけるフレネル反射光の波長に対する
変動から該接続部におけるフレネル反射率の波長に対す
る変動周期を測定し、該変動周期の変化より着目する接続部の間隙における屈
折率の変化を検知し、着目する浸水検知地点における浸
水の有無を検知するようになしたことを特徴とする浸水
検知方法。
（２）着目する接続部におけるフレネル反射光量とその
直前におけるレーレー散乱光量との比の波長に対する変
動から該接続部におけるフレネル反射率の波長に対する
変動周期を測定するようになしたことを特徴とする請求
項（１）記載の浸水検知方法。
（３）少なくとも１つの浸水検知地点まで配設した光フ
ァイバと、該光ファイバを浸水検知地点にて間隙を隔てて接続する
コネクタと、前記光ファイバの一端に接続され、該一端に波長を変え
ながら光パルスを繰返し送出するとともに、その反射光
を測定する光パルス試験器と、着目するコネクタにおけ
るフレネル反射光の波長に対する変動から該コネクタに
おけるフレネル反射率の波長に対する変動周期を測定し
、該変動周期の変化より着目するコネクタの間隙におけ
る屈折率の変化を検知し、着目する浸水検知地点におけ
る浸水の有無を検知するデータ処理手段とからなる浸水
検知システム。
（４）着目するコネクタにおけるフレネル反射光量とそ
の直前におけるレーレー散乱光量との比の波長に対する
変動から該コネクタにおけるフレネル反射率の波長に対
する変動周期を測定し、該変動周期の変化より着目する
コネクタの間隙における屈折率の変化を検知し、着目す
る浸水検知地点における浸水の有無を検知するデータ処
理手段を用いたことを特徴とする請求項（３）記載の浸
水検知システム。
（５）光源として外部共振器付半導体レーザを有する光
パルス試験器を用いたことを特徴とする請求項（３）又
は（４）記載の浸水検知システム。
（６）波長の異なる複数の光源と、該複数の光源のうち
のいずれか１つを選択する選択手段とを有する光パルス
試験器を用いたことを特徴とする請求項（３）又は（４
）記載の浸水検知システム。
（７）光ファイバの端面を固定把持する一対の中子部品
と、光ファイバの光軸が一致する如く前記一対の中子部品を
突合せる突合せ手段と、前記一対の中子部品の端面を互いに押付ける押付け手段
とを有し、前記一対の中子部品のうちの少なくとも一方はその突合
せ側の端面に、他方の中子部品との接触面、浸水による
水を光ファイバの端面に伝える水走り面及び光ファイバ
の端面間の間隙を設定するための干渉面を備えたことを特徴とするコネクタ。
（８）水走り面又は干渉面の一方もしくは両方に親水処
理を施したことを特徴とする請求項（７）記載のコネク
タ。