JPS61251724A - 分光光度計 - Google Patents

分光光度計

Info

Publication number
JPS61251724A
JPS61251724A JP61061078A JP6107886A JPS61251724A JP S61251724 A JPS61251724 A JP S61251724A JP 61061078 A JP61061078 A JP 61061078A JP 6107886 A JP6107886 A JP 6107886A JP S61251724 A JPS61251724 A JP S61251724A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
individual
photodiodes
spectral
filters
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP61061078A
Other languages
English (en)
Inventor
スチーブン ジヨージ シユルツ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Abbott Laboratories
Original Assignee
Abbott Laboratories
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Abbott Laboratories filed Critical Abbott Laboratories
Publication of JPS61251724A publication Critical patent/JPS61251724A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0205Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
    • G01J3/0229Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using masks, aperture plates, spatial light modulators or spatial filters, e.g. reflective filters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0256Compact construction
    • G01J3/0259Monolithic
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0262Constructional arrangements for removing stray light
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/04Slit arrangements slit adjustment
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/2803Investigating the spectrum using photoelectric array detector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0216Coatings
    • H01L31/02161Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/02162Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for filtering or shielding light, e.g. multicolour filters for photodetectors
    • H01L31/02164Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for filtering or shielding light, e.g. multicolour filters for photodetectors for shielding light, e.g. light blocking layers, cold shields for infrared detectors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/2803Investigating the spectrum using photoelectric array detector
    • G01J2003/2806Array and filter array
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N21/03Cuvette constructions
    • G01N21/07Centrifugal type cuvettes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06Illumination; Optics
    • G01N2201/064Stray light conditioning
    • G01N2201/0642Light traps; baffles
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06Illumination; Optics
    • G01N2201/069Supply of sources
    • G01N2201/0696Pulsed

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は分光光度計に関する。更に詳細には、本発明は
、遠心分離分析量中試料の光学的分析に特に有用である
改良分光光度計に関する。
分光光度計は当該技術において周知であり、種々の主成
分よりなる。光源は、通常1つXは2つの連続発光ラン
プ、例えば、ハロゲン、重水素、水銀アーク及び(又は
)キセノンよりなる。プリズム又は格子装置が分散のた
めに使用される。検出器は、一般に光電子増倍管、或い
はシリコン光ダイオードである。数多くの程類の利用で
きる成分及び種々の可能な構造を数多くの方式で組み合
わせて、特定の意図された用途について所望の特性を有
する分光光度計を構成することができる。
既知の分光光度計の欠点は、主として使用される光源及
びモノクロメータ−のためである。遠心分離分析器にお
いて便用される分光光度計中では特に、高速吸光度測定
を可能にするために、フラッシュランプのような光源を
使用することが望ましい。従って、可視スペクトルにお
ける応用については、タングステン−ハロゲンランプが
疑いなく最も多く使用される光源であるが、それは次の
周知の欠点を有する: a) きわめて弱い紫外発光; b) 有用なスペクトル中きわめて大きい光強度の変動
:290nmにおける光の強度は、700nmにおける
より約900倍率さい: C)干渉光の割合が相当あり、それは、高価な遮断フィ
ルターを使用する必要があることを意味する;d) 光
強度の波長による変動を相殺するための系は、広い動力
学的範囲を持たなければならない:e)サービス寿命が
比較的短かい; f)光出力が比較的低い; ω 消散されるパワーが相当ある:そしてh) ランプ
のための電気供給手段が比較的重くかつかさ高い。
前に挙げた種類の2ンプについての欠点を軽減する丸め
に、異なった種類の放電(フラッシュ)を生じるランプ
、例えばキセノ/、水銀又はアルゴンランプから光を得
ることができる。キセノンランプは、最も均一なスペク
トルを有し、その光効率はタングステンよシはるかに大
きい。しかしこのランプは、通常100ボルトよシ高い
パワーに対して供給され、冷却することがきわめて困難
である。又、ランプ供給及び積載手段がきわめて大容積
かつ高価である。
格子モノクロメータ−は、波長を連続的に変える好適な
方法である。しかし、随伴ランプ及びモノクロメータ−
から生じる干渉光の割合は、低い直線性エラー(例えば
1000倍の減衰(3の吸光度に対応する)までL5%
よシ小さい)を有する測定を行なうことが望ましい場合
には、きわめて低い、例えばlXl0”’より小さくな
ければならない。この種の性能を得るためには、単一格
子モノクロメータ−は、干渉光の割合が高きに過ぎるの
で、2重格子モノクロメータ−が通常使用される。しか
し、2重格子モノクロメータ−は、高価であり、かさが
高く、かつ調整するのに比較的長時間を要する。
米国特許第3,81Q666号は、2つの光ビーム(そ
のうち第1のものは、分析試料を通して進み、第2のも
のは、第2のビームの強度に対応する対照信号を出す検
出器に達する)を得るために7ラツシユ管及び干渉フィ
ルター又はモノクロメータ−よりなる分光光度計を開示
している。米国特許第4241.998号は、遠心分離
分析量中試料の光学的分析に特に意図された分光光度計
を開示している。この分光光度計は、フラッシュ管、フ
ラッシュ管からの各フラッシュから一定の間隔分布を有
する光ビームを誘導するための安定化光学装置、この安
定化装置によって出される光を分散させるため、かつフ
ィルターされた光のビームを出すための格子モノクロメ
ータ−12つのビーム(そのうち第1のものは、分析試
料を通して進み、第2のものは、第2のビームの強度に
対応する対照信号を出す検出器に達する)を得るために
フィルターされた光のビームを分割する光学エレメント
、並びに試料から出てくるビームを受取るように置かれ
た第2の検出器よりなる。
本発明は、前述した型の分光光度計における改良を提供
しそれは、前記の常用の機器についての問題の多くのも
のを克服又は軽減する。特に、本発明は、検出器として
新規な光ダイオード配列組立てを提供し、それは、小吸
光度、多波長分光光度計の光学系において愛用するのに
特に適している。前記分光光度計の代表的応用は、医学
の実験室において普通に使用されているもののような自
動化臨床分析器においてである。医学的分析は決定的な
性質で、高度の感層の性能がある。血清、尿、髄液等の
ような、生物試料中部床上興味がある宿々の11!l質
を決定する検出系を必要とする。この感度は、生物試料
に付随する小さい試料サイズ及び高い吸光度水準によっ
て妨害される。従って、本発明は、先行技術の2重格子
その他の比較的複雑かつ高価な装置にたよることなしに
、検出器組立ての個別の光ダイオードに衝突する光の成
分を特にコントロールするととKよつて、光ダイオード
表面における感度の上昇を可能にする。
好適な実施態様においては、本発明の改良分光光度計は
次のものよりなる: フラッシュランプ フラッシュランプによって出された光を分散させるため
、又分析試料を通して進むフィルターされた光のビーム
を出すための格子モノクロメーター:並びに試料から出
てくる光のビームを受取るように置かれた検出器。本発
明の改良は、 a)第1の平面に置かれた複数の個別の光ダイオード;
b)該第1の平面に実質的に平行であり、かつ該複数の
光ダイオードに隣接して置かれた複数の個別のスペクト
ルフィルター(該個々のスペクトルフィルターの各々を
通して送られる光が該個別の光ダイオードの1つにのみ
衝突するように):並びK C)漂遊する光を減衰させるための手段(該手段は、該
手段が個別の光ダイオードの各々の上に置かれるように
、該第1の平面に実質的に平行に、かつ該複数の光ダイ
オードに隣接して置かれていて、該減衰手段は、個別の
光ダイオードに衝突する光のスペクトル帯域及び中心波
長を決定することができる) を含む光ダイオード配列組立て(photodiode
 arrayassembly )よりなる検出器を含
む。
第1図は、本発明による改良分光光度計において有用で
ある好適な光学検出器の成分を示す透視分解組立図であ
る;第2図は、第1図に示される検出器の透視図である
力ζ検出器をその全組み立て条件で例示する透視図であ
る。
第3図は、第2図に示される全組み立て検出器の部分断
面図であり、その構成の詳細を例示する。
第4図は、本発明の概念に含まれる分光光度計の改良光
学系の第1〜3図の検出器及び他の成分を示す透視模式
ダイアグラムである。
不発明は、高速度、例えば約180 Orpmで回転し
、並びに小容量の試料及び(又は)前記試料に対する試
薬を入れる回転子よりなる、遠心分離臨床化学分析量中
使用するのに特に適している分光光度計の改良を提供す
る。前記分光光度計は一般に、理想的には次の特徴を有
する:1)約180 Orpmでセルを回転させながら
、分析セル中に析出された液体試料の吸光度を測定する
ことができること; 2) 回転子上多数の試料の測定の短かい持続、即ち約
350ミリ秒未満; 3) 約5ミリ秒未満の測定あたり利用し得る時間:4
)液体試料の小容量、即ち、200マイクロリツトルの
オーダーの測定; 5) 約340と640 nmの間の、波長の連続選択
:6) 約8nmのバンド幅; 7) 広い範囲、即ち、0.0ないし3.0の測定可能
な吸光度: 8)例えば、実験室ベンチの上、或いは机の上の分析器
中に適合するように、比較的小さいサイズを有する;9
) 信頼性を大きく改善するために動くパーツを有しな
い:並びに 10)最小数の調整される光学エレメント、かくして製
造性と信頼性を改善する。
前記の特徴は、検査中の生物材料の試料の正常表場合と
病気の場合との間−例えば、リンパ性白血病の血清と正
常血清との間の吸光度のかなりの差異を補償するために
自動機器において特に重要である。前記の特性を有する
機器は、1984年5月38に出願された出願中の米国
特許出願連第60fi785号、第60a786号、並
びに第60414787号(それらの開示は、参考とし
て本明細書に組入れられる)に記載されている@ その外、本発明によって改良される遠心分離分析機器は
、酸素反応に対する要件と両立し得る測定の再現性を可
能にする。このことは、単一の試料についての吸光度の
測定の再現性をいう。このことは、動力学的方法の場合
に特に重要である。これらの方法においては、吸光度の
変動はおそい。即ち、再現性が良好である場合には、測
定の速度を上げることができる。これらの方法において
は又、吸光度の水準はかなシ高いことがある(17〜Z
2)。かくして、広い範囲の吸光度に亘って再現性がす
ぐれていなければならず、本発明の改良によって達成さ
れる1特徴である。
又、本発明によれば、広い範囲の吸光度に亘って吸光度
と濃度との間のすぐれた直線性が達成される。この直線
性は、カリブレーションカーブが必要でない点で、機器
の使用を簡単化する。直線性は、高い吸光度においては
、特に紫外において、得ることが困難であ択モノクロー
ム光の純度に、即ち干渉する光の割合に依存し、この割
合は、(a)選択されるスペクトル帯の外側で発光され
る残留する光の強度の6)選択されるスペクトル帯の内
側の光の強度に対する比によって定義される。
更に、本発明の改良は、常用の分光光度計のかさ及びコ
ストを低下させるために、検出器に対して常用のエレク
トロニクスを用いる光ダイオード配列組立てを利用する
遠心分離分析器における前に挙げた測光学的性能は、比
較的短かい測定時間の間に達成されるべき場合には、所
要の信号/ノイズ比及び機器のエレクトロニクスによっ
て最終的に解釈されるのに必要なスペクトル純度を有す
る光ビームを得ることに関して特別な技術的困難を生じ
る。試料を通して約1000倍の最大信号減衰をもつ再
現性のある測定を行なうことが通常望ましいので、信号
/ノイズ比がゼロ吸光度において少なくとも2 X 1
0”’であることが通常必要である。測定時間が非常に
短かい(5ミリ秒未満)ので、広い通過帯域を有する増
幅器を必要とじ、このことは、知られているように、増
幅器通過帯域の幅に従ってノイズが増大するので、所要
の信号/ノイズ比を得ることを困難にする。このノイズ
の効果は、常用の分光光度計におけるノイズの効果に比
してかなシのものであり、後者においては、1秒ないし
それ以上に亘って実測信号を組み合わせることによって
実測の結果に対するノイズの効果を低下させることがで
きる。適轟な信号/ノイズ比を得る問題は、シリコン光
ダイオードを使用することが通常望ましいので、一層困
難にさえなっている:光ダイオードが増幅器に付随して
いることは、弱い信号の水準において操作される光電子
増倍管よりノイズが大きい。更に特定するとこのことは
、高い吸光度値(A=3 )の測定のための400 n
m未満の波長にあてはまる。スペクトルのこの部分にお
いてシリコン光ダイオードは、光電子増倍管よシ低い感
度を有するからである。
広く常用されているアナログ対ジギタル変換電子回路部
分を使用して、付随ミクロプロセッサーでコントロール
される回路部分によって読むことができるジギタル信号
情報に検出器からの電流信号を変換する。
前述した測光学的特性を得るために、モノクロメータ−
によって供給される光ビームは、干渉する光及び帯域幅
の効果による周知の非直線性の問題を避けるために、き
わめて高いスペクトル純度を持たなければならない。分
光光度計のコスト及びバルクを同時に下げるべき場合に
は、測光学的目的のために必要とされるスペクトル純度
を有する光ビームを得るにあたっていくつかの問題があ
る。これらの目的のためには、本発明によれば、光ダイ
オード配列、この光ダイオード配列と光源との間の多波
長スペクトルフィルター組立て及び光源からの漂遊する
光がスペクトルフィルター組立てに衝突する前にそれを
減衰する手段よりなる検出器手段を使用して、340n
mの波長において干渉する光の割合が約I X 10−
’の値まで下げられる。
ここで図面を参照し、特に第1〜3図を参照すると、本
発明による好適な光ダイオード配列検出器は、一般的に
10において示される。この組立て10は、本質的に光
ダイオード配列L2゛、スペクトルフィルター組立て1
4及び漂遊する光を減衰する手段16よりなる。スペク
トルフィルター組立て14は、複数の光学等級のガラス
フィルター18よシなシ、それらは、フィルターの各々
の下にある組立て12の個別の光ダイオードによって測
定しであることが望ましい光の波長によって、予かじめ
選択された透過特性に対して個別に選定される。これら
フィルター18は、配列12に対して直交している各個
別のフィルターの4つの辺が、ブラックエポキシのよう
な、光に不透明の、光透過不良の材料12aによって囲
まれるように組み立てられる。この不透明材料12aは
、各フィルターの選ばれた表面に入射しない光から光学
フィルター18の各の側を有効に遮蔽する。この不透明
材料12aは、この好適な実施態様においては、又所望
の平面構造の状態で個別のフィルター18を合せて保持
する。図示されるとおり、フィルター組立て14は、光
ダイオード配列12に実質的に平行の平面に1かつフィ
ルター18の各個別のものが配列12の対応する光ダイ
オードに光学的に付随しているように光源からの入射光
の径路に置かれる。スペクトルフィルター組立て14の
外部に源をもつが、本発明の好適な実施態様において、
光学フィルターの各々の側部を遮蔽する不透明材料によ
って遮断されない漂遊する光を減衰する手段は、配列1
2の各党ダイオードの表面域の中心線の上に置かれてい
る複数のスリットをその中に有する、平らな黒い陽極処
理金属のような、適当な物質の「マスク」よりなる。漂
遊する光を減衰する手段16は、図示されるとおり、フ
ィルター組立て14の面に実質的に平行である平面に置
かべそのフィルター18の表面に載せられている。光を
減衰する手段16は又、光の焦点スペクトルにおけるそ
の横の位置によって、配列12の個別の光ダイオードに
衝突する光の中心波長を決定する。手段16中スリツト
の幅は、更に、多少とも、分光光置針の帯域を決定する
機能を果す。手段16のスリット22のスリット幅は又
、(例えば、光源、スペクトル格子効率、光ダイオード
の効率、並びにフィルター組立ての透過度によっておこ
される)波長の関数としての効率の変動から生じる信号
の差異を規格化するのを助ける。
検出器組立て10の好適な製作においては、光ダイオー
ド配列12、フィルター組立て14及び光減衰手段16
は、第1及び2図に示されるように、適当なベース24
上に置かね、このベースは、光ダイオード配列12に衝
突する光の強度に反応してそれによって生じる出力信号
を受取シかつ変換することができる(当該技術熟練者に
周知のように)広く常用されている電子回路部分に電気
的に接続するために1複数の電導性金属接点26を含む
。1つの特定の場合には、この変換は、例えば、分析中
の生物材料の試料の成分による光の吸収に対応するジギ
タル読み出しにすることができる。接点26はベース2
4に固定され、周知の方式で配列12の光ダイオードの
個別のものに電気的に接続状態にあるように、セラミッ
ク、フェノール系その他の適当な市販の誘電性材料から
つくられることができる(第3図)。
第3図中最もよく示されるように、個別のフィルター1
8は、配列12の光ダイオードと接触した位置に1、漂
遊する光を減衰する手段16は、スリット22が手段1
6、フィルター18を通して、かつ配列12のダイオー
ドへの入射光の径路(矢印によって示される)をつくり
出すように1フイルター18と接触して配列12の上に
位置されている。しかし、不透明材料12aは、入射光
が特定のス4リット22に入って後、意図してスリット
の直接下に置かれてはいない配列12のダイオードのい
ずれとも衝突することから有効に遮断している。本発明
による前記の好適な構成は、「混信」、或いは意図され
ない光ダイオードに衝突する入射光の効果を約60pp
m未満の価に下げることが実験的に見出されている。
ここで図面の第4図を参照すると、前述した型の分光光
度計の改良光学系の好適な実施態様(それには本発明の
概念が組入れられている)は、一般的に28において示
されている。この系28は、検出器組立て10を含むこ
とを除いて、広く常用されているをのものであることが
認め°られている。更に、この系28は、常用の光学ハ
ウジング中に組み入れられることができるが、好適には
、ハウジングの進行スリンHそれを通して試料から出て
くる光が送られる)及び検出器組立ての双方から、凹形
回折格子の第1の表面が決定的な距離に置かれるように
規格化されている鋳造アルミニウムハウジング中に封入
されていることが認められている。この構造は、製造の
容易さ、並びに密な光学的焦点合わせを可能にする。そ
の外、この鋳造物のすべての規格化は、耐容を改善する
同じ目標から行なわれている。
系28は、検出器組立て10、凹形ハログラフ格子30
(インストルーメンツ、S、 A、 Inc−、l )
)ヘン、二ニーシャーシー州)、光透過スリット32、
発光レンズ34分光光度計中分析される試料液体又は化
学薬品38を入れるための、ガラス、プラスチックアン
プル又はキューペットのような容器36、光源レンズ4
0及び光源42よりなる。レンズ34及び40は、光学
品質のスリガラスのものであり、分光光度計の機器製作
において常用されている型ノモのでアシ、メルク・グリ
オツドから市販されている。
光源42は、約2.31秒持続する光パルスを得るため
のキセノンランプであり、それは、例えば1800r、
pmにおいて回転する回転子をもつ、迅速回転式分析器
の場合光ビームの軸中試料によって消費される時間より
かなり小さい。
キセノンランプはバルブ型のものであり、約7Wの出力
を有する。フラッシュあたシ放出されるエネルギーが2
.3ミリ秒に対して0.3ジユールである場合には、こ
れらの2..3ミリ秒の間に発出される平均出力は、1
30 Kwの連続キセノンランプからの本のと均等であ
る。明らかに1光源42のようなパルス型ランプを使用
することによって、光水準、その結果信号/ノイズ比の
取得がある。しかし、ここで述べるように1前述した常
用の分光光度計のこれらその他の難点が、本発明の概念
によって克服又は最小にされるように、検出器組立て1
0は構成されている。
光学系28中検出器組立て10の使用の際、光源42か
ら発出される光は、試料38を含有する容器36を通し
てレンズ40によって焦点が合わされる。当該技術熟練
者に周知のように、試料38のいくつかの成分は、光源
42から発出される光のいくつかの波長を吸収し、他の
波長はそれから発出されてレンズ34に衝突する。レン
ズ34は、前記発出された波長の光をスリット32を通
して格子30に焦点を合わせる機能を果す。次に1格子
30は、スリット32からの光を分散反射し、それは組
立て10に至シ、そこにおいて光の強度が検出さね、前
述したとおシ、試料38中に存在する成分の存在及び(
又は)ikを示す電気信号に変換される。
検出器組立てlOの成分は、次のとおシ選択することが
できる。フィルター18として使用するのに好適なのは
、ホヤ−オプティカル−カンパニーから市販されている
ものである。例えば、本発明の特に好適な実施態様中使
用するのに選択されているフィルターは、市販名がv−
340゜B−440、Y−50、Y−52及び0−56
である。これらのフィルターは、周知の光透過及び吸収
性を有する。
別法として、前述したものよシ光学的改良を行なうこと
ができる。ミクロコーティング・ラボラトリーズから入
手できるもののような、せまい帯域の干渉フィルターが
、前述した「カットオフ」フィルターの代りに使用され
る場合;しかじ、これらのフィルターは、コストが追加
されることになる。これらのフィルターは、好適には、
長さ約4 M X幅0.8 rur X高さ0.80の
大きさに切られ、そΩ径異なった波長を通すことができ
る前記のフィルター数枚Cどの波長がフィルター組立て
と共に使用される光ダイオードの個別のものに最終的に
衝突することが望まれているかにより)を前述した線形
配列に組立てる。
フィルターの間で利用される光年透明材料は、例えば、
gPo−TEK320の名称でエポキシ・テクノロジー
、Inc、、  ビレリカ、マサチュセツツ州から市販
されているブラックエポキシであることができる。この
材料は、工冶オングストローム〜1ミクロンの波長範囲
に亘って光のo、oooi%未満を透過する、2成分、
室温硬化性のブラックエポキシであると、製造会社によ
って説明されている。
本発明のフィルター配列を形成するための前記の材料の
使用法の詳細は、前記の製造会社から入手できる。
光ダイオード配列12は、例えば分光光度計の光学系に
おいて、使用するように設計されたいずれの適当な市販
の配列であることもできる。本発明中便用するのに特に
有利tott、ハママッ・コーポレーション、ミドルセ
ックス、二ニーシャーシー州によって製造されている多
エレメントシリコン検出器である。
本発明の特に好適な実施態様においては、信号の使用が
意図されている光ダイオードの間に使用されない光ダイ
オードが存在することは、光ダイオード配列の内側の電
子混信の減少のために有利であることが見出されている
。この使用されない、「ダミー」ダイオードは、必然的
に外部に電気的に短絡されていなければならない。短絡
されたダミーダイオードの便用は、約5ooの係数で電
子混信を減少させることができる。キムら、0ptic
al Engineering22巻、5号、656頁
、1983年に記載されているように、信号ダイオード
の周囲に深いグα−プを食刻することによって、混信の
一層の減少を達成することができる。
次のものは、本発明に従って製作された好適な検出器配
列組立ての明細の1例である。この例は、前記検出器の
特性の例示に過ぎず、前記装置の製作及び愛用法を教示
する力へ どのようにも本発明を限定すると解されるべ
きではなく、本発明の範囲は、特許請求の範囲によって
のみ定義される。
好適な検出器組立て 1    0.000   340    U−340
21450415B−440 33,602450B−440 45,259500Y−50 57,099555Y−52 67,840577Y−52 78,7886050−56 89,7356330−56 物理特性 検出器幅0.640u±0.025藺。
検出器高さ4.20w±0.02511J1゜累積耐容
なし、中心線耐容距離±0.025 u0個別フィルタ
ーの大きさ幅0.8 m X厚さ0.8 m X長さ3
.8#J1±0.1 wm6 包装:16ピン標準デイツプ、セラミック。
電気特性 感度:600nmにおいて0.3 A /Wよりよく、
350nmにおいて0.15a/w、340nmにおい
て最適。
均一性:いずれのチャンネルを越えても±51%51%
単一チップンネル対チャンネル±10%。
ライズタイム:最大1マイクロ秒(300nm−700
nm、50オーム中へ)。
混信:Ovバイアスにおいて0.005%、300nm
 〜700nmから5usパルス。
暗電流:50pA未満、37℃において(10mV逆バ
イアス)。
操作温度:200〜50℃。
ノイズ電流: 5 x 10” A (rms ) /
H’ 37℃において。
本発明によ、れば、例えば、動く機械パーツのない、一
般使用のための分光光置針において改良を行なうことが
でき、フラッシュランプ及び前述した検出器の組合せ使
用の結果利点を有する。しかし、定義によって、この分
光光度計は又、例えば、静止又は移動セル中、臨床化学
分析のために便用される溶液の常用の測定にあたって、
あるスペクトル範囲の多種多様の試料の透過又は吸収を
測定するために使用することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明による改良分光光度計において有用で
ある好適な光学検出器の成分を示す透視分解組立図であ
る。 第2図は、第1図に示される検出器の透視図である力ζ
検出器をその全組み立て条件で例示する透視図である。 第3図は、第2図に示される全組み立て検出器の部分断
面図であり、その構成の詳細を例示する。 第4図は、本発明の概念に含まれる分光光度計の改良光
学系の第1〜3図の検出器及び他の成分を示す透視模式
ダイアグラムである。 10、光ダイオード配列検出器:12.光ダイオード配
列:14.スペクトルフィルター組立て:16.光減衰
手段:18.ガラスフィルター;12a、光年透明材料
;24、ベース;26.接点;22.スリット;289
分光光度計の光学系;34.レンズ:36.容器;38
.試料;40、レンズ:42.光源;30.格子;32
.スリット。 FIG、 3 手続補正書 昭和61年4月11日 官宇賀道部殴 示 昭和61年特許願第61078号 称 分光光度計  。 3、伺止そする者 事件との関係  特許出願人 名称 アボット ラボラトリーズ 人 象 願書に添付の図面の浄書 容 別紙のとおり、ただし図面の内容の補正はない。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、(a)フラッシュランプ; (b)フラッシュランプによつて出された光を分散させ
    るため、又分析試料を通して進むフィルターされた光の
    ビームを出すための格子モノクロメーター;並びに(c
    )試料から出てくるビームを受取るように置かれた検出
    器からなる分光光度計において、検出器が次のものを含
    む光ダイオード配列組立てよりなる改良分光光度計:第
    1の平面に置かれた複数の個別の光ダイオード;該第1
    の平面に実質的に平行であり、かつ該複数の光ダイオー
    ドに隣接して置かれた複数の個別のスペクトルフィルタ
    ー(該個別のスペクトルフィルターの各々を通して送ら
    れる光が該個別の光ダイオードの1つにのみ衝突するよ
    うに);並びに 漂遊する光を減衰させるための手段(該手段は、該手段
    が個別の光ダイオードの各々の上に置かれるように、該
    第1の平面に実質的に平行に、かつ該複数の光ダイオー
    ドに隣接して置かれている)。 2、光学的に不透明の材料が個別のスペクトルフィルタ
    ーに直角の平面に置かれ、それによつて光の成分が該ス
    ペクトルフィルターの1つを通つて該個別の光ダイオー
    ドの1つに送られるが、該光の成分が、該フィルターの
    該1つに入つて後、該フィルターの他のいずれか1つか
    ら該光ダイオードの他のいずれか1つに送られることか
    ら遮断されている、特許請求の範囲第1項記載の分光光
    度計。 3、第1の平面に置かれた複数の隣接するスペクトルフ
    ィルター;並びに 該第1の平面に直角の平面に置かれ、かつ該スペクトル
    フィルターの各々を互に分離している光学的に不透明の
    材料よりなり; それによつて光の成分が該スペクトルフィルターの1つ
    を通して送られるが、該光の成分が、該フィルターの該
    1つに入つて後、該光学的に不透明の成分によつて該フ
    ィルターの他のいずれか1つを通して送られることから
    遮断されていることを特徴とするスペクトルフィルター
    配列。 4、(a)複数の個々の光ダイオードを有し、該個別の
    ダイオードの各々が1つ又はそれ以上の光の波長に対し
    て予かじめ選択された反応を有する光ダイオード配列を
    選択し;(b)複数の個別のスペクトルフィルターを有
    し、該個別のスペクトルフィルターの各々が1つ又はそ
    れ以上の予かじめ選択された光の波長を透過するように
    スペクトルフィルター配列を選択し;そして (c)該個別のスペクトルフィルターの各々が該個別の
    光ダイオードの各々に隣接するように、該光ダイオード
    配列に平行である平面に該スペクトルフィルター配列を
    置き;それによつて該スペクトルフィルター配列中該個
    別のスペクトルフィルターの1つを通して送られる光が
    、該光ダイオード配列中該個別の光ダイオードの1つに
    のみ衝突することを特徴とする光ダイオード配列組立て
    の製法。 5、第1の平面に置かれた複数の光ダイオードよりなる
    光ダイオード配列; 該第1の平面に平行であり、かつ該光ダイオード配列に
    隣接して置かれたスペクトルフィルター(該スペクトル
    フィルターを通して送られる光がダイオード配列に衝突
    するように);並びに 漂遊する光を減衰させるための手段(該手段は、該手段
    が個別の光ダイオードの各々の上に置かれるように、該
    第1の平面に平行に、かつスペクトルフィルターに隣接
    して置かれている)よりなり、それによつて漂遊する光
    を減衰する手段に入る光が、該スペクトルフィルターを
    通して該光ダイオードの各々に向けられることを特徴と
    する光ダイオード配列組立。
JP61061078A 1985-03-21 1986-03-20 分光光度計 Pending JPS61251724A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US71431285A 1985-03-21 1985-03-21
US714312 1985-03-21

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61251724A true JPS61251724A (ja) 1986-11-08

Family

ID=24869531

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61061078A Pending JPS61251724A (ja) 1985-03-21 1986-03-20 分光光度計

Country Status (5)

Country Link
US (1) US4687329A (ja)
EP (1) EP0195339B1 (ja)
JP (1) JPS61251724A (ja)
CA (1) CA1272616A (ja)
DE (1) DE3686184T2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04313032A (ja) * 1991-04-11 1992-11-05 Kubota Corp 分光分析装置
JP2002296116A (ja) * 2001-03-30 2002-10-09 Yokogawa Electric Corp マルチチャンネル分光器
JP2008286567A (ja) * 2007-05-16 2008-11-27 Hitachi High-Technologies Corp 分析装置
JP2013532293A (ja) * 2010-07-01 2013-08-15 ニューポート・コーポレイション 光多重分離システム

Families Citing this family (61)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2604754B2 (ja) * 1987-09-04 1997-04-30 倉敷紡績株式会社 分光光度計
US5014216A (en) * 1988-07-19 1991-05-07 Beckman Instruments, Inc. Concentration determination with multiple wavelength flash photometers
US5043571A (en) * 1988-08-01 1991-08-27 Minolta Camera Kabushiki Kaisha CCD photosensor and its application to a spectrophotometer
US5121239A (en) * 1989-10-20 1992-06-09 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Filter having adjustable spectral transmittance function
US5128549A (en) * 1990-03-30 1992-07-07 Beckman Instruments, Inc. Stray radiation compensation
US5218473A (en) * 1990-07-06 1993-06-08 Optical Coating Laboratories, Inc. Leakage-corrected linear variable filter
EP0551430A1 (en) * 1990-10-03 1993-07-21 Abbott Laboratories Fabrication of multifunctional holographic optical elements and application in photometers
FR2671872B1 (fr) * 1991-01-17 1993-04-02 Secomam Sa Spectrophotometre portatif pour l'etude in situ du spectre d'absorption d'une substance.
US5235178A (en) * 1991-10-03 1993-08-10 Hegyi Dennis J Light sensor with diffuser and eye-like response
FI95509C (fi) * 1992-03-20 1996-02-12 Rautaruukki Oy Spektroskopinen menetelmä ja laite optisen säteilyn mittaamiseksi
US5478750A (en) * 1993-03-31 1995-12-26 Abaxis, Inc. Methods for photometric analysis
FR2709827B1 (fr) * 1993-09-07 1995-10-06 Thomson Csf Dispositif optique d'imagerie permettant l'analyse spectrale d'une scène.
US6373573B1 (en) 2000-03-13 2002-04-16 Lj Laboratories L.L.C. Apparatus for measuring optical characteristics of a substrate and pigments applied thereto
US6307629B1 (en) * 1997-08-12 2001-10-23 Lj Laboratories, L.L.C. Apparatus and method for measuring optical characteristics of an object
US5880826A (en) 1997-07-01 1999-03-09 L J Laboratories, L.L.C. Apparatus and method for measuring optical characteristics of teeth
US6254385B1 (en) * 1997-01-02 2001-07-03 Lj Laboratories, Llc Apparatus and method for measuring optical characteristics of teeth
US6239868B1 (en) 1996-01-02 2001-05-29 Lj Laboratories, L.L.C. Apparatus and method for measuring optical characteristics of an object
US5759030A (en) 1996-01-02 1998-06-02 Lj Laboratories, L.L.C. Method for determing optical characteristics of teeth
US5966205A (en) 1997-07-01 1999-10-12 Lj Laboratories, Llc Method and apparatus for detecting and preventing counterfeiting
US6233047B1 (en) 1997-01-02 2001-05-15 Lj Laboratories, L.L.C. Apparatus and method for measuring optical characteristics of an object
US6301004B1 (en) * 2000-05-31 2001-10-09 Lj Laboratories, L.L.C. Apparatus and method for measuring optical characteristics of an object
US6449041B1 (en) 1997-07-01 2002-09-10 Lj Laboratories, Llc Apparatus and method for measuring optical characteristics of an object
US6501542B2 (en) 1998-06-30 2002-12-31 Lj Laboratories, Llc Apparatus and method for measuring optical characteristics of an object
US6870616B2 (en) 1998-06-30 2005-03-22 Jjl Technologies Llc Spectrometer apparatus for determining an optical characteristic of an object or material having one or more sensors for determining a physical position or non-color property
US6271913B1 (en) 1997-07-01 2001-08-07 Lj Laboratories, Llc Apparatus and method for measuring optical characteristics of an object
FR2765970B1 (fr) * 1997-07-11 1999-10-01 Commissariat Energie Atomique Procede de fabrication d'une matrice de filtres optiques, matrice de filtres optiques et dispositif de spectrometrie utilisant une telle matrice
JPH11194091A (ja) * 1997-08-20 1999-07-21 Daimler Benz Ag 車道表面の状態を求める方法及びこの方法を実施する装置
US6057586A (en) * 1997-09-26 2000-05-02 Intel Corporation Method and apparatus for employing a light shield to modulate pixel color responsivity
US6246479B1 (en) 1998-06-08 2001-06-12 Lj Laboratories, L.L.C. Integrated spectrometer assembly and methods
US6246471B1 (en) * 1998-06-08 2001-06-12 Lj Laboratories, Llc Apparatus and method for measuring optical characteristics of an object
US6573984B2 (en) 1998-06-30 2003-06-03 Lj Laboratories Llc Apparatus and method for measuring optical characteristics of teeth
US6249348B1 (en) 1998-11-23 2001-06-19 Lj Laboratories, L.L.C. Integrated spectrometer assembly and methods
US6538726B2 (en) 1998-07-10 2003-03-25 Lj Laboratories, Llc Apparatus and method for measuring optical characteristics of an object
US6531095B2 (en) * 1999-02-11 2003-03-11 Careside, Inc. Cartridge-based analytical instrument with optical detector
US6391264B2 (en) * 1999-02-11 2002-05-21 Careside, Inc. Cartridge-based analytical instrument with rotor balance and cartridge lock/eject system
WO2001001070A1 (fr) * 1999-06-29 2001-01-04 Omron Corporation Dispositif a source lumineuse, spectroscope comportant le dispositif a source lumineuse et capteur d'epaisseur de couche
US6458326B1 (en) 1999-11-24 2002-10-01 Home Diagnostics, Inc. Protective test strip platform
US6362888B1 (en) 1999-12-23 2002-03-26 Lj Laboratories, L.L.C. Spectrometer assembly
US6519037B2 (en) 1999-12-23 2003-02-11 Lj Laboratories, Llc Spectrometer having optical unit including a randomized fiber optic implement
US6414750B2 (en) * 2000-01-10 2002-07-02 Lj Laboratories, L.L.C. Spectrometric apparatus and method for measuring optical characteristics of an object
WO2001084098A1 (en) * 2000-05-01 2001-11-08 Nederlandse Organisatie Voor Toegepast-Natuurweten-Schappelijk Onderzoek Tno Method and means of measuring wavelength change
US6525330B2 (en) 2001-02-28 2003-02-25 Home Diagnostics, Inc. Method of strip insertion detection
US6562625B2 (en) 2001-02-28 2003-05-13 Home Diagnostics, Inc. Distinguishing test types through spectral analysis
US6541266B2 (en) 2001-02-28 2003-04-01 Home Diagnostics, Inc. Method for determining concentration of an analyte in a test strip
US6661513B1 (en) * 2001-11-21 2003-12-09 Roygbiv, Llc Refractive-diffractive spectrometer
US7408638B2 (en) * 2001-11-21 2008-08-05 Roygbiv, Llc Refractive-diffractive spectrometer
US6903813B2 (en) 2002-02-21 2005-06-07 Jjl Technologies Llc Miniaturized system and method for measuring optical characteristics
US7450862B2 (en) * 2002-03-19 2008-11-11 Axsun Technologies, Inc. Stray light insensitive detector system and amplifier
US7351977B2 (en) 2002-11-08 2008-04-01 L-3 Communications Cincinnati Electronics Corporation Methods and systems for distinguishing multiple wavelengths of radiation and increasing detected signals in a detection system using micro-optic structures
US7095026B2 (en) * 2002-11-08 2006-08-22 L-3 Communications Cincinnati Electronics Corporation Methods and apparatuses for selectively limiting undesired radiation
DE102006015269A1 (de) 2006-04-01 2007-10-25 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Spektrometrisches Messsystem und Verfahren zur Kompensation von Falschlicht
US7869036B2 (en) * 2007-08-31 2011-01-11 Canon Kabushiki Kaisha Analysis apparatus for analyzing a specimen by obtaining electromagnetic spectrum information
DE102008010010A1 (de) * 2008-01-22 2009-10-22 Pasan Sa Spektrometrischer Sensor
CN101694453B (zh) * 2009-09-29 2011-07-20 深圳市蓝韵实业有限公司 一种防串扰的生化分析仪探测器装置
ES2372191B1 (es) * 2010-02-25 2012-09-06 Abengoa Solar New Technologies, S.A. Espectrofotómetro portátil y método de caracterización de tubos de colectores solares.
CN101858785A (zh) * 2010-06-12 2010-10-13 北京农业智能装备技术研究中心 用于提高微型光谱仪光谱质量的装置
DE102010030549B4 (de) 2010-06-25 2016-04-28 Siemens Aktiengesellschaft Nichtdispersiver Gasanalysator
ES2375386B1 (es) 2010-07-21 2012-09-27 Abengoa Solar New Technologies, S.A. Reflectómetro portátil y método de caracterización de espejos de centrales termosolares.
US20140247442A1 (en) * 2010-07-27 2014-09-04 Microptix Technologies, Llc Spectroradiometer device and applications of same
USD812502S1 (en) 2016-03-15 2018-03-13 Hamamatsu Photonics K.K. Spectrometer
WO2020019812A1 (en) * 2018-07-26 2020-01-30 Boe Technology Group Co., Ltd. Microfluidic apparatus, and method of detecting substance in microfluidic apparatus

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4003635A (en) * 1968-03-27 1977-01-18 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Mosaic interference filter
US3869212A (en) * 1973-08-02 1975-03-04 Nasa Spectrometer integrated with a facsimile camera
US3973118A (en) * 1975-03-25 1976-08-03 Lamontagne Joseph Alfred Electro-optical detector array and spectrum analyzer system
US4054389A (en) * 1976-09-23 1977-10-18 International Business Machines Corporation Spectrophotometer with photodiode array
GB2013362B (en) * 1978-01-20 1982-07-14 Hoffmann La Roche Spectrophotometer
US4320971A (en) * 1978-08-28 1982-03-23 Nippon Kogaku K.K. Spectrophotometer
JPS55165085A (en) * 1979-06-12 1980-12-23 Dainippon Printing Co Ltd Color separation filter for solid-state pickup color camera
JPS5687007A (en) * 1979-12-18 1981-07-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd Color filter
EP0048805B1 (en) * 1980-09-29 1985-05-22 International Business Machines Corporation Semiconductor integrated circuit optical image-to-electrical signal transducer
JPS5772370A (en) * 1980-10-23 1982-05-06 Canon Inc Photoelectric converter
JPS5778003A (en) * 1980-10-31 1982-05-15 Toppan Printing Co Ltd Color separation filter
GB2096352B (en) * 1981-04-02 1985-04-11 Abbott Lab Fluorescence spectroscopy
JPS58105025A (ja) * 1981-12-17 1983-06-22 Toshiba Corp 受光素子アレイ
JPH0239726B2 (ja) * 1981-12-17 1990-09-06 Tokyo Shibaura Electric Co Jukososhiarei
JPS58114684A (ja) * 1981-12-28 1983-07-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd 固体撮像素子
JPS58172536A (ja) * 1982-04-02 1983-10-11 Toshiba Corp 分光分析装置
JPS59178324A (ja) * 1983-03-28 1984-10-09 Shimadzu Corp 多波長光度計
JPS59178339A (ja) * 1983-03-29 1984-10-09 Toshiba Corp 吸光度測定装置
JPS6043985A (ja) * 1983-08-20 1985-03-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd 色分離フィルタアレイ
EP0167750A2 (en) * 1984-06-13 1986-01-15 Abbott Laboratories Spectrophotometer

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04313032A (ja) * 1991-04-11 1992-11-05 Kubota Corp 分光分析装置
JP2002296116A (ja) * 2001-03-30 2002-10-09 Yokogawa Electric Corp マルチチャンネル分光器
JP2008286567A (ja) * 2007-05-16 2008-11-27 Hitachi High-Technologies Corp 分析装置
JP2013532293A (ja) * 2010-07-01 2013-08-15 ニューポート・コーポレイション 光多重分離システム
US9040914B2 (en) 2010-07-01 2015-05-26 Newport Corporation Optical demultiplexing system
US9435958B2 (en) 2010-07-01 2016-09-06 Newport Corporation Optical demultiplexing system

Also Published As

Publication number Publication date
DE3686184D1 (de) 1992-09-03
US4687329A (en) 1987-08-18
DE3686184T2 (de) 1993-02-25
EP0195339B1 (en) 1992-07-29
CA1272616A (en) 1990-08-14
EP0195339A2 (en) 1986-09-24
EP0195339A3 (en) 1989-05-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS61251724A (ja) 分光光度計
CA1078641A (en) Pulsed light colorimeter
US4241998A (en) Spectrophotometer
US5517313A (en) Fluorescent optical sensor
JP3868516B2 (ja) 光度計のマルチ検出器読取りヘッド
US3556659A (en) Laser-excited raman spectrometer
US3810696A (en) Improved analytical apparatus for measuring light absorbance of fluids
Flaschka et al. Light emitting diodes and phototransistors in photometric modules
JPH03503453A (ja) 免疫試験装置用光学式読取ヘッド
US6989549B2 (en) Optical gas sensor
EP0438550B1 (en) Optical read system
GB2215838A (en) Fluorimeters
JPS626142A (ja) 吸光度,濁り、螢光性、比濁測定用のフオトメ−タ
US3334537A (en) Light scattering attachment
EP0440443A2 (en) Multispectral reflectometer
CA2294188C (en) Calibration system for a photomultiplier tube
WO1989007757A2 (en) Fluorimeters
SU1511645A1 (ru) Многоходова кювета дл фотометрического анализа проб газа и жидкости
JPH07280732A (ja) けい光分光計
JPH09133628A (ja) 複合素子を内蔵した光源を持つ分析装置
JPH0372245A (ja) 蛍光試薬で処理した試料を分析するための測定法および測光装置
JPH11508053A (ja) 分析システム
RU2176384C1 (ru) Планшетный фотометр (варианты)
SU1362948A1 (ru) Спектрофлуориметр
AU693007C (en) Fluorescent optical sensor