JPS61246679A - デジタル信号間のタイミング関係設定方法 - Google Patents

デジタル信号間のタイミング関係設定方法

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JPS61246679A
JPS61246679A JP61043865A JP4386586A JPS61246679A JP S61246679 A JPS61246679 A JP S61246679A JP 61043865 A JP61043865 A JP 61043865A JP 4386586 A JP4386586 A JP 4386586A JP S61246679 A JPS61246679 A JP S61246679A
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channel
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timing
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pressed
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JP61043865A
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ステイーブン・アール・サツトン
ガード・エイチ・ホーレン
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Tektronix Inc
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Publication date
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    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
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    • G01R31/318307Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences computer-aided, e.g. automatic test program generator [ATPG], program translations, test program debugging
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    • H03K5/13Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
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    • H03K2005/0015Layout of the delay element
    • H03K2005/00234Layout of the delay element using circuits having two logic levels
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、デジタル・ロジック試験装置用のタイミング
関係設定方法、特に、試験信号のタイミング関係を調整
するデータの入力方法に関する。
[従来の技術及び問題点] デジタル回路を試験するには、回路内の多くの点に種々
のデジタル試験信号を加えるのが時として有効である。
この場合、各試験信号は、特定の順序で、且つ、基準ク
ロック・サイクルに対して特定の時間に、その状態が変
化する。従来、時間調整をした試験信号パターンを出力
する信号パターン発生器では、操作者が、数字バター及
びタイミングを入力することにより予めプログラムして
、適切な信号パターン及びタイミングを発生させていた
。被試験デジタル回路の製造業者は、通常、タイミング
図の形式で試験信号タイミング・データを提供している
。したがって、信号パターン発生器をプログラムして試
験信号を再生する前に、操作者は、先ず、図形タイミン
グ・データを数値タイミング・データに変換し、この数
値タイミング赤データをパターン発生器に入力しなけれ
ばならなかった。この変換には時間がかかり、誤りを犯
し易いという問題があった。
したがって、本発明の目的は、信号パターン発生器の動
作をプログラムするのに使用される試験信号のタイミン
グ関係データを入力する新規かつ改良された方法の提供
にある。
[問題点を解決するための手段及び作用]本発明によれ
ば、信号パターン発生器が発生する多くの試験信号のタ
イミング関係を表わすタイミング図は、マイクロプロセ
ッサが制御する陰極線管(CRT)の表示スクリーンに
表示される。
操作者は、マイクロプロセッサへのキー人力により、表
示されたタイミング図を再配列し、被試験装置の製造業
者が提供する試験信号タイミング図に合わせることがで
きる。操作者が、表示されたタイミング図を適当に調整
すると、マイクロプロセッサは、このタイミング図に示
された情報に応じて時間調整された試験信号を発生する
ように、信号パターン発生器をプログラムする。
更に、本発明によれば、操作者は、キーボードのインク
リメント(増加)キー及びデクリメント(減少)キーを
選択的に押すことにより、タイミング図の各信号のタイ
ミングを変更できる。尚、これらのキーを選択的に押す
と、基準サイクルに対する信号のタイミングを、進ませ
たり、或いは、遅らせたりすることができる。したがっ
て、操作者は1図形的に表現されたタイミング図データ
を数値データに変換することなく、被試験装置の製造業
者が提供する試験信号タイミング図を再現し、試験信号
タイミングφデータを試験パターン発生器に入力できる
[実施例] 第2 (fil 2±1本発明を利用する信号パターン
発生器lOのブロック図である。この信号パターン発生
器lOは、1組のデジタル試験信号を発生して、被試験
装置(OUT)12に供給する。デジタル試験信号は、
基準クロック・サイクル内の特定の時点で変化する各試
験信号の各状態に応じて、特定の順序で変化する。
信号パターン発生器lOは、パターン・メモリ14.1
組のプローブ・ボッド16、マイクロプロセッサ拳シス
テム18.表示装置20及びキーボード22から構成さ
れている。パターン・メモリ14であるランダム拳アク
セス・メモリは、データ・ワードを記憶しており、各ワ
ードの各ビットは、DUT12に供給されるデジタル試
験信号の状態を制御する。マイクロプロセッサ・システ
ム18によりデーターワードをパターン壷メモリ14に
書き込むが、このシステム18は、データ線、アドレス
線及び制御線を介して、パターン争メモリ14の読出し
及び書込み動作を制御する。マイクロプロセッサ・シス
テム18は1例えば、インテル製8088型マイクロプ
ロセツサが好適であり、パスカル言語プログラムが動作
可能なオペレーティング・システムを含んでいる。マイ
クロプロセッサ會システム18は、一連のメモリ読出し
サイクル期間中にパターン・メモリ14を適当にアドレ
ス指定することにより、パターン令メモリ14を制御し
、所望の一連の蓄積データーワードを、データ出力バス
24を介して、プローブ・ボッド16へ出力させる。
プローブ・ボッド16は、並列試験線(チ暑イル)26
を介して、DUT12に試験信号を転送するが、各チャ
ンネルの信号状態は、プローブ・ボッド16が受けるパ
ターン拳メモリ14からのデータの独立したビットの状
態変化に応じて変化する。プローブ・ボッド16は、各
チャンネル毎にプログラム可能な遅延回路を含んでいる
ので、パターン拳メモリ14からのデータの対応ビット
の状態変化に応じて変化する任意のチャネル線26の状
態変化は、調整可能な量だけ遅延できる。
゛各チャンネルの遅延量は、マイクロプロセッサ18か
ら、データ線28を介し、各プローブ・ボンド16に供
給されたタイミング・データによって制御される。
第3図は、第2図に示した複数のプローブ・ボッド16
の内の一個の実施例を示すブロック図である。各プロー
ブ・ボッドは、ボッド・クロック遅延回路を有し、この
ボッド・クロック遅延回路は、各ステップが5秒の遅延
である2ステツプのタップ付遅延線30を具えている。
遅延線30の2つのタップ出力及びクロック信号を、マ
ルチプレクサ(MUX)32の3個の入力端に供給する
。マルチプレクサ32は、その出力(ボッド争クロック
PCLK)状態が、システム・クロックの任意の基準時
点の5ナノ秒前(−5)、同時点(0)、5ナノ秒後(
+5)のいずれかにおいて変化するように、その3個の
入力端の一個を出力端に選択的に接続する。マルチプレ
クサ32のスイッチング状態は、レジスタ34に蓄積さ
れた2ビツト・データにより制御される。尚、レジスタ
34は、マイクロプロセッサ拳システム18からタイミ
ング・データ線28を介してシフト・レジスタ36に転
送された直列データにより、予めロードされている。タ
イミング・データの下位ビットは、ボッド内のレジスタ
に蓄積されるデータとなり、一方、タイミング・データ
の上位ビットは、データを受けるレジスタのアドレスで
ある。
これら上位ビットは、デコーダ38に供給され、このデ
コーダ38は、レジスタ34がアドレス指定されていれ
ば、レジスタ34の書込制御入力端に接続された出力線
を付勢するので、レジスタ34は、下位ビット・データ
を記憶する。
ボッド・マルチプレクサ32のPCLK出力を、8チヤ
ンネルのタイミング回路に共通に加える。第3図は、遅
延線40、マルチプレクサ42、フリップ・フロップ4
4.レジスタ46及びバッファ48から成るチャンネル
0のタイミング回路のみを示すが、他のチャンネルのタ
イミング回路もチャンネル0のタイミング回路と略同じ
である。PCLK信号は、各ステップでPCLK信号を
1ナノ秒遅延させる10ステツプのタップ付遅延線40
の入力端に入力される。遅延線40の10個のタップは
、チャンネル0のマルチプレクサ42の入力端に接続し
ている。マルチプレクサ42の11個の入力端は、PC
LK信号の任意の時点を基準とし、1ナノ秒のステップ
で−5ナノ秒から+5ナノ秒までの遅延に対応する。マ
ルチプレクサ42のチャンネル・クロック出力CCLK
は、Dフリップ・フロップ44のクロック入力端に加え
られる。チャンネル0のマルチプレクサ42のスイッチ
ング状態は、レジスタ46に蓄積されたデータにより決
定されるが、このマルチプレクサ42のスイッチング状
態のロードは、レジスタ34が、マイクロプロセッサ壷
システム18からシフト・レジスタ36を介して転送さ
れたデータによってロードされるのと同様である。
尚、レジスタ46は、デコーダ38からの信号によって
付勢される。
パターン・メモリ14からボッド16への8本1組のデ
ータ線24の内の1本の線であるデータ0を、フリップ
・フロップ44のD入力端に接続しているので、チャン
ネル0のマルチプレクサ42からの信号が、フリップ・
フロップ44のクロック入力をストローブするとき、デ
ータ0線の状態に一致するようにフリップ・フロップ4
4のQ出力状態が変化する。バッフ748を介してDU
T12に供給したQ出力は、DUT12に供給した試験
線26の1つである試験信号チャンネル0である。シス
テム・タイミング會サイクルの基準時点が、システム・
クロックCLKの状態変化後10ナノ秒で変化すると仮
定すれば、CLKが状態変化した5ナノ秒後に、PCL
Kが状態を変化するようにマルチプレクサ32を設定し
く即ち、遅延線30のOタップを選択し)、PCLKが
状態変化した5ナノ秒にCCLK信号が状態を変化する
ようにマルチプレクサ42を設定(即ち、遅延線40の
Oタップを選択)すると、チャンネルOの状態をシステ
ム基準時点で変化できる。ボッド・マルチプレクサ42
及びチャンネル会マルチプレクサ32のスイッチング位
置を適当に設定することにより、システム基準タイミン
グ点に対するチャンネル0の状態変化の相対タイミング
を、−10ナノ秒から+10ナノ秒まで調整できる。シ
ステム基準時点のlOナノ秒前にCCLKの状態が変化
する−1Oナノ秒設定の場合、PCLKが5ナノ秒進む
ように、ボッド・マルチプレクサ32のボッドを設定し
く即ち、−5人力を選択し)、CCLK信号が5ナノ秒
進むように、チャンネル・マルチプレクサ42を設定(
即ち、−5人力を選択)する。
第4図は、操作者が1つ以上の試験信号チャンネル出力
の相対タイミングを変更する際に、第2図の表示装置2
0に表示されるメニューを示す。
この表示は、領域50に基準ボッド(REFERENC
EPOD)番号を示すが、この例では、プローブ・ボッ
ド4Aが選択されている。領域52では、基準ボッドの
1つのチャンネルが、基準チャンネルとして選択されて
いる。この例では、ボッド4AのチャンネルOを選択し
ている。領域54には、基準チャンネルの遅延時間(即
ち、−10ナノ秒から+10ナノ秒の範囲で、ボッド拳
マルチプレクサ32及びチャンネル・マルチプレクサ4
2の遅延タップが選択した遅延時間の合計I)を表示す
る。この場合、4Aのマルチプレクサ32は、+5ナノ
秒タップ入力を選択しており、ボッド4Aのチャンネル
のマルチプレクサ42は+1ナノ秒のタップ入力を選択
しているので、チャンネルOの正味の遅延は6ナノ秒と
なる。基準チャンネル表示領域56は、システム基準タ
イミング点に対する基準チャンネル・タイミング信号の
状態変化タイミングの図形的表示である。−10ナノか
ら+lOlノナまでの状態変化を表わす相対位置は、領
域54の遅延時間6ナノ秒に一致する。
領域58において、タイミングが変更されるプローブφ
ボッド、この場合では3Aが選択される0選択したボッ
ドのボッド・マルチプレクサ32の設定(−5,0又は
+5ナノ秒)であるボルド拳クロックPCLKのタイミ
ングを領域60に表示する。領域62には1選択したボ
ンドの各チャンネルの基準チャンネルに対する相対タイ
ミングを表示するが、これは各チャンネルの関連したボ
ッド・マルチプレサ及びチャンネル・マルチプレクサの
選択したタップの遅延時間の和で決まる。非基準チャン
ネル表示領域64には、同じ情報を図形的に表示する。
操作者は、第2図のキーボード22の1組のカーソル(
制御)キーを用いて、カーソル(図示せず)を選択領域
の下に配置することにより、50.52.58.60及
び62の任意の領域を選択できる。領域を一度選択する
と、キーボード22の種々の他のキーを利用してその領
域のデータを変更できる。まず操作者は、領域5oを選
択し、キーボードの文字数字キーを利用し1選択するボ
ンドの名称をタイプして、基準ボッドを選択する。そし
て操作者は、領域52を選択し、キーボードのrチャン
ネル選択キー」を押して基準チャンネルを選択できる。
なお、このキーを押す毎に、領域52のチャンネル名称
は増加し、rCH7」が表示されているときにこのキー
を押すと。
0チヤンネルに戻る。新たな基準チャンネルを選択する
と、領域54及び56の表示が自動的に変更され、基準
チャンネルに関連した現在の遅延時間設定に一致する。
次に操作者は、まずカーソルΦキーを用いて領域58を
選択し1次に文字数字キーを用いて選択するボッドの名
称をタイプして、任意チャンネルの相対タイミングを変
更できる。カーソル・キーを用いて債城60を選択し、
キーボード22の「増加」キー又は「減少」キーを繰返
し押してボンド・クロック設定を−5,0又は+5ナノ
秒にシフトすることにより、選択したボンドのボッド・
クロック設定を変更できる。領域62及び64に示した
遅延時間が自動的に変化して、変更したボッド・クロッ
ク設定に適合する。この場合、ボッド0クロツクが初め
に−5ナノ秒に設定され、チャンネル4のチャンネル・
マルチプレクサが、初めに+1ナノ秒に設定されている
と、領域62及び64の遅延時間は、−4ナノ秒を示す
、領域60のボッド・クロック時間を+5ナノ秒に変更
すると、領域62及び64に表示されたチャンネル4の
遅延時間は変化し、+6ナノ秒を示す、ボッド・クロッ
ク遅延が+10ナノ秒だけシフトすると、このボンドの
他のすべてのチャンネル用の領域62及び64に表示さ
れた遅延時間もまた+10ナノ秒だけシフトする。
最後に、操作者は、カーソル・キーを用いて領域62の
適当な一つを選択し、増加及び減少キーを用いてこの領
域内に示される遅延時間設定を変更することにより、ボ
ンドの各チャンネルのタイミングを設定できる。遅延時
間表示は、増加キーを押す毎に1ナノ秒ずつ増加し、減
少キーを押す毎に1ナノ秒ずつ減少する。領域64の図
形表示も同時に変化して、領域62の数字指示と一致す
る。ボッド・クロックを−5ナノ秒に選択すると、この
ポンドのチャンネル遅延時間は、1ナノ秒のステップで
−1θナノ秒から0秒までの範囲となる。ボッド・クロ
ックを0ナノ秒に選択すると、チャンネル遅延時間は、
−5ナノ秒から+5ナノ秒の範囲となる。更にボッド参
クロックを+5ナノ秒に設定すると、チャンネル遅延時
間は0から+10秒の範囲となる。
選択した基準チャンネルに関連した遅延時間を変更する
と、すべてのボッドの他のすべてのチャンネルに関連し
た遅延時間も同じだけ自動的に変化する。また、領域5
0及び52を変更して基準チャンネルを変更すると、新
たな基準チャンネルの遅延時間が前の基準チャンネルの
遅延時間と異なる場合、他のすべてのチャンネルの表示
遅延時間も同じだけ変化する。基準チャンネルを利用す
ることにより、操作者は、この基準チャンネルのタイミ
ングを変更して、すべてのチャンネルのタイミングを同
じだけ変化できる。
第2図のパターン・メモリ14に適当なパターン−デー
タをロードし、すべてのチャンネルの遅延時間を所望値
に調整すると、操作者は、キーボード22の「開始」キ
ーを押すことにより、信号の発生を開始できる。遅延タ
イミング図に一致するように各ポンドのマルチプレクサ
を設定する適当なデータを、各ボッドのデータ・レジス
タ34及び46の!!28を介して転送する。各マルチ
プレクサを適当に設定すると、マイクロプロセッサは試
験動作を開始する。即ち、一連のパターン・メモリ読出
しサイクルを開始して、パターン・メモリ14が一連の
選択したデータ0ワードをプローブ・ボッド16に転送
する。これらプローブ拳ボッド16は、時間遅延された
試験信号をDUT12に供給する。
第1図は、本発明によるヤイクロプロセッサーシステム
18の動作(ソフトウェア・プログラム)を説明する流
れ図である。第4図のメニューが表示装置20のスクリ
ーンに現われると、カーソルは領域50の下になる。カ
ーソルが、現在の基準ボッドを示す領域50の下にある
か、又は。
現在表示されているボッドを示す領域58の下にあると
、流れ図のステップ70はステップ72に進み、2個の
キーが押されるを待つ、2個のキーが押されるとステッ
プ74に進み、押されたキーの1個が、カーソルキーで
あるか、又は、開始キーであるかを判断する。カーソル
・キー又は開始キーが押されるとステップ75に進み、
右移動カーソル−キーが押された場合は、右方向の次の
領域52にカーソルが移動し、下方向のカーソル−キー
が押された場合は、下方向の次の領域60にカーソルが
移動する0次いで、プログラムはステップ9,2に進む
カーソル会キー又は開始キー以外のキーが押されると、
ステップ74からステップ76に進み、キー人力された
新たな2桁のデータを検査して、このデータが有効なボ
ッドの名称であるかを判断する。有効ボッドでなければ
ステップ78に進んで、エラー〇メツセージを発生し、
プログラムはステップ72に戻る。キー人力された新た
なボッド名称が有効なボッド名称ならば、プログラムは
ステップ76からステップ80に進み、現在選択されて
いる領域50又は58に新たな名称を表示する0次に、
プログラムはステップ82に進む。
領域50が選択されていると、ステップ82からステッ
プ84に進んで領域54及び56を更新し、更にステッ
プ86に進んで新しい基準チャンネルを基に領域62及
び64を更新する。領域58が現在選択されていれば、
プログラムはステップ82からステップ88に進んで、
領域60のボッド・クロック表示を更新する。プログラ
ムは更にステップ90に進み、領域62及び64の表示
を更新して、新たに選択したポンドのチャンネル番タイ
ミングを表示する。ステップ86又は90から、プログ
ラムはステップ72に戻る。
領域52が選択されて、プログラムがステップ92に達
していると、ステップ94に進み、1個のキーが押され
るのを待つ、1個のキーが押されると、プログラムはス
テップ96に進み、カーソルーキー又は開始キーが押さ
れたかを判断する。
これらキーのいずれかが押されていれば、ステップ96
からステップ97に進み、カーソル・キーが押されてい
れば、スクリーン上でカーソルを適当に移動させて、ス
テップ108に進む、カーソル・キー又は開始キー以外
のキーが押されていれば、ステップ96からステップ9
8に進み、選択キーが押されているかを判断する0選択
キーが押されていなければ、ステップ100に進んでエ
ラ一串メツセージを発生し、ステップ94に戻り、他の
キーが押されるのを待つ、しかし1選択キーが押されて
いれば、プログラムはステップ98からステップ102
に進み、領域52においてチャンネル番号を増加させる
と共に、領域54及び56に表示された遅延時間を更新
させて、新たな基準チャンネルの現在の遅延時間を表示
する。
プログラムはステップ104に進み、新たな基準チャン
ネル及び前の基準チャンネルに関連した遅延時間の差を
基に、領域62及び64のタイミング拳データ及び図(
チャート)を変更する。ステップ104からステップ9
4に戻る。
領域60が選択されており、プログラムがステップ10
6に達すると、ステップ108に進み、プログラムは再
び1個のキーが押されるのを待ってステップ110に進
む、カーソル・キー又は開始キーが押されていると、ス
テップ110によりプログラムはステップ111に進み
、スクリーン上でカーソルを適当に移動して、ステップ
126に進む、カーソル・キー以外のキーが押されてい
れば、ステップ110によりプログラムはステップ11
2に進み、次に増加キー又は減少キー以外のキーが押さ
れていると、ステップ114に進む、ステップ114は
エラm−メツセージを発生し、プログラム動作をステッ
プ108に戻す、増加キー又は減少キーが押されている
と、ステップ112によりプログラム動作はステップ1
16に進む、このステップ116において、プログラム
は、選択したボッドの現在のボンド・クロック設定(−
5ナノ秒、0秒又は+5ナノ秒)が既にその上限又は下
限であるかを検査する。ボッド争クロック設定が既に+
5ナノ秒で増加キーが押されているか、又は、ボッド・
クロック設定が既に−5ナノ秒で減少キーが押されてい
ると、その設定を変更せず、プログラムはステップ10
8に戻って、他のキーが押されるのを待つ、ステップ1
16において、検査結果がノーであれば、プログラムは
ステップ11Bに進み、増加キー又は減少キーのいずれ
が押されているかにより、領域60に表示されるボッド
・クロック遅延時間を5ナノ秒だけ増加又は減少させる
。そして、ステップ120において、プログラムは、9
R域58の現在選択されているボッドが、領域50の基
準ボッドと同じかどうかを判断する。同じでなければ、
ステップ、124に進み、新たなボッド・クロック設定
を基にして、領域62及び64のチャンネル遅延時間を
適当に更新する。基準チャンネルφボッド・クロックが
変化していると、ステップ120によりプログラムはス
テップ112に進み、新たな基準遅延時間に応じて領域
54及び56の表示を更新する。プログラムはステップ
122からステップ124に進み、基準チャンネルの変
化に等しい値だけ、すべてのチャンネルの遅延時間を変
更するように領域62及び64を更新する。プログラム
はステップ124からステップ108に戻る。
領域62が選択されており、プログラムがステップ12
6に達すると、ステップ128に進み。
プログラムは再びキーボードの1個のキーが押されるの
を待つ、1個のキーが押されると、プログラムはステッ
プ128からステップ130に進む、カーソル−キー又
は開始キーが押されていると、ステップ130はプログ
ラム動作をステップ131に進め、スクリーン上でカー
ソルを適当に再配置してステップ146に進む、カーソ
ル・キー又は開始キー以外のキーが押されていると、ス
テップ130によりプログラムはステップ132に進み
、増加キー又は減少キー以外のキーが押されているとス
テップ134に進む、このステップ134でエラー・メ
ツセージを発生し、プログラム動作をステップ128に
戻す、増加キー又は減少キーが押されていると、ステッ
プ132によりプログラム動作はステップ136に進む
ステップ136において、プログラムは、選択したチャ
ンネル、即ち領域62のチャンネル・マルチプレクサ設
定(−5ナノ秒から+5ナノ秒)が既にその上限又は下
限であるかを検査する。チャンネル・マルチプレクサの
設定が既に+5ナノ秒で増加キーが押されているか、又
は、その設定が既に−5ナノ秒で減少キーが押されてい
ると。
その設定は変化せず、プログラムはステップ128に戻
る。そうでなければ、プログラムはステップ138に進
み、増加キーが押されていたか、減少キーが押されてい
たかによって、領域62及び64に表示されたチャンネ
ル遅延時間が1ナノ秒だけ増加又は減少する0次にステ
ップ140において、プログラムは、領域58の現在選
択されたボッドが領域50の基準ボッドと同じかを判断
する。同じでなければ、プログラムは、更に表示を変更
することなくステップ128に戻る。基準チャンネル遅
延時間が変化したならば、ステップ140によりプログ
ラムはステップ142に進み、領域54及び56に表示
された基準チャンネル遅延時間を変更する。そして、ス
テップ144において、領域62及び64に表示された
すべてのチャンネルの遅延時間を、新たな基準チャンネ
ル遅延時間を基に調整する。プログラムはステップ14
4からステップ128に戻る。
ステップ72.94.100又は128において、最後
に押したキーが開始キーの場合、プログラムはステップ
92.106及び126を介してステップ146に進む
、ステップ146によりプログラムはステップ148に
進み、各ボッド・クロック用の領域60及び各ボッドの
各チャンネル用の領域62に入力した遅延時間データか
ら、ボッド16内のすべてのマルチプレクサのスイッチ
ング部分を制御するタイミング・データを決定する。ス
テップ150は、信号パターン発生動作を開始させる。
信号発生動作が完了すると、ステップ150からステッ
プ152に戻り、メニューの他の領域(図示せず)がア
クセスされていればステップ154に進み、信号発生器
の他の機能を実行する。これらの他の機能には、パター
ン・メモリにデータをロードすることや、このパターン
・メモリに蓄積されたデータの読出し順序の決定や、シ
ステム・クロック・レートの設定がある。
これらの他の機能は新規ではないので、説明を省略する
以上、本発明の好適な実施例について説明したが、本発
明の要旨を逸脱することなく種々の変更及び変形が可能
である0例えば、本発明の図形的タイミング・データ入
力方法は、信号事象の相対タイミングの調整が必要な任
意の装置と共に利用でき、上述の如く信号発生器への利
用のみに限定されるものではない、また、増加キー及び
減少キー以外の他の手段を用いても、操作者は、信号タ
イミング表示を変更できる。この場合、他の実施例では
、操作者がカーソル・キーを操作することにより、領域
64のチャンネル・タイミング表示の1つの選択した位
置にカーソルを配置してもよい、そして、カーソルを選
択遅延時間(−10から+lθlノナまで)の下に配置
すると、選択キーを押して、時間遅延を新たに選択した
遅延時間に変更してもよい、また、基準チャンネル表示
領域及び非基準チャンネル表示領域に表示するタイミン
グ波形は共にシステム基準タイミング点に対する遅延関
係であってもよい。
[発明の効果] 上述の如く本発明によれば、操作者は、タイミングφデ
ータの図形的表示を変更して、被試験装置の製造業者が
規定したものでもよい試験信号の同様な図形的表示に一
致させることにより、信号発生器が発生する試験信号に
関連した時間遅延を変更できる0表示を変更するために
は、操作者が数字で遅延時間を入力する必要がなく、操
作者は、適当なチャンネ・ルを選択し、増加キー又は減
少キーを利用して、製造業者の試験信号規格図に遅延時
間が図形的に同じになるまで、表示チャンネル時間遅延
を変化させればよい、これは、信号タイミングを変更す
る操作者に直接、図形的フィードバッグを行なっている
ので、遅延時間の調整が迅速に行なえ、かつ、これら遅
延時間の設定誤りを減らすことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の詳細な説明する流れ図、第2図は本発
明を利用する信号パターン発生器のブロック図、第3図
は第2図の一部の詳細なブロック図、第4図は本発明に
よる表示の一例を示す図である。 図において、56基準チャンネル表示領域、64は非基
準チャンネル表示領域である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 複数チャンネルのデジタル信号間のタイミング関係を設
    定する方法において、上記複数チャンネルの1つを基準
    チャンネルとして選択し、該基準チャンネルの遅延時間
    を波形図として表示スクリーンの基準チャンネル表示領
    域に表示し、上記複数チャンネルの遅延時間を波形図と
    して表示スクリーンの非基準チャンネル表示領域に表示
    し、上記表示スクリーンに表示された波形図の遅延時間
    関係を調整し、該調整された波形図の遅延時間関係によ
    り上記デジタル信号間のタイミング関係を設定すること
    を特徴とするデジタル信号間のタイミング関係設定方法
JP61043865A 1985-02-28 1986-02-28 デジタル信号間のタイミング関係設定方法 Pending JPS61246679A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US06/706,578 US4677620A (en) 1985-02-28 1985-02-28 Graphical input of timing relationships
US706578 1985-02-28

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61246679A true JPS61246679A (ja) 1986-11-01

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ID=24838199

Family Applications (1)

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JP61043865A Pending JPS61246679A (ja) 1985-02-28 1986-02-28 デジタル信号間のタイミング関係設定方法

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US (1) US4677620A (ja)
EP (1) EP0196167B1 (ja)
JP (1) JPS61246679A (ja)
DE (1) DE3680222D1 (ja)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4814872A (en) * 1987-06-04 1989-03-21 Tektronix, Inc. Digital video probe system
US4860291A (en) * 1987-12-28 1989-08-22 Tektronix, Inc. Test vector definition system employing template concept
US5621639A (en) * 1989-06-01 1997-04-15 Fray; Paul J. Process control
US20040032412A1 (en) * 2002-08-13 2004-02-19 Odom Brian Keith Generating a graphical program based on a timing diagram
DE10328237A1 (de) * 2003-06-24 2005-01-20 Giesecke & Devrient Gmbh Verfahren zum Erzeugen von Testdaten zum Austesten der Funktionsfähigkeit einer datenverarbeitenden Schaltung
WO2014145485A2 (en) 2013-03-15 2014-09-18 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Map kinase modulators and uses thereof
CA3010625C (en) * 2016-02-16 2024-06-04 Hubbell Incorporated Remote control for exothermic reaction mold

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60252278A (ja) * 1984-05-28 1985-12-12 Advantest Corp ロジツクアナライザ

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3728679A (en) * 1971-10-21 1973-04-17 Weston Instruments Inc Skew device
US4024498A (en) * 1975-08-04 1977-05-17 Mcintosh Billy L Apparatus for dead track recovery
US4122995A (en) * 1977-08-02 1978-10-31 Burroughs Corporation Asynchronous digital circuit testing system
US4331029A (en) * 1980-07-08 1982-05-25 Jodon Engineering Associates, Inc. Method and apparatus for measurement of engine ignition timing
JPS5832178A (ja) * 1981-08-19 1983-02-25 Advantest Corp Icテスタ
US4488297A (en) * 1982-04-05 1984-12-11 Fairchild Camera And Instrument Corp. Programmable deskewing of automatic test equipment
US4490821A (en) * 1982-12-13 1984-12-25 Burroughs Corporation Centralized clock time error correction system

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60252278A (ja) * 1984-05-28 1985-12-12 Advantest Corp ロジツクアナライザ

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Publication number Publication date
DE3680222D1 (de) 1991-08-22
EP0196167B1 (en) 1991-07-17
EP0196167A2 (en) 1986-10-01
EP0196167A3 (en) 1987-10-21
US4677620A (en) 1987-06-30

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