JPS61255443A - レベルコントロ−ラ - Google Patents
レベルコントロ−ラInfo
- Publication number
- JPS61255443A JPS61255443A JP60097282A JP9728285A JPS61255443A JP S61255443 A JPS61255443 A JP S61255443A JP 60097282 A JP60097282 A JP 60097282A JP 9728285 A JP9728285 A JP 9728285A JP S61255443 A JPS61255443 A JP S61255443A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- power supply
- output
- supply voltage
- level
- target
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、マイクロプロセッサアナライザの入出力イン
ターフェースの出力レベル制御に関するものである。
ターフェースの出力レベル制御に関するものである。
(従来の技術)
従来より、マイクロプロセッサ応用機器に使用されるマ
イクロプロセッサの動作をインサーキット方式で試験な
いし解析することのできるマイクロプロセッサアナライ
ザはよく知られている。マイクロプロセッサアナライザ
は、その本体側に対象とするプロセッサ(ターゲットプ
ロセッサ)の種類に適合した専用のバーンナルモジュー
ルが実装される。このパーソナルモジュールによりター
ゲットプロセッサを作動させるが、第3図に示すように
このモジュールからはケーブル1を介してプローブ(一
般にPODと略称される)2が接続されている。このP
OD上にターゲットブロセッ”+t (CPU)sを装
着する一方、バッファ4及びケーブル5を介してPOD
がら出ているソケットコネクタ6をターゲットボード7
上のマイクロプロセッサソケット8に差込んで接続し、
POD上のマイクロプロセッサがターゲットボードのメ
モリやI10装置をアクセスすることができるようにな
っている。
イクロプロセッサの動作をインサーキット方式で試験な
いし解析することのできるマイクロプロセッサアナライ
ザはよく知られている。マイクロプロセッサアナライザ
は、その本体側に対象とするプロセッサ(ターゲットプ
ロセッサ)の種類に適合した専用のバーンナルモジュー
ルが実装される。このパーソナルモジュールによりター
ゲットプロセッサを作動させるが、第3図に示すように
このモジュールからはケーブル1を介してプローブ(一
般にPODと略称される)2が接続されている。このP
OD上にターゲットブロセッ”+t (CPU)sを装
着する一方、バッファ4及びケーブル5を介してPOD
がら出ているソケットコネクタ6をターゲットボード7
上のマイクロプロセッサソケット8に差込んで接続し、
POD上のマイクロプロセッサがターゲットボードのメ
モリやI10装置をアクセスすることができるようにな
っている。
(発明が解決しようとする問題点)
ところで、マイクロプロセッサはN−MOSチップによ
りTTLレベルで出力されるのが普通であった。従って
、入出力信号の授受は総べてTTLレベルで行われてい
た。バッファ4はプローブ先端からプローブ内部へのゲ
ートとして位置付けられ、通常TTLのICバッファで
構成されている。
りTTLレベルで出力されるのが普通であった。従って
、入出力信号の授受は総べてTTLレベルで行われてい
た。バッファ4はプローブ先端からプローブ内部へのゲ
ートとして位置付けられ、通常TTLのICバッファで
構成されている。
最近、高密度化、省電力化が進み、cPUチップはちと
よりユーザー側の回路の周辺も0MO8のICで構成さ
れるようになってきた。そのような0M08回路のユー
ザーターゲットに従来のN・MOS用のプローブを接続
すると不都合が生ずる。
よりユーザー側の回路の周辺も0MO8のICで構成さ
れるようになってきた。そのような0M08回路のユー
ザーターゲットに従来のN・MOS用のプローブを接続
すると不都合が生ずる。
一つには、ユーザー側回路の電源がオフのとき、プロー
ブ2の電源が入ると0MO8入力に逆バイアスがかかり
、ゲートを破壊することになる。また、ユーザー側の電
源がオンで、プローブの電源電圧の方がユーザー側より
高い場合、ラッチアップを起こすことがあり、ユーザー
側ICを破壊することもある。
ブ2の電源が入ると0MO8入力に逆バイアスがかかり
、ゲートを破壊することになる。また、ユーザー側の電
源がオンで、プローブの電源電圧の方がユーザー側より
高い場合、ラッチアップを起こすことがあり、ユーザー
側ICを破壊することもある。
本発明の目的は、この様な点を解決するもので、ターゲ
ットボードの構成が0MO8のICであっても、ターゲ
ットボードの電源電圧を監視しながら、プローブのイン
ターフェースバッファの出力レベルを制御することによ
ってユーザー側に影響を与えずに接続することができる
マイクロプロセッサアナライザのレベルコントローラを
提供することにある。
ットボードの構成が0MO8のICであっても、ターゲ
ットボードの電源電圧を監視しながら、プローブのイン
ターフェースバッファの出力レベルを制御することによ
ってユーザー側に影響を与えずに接続することができる
マイクロプロセッサアナライザのレベルコントローラを
提供することにある。
この様な目的を達成するために本発明では、ユーザータ
ーゲットボードの電源電圧をモニターし、NPNトラン
ジスタをエミッタフォロワーに用いて、クランプダイオ
ードを電流駆動すると共に、前記電源電圧がオフ状態の
ときはLOW”レベルの出力する手段を備え、前記クラ
ンプダイオードによって出力信号ラインをクランプして
ユーザーターゲットボードの電gim圧と等しい“HI
GH#ルベルが出力されるようにし、またユーザーター
ゲットボードの電源電圧がオフのときには出力レベルを
0ボルトとするよう出力段のインターフェースのバッフ
ァを制御するようにしたことを特徴とする。
ーゲットボードの電源電圧をモニターし、NPNトラン
ジスタをエミッタフォロワーに用いて、クランプダイオ
ードを電流駆動すると共に、前記電源電圧がオフ状態の
ときはLOW”レベルの出力する手段を備え、前記クラ
ンプダイオードによって出力信号ラインをクランプして
ユーザーターゲットボードの電gim圧と等しい“HI
GH#ルベルが出力されるようにし、またユーザーター
ゲットボードの電源電圧がオフのときには出力レベルを
0ボルトとするよう出力段のインターフェースのバッフ
ァを制御するようにしたことを特徴とする。
(実施例)
以下図面を用いて本発明の詳細な説明する。第1図は本
発明に係るレベルコントローラの一実施例を示す構成図
である。図において、1oはターゲットボードの電源電
圧レベルをlli視する電源電圧モニタ回路である。1
1はレベルクランプ回路で、ターゲットボードの電源電
圧と等しいレベルでTTルベルのインターフェースバッ
ファ12の出力をクランプする。また、ターゲットボー
ドの電源がオフ状態のときにはこのバッファ12より出
力が出ないように、ゲート回路13を経由しテ出力され
る制御信号によりバッファの出力をハイインピーダンス
にする。ターゲットボードの電源がオフ状態のときはク
ランプレベルも0ボルトとなるため、バッファ12の出
力がハイインピーダンスになってもユーザー側に出力さ
れるレベルはOボルトであり、むしろクランプ電流を軽
減してクランプ回路の負荷を軽くする働きがある。
発明に係るレベルコントローラの一実施例を示す構成図
である。図において、1oはターゲットボードの電源電
圧レベルをlli視する電源電圧モニタ回路である。1
1はレベルクランプ回路で、ターゲットボードの電源電
圧と等しいレベルでTTルベルのインターフェースバッ
ファ12の出力をクランプする。また、ターゲットボー
ドの電源がオフ状態のときにはこのバッファ12より出
力が出ないように、ゲート回路13を経由しテ出力され
る制御信号によりバッファの出力をハイインピーダンス
にする。ターゲットボードの電源がオフ状態のときはク
ランプレベルも0ボルトとなるため、バッファ12の出
力がハイインピーダンスになってもユーザー側に出力さ
れるレベルはOボルトであり、むしろクランプ電流を軽
減してクランプ回路の負荷を軽くする働きがある。
レベルゲート回路13は、電源電圧モニタ回路10から
の信号に応じて、制御信号生成回路14の出力信号の通
過を制御するものである。制御信号生成回路14はゲー
ト条件信号が与えられたときに制御信号を出力するよう
になっている。
の信号に応じて、制御信号生成回路14の出力信号の通
過を制御するものである。制御信号生成回路14はゲー
ト条件信号が与えられたときに制御信号を出力するよう
になっている。
第2図はレベルコントローラの一興体例を示す構成図で
ある。電源電圧モニタ回路10において、コレクタに+
5ボルト電圧が印加されたトランジスタTR1は、その
ベースには直列接続の抵抗R1、R2を介してターゲッ
トの電源電圧■十が印加され、またエミッタはコンデン
サc2が並列接続すれた抵抗R1を介してコモンライン
に接続されている。更に前記直列接続の抵抗R+とR2
の共通接続点はコンデンサC4を介してコモンラインに
接続されている。また、トランジスタTRIのエミッタ
にはレベルクランプ用のクランプダイオードDL(z
= 1. 2. ・・・0口)が接続されている。
ある。電源電圧モニタ回路10において、コレクタに+
5ボルト電圧が印加されたトランジスタTR1は、その
ベースには直列接続の抵抗R1、R2を介してターゲッ
トの電源電圧■十が印加され、またエミッタはコンデン
サc2が並列接続すれた抵抗R1を介してコモンライン
に接続されている。更に前記直列接続の抵抗R+とR2
の共通接続点はコンデンサC4を介してコモンラインに
接続されている。また、トランジスタTRIのエミッタ
にはレベルクランプ用のクランプダイオードDL(z
= 1. 2. ・・・0口)が接続されている。
抵抗R6はクランプ電流の制限抵抗で、低レベル出力が
保障できる出力電流に対してマージンを持って選定され
る。
保障できる出力電流に対してマージンを持って選定され
る。
これらクランプダイオード、バッファ及び抵抗でなる回
路部分はユーザーターゲットへの各入出力信号線ごとに
同様に用意されている。なお、これらのバッファには共
通にゲート回路13の出力が与えられる。
路部分はユーザーターゲットへの各入出力信号線ごとに
同様に用意されている。なお、これらのバッファには共
通にゲート回路13の出力が与えられる。
電源電圧モニタ回路10はまたトランジスタTR2を有
し、そのベースには抵抗R4を介してターゲットの電源
電圧V+が与えられ、またそのコレクタには+5ボルト
電圧が印加され、またそのエミッタは抵抗R5を介して
コモンラインに接続されている。そしてこのエミッタ電
圧はバッファBを介してゲート回路13に導かれている
。
し、そのベースには抵抗R4を介してターゲットの電源
電圧V+が与えられ、またそのコレクタには+5ボルト
電圧が印加され、またそのエミッタは抵抗R5を介して
コモンラインに接続されている。そしてこのエミッタ電
圧はバッファBを介してゲート回路13に導かれている
。
このような構成における動作を次に詳しく説明する。プ
ローブ先端のコネクタをターゲットに接続すると、N源
電圧モニタ回路10に与えられたターゲットの電源電圧
V+は抵抗R1,R2を経てトランジスタTR1に供給
される。これによりTR1がオンし、そのエミッタ電位
はくベース電圧) (Vbe)(ただし、Vbeは
TRIのベース・エミッタ間電圧で約0.7ボルト)ま
で引上げられる。同時に、クランプダイオードのクラン
プ電流を抵抗R3にバイアスする。
ローブ先端のコネクタをターゲットに接続すると、N源
電圧モニタ回路10に与えられたターゲットの電源電圧
V+は抵抗R1,R2を経てトランジスタTR1に供給
される。これによりTR1がオンし、そのエミッタ電位
はくベース電圧) (Vbe)(ただし、Vbeは
TRIのベース・エミッタ間電圧で約0.7ボルト)ま
で引上げられる。同時に、クランプダイオードのクラン
プ電流を抵抗R3にバイアスする。
他方、抵抗R4を介して供給される電源電圧V十により
オンしたトランジスタTR2のエミッタレベルは、TR
I側がR1・C1によりディレィを持ってオンするため
にクランプ電圧よりも早くオンとなり、ゲート出力制御
を行う。クランプ電圧はその後暫くしてオンするため、
ターゲットの電源オン時はOボルトである。したがって
、ターゲットボードに対しては影響を与えず、TR1の
エミッタ電位にダイオード順方向オン電圧0.7ボルト
を加算した電圧、すなわち近似的にターゲットボードの
電源電圧■ヤに等しいかそれよりも低い値で出力される
。
オンしたトランジスタTR2のエミッタレベルは、TR
I側がR1・C1によりディレィを持ってオンするため
にクランプ電圧よりも早くオンとなり、ゲート出力制御
を行う。クランプ電圧はその後暫くしてオンするため、
ターゲットの電源オン時はOボルトである。したがって
、ターゲットボードに対しては影響を与えず、TR1の
エミッタ電位にダイオード順方向オン電圧0.7ボルト
を加算した電圧、すなわち近似的にターゲットボードの
電源電圧■ヤに等しいかそれよりも低い値で出力される
。
このような制御の下でブO−ブのインターフェースバッ
フ?の方向性を指定する信号DIRやバス使用可能信号
Bus、Eが作用する。
フ?の方向性を指定する信号DIRやバス使用可能信号
Bus、Eが作用する。
(発明の効果)
以上説明したように、本発明によれば、CMOSマイク
ロプロセッサが用いられ、その周辺も0MO8で構成さ
れたようなユーザーターゲットボードに対して、ブOセ
ッサアナライザのサポートが可能となり、また更にユー
ザーの′Fi源電圧電圧動にも追従できるため、電源電
圧の不整合によって生じるユーザーのICを破壊を防止
することができる。
ロプロセッサが用いられ、その周辺も0MO8で構成さ
れたようなユーザーターゲットボードに対して、ブOセ
ッサアナライザのサポートが可能となり、また更にユー
ザーの′Fi源電圧電圧動にも追従できるため、電源電
圧の不整合によって生じるユーザーのICを破壊を防止
することができる。
第1図は本発明に係るレベルコントローラの一実施例を
示す構成図、第2図はレベルコントローラの一興体例を
示す構成図、第3図はマイクロプロセッサアナライザに
おけるプローブ部分の略示的構成図である。 2・・・プローブ、4・・・インターフェースバッファ
、7・・・ユーザーターゲットボード、10・・・電源
電圧モニタ回路、11・・・レベルクランプ回路、12
・・・インターフェースバッファ、13・・・ゲート回
路、14・・・制御信号生成回路。
示す構成図、第2図はレベルコントローラの一興体例を
示す構成図、第3図はマイクロプロセッサアナライザに
おけるプローブ部分の略示的構成図である。 2・・・プローブ、4・・・インターフェースバッファ
、7・・・ユーザーターゲットボード、10・・・電源
電圧モニタ回路、11・・・レベルクランプ回路、12
・・・インターフェースバッファ、13・・・ゲート回
路、14・・・制御信号生成回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 インサーキットエミュレータ方式によりターゲットマイ
クロプロセッサの動作を試験することができるように構
成されたアナライザにおいて、ターゲットボードの電源
電圧を検出し、この電源電圧の変化に緩かに追従する電
圧出力と、この電源電圧がオフ状態のときに禁止信号を
出力する電源電圧モニタ回路と、 出力段インターフェースバッファの出力ラインを前記電
源電圧モニタ回路の出力電圧にクランプするレベルクラ
ンプ回路と、 出力段インターフェースバッファに与える制御信号を前
記電源電圧モニタ回路が出力する禁止信号でゲートする
ゲート回路 とを具備し、前記出力段インターフェースバッファの出
力レベルがターゲットボードの電源電圧と等しいレベル
となり、かつターゲットボードの電源電圧がオフ状態の
ときは出力レベルが零となるように制御し、動作中はタ
ーゲットボードの電源電圧レベルに出力がクランプされ
ることを特徴とするマイクロプロセッサアナライザに使
用のレベルコントローラ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60097282A JPS61255443A (ja) | 1985-05-08 | 1985-05-08 | レベルコントロ−ラ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60097282A JPS61255443A (ja) | 1985-05-08 | 1985-05-08 | レベルコントロ−ラ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61255443A true JPS61255443A (ja) | 1986-11-13 |
JPH0357489B2 JPH0357489B2 (ja) | 1991-09-02 |
Family
ID=14188154
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60097282A Granted JPS61255443A (ja) | 1985-05-08 | 1985-05-08 | レベルコントロ−ラ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61255443A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01307838A (ja) * | 1988-06-06 | 1989-12-12 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | マイクロコンピュータのエミュレータ |
-
1985
- 1985-05-08 JP JP60097282A patent/JPS61255443A/ja active Granted
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01307838A (ja) * | 1988-06-06 | 1989-12-12 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | マイクロコンピュータのエミュレータ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0357489B2 (ja) | 1991-09-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6292025B1 (en) | Integrated circuit device including CMOS tri-state drivers suitable for powerdown | |
US5012185A (en) | Semiconductor integrated circuit having I/O terminals allowing independent connection test | |
US5521493A (en) | Semiconductor test system including a novel driver/load circuit | |
KR890001076A (ko) | 게이트어레이 및 메모리를 갖는 반도체 집적회로 장치 | |
WO1997037417A1 (en) | Method and apparatus for automatically controlling intergrated circuit supply voltages | |
JPH07105706B2 (ja) | 電流切換え式ドライバ回路 | |
JPS61255443A (ja) | レベルコントロ−ラ | |
US6801050B2 (en) | Driver circuit integrated with load current output circuit, pin electronics and IC tester having thereof | |
US5393991A (en) | Hybrid integrated circuit device having burn-in testing means | |
US20010016890A1 (en) | Interface distinguishing apparatus | |
KR950010952B1 (ko) | 직렬 통신포트와 광 통신포트의 절환 제어장치 및 그의 구동방법 | |
JP2903946B2 (ja) | マルチチップ半導体装置 | |
JPH0579148B2 (ja) | ||
JPH0580992B2 (ja) | ||
JP3396834B2 (ja) | Ic接続試験方法 | |
JPH058651Y2 (ja) | ||
US20030112567A1 (en) | Device preventing from chip damage caused by over voltage | |
JPH05233350A (ja) | レベル変換用インターフェース回路 | |
JPS6222079A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
JPH05216709A (ja) | レベル変換アダプター | |
KR100668250B1 (ko) | 출력 신호 레벨을 스위칭하는 트리스테이트 회로 및 방법 | |
KR880002186Y1 (ko) | 오디오 기기에서의 전원 온,오프 제어회로 | |
JPS6331018Y2 (ja) | ||
JPH07105471B2 (ja) | 半導体集積回路装置のテスト方法 | |
JPH07130957A (ja) | 集積回路装置 |