JPS61243304A - Visual inspection system for mounted substrate - Google Patents

Visual inspection system for mounted substrate

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JPS61243304A
JPS61243304A JP60084486A JP8448685A JPS61243304A JP S61243304 A JPS61243304 A JP S61243304A JP 60084486 A JP60084486 A JP 60084486A JP 8448685 A JP8448685 A JP 8448685A JP S61243304 A JPS61243304 A JP S61243304A
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JP
Japan
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window
board
background
level
component
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JP60084486A
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Japanese (ja)
Inventor
Kiyoo Takeyasu
武安 清雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Denshi KK
Original Assignee
Hitachi Denshi KK
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Publication date
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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Closed-Circuit Television Systems (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Abstract

PURPOSE:To improve an accuracy in detecting the shift of a position by providing a reference for detecting the shift of the mounting position of a part to be mounted to a surface from a substrate mounting design pattern itself. CONSTITUTION:A window 40 is set to a position which does not cover two portions in a substrate background. In this case, when the bounds of the window 40 is set so as to leave a given space relative to the two portion as shown in the accompanying drawing, the one window 40 does not include two background portions even when the positioning of the substrate involves some errors. When one and the other portions of the window 40 are set within a land 15 and the bounds of a substrate material 1, respectively, the threshold of conversion to binary notation required when the position of a chip part is recognized in the respective portions of the window may be changed in accordance with the brightness level of the background. Thus, by limiting the background in the window 40 to one kind, discrimination between the portion of this kind and the chip part can be facilitated.

Description

【発明の詳細な説明】 (技術分野) 本発明はプリント基板上に実装された電子部品。[Detailed description of the invention] (Technical field) The present invention relates to an electronic component mounted on a printed circuit board.

特に角形チップ部品やフラットパックICなどの面付部
品の実装位置精度を検査する外観検査装置の改良に関す
るものである。
In particular, the present invention relates to improvements in visual inspection equipment for inspecting the mounting position accuracy of surface-mounted components such as square chip components and flat pack ICs.

(従来技術とその問題点) プリント基板への部品実装は最近ますます高密度化しつ
つあり、実装形態も従来のリード付き部品を用いたリー
ド挿入形態から、チップ部品やフラットパック形ICな
どを用いた面付形態に移行する傾向が強い。ところで一
般にリード部品の自動挿入機は部品挿入時に、挿入ミス
があったか否かを容易に検出できるのに対し9面付部品
の自動搭載機は部品搭載直後に、その搭載位置のずれ。
(Prior art and its problems) The density of component mounting on printed circuit boards has recently become higher and higher, and the mounting format has changed from the conventional lead insertion method using leaded components to the use of chip components and flat pack ICs. There is a strong tendency to shift to the traditional imposition format. By the way, in general, an automatic lead component insertion machine can easily detect whether or not there is an insertion error when inserting a component, whereas an automatic lead component loading machine can detect a deviation in the mounting position immediately after the component is loaded.

あるいは搭載姿勢に異常が生じた事を検出するのは困難
である。このため9面付部品の搭載後は通常、目視等を
用いた実装位置の外観検査が行われており、基板の高密
度化と共にその必要性はより強くなっている。
Alternatively, it is difficult to detect that an abnormality has occurred in the mounting position. For this reason, after mounting a nine-sided component, an external appearance inspection of the mounting position is usually performed using visual inspection or the like, and the need for this is becoming stronger as boards become more densely packed.

このように目視検査は作業者に極度の疲労を与えるだけ
でなく1作業ミスも多発する傾向にあるため、これを機
械化する努力も行われて来た。その一つの例として、第
2図に示したビデオコンパレータ式のチップ部品実装基
板外観検査装置がある。この装置は2組の照明器23お
よびTVカメラ21を用い、このうちの一方21−aで
良品基板1−aの映像を入力し、他方21−bで被検査
基板1−b結果、もし被検査基板に部品実装ミスがあれ
ば、その部分に関する映像レベルの差異が顕著となり。
As described above, visual inspection not only causes extreme fatigue to the operator, but also tends to result in frequent mistakes in one operation, and therefore efforts have been made to mechanize this inspection. One example is a video comparator-type chip component mounting board appearance inspection apparatus shown in FIG. This device uses two sets of illuminators 23 and TV cameras 21, one of which 21-a inputs the image of the non-defective board 1-a, and the other 21-b inputs the image of the board to be inspected 1-b. If there is a component mounting error on the test board, the difference in the image level for that part will become noticeable.

これをTVモニタ(図示せず)上に表示することによっ
て外観検査を容易に行え、あるいは信号処理回路(図示
せず)等を介して外部に出力する事により、外観検査を
自動化することができる。またTVカメラの視野が狭い
場合はxyテーブル30等によって基板を一定値づつ移
動しながら検査を続行すればよ(。しカル、この装置に
は以下の欠点があった。
Visual inspection can be easily performed by displaying this on a TV monitor (not shown), or can be automated by outputting it to the outside via a signal processing circuit (not shown), etc. . In addition, if the field of view of the TV camera is narrow, the inspection can be continued while moving the board by a constant value using an xy table 30 or the like (However, this device had the following drawbacks.

(11テップ部品の種類によっては背景となる基板とチ
ップ部品の映像的なコントラストが得られず1位置ずれ
検出が困難である。
(Depending on the type of 11-step component, it is difficult to detect a one-position shift because the visual contrast between the background board and the chip component cannot be obtained.

(2)  実装位置ずれの基準があくまでも良品基板で
あり、これに完全性を要求することが困難であるため1
位置ずれ検出精度に限界がある。
(2) The standard for mounting position deviation is a good board, and it is difficult to demand perfection from this.
There is a limit to the accuracy of positional deviation detection.

(3) 2台のTVカメラの視野の大きさや相対的な位
置、姿勢関係を正確に合わせる必要があり調整がわずら
れしく・。
(3) It is necessary to accurately match the field of view size, relative position, and posture of the two TV cameras, making adjustment difficult.

(目的) 本発明はこれらの欠点を除去し、基板の状態にかかわら
ず9面付部品の実装位置を正確に検出することが可能な
認識方式を提供するものである。
(Objective) The present invention eliminates these drawbacks and provides a recognition method capable of accurately detecting the mounting position of a nine-sided component regardless of the state of the board.

同時に本発明の他の目的は9面付部品の実装位置ずれ検
出の基準を基板実装設計パターン自体から与える事によ
り位置ずれ検出精度を向上する事にある。
At the same time, another object of the present invention is to improve the accuracy of positional deviation detection by providing a standard for detecting mounting positional deviation of nine-sided components from the board mounting design pattern itself.

(実施例) 本発明の基本原理を説明する前に、まず前記の方式は条
件によって面付部品の位置認識が困難である理由を第3
図、第4図および第5図を用いて説明する。第3図は撮
像部分のモデルを示したものであり、1は基板、10は
基板上に実装された面付部品、21はTVカメラ、22
はカメラ用拡大レンズ、また23は照明器たとえばリン
グ状ライトを示す。一方、第4図は面付部品の一例であ
る角形チップ部品をモデル的に示したものであり、(a
)は上面、(b)は側面、また(c)は裏面を示してい
る。図において11はセラミックの基材であり、12は
本体部。
(Example) Before explaining the basic principle of the present invention, let us first explain the third reason why it is difficult to recognize the position of surface-mounted parts in the above method depending on the conditions.
This will be explained using FIGS. 4 and 5. FIG. 3 shows a model of the imaging part, where 1 is a board, 10 is a surface-mounted component mounted on the board, 21 is a TV camera, and 22 is a model of the imaging part.
Reference numeral 23 indicates a magnifying lens for a camera, and 23 indicates an illuminator, such as a ring-shaped light. On the other hand, FIG. 4 shows a model of a square chip component, which is an example of a surface-mounted component.
) shows the top surface, (b) shows the side surface, and (c) shows the back surface. In the figure, 11 is a ceramic base material, and 12 is a main body.

また13は金属性の電極部である。このようなチップ部
品は条件によって上面(a)または裏面(c)のいずれ
かが上側になるように基板上に実装される。次にこのよ
うなチップ部品あるいは基板自体を第3図のような状態
でTVカメラで撮像した時の映像信号レベルを示すと第
5図のようになる。第5図の横軸はレンズの絞り、言い
換えればTVカメラから見た対象の明るさを示して(・
る。第5図においてCで示したのはチップ部品である。
Further, 13 is a metallic electrode portion. Such chip components are mounted on a substrate with either the top surface (a) or the back surface (c) facing upward depending on the conditions. Next, FIG. 5 shows the video signal level when such a chip component or the board itself is imaged by a TV camera in the state shown in FIG. 3. The horizontal axis in Figure 5 represents the aperture of the lens, or in other words, the brightness of the object as seen from the TV camera.
Ru. In FIG. 5, C indicates a chip component.

C3はセラミック部分であり白色であるため映像信号レ
ベルが非常に高い。しかしチップ部品の本体部は部品に
よって種々の色彩のものがあり、たとえばうす茶の場合
はC2,黒色の場合はC8とレベルに大きな相異がある
。また電極部分は斜線部C8で示したようにレベルのば
らつきが非常に大きい。これは電極部がやや鏡面的な反
射特性を有すると同時に9表面がフラットでないためで
ある。さらに背景となる基板についてもBで示したよう
に場所により種々のレベルを示す。たとえばB、は暗緑
色のレジストされた基材部であり、レベルは低いがB2
ははんだメッキされたランド部IB、はレジストされた
銅パターン部またB4は銅メッキされたランド部であり
かなりレベルが高くなる。
Since C3 is a ceramic portion and is white, the video signal level is extremely high. However, the main bodies of chip components come in various colors depending on the component, and there are large differences in level, for example, C2 for light brown and C8 for black. Furthermore, the level variation in the electrode portion is very large as shown by the shaded area C8. This is because the electrode portion has somewhat specular reflection characteristics and at the same time the surface is not flat. Furthermore, as shown in B, the background substrate also shows various levels depending on the location. For example, B is a dark green resisted base material part, and although the level is low, B2
The solder-plated land portion IB is the resisted copper pattern portion, and the copper-plated land portion B4 has a considerably high level.

このように検出対象であるチップ部品と背景となる基板
部分が映像レベル的にオーバラップしているため、白黒
画像による識別が困難な場合が生じる。たとえばチップ
部品のセラミック部が上側になるように実装されている
場合は、その有無や位置ずれが容易に認識できるのに対
し、銅メツキランドにうす茶色のチップ部品が実装され
ている場合は両者の映像レベルの差が小さいため9位置
ずれの認識は困難となる。このように背景となる基板も
部分によって輝度レベルの相異があり、チップ部品自体
も部分あるいは種類により多様な輝度レベルがある事が
認識を困難にしている。このような問題は単にTVカメ
ラをカラーカメラ方式に置き換えるだけでは解決せず、
チップ部品自体と基板部分の映像に何らかの形での差異
が生じるようにし、チップ部品の位置が明確に認識でき
るようにしなければならない。
In this way, since the chip component to be detected and the substrate portion as the background overlap in terms of the video level, it may be difficult to identify them using a black and white image. For example, if a chip component is mounted with the ceramic part facing upward, its presence or absence and misalignment can be easily recognized, whereas if a light brown chip component is mounted on a copper-plated land, both Since the difference in image level is small, it is difficult to recognize the 9-position shift. In this way, the background substrate has different brightness levels depending on its parts, and the chip components themselves have various brightness levels depending on their parts or types, making recognition difficult. These problems cannot be solved simply by replacing TV cameras with color cameras;
It is necessary to create some kind of difference between the image of the chip component itself and the image of the board so that the position of the chip component can be clearly recognized.

これを可能とするため9本発明では第6図に示すように
、TVカメラ21の出力信号Slを多階調のデジタル情
報S2に変換して記憶する画像メモリ25゜さらにS2
を適当なスレショルドで情報S3に変換できる信号処理
部26を用いて認識を行う。このうち信号処理部26の
機能はハードウェアで実現する場合と、ソフトウェア的
に実行する場合、あるいはその併用で行う場合のいずれ
でもよい。また画像メモリ25はTV画面を2次元のメ
ツシュに分け、それぞれのメツシュ(画素)部分の輝度
レベルを。
In order to make this possible, in the present invention, as shown in FIG.
Recognition is performed using the signal processing unit 26 that can convert the information into information S3 at an appropriate threshold. Among these, the function of the signal processing section 26 may be implemented by hardware, software, or a combination of both. The image memory 25 also divides the TV screen into two-dimensional meshes and determines the brightness level of each mesh (pixel) portion.

たとえば第7図に示すように映像信号S、をその輝度レ
ベルに応じて、0,1.2〜15などの階調に変換し記
憶する内容のものであれば、どのような構成のものでも
よい。
For example, as shown in FIG. 7, any configuration may be used as long as the video signal S is converted into gradation levels such as 0, 1.2 to 15 and stored according to its luminance level. good.

ところで、第4図に示した角形のチップ部品が基板上の
ランド部に実装された状態をモデル的に示すと第1図(
a)のようになる。基板上のxy座標内の一点P。に対
して部品】0が正確に実装されることにより。ランド1
5と部品の電極部13が正常にはんだ付され、かつ近接
した他の部品やランド間とのはんだブリッヂの発生を防
止できる。この場合。
By the way, a model of the state in which the rectangular chip component shown in Fig. 4 is mounted on the land portion on the board is shown in Fig. 1 (
It will be like a). A point P within the xy coordinates on the board. Component] 0 is implemented correctly. land 1
5 and the electrode portion 13 of the component are properly soldered, and the occurrence of solder bridges between adjacent components and lands can be prevented. in this case.

従来はP。を基準としてチップ部の4個の頂点を基準と
して、たとえば破線で示したようなウィンドウ40を画
面内に設定し、このウィンドウ内におけるチップ部品の
位置を検出して、その実装位置が正常であるか否かを検
出して(・た。
Previously P. Using the four vertices of the chip part as a reference, a window 40 as shown by the broken line is set on the screen, and the position of the chip component within this window is detected to determine that the mounting position is normal. Detect whether or not (・ta.

しかしこの方式には、ウィンドウ内の基板背景として、
ランド15と基材部lの二つの部分が含まれ、これら二
つの部分とチップ部品との識別を必要とした。そこで本
発明の第1の着目点は、ウィンドウの設定を第1図(b
)、 (c)あるいは(d)の実施例に示したように、
基板背景の中で二つの部分Kまたがらな(・位置にウィ
ンドウ4oを設定することにある。この場合、ウィンド
ウの範囲を図示のように二つの部分から一定の余裕を持
って設定すれば。
However, in this method, as the board background in the window,
Two parts were included: the land 15 and the base material part 1, and it was necessary to distinguish these two parts from the chip component. Therefore, the first point of focus of the present invention is to change the window settings as shown in Figure 1 (b).
), (c) or (d),
The purpose is to set the window 4o at a position that does not straddle the two parts K in the background of the board.In this case, the range of the window should be set with a certain margin from the two parts as shown in the figure.

基板の位置決めに多少誤差があっても、1個のウィンド
ウに二つの背景部分が含まれることはな(・。
Even if there is some error in the positioning of the board, two background parts will not be included in one window (・.

なお第1図(C)のように、ウィンドウの1部をランド
15の中に、また他を基材1の範囲内に設定したときは
、後述するようにそれぞれのウィンドウの中でチップ部
品の位置認識する場合の2値化のスレショルドを背景の
輝度レベルに応じて変えれば良い。
Note that when one part of the window is set within the land 15 and the other part is set within the range of the base material 1 as shown in FIG. The binarization threshold for position recognition may be changed depending on the brightness level of the background.

このようにウィンドウ内での背景を1種類に限定する事
により、この部分とのチップ部品の識別をさらに容易に
するための補助手段が可能となる。
By limiting the background within the window to one type in this manner, it becomes possible to provide an auxiliary means to further facilitate the identification of chip components from this portion.

この点が本発明の第2の着目点であり、その内容は次の
とおりである。ウィンドウ内で背景とチップ部品を明確
に識別するためには、第6図の信号処理部26を介して
得られる情報S3が第8図(a)、 (blあるいは(
C)のような形になっていればよ(・。いずレモS3カ
″1ルベル(白レベル)ト″0”レベル(黒レベル)の
2値に変換されたモデルで示しであるが、(a)はう/
ドエ5のみ1″、他の斜線で示した部分は0″、また(
b)はランド15のみ斜線で示したようにO″、他は1
”、さらに(c)はチップ電極のみ“l”、他は0“の
場合である。このように。
This point is the second point of interest of the present invention, and its contents are as follows. In order to clearly identify the background and chip components within the window, the information S3 obtained through the signal processing unit 26 in FIG.
It would be nice if it had a shape like C) (・This is a model converted to two levels: ``1 level'' (white level) and ``0'' level (black level) for Remo S3. (a) Crawling/
Doe 5 is 1″, other shaded areas are 0″, and (
In b), only land 15 is O'' as indicated by diagonal lines, and the others are 1
", and (c) is the case where only the tip electrode is "1" and the others are "0". in this way.

チップ部品と電極を明確に識別するための情報を得る方
法を第9図を用いて説明する。第9図(a)は第6図に
おける情報SIと82との変換関係を示したものである
。横軸の記号C,,B、等は、第5図のそれに対応して
おり、たとえばランドの銅メツキ部はB4で示す如<8
2としてはレベル1oの信号となり。
A method for obtaining information for clearly identifying chip components and electrodes will be explained using FIG. 9. FIG. 9(a) shows the conversion relationship between the information SI and 82 in FIG. The symbols C, , B, etc. on the horizontal axis correspond to those in FIG.
2 is a level 1o signal.

チップ部品の電極部はC6で示す如くレベル5から12
の範囲の信号に変換される。そこで第6図における信号
S2から83への変換処理特性を第9図(b)の実線で
示すように、レベル10付近のみ白レベル(1”レベル
)に変換されるようにしておけば。
The electrode part of the chip component is level 5 to level 12 as shown in C6.
is converted to a signal in the range of . Therefore, as shown by the solid line in FIG. 9(b), the conversion processing characteristics from signal S2 to signal S83 in FIG. 6 are set so that only the vicinity of level 10 is converted to the white level (1'' level).

S、としては第8図(a)が得られ、これと全く逆の変
換となるようにしておけば第8図(b)が得られる。
As for S, the result shown in FIG. 8(a) is obtained, and if the transformation is completely reversed, the result shown in FIG. 8(b) is obtained.

また、第9図(b)の破線で示すような変換特性にして
おけば、第8図(c)の状態が得られる。
Furthermore, if the conversion characteristics are set as shown by the broken line in FIG. 9(b), the state shown in FIG. 8(c) can be obtained.

このようにウィンドウが設定される部分の基板背景の映
像レベルに着目し、そのレベル付近の情報をチップ部品
に対応した映像レベルと切り分けることにより両者の識
別を容易に行うことができる。このような処理はウィン
ドウ内の背景が一種類の部分であれば効果が大きく、ま
た、第5図に示したチップ部品の電極部のように、映像
レベルの分布が広い場合に好都合である。もちろん、逆
にランド部の映像レベルの分布の方が広い場合は。
In this way, by focusing on the video level of the board background in the area where the window is set and separating the information around that level from the video level corresponding to the chip component, it is possible to easily identify the two. Such processing is highly effective if the background within the window is of one type, and is advantageous when the distribution of image levels is wide, as in the case of the electrode portion of the chip component shown in FIG. Of course, on the other hand, if the distribution of image levels in the land area is wider.

以上の説明と逆の処理を行えばよい。The process described above may be reversed.

以上、第9図の例ではチップ部品を銅メッキのランドに
実装する場合を例にとり9本発明の詳細な説明したが、
ランドがはんだメッキされている場合でも、その部分の
映像レベルに着目すれば同じような手法を利用できる。
Above, the present invention has been described in detail using the example of FIG. 9 in which a chip component is mounted on a copper-plated land.
Even if the land is plated with solder, a similar method can be used by focusing on the image level of that part.

また基板の色調、使用する部品の色調を考慮し、光学的
フィルタ等を利用して映像信号を都合のよ(・形に加工
する事。
Also, considering the color tone of the board and the color tone of the parts used, processing the video signal into a convenient shape using optical filters, etc.

ある(・はカラーカメラを用いてその色情報を活用する
等のことは本発明の考え方を拡張して実施することがで
きる。また一般にランド部分の映像信号の輝度は、照明
を基板上でX方向から照射するか、X方向から照射する
かによってかなり相異するから、照明方向を考慮して2
値化のスレショルドを決定することも重要であるが、逆
にこれを活用して、たとえば暗色のチップ部品に対して
はランドが高輝度になる方向から照明を行(・、明色の
チップ部品に対しては逆の照明を行う事によって識別を
容易とすることも可能である。さらに本発明の考え方は
、第2図に示したビデオコンパレータ形の検査装置、あ
るいはTVカメラ1個で被検査基板を撮像し、その変換
信号とあらかじめ記憶した情報との比較において検査を
行う方式の装置の(・ずれにも利用できることは明らか
である。また対象部品も角形チップ部品に限られない。
It is possible to extend the idea of the present invention by using a color camera and utilizing its color information.In general, the brightness of the video signal of the land portion is determined by There is a considerable difference depending on whether you irradiate from the direction or from the X direction, so consider the illumination direction and make two
It is important to determine the value threshold, but this can also be used to illuminate dark-colored chip components from the direction where the lands become brighter (for example, light-colored chip components It is also possible to make identification easier by performing reverse illumination.Furthermore, the idea of the present invention is that a video comparator type inspection device shown in Fig. 2 or a single TV camera can be used to It is clear that this method can also be used for devices that image a board and perform inspection by comparing the converted signal with pre-stored information. Also, the target parts are not limited to square chip parts.

(効果) 以上本発明を利用すれば9種々の条件において基板上の
実装部品の実装状態を容易に認識する事が可能であり、
汎用的な外観検査装置を実現することができる。
(Effects) By using the present invention as described above, it is possible to easily recognize the mounting state of components mounted on a board under nine different conditions.
A general-purpose visual inspection device can be realized.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第2図は従来の外観検査装置の構成図、第3図〜第5図
は従来装置の検査能力の限界を説明する図、第6図は本
発明の検査方式の実施例、第7図。 第8図および第9図は本発明の実施例における外観検査
のための認識処理動作の内容を説明する図である。 に基板、10:面付部品、15:1yy)”、21:T
V右カメラ23:照明器525:画像メモリ。26:信
号処理部、40:ウィンドウ。 第1図 第2図 丈 第3図    第4図 第5図 手続補正書(方式) 昭和 6昨 8月23日
FIG. 2 is a configuration diagram of a conventional visual inspection device, FIGS. 3 to 5 are diagrams explaining the limits of the inspection ability of the conventional device, FIG. 6 is an embodiment of the inspection method of the present invention, and FIG. FIG. 8 and FIG. 9 are diagrams for explaining the details of the recognition processing operation for visual inspection in the embodiment of the present invention. board, 10: surface-mounted parts, 15: 1yy)", 21: T
V right camera 23: illuminator 525: image memory. 26: Signal processing section, 40: Window. Figure 1 Figure 2 Size Figure 3 Figure 4 Figure 5 Procedural amendment (method) August 23, 1939

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims]  基板上の実装部品の位置を、TVカメラの入力映像内
に設けた複数のウィンドウを介して認識する実装基板の
外観検査方式において、前記ウィンドウの設定位置は、
このウィンドウの範囲内に前記基板背景の映像レベル的
に異なる二つ以上の部分が含まれないように構成したこ
とを特徴とする実装基板の外観検査方式。
In an external appearance inspection method for a mounted board in which the position of a mounted component on a board is recognized through a plurality of windows provided in an input image of a TV camera, the set position of the window is as follows:
A method for inspecting the appearance of a mounted board, characterized in that the window is configured so that two or more portions of the board background that are different in terms of image level are not included within the range of the window.
JP60084486A 1985-04-22 1985-04-22 Visual inspection system for mounted substrate Pending JPS61243304A (en)

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