JPS6125285A - 文字認識装置 - Google Patents

文字認識装置

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JPS6125285A
JPS6125285A JP14638384A JP14638384A JPS6125285A JP S6125285 A JPS6125285 A JP S6125285A JP 14638384 A JP14638384 A JP 14638384A JP 14638384 A JP14638384 A JP 14638384A JP S6125285 A JPS6125285 A JP S6125285A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
processing
pixel
data
observation window
input pattern
Prior art date
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Pending
Application number
JP14638384A
Other languages
English (en)
Inventor
Minoru Nagao
永尾 実
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Omron Corp
Original Assignee
Omron Tateisi Electronics Co
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Filing date
Publication date
Application filed by Omron Tateisi Electronics Co filed Critical Omron Tateisi Electronics Co
Priority to JP14638384A priority Critical patent/JPS6125285A/ja
Publication of JPS6125285A publication Critical patent/JPS6125285A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈発明の技術分野〉 本発明は、未知の文字や記号等(以下[未知文字」とい
う)を光学的読み取り、これを白黒2値化して入力パタ
ーンを求めた後、入力パターンの特徴を抽出して標準パ
ターンと照合することにより、未知文字を特定化して認
識する文字認識装置に関する。
〈、不明−1F)l屑青゛ン、〉 従来の文字認識装置は、第6図に示す如く、紙面1に表
示された未知文字2を読取ヘッド3で光学的に読み取り
、その光学信号をA/D変換器4により電気信号に変換
し且つ白黒2値化した後、この入力パターンを画像メモ
リ5に格納している。つぎの前処理回路6は、入力パタ
ーンの平滑化、ノイズ除去、細め処理等の前処理を実施
するものであり、前処理後のパターンにつき特徴抽出回
路7が文字認識に必要ないくつかの文字特徴(交点、分
岐点、ループ等の有無や数)を抽出する。辞書照合回路
8は、特徴抽出回路7で求めた入力パターンの文字特徴
を予め辞書9に格納しである標準パターンの特徴と照合
し、その−政変によって照合結果を出力する。
第7図および第8図は画像メモリ5に格納された入力パ
ターン(図中、斜線部は黒画素を示す〕を示し、第7図
は前処鹿回路6による平滑化処理前の画素状態を、また
第8図は平滑化処理後の画素状態を、夫々示している。
この平滑化処理は、例えば縦横各3ビットの観測窓1゜
を画像メモリ5の一定方向へ走査してゆき、各走査位置
毎に観測窓lo内の中心画素11とその周辺8画素をチ
ェックし、その画素状態に応じて中心画素11の画素デ
ータを白黒データ変換する。例えば中心画素11が黒画
素であって周辺画素の2以上が黒画素のとき、中心画素
を黒画素のままとし、一方周辺画素の1以下が黒画素の
とき、中心画素を黒画素より白画素へデータ変換する。
更に中心画素11が白画素であって周辺画素の4以上が
黒画素のとき、中心画素を白画素より黒画素へデータ変
換し、一方周辺画素の3以下が黒画素のとき、中心画素
と白画素のままとする。そしてこの平滑化処理の結果、
第8図中、破線で示す各画素12.13は黒画素より白
画素に変換されている。
つきに第9図は文字特徴抽出処理における線幅測定方法
を示す。一般に文字線幅は、入力パターンの黒画素総数
を白画素と境界をなす境界黒画素数で割った値をもって
定義される。そして線幅測定処理は、前記平滑化処理同
様、縦横各3ビットの観測窓10を画像メモリ5の一定
方向へ走査してゆき、各走査位置毎に観測窓10内の中
心画素14とその四方周辺画素15〜18をチェックし
、その画素状態に応じて中心画素14が境界黒画素であ
石か否かを判別しつつ黒画素の計数を実行するものであ
る。例えば中心画素14が黒画素であって四方周辺画素
15〜18のいずれかひとつが白画素のとき、中心の黒
画素は境界黒画素であると判断する。
上記のとおり、観測窓の走査は文字認識処理過程中、何
度か実施され、殊に前処理や特徴抽出においては重要な
処理となっている。そこで従来の文字認識装置では、観
測窓の走査をプロダラムによりソフト的に処理するが或
いは、各処理毎の専用回路を複数設けてハード的に処理
する等の方法を採用しているが、前者の方式の場合、処
理効率が悪く、文字認識処理の高速化を阻害し、また後
者の方式の場合、回路構成が複雑化し、装置の大形化や
コスト高を招く等、幾多の問題があった。
〈発明の目的〉 本発明は、上記した従来装置の問題を一挙に解消するも
ので、処理の高速化をはかると共に装置の小型化および
コストの低減を実現する文字認識装置を提供することを
目的とする。
〈発明の構成および効果〉 上記目的を達成するため、本発明では、へカバターンを
記憶する画像メモリと、へカバター、ンを観測窓にて走
査して観測窓内のパターン構成データを順次出方する走
査回路と、観測窓走査にかかる入力パターンの処理内容
を選択する選択回路と、走査回路お、よび選択回路の各
出方をもってアドレス指定されると共に指定領域より選
択された処理の結果データを出力するテーブルメモリと
を設け、前記選択回路の選択操作により観−側窓走査に
かかる複数種の処理を実行可能とした。
本発明によれば、従前のハード処理回路にレジスタ等の
簡易な選択回路を付加するだけで観測窓走査にかかる各
種の処理を実行し得、ソフト処理する従来方式に比べて
文字認識処理を高速化し得、また各処理毎の専用回路を
複数設ける他の従来方式に比べて回路構成が簡易化され
、装置の小型化やコストの低減を実現する等、発明目的
を達成した顕著な効果を奏する。
〈実施例の説明〉 第1図は本発明にかかる装置例を示す。図示例の装置は
、白黒2値化された入力パターンを所定画素範囲に記憶
させるための画像メモリ21と、画像メモリ21に対し
縦横各3ビットの観測窓を設定して走査するための3個
のシフトレジスタ22,23.24と、観測窓走査にか
がる入力パターンの処理内容を選択する機能選択レジス
タ25と、各シフトレジスタ22,23゜24および機
能選択レジスタ25の各出力をもってアドレス指定され
ると共に指定されたアドレス領域より選択された処理の
結果データを出力するテーブルメモリ26とから構成さ
れている。
前記3個の各シフトレジスタ22’、23.24は、画
像メモリ21の1行分の画素数に相当するビット数を有
しており、各シフトレジスタには画像メモリ21におけ
る合計3行分の画素データが同時にセットされる。夫々
シフトレジスタ22,23.24からは先頭3ビット分
の画素データがテーブルメモリ26のアドレス指定入力
として送り出され、各シフトレジスタが一斉にシフト動
作する毎にこのアドレス指定入力の内容が順次更新され
る。従ってこれらシフトレジスタ22.23.24によ
って前記観測窓10内の縦横各3ビットの画素データが
取り出されることはなり、また各シフトレジスタの一斉
シフト動作によって観゛測窓10を画像メモリ21のX
方向に沿って走査させることができる。
前記テーブルメモリ26はシフトレジスタ22゜23.
24の出力データに対応してアドレスがアクセスされ、
従って観測窓10の各ビット出力には、第2図に示す如
く、−2°〜28のアドレス重みが与えられる。
前記機能選択レジスタ25は、本実施例の場合、合計8
種類の処理の選択が可能なように構成されており、この
機能選択レジスタ25の内容に応じて第3図にボす8種
類の処理ブロックBl 、 B2 、・・・・・・、B
8が選定される。各処理ブロックBl、B2.・・・・
・・、B8は、シフトレジスタ22、’23.24の9
ビツトで表現される512のアドレスを有し、各アドレ
ス領域には、夫々の処理に応じた画素データの変換デー
タ等がセットされている。例えば平滑化処理ブロックの
各アドレス領域には、観測窓10内の画素状態に対応し
て、平滑化後の中心画素の画素データが第4図に示すフ
ォーマットで格納されている。
また線幅測定処理ブロックの各アドレス領域には、観測
窓10内の画素状態に対応して、中心画素の画素データ
が第5図に示すフォーマット(図示例では、0ビツト目
が黒画素か否か、1ビツト目が境界黒画素か否かを夫々
示す)で格納されている。
然して入力パターンの平滑化処理を実施する場合、まず
機能選択レジスタ25に平滑化処理のブロック番号をセ
ットし、つぎに画像メモリ21における最初の3行分(
0行目〜2行目)の画素データを各シフトレジスタ22
 、23 。
24に格納する。しかる後各シフトレジスタを一斉に順
次シフト動作させるとき、各シフト位  4置毎の夫々
先頭3ビツトの画素データがテーブルメモリ26に入力
され、これらデータによりテーブルメモリ26のアドレ
スがアクセスされる。そして対応領域からは平滑処理後
の結果データが取り出され、そのデータ出力によって画
素メモリ21における対応する画素の内容が順次書き換
えられる。最初の行の走査が完了すると、つぎに画像メ
モリ21におけるつぎの3行分(1行目〜3行目)の画
素データを各シフトレジスタ22.23.24に格納し
て同様の処理動作を実行し、更にこれを画像メモリ21
の全行に亘り繰返し実行する。
つぎに線幅測定処理゛を実施する場合、機能選択レジス
タ25に線幅測定処理のブロック番号をセットし、上記
と同様の処理動作を実施する。
但しこの場合テーブルメモリ26からの出力は、CPU
によって黒画素および境界黒画素が計数され、前記平滑
処理のような画像メモリ21のデータ書き換えは行なわ
れない。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明にかかる装置例の回路ブロック図、第2
図は観測窓における各ビットを示す説明図、第3図はテ
ーブルメモリの内容を示す説明図、第4図および第5図
はテーブルメモリにセットされている画素データのフォ
ーマット、第6図は文字認識装置の全体概略構成を示す
ブロック図、第7図および第8図は入力パターンの平滑
化処理を示す説明図、第9図は入カバタ−ンの細幅測定
処理を示す説明図である。 21・・・画像メモリ 22.23.24・・・・・・シフトレジスタ25・・
・・・・機能選択レジスタ 26・・・・・・テーブルメモリ 特許出願人  立石電機株式会社 代理人 弁理士  鈴 木 由 充 代理人 弁理士  浅 谷 健 二 テ3 図        升2 図 址6’ Ell 男−q 図         +V−5図分9 聾訂 lり 升/ 図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)入力パターンを記憶する画像メモリと、入力パタ
    ーンを観測窓にて走査して観測窓内のパターン構成デー
    タを順次出力する走査回路と、観測窓走査にかかる入力
    パターンの処理内容を選択する選択回路と、走査回路お
    よび選択回路の各出力をもってアドレス指定されると共
    に指定領域より選択された処理の結果データを出力する
    テーブルメモリとを具備して成る文字認識装置。
  2. (2)走査回路は、シフトレジスタ群で構成される特許
    請求の範囲第1項記載の文字認識装置。
  3. (3)選択回路は、レジスタである特許請求の範囲第1
    項記載の文字認識装置。
JP14638384A 1984-07-13 1984-07-13 文字認識装置 Pending JPS6125285A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14638384A JPS6125285A (ja) 1984-07-13 1984-07-13 文字認識装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14638384A JPS6125285A (ja) 1984-07-13 1984-07-13 文字認識装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6125285A true JPS6125285A (ja) 1986-02-04

Family

ID=15406459

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14638384A Pending JPS6125285A (ja) 1984-07-13 1984-07-13 文字認識装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6125285A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05332780A (ja) * 1992-06-03 1993-12-14 Nippondenso Co Ltd 方位センサ装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05332780A (ja) * 1992-06-03 1993-12-14 Nippondenso Co Ltd 方位センサ装置

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