JPS6125540A - 超音波診断装置 - Google Patents
超音波診断装置Info
- Publication number
- JPS6125540A JPS6125540A JP14657284A JP14657284A JPS6125540A JP S6125540 A JPS6125540 A JP S6125540A JP 14657284 A JP14657284 A JP 14657284A JP 14657284 A JP14657284 A JP 14657284A JP S6125540 A JPS6125540 A JP S6125540A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- stc
- circuit
- diagnostic apparatus
- ultrasonic diagnostic
- curve
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
- Measurement Of Velocity Or Position Using Acoustic Or Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
本発明は、超音波診断装置に関する。
（ロ）従来技術
一般に、被検体に超音波を放射した場合、被検体内から
反射される超音波エコーは近旺離からのものは被検体内
での吸収減衰の影響が少ないので強く、また、遠距離か
らのものは途中での吸収減衰のために弱くなる。従って
、このような深度方向特性を有する超音波エコーを検出
してこれから得られる受渡信号をそのまま画像表示器に
出力したのでは、その表示画像には被検体の深度による
影響が現われ、鮮明な画像が得られない。従って、これ
を補正するため、従来の超音波診断装置には超音波エコ
ーに基づく受渡信号のゲインを時間的に制御するＳ Ｔ
Ｃ（Ｓ ｅｎｓｉｖｉｔｉｙ Ｔ ｉ＋ｏｅ Ｃ
ｏｎｔｒ。
反射される超音波エコーは近旺離からのものは被検体内
での吸収減衰の影響が少ないので強く、また、遠距離か
らのものは途中での吸収減衰のために弱くなる。従って
、このような深度方向特性を有する超音波エコーを検出
してこれから得られる受渡信号をそのまま画像表示器に
出力したのでは、その表示画像には被検体の深度による
影響が現われ、鮮明な画像が得られない。従って、これ
を補正するため、従来の超音波診断装置には超音波エコ
ーに基づく受渡信号のゲインを時間的に制御するＳ Ｔ
Ｃ（Ｓ ｅｎｓｉｖｉｔｉｙ Ｔ ｉ＋ｏｅ Ｃ
ｏｎｔｒ。
１）の信号処理回路を設けたものがある。この上うなＳ
ＴＣ信号処理回路を有する超音波診断装置を実際使用す
る場合には、超音波の周波数と診断部位の音響特性によ
り超音波エコーの吸収減衰が異なるので、表示画像を見
なからＳＴＣ信号処理回路の例えばスライドボリューム
などを操作して浅部から深部まで一様な画像が得られる
ように調整している。
ＴＣ信号処理回路を有する超音波診断装置を実際使用す
る場合には、超音波の周波数と診断部位の音響特性によ
り超音波エコーの吸収減衰が異なるので、表示画像を見
なからＳＴＣ信号処理回路の例えばスライドボリューム
などを操作して浅部から深部まで一様な画像が得られる
ように調整している。
（ハ）発明が解決しようとする問題点
従来のこのような超音波診断装置におけるＳＴＣ信号処
理は、見易い画像を得るためには有用であるが、超音波
診断装置を操作する者によってＳＴＣのゲインの調整が
その都度まちまちになるので、再現性に乏しい。従って
、定量的な測定データとならないので後日の診断情報と
して役立てることができないという問題がある。
理は、見易い画像を得るためには有用であるが、超音波
診断装置を操作する者によってＳＴＣのゲインの調整が
その都度まちまちになるので、再現性に乏しい。従って
、定量的な測定データとならないので後日の診断情報と
して役立てることができないという問題がある。
本発明は従来のかかる問題点を解消し、再現性のあるデ
ータが得られるようにして、定量的な測定データの蓄積
が可能となるようにすることを目的とする。
ータが得られるようにして、定量的な測定データの蓄積
が可能となるようにすることを目的とする。
（ニ）構成
本発明は上述の目的を達成するため、ＳＴＣ信号処理回
路を備えた超音波診断装置において、被検体の超音波減
衰率特性に基づくＳＴＣカーブを設定するＳＴＣカーブ
設定手段を設けている。
路を備えた超音波診断装置において、被検体の超音波減
衰率特性に基づくＳＴＣカーブを設定するＳＴＣカーブ
設定手段を設けている。
（ホ）実施例
以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて詳細に説明
する。
する。
図はこの実施例の超音波診断装置のブロック図である。
同図において、符号１は超音波診断装置を示し、２は超
音波の送受波を行なう探触子、４は探触子２に駆動信号
を出力する送波回路、６は探触子２から出力される受渡
信号を検波、増幅する受渡回路である。また、８は受渡
回路６を通った受渡信号のゲインを時間補正して増幅す
るＳＴＣ増幅器、１０はＳＴＣ増幅器８でゲイン補正さ
れた受渡信号を画像表示する表示器である。１２は同期
パルス発生回路、１４はゲイン変化を手動設定するため
のスライドボリュー等を備えた５ＴＣＪＱ整回路である
。そして、上記ＳＴＣ増幅器と５ＴＣｉ整回路とでＳＴ
Ｃ信号処理回路１６が構成されている。
音波の送受波を行なう探触子、４は探触子２に駆動信号
を出力する送波回路、６は探触子２から出力される受渡
信号を検波、増幅する受渡回路である。また、８は受渡
回路６を通った受渡信号のゲインを時間補正して増幅す
るＳＴＣ増幅器、１０はＳＴＣ増幅器８でゲイン補正さ
れた受渡信号を画像表示する表示器である。１２は同期
パルス発生回路、１４はゲイン変化を手動設定するため
のスライドボリュー等を備えた５ＴＣＪＱ整回路である
。そして、上記ＳＴＣ増幅器と５ＴＣｉ整回路とでＳＴ
Ｃ信号処理回路１６が構成されている。
また、１７はＳＴＣカーブ設定手段であり、このＳＴＣ
カーブ設定手段１７は被検体の超音波減衰率特性に基づ
いて予め設定された複数のＳＴＣカーブを記憶するＳＴ
Ｃカーブ記憶回路１８、このＳＴＣカーブ記憶回路１８
に記＋！ｔされたＳＴＣカーブのデータを読み出す読み
出し回路２０、この読み出し回路２０を前記ＳＴＣ信号
処理回路１６のＳＴＣ増幅器８に接続切り換える切換回
路２２および読み出し回路２０にＳＴＣカーブの選定信
号を入力するための繰作部２４から構成される。
カーブ設定手段１７は被検体の超音波減衰率特性に基づ
いて予め設定された複数のＳＴＣカーブを記憶するＳＴ
Ｃカーブ記憶回路１８、このＳＴＣカーブ記憶回路１８
に記＋！ｔされたＳＴＣカーブのデータを読み出す読み
出し回路２０、この読み出し回路２０を前記ＳＴＣ信号
処理回路１６のＳＴＣ増幅器８に接続切り換える切換回
路２２および読み出し回路２０にＳＴＣカーブの選定信
号を入力するための繰作部２４から構成される。
上記構成の超音波診断装置１において、従来と同様に自
由なＳＴＣカーブを設定して画像観察を行なう場合には
、まず、切換回路２２の共通接点ａを一方の個別接点し
に接続する。そして送波回路４から同期パルス発生回路
１２の同期パルスに基づく駆動信号を探触子２に出力す
る。これにより、探触子２が駆動されて被検体内に超音
波ビームが放射される。被検体内から反射された超音波
エコーは再び探触子２で受波され、探触子２からは受波
した超音波エコーに対応した受渡信号が順次出力される
。探触子２から出力された受渡信号は次段の受渡回路６
で検波、増幅された後、ＳＴＣ増幅器８に送出される。
由なＳＴＣカーブを設定して画像観察を行なう場合には
、まず、切換回路２２の共通接点ａを一方の個別接点し
に接続する。そして送波回路４から同期パルス発生回路
１２の同期パルスに基づく駆動信号を探触子２に出力す
る。これにより、探触子２が駆動されて被検体内に超音
波ビームが放射される。被検体内から反射された超音波
エコーは再び探触子２で受波され、探触子２からは受波
した超音波エコーに対応した受渡信号が順次出力される
。探触子２から出力された受渡信号は次段の受渡回路６
で検波、増幅された後、ＳＴＣ増幅器８に送出される。
また、５ＴＣｉｉｌｌ整回路１４からは同期パルス発生
回路１２からの同期パルスを受けてスライドボリューム
などで予め設定されたゲイン設定信号が順次出力され、
このゲイン設定信号は切換回路２２を介してＳＴＣ増幅
器８に与えられる。これによｌ） Ｓ Ｔ Ｃ増幅器８
のゲインが時間的に順次変化され、ＳＴＣ処理された受
渡信号が表示器１０に与えられる。また所望の画像を得
るには、表示器１０を見なからＳＴＣ調整回路１４のス
ライドボリュームなどを操作してＳＴＣの調整を行なう
。
回路１２からの同期パルスを受けてスライドボリューム
などで予め設定されたゲイン設定信号が順次出力され、
このゲイン設定信号は切換回路２２を介してＳＴＣ増幅
器８に与えられる。これによｌ） Ｓ Ｔ Ｃ増幅器８
のゲインが時間的に順次変化され、ＳＴＣ処理された受
渡信号が表示器１０に与えられる。また所望の画像を得
るには、表示器１０を見なからＳＴＣ調整回路１４のス
ライドボリュームなどを操作してＳＴＣの調整を行なう
。
一方、定量的な診断を行なう場合には、切換回路の共通
接点ａを他方の個別接点Ｃに接続し、また、操作部２４
からは読み出し回路２０にＳＴＣカーブの選定信号を入
力しておく。探触子２から出力された受渡信号がＳＴＣ
増幅器８に加わる時点で、読み出し回路２０には同期パ
ルス発生回路１２から同期パルスが与えられるので、読
み出し回路２０は同期パルスに応答してＳＴＣカーブ記
憶回路１８から操作部２４で先に指定されたＳＴＣカー
ブのデータを順次読み出し、読み出したＳＴＣカーブに
基づくゲイン設定信号を切換回路２２を介してＳＴＣ増
幅器８に与える。従って、ＳＴＣ増幅器８からは一定の
ＳＴＣカーブで補正された受波信号が出力されることに
なる。
接点ａを他方の個別接点Ｃに接続し、また、操作部２４
からは読み出し回路２０にＳＴＣカーブの選定信号を入
力しておく。探触子２から出力された受渡信号がＳＴＣ
増幅器８に加わる時点で、読み出し回路２０には同期パ
ルス発生回路１２から同期パルスが与えられるので、読
み出し回路２０は同期パルスに応答してＳＴＣカーブ記
憶回路１８から操作部２４で先に指定されたＳＴＣカー
ブのデータを順次読み出し、読み出したＳＴＣカーブに
基づくゲイン設定信号を切換回路２２を介してＳＴＣ増
幅器８に与える。従って、ＳＴＣ増幅器８からは一定の
ＳＴＣカーブで補正された受波信号が出力されることに
なる。
（へ）効果
以上のように、本発明によれば被検体の超音波減衰率特
性に基づく ＳＴＣカーブを設定するＳＴＣカーブ設定
手段を設けたので、一定のＳＴＣカーブで補正された受
渡信号に基づく診断画像が得られるようになる。従って
、定量的な測定データの蓄積が可能となり、一層的確な
診断ができるようになる。
性に基づく ＳＴＣカーブを設定するＳＴＣカーブ設定
手段を設けたので、一定のＳＴＣカーブで補正された受
渡信号に基づく診断画像が得られるようになる。従って
、定量的な測定データの蓄積が可能となり、一層的確な
診断ができるようになる。
図面は本発明の一実施例を示す超音波診断装置のブロッ
ク図である。 １・・・・・・超音波診断装置、１６・・・・・・ＳＴ
Ｃ信号処理回路、１７・・・・・・ＳＴＣカーブ設定手
段、１８・・・・・・Ｓ’ＴＣカーブ記憶回路、２０・
・・・・・読み出し回路、２２・・・・・・切換回路。
ク図である。 １・・・・・・超音波診断装置、１６・・・・・・ＳＴ
Ｃ信号処理回路、１７・・・・・・ＳＴＣカーブ設定手
段、１８・・・・・・Ｓ’ＴＣカーブ記憶回路、２０・
・・・・・読み出し回路、２２・・・・・・切換回路。
Claims (2)
- （１）ＳＴＣ信号処理回路を備えた超音波診断装置にお
いて、被検体の超音波減衰率特性に基づくＳＴＣカーブ
を設定するＳＴＣカーブ設定手段を設けたことを特徴と
する超音波診断装置。 - （２）前記特許請求の範囲第一項に記載の超音波診断装
置において、ＳＴＣカーブ設定手段は被検体の超音波減
衰率特性に基づくＳＴＣカーブが記憶されたＳＴＣカー
ブ記憶回路と、このＳＴＣカーブ記憶回路に記憶された
ＳＴＣカーブのデータを読み出す読み出し回路と、この
読み出し回路をＳＴＣ信号処理回路に接続切り換える切
換回路とからなることを特徴とする超音波診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14657284A JPS6125540A (ja) | 1984-07-13 | 1984-07-13 | 超音波診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14657284A JPS6125540A (ja) | 1984-07-13 | 1984-07-13 | 超音波診断装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6125540A true JPS6125540A (ja) | 1986-02-04 |
Family
ID=15410721
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14657284A Pending JPS6125540A (ja) | 1984-07-13 | 1984-07-13 | 超音波診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6125540A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5464883A (en) * | 1977-11-01 | 1979-05-25 | Tokyo Shibaura Electric Co | Ultrasonic diagnostic device |
| JPS57112851A (en) * | 1980-12-29 | 1982-07-14 | Fujitsu Ltd | Ultrasonic diagnostic apparatus |
-
1984
- 1984-07-13 JP JP14657284A patent/JPS6125540A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5464883A (en) * | 1977-11-01 | 1979-05-25 | Tokyo Shibaura Electric Co | Ultrasonic diagnostic device |
| JPS57112851A (en) * | 1980-12-29 | 1982-07-14 | Fujitsu Ltd | Ultrasonic diagnostic apparatus |
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