JPS6124647B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6124647B2 JPS6124647B2 JP16100880A JP16100880A JPS6124647B2 JP S6124647 B2 JPS6124647 B2 JP S6124647B2 JP 16100880 A JP16100880 A JP 16100880A JP 16100880 A JP16100880 A JP 16100880A JP S6124647 B2 JPS6124647 B2 JP S6124647B2
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- JP
- Japan
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- scan
- image pickup
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- light
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- Expired
Links
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 108091008695 photoreceptors Proteins 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
- G01N21/57—Measuring gloss
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は光沢計に関するものであり、曲面をも
つ被計測面の光沢を高速で計測できる光沢計を提
供することを目的とするものである。
つ被計測面の光沢を高速で計測できる光沢計を提
供することを目的とするものである。
一般に、対比光沢計としては第１図に示すよう
にJIS Z8741にて定められた方式のものが用いら
れている。図中２は白色のランプ２ａおよび集光
レンズ２ｂよりなる光源であり、この光源２にて
形成された光ビームP1は垂直面に対してθ度の角
度をもつて試料Ｘの被計測面１に照射される。１
１は乱反射受光器、１２は正反射受光器であり、
集光レンズ１１ａ，１２ａを介して乱反射光P3、
正反射光P2が受光されるようになつており、垂直
面に対する光軸の傾斜はγ度、θ度となつてい
る。この方式の測定原理は光沢の良いものは第２
図に実線で示したように正反射光が強く、周囲の
乱反射光が弱くなり、一方光沢の悪いものは点線
で示したように正反射光と乱反射光があまり変わ
らないことを利用して光沢度を計測するもであ
り、乱反射光と正反射光の比（Ａ／Ｂあるいは
Ｃ／Ｄ）を光沢度に対応させているものである。
１３は受光器１１，１２出力に基いて光沢度を求
めて表示する光沢度表示部である。しかしながら
このような従来例にあつては試料Ｘの被計測面１
が曲面を有している場合、すなわち被計測面１が
水平面でなく傾斜面となつた場合、光ビームP1の
被計測面１への入射角および正反射光P2の反射角
がθ度からずれることになり、正反射受光器１２
に入射する光量が実際の正反射光よりも大巾に変
化減少する。このとき乱反射受光器１１に入射す
る光量も若干変化（増減）するが、両変化量が同
一の割合とならないので、計測された対比光沢度
は大きな誤差を有するものとなる。このような対
比光沢計を用いて曲面を有する被計測面の光沢を
計測する場合、被計測面の傾斜に応じて対比光沢
計（光源２および受光器１１，１２のいずれか一
方でも良い）を移動させてやれば良いことになる
が、たとえば、搬送される試料の被計測面の光沢
をインプロセスで計測するような場合、被計測面
の曲面に応じて対比光沢計を高速で移動させるこ
とは実現が困難なものである。本発明は上記の点
に鑑みて為されたものである。
にJIS Z8741にて定められた方式のものが用いら
れている。図中２は白色のランプ２ａおよび集光
レンズ２ｂよりなる光源であり、この光源２にて
形成された光ビームP1は垂直面に対してθ度の角
度をもつて試料Ｘの被計測面１に照射される。１
１は乱反射受光器、１２は正反射受光器であり、
集光レンズ１１ａ，１２ａを介して乱反射光P3、
正反射光P2が受光されるようになつており、垂直
面に対する光軸の傾斜はγ度、θ度となつてい
る。この方式の測定原理は光沢の良いものは第２
図に実線で示したように正反射光が強く、周囲の
乱反射光が弱くなり、一方光沢の悪いものは点線
で示したように正反射光と乱反射光があまり変わ
らないことを利用して光沢度を計測するもであ
り、乱反射光と正反射光の比（Ａ／Ｂあるいは
Ｃ／Ｄ）を光沢度に対応させているものである。
１３は受光器１１，１２出力に基いて光沢度を求
めて表示する光沢度表示部である。しかしながら
このような従来例にあつては試料Ｘの被計測面１
が曲面を有している場合、すなわち被計測面１が
水平面でなく傾斜面となつた場合、光ビームP1の
被計測面１への入射角および正反射光P2の反射角
がθ度からずれることになり、正反射受光器１２
に入射する光量が実際の正反射光よりも大巾に変
化減少する。このとき乱反射受光器１１に入射す
る光量も若干変化（増減）するが、両変化量が同
一の割合とならないので、計測された対比光沢度
は大きな誤差を有するものとなる。このような対
比光沢計を用いて曲面を有する被計測面の光沢を
計測する場合、被計測面の傾斜に応じて対比光沢
計（光源２および受光器１１，１２のいずれか一
方でも良い）を移動させてやれば良いことになる
が、たとえば、搬送される試料の被計測面の光沢
をインプロセスで計測するような場合、被計測面
の曲面に応じて対比光沢計を高速で移動させるこ
とは実現が困難なものである。本発明は上記の点
に鑑みて為されたものである。
以下実施例について図を用いて説明する。第３
図は本発明一実施例を示すもので、２は従来例と
同様のランプ２ａおよび集光レンズ２ｂよりなる
光源であり、垂直面に対して一定角度θ傾斜した
光ビームP1を被計測面１に照射する。なお視野を
小さくする場合あるいは回折の影響を積極的に利
用する場合には、光源２としてレーザーを用いれ
ば良い。４はイメージデイセクタ管のような非蓄
積型撮像管であり、被計測面１が水平のときの正
反射光P2が撮像面３の略中央にくるように配設さ
れている。この撮像管４は著積型のものとなり高
速でのランダム走査や部分走査が可能であるとい
うメリツトがある。７はＸ−Ｙ偏向コイルよりな
る偏向回路、８は偏向回路７を制御する偏向制御
回路であり、偏向制御回路８は結像レンズ３ａに
よつて撮像面３に結像された被計測面像の最明点
５を水平垂直スキヤンによつて検出し、最明点５
および最明点５を中心とする一定半径の円周をス
キヤンするように偏向回路７に流す電流を制御す
る。９は演算回路であり、円スキヤン時の平均撮
像管出力および最明点スキヤン時の撮像管出力に
基いて対比光沢度を算出する。
図は本発明一実施例を示すもので、２は従来例と
同様のランプ２ａおよび集光レンズ２ｂよりなる
光源であり、垂直面に対して一定角度θ傾斜した
光ビームP1を被計測面１に照射する。なお視野を
小さくする場合あるいは回折の影響を積極的に利
用する場合には、光源２としてレーザーを用いれ
ば良い。４はイメージデイセクタ管のような非蓄
積型撮像管であり、被計測面１が水平のときの正
反射光P2が撮像面３の略中央にくるように配設さ
れている。この撮像管４は著積型のものとなり高
速でのランダム走査や部分走査が可能であるとい
うメリツトがある。７はＸ−Ｙ偏向コイルよりな
る偏向回路、８は偏向回路７を制御する偏向制御
回路であり、偏向制御回路８は結像レンズ３ａに
よつて撮像面３に結像された被計測面像の最明点
５を水平垂直スキヤンによつて検出し、最明点５
および最明点５を中心とする一定半径の円周をス
キヤンするように偏向回路７に流す電流を制御す
る。９は演算回路であり、円スキヤン時の平均撮
像管出力および最明点スキヤン時の撮像管出力に
基いて対比光沢度を算出する。
図中１０はビデオアンプである。なお偏向制御
回路８および演算回路９はマイクロコンピユータ
にて形成されている。
回路８および演算回路９はマイクロコンピユータ
にて形成されている。
以下実施例の動作について説明する。
いま、被計測面１が曲面を有する場合、当然正
反射光の垂直面に対する角度が変化し、撮像管４
の撮像面３における最明点５すなわち正反射光の
受光位置は変化する。ところで、撮像管４は偏向
制御回路８により第４図ａに示すように正反射光
の受光位置の近傍を部分的に水平垂直スキヤンし
て映像信号Vpを出力するようになつており、こ
の映像信号Vpによつて最明点５の移動を常時監
視している。もし被計測面１が傾斜して、最明点
５がこの部分スキヤン領域から外れるように移動
した場合、この部分スキヤン領域Ａをただちに移
動させて最明点５が部分スキヤン領域Ａの中心に
くるように修正する。この場合、部分スキヤン領
域Ａの中心点Ｃには最明点５があることになり、
この部分スキヤン領域Ａの中心点を中心として第
４図ｂに示すような円状スキヤンＳを行なうと、
第５図に示すような増巾映像信号Vp′がビデオア
ンプ１０から出力される。演算回路９では円周ス
キヤンS2時の増巾映像信号Vp′の平均値ａと最明
点スキヤンS1時の増巾映像信号Vp′の値ｂとの比
（ｂ／ａ）を計算して対比光沢度として出力す
る。なお円状スキヤンＳの半径Ｒは従来例におけ
る正反射受光器１２の光軸と乱反射受光器１１の
光軸とのなす角（θ―γ）に対応する。
反射光の垂直面に対する角度が変化し、撮像管４
の撮像面３における最明点５すなわち正反射光の
受光位置は変化する。ところで、撮像管４は偏向
制御回路８により第４図ａに示すように正反射光
の受光位置の近傍を部分的に水平垂直スキヤンし
て映像信号Vpを出力するようになつており、こ
の映像信号Vpによつて最明点５の移動を常時監
視している。もし被計測面１が傾斜して、最明点
５がこの部分スキヤン領域から外れるように移動
した場合、この部分スキヤン領域Ａをただちに移
動させて最明点５が部分スキヤン領域Ａの中心に
くるように修正する。この場合、部分スキヤン領
域Ａの中心点Ｃには最明点５があることになり、
この部分スキヤン領域Ａの中心点を中心として第
４図ｂに示すような円状スキヤンＳを行なうと、
第５図に示すような増巾映像信号Vp′がビデオア
ンプ１０から出力される。演算回路９では円周ス
キヤンS2時の増巾映像信号Vp′の平均値ａと最明
点スキヤンS1時の増巾映像信号Vp′の値ｂとの比
（ｂ／ａ）を計算して対比光沢度として出力す
る。なお円状スキヤンＳの半径Ｒは従来例におけ
る正反射受光器１２の光軸と乱反射受光器１１の
光軸とのなす角（θ―γ）に対応する。
本発明は上述のように構成されており、非蓄積
型撮像管を用い、偏向制御回路にて撮像管の撮像
面に結像された被計測面像の最明点を検出して最
明点および最明点を中心とする一定半径の円の円
周をスキヤンするように偏向回路を制御し、最明
点スキヤン時の撮像管出力および円周スキヤン時
の撮像管出力に基いて対比光沢度を算出するよう
にしたものであり、非蓄積型撮像管を用いている
ので、反射光の早い変化に対応でき、しかも偏向
制御回路のような高速処理可能な電子回路により
従来例における受光器の移動を等価的に実現して
いるので、曲面を有する被計測面の対比光沢度の
計測を高速で行なうことができるという利点があ
り、インプロセス計測も可能となる。また従来例
のように受光器を移動させるなどの機械的機構が
不要であるので、機構が簡単になるとともに保守
も簡便になるという利点がある。
型撮像管を用い、偏向制御回路にて撮像管の撮像
面に結像された被計測面像の最明点を検出して最
明点および最明点を中心とする一定半径の円の円
周をスキヤンするように偏向回路を制御し、最明
点スキヤン時の撮像管出力および円周スキヤン時
の撮像管出力に基いて対比光沢度を算出するよう
にしたものであり、非蓄積型撮像管を用いている
ので、反射光の早い変化に対応でき、しかも偏向
制御回路のような高速処理可能な電子回路により
従来例における受光器の移動を等価的に実現して
いるので、曲面を有する被計測面の対比光沢度の
計測を高速で行なうことができるという利点があ
り、インプロセス計測も可能となる。また従来例
のように受光器を移動させるなどの機械的機構が
不要であるので、機構が簡単になるとともに保守
も簡便になるという利点がある。
第１図は従来例の概略構成図、第２図は同上の
原理説明図、第３図は本発明一実施例の概略構成
図、第４図ａ，ｂおよび第５図は同上の動作説明
図である。 １は被計測面、２は光源、３は撮像面、４は撮
像管、５は最明点、６は円、７は偏向回路、８は
偏向制御回路、９は演算回路である。
原理説明図、第３図は本発明一実施例の概略構成
図、第４図ａ，ｂおよび第５図は同上の動作説明
図である。 １は被計測面、２は光源、３は撮像面、４は撮
像管、５は最明点、６は円、７は偏向回路、８は
偏向制御回路、９は演算回路である。
Claims (1)
- １ 垂直面に対して一定角度傾斜した光ビームを
被計測面に照射する光源と、被計測面が水平のと
きの正反射光が撮像面の略中央にくるように配設
された非蓄積型撮像管と、撮像面を水平垂直スキ
ヤンすることにより撮像面に結像された被計測側
面像の最明点を検出して最明点および最明点を中
心とする一定半径の円の円周をスキヤンするよう
に偏向回路を制御する偏向制御回路と、上記円周
スキヤン時の平均撮像管出力および最明点スキヤ
ン時の撮像管出力に基いて対比光沢度を算出する
演算回路とよりなる光沢計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16100880A JPS5784338A (en) | 1980-11-15 | 1980-11-15 | Glossi meter |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16100880A JPS5784338A (en) | 1980-11-15 | 1980-11-15 | Glossi meter |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5784338A JPS5784338A (en) | 1982-05-26 |
| JPS6124647B2 true JPS6124647B2 (ja) | 1986-06-12 |
Family
ID=15726819
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16100880A Granted JPS5784338A (en) | 1980-11-15 | 1980-11-15 | Glossi meter |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5784338A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61167551U (ja) * | 1985-04-08 | 1986-10-17 | ||
| JP4534795B2 (ja) * | 2005-02-25 | 2010-09-01 | トヨタ自動車株式会社 | 塗膜評価装置及び方法 |
| JP5293355B2 (ja) * | 2009-04-07 | 2013-09-18 | 株式会社リコー | 光沢感評価方法、光沢感評価装置、該装置を有する画像評価装置、画像評価方法および該方法を実行するためのプログラム |
-
1980
- 1980-11-15 JP JP16100880A patent/JPS5784338A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5784338A (en) | 1982-05-26 |
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