JP2696878B2 - Substrate inspection method and apparatus - Google Patents

Substrate inspection method and apparatus

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JP2696878B2
JP2696878B2 JP63031360A JP3136088A JP2696878B2 JP 2696878 B2 JP2696878 B2 JP 2696878B2 JP 63031360 A JP63031360 A JP 63031360A JP 3136088 A JP3136088 A JP 3136088A JP 2696878 B2 JP2696878 B2 JP 2696878B2
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Description

【発明の詳細な説明】 <産業上の利用分野> この発明は、基板を撮像して得られたデータを処理し
て前記基板上の部品実装状態を検査するための基板の検
査方法および装置に関する。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a board inspection method and apparatus for processing data obtained by imaging a board and inspecting a component mounting state on the board. .

<従来の技術> 従来、プリント基板上に抵抗器や半導体素子などの各
種チップ部品をマウントするのに自動マウント装置が用
いられている。ところがこの種装置を用いた場合、マウ
ントデータどおりに部品がマウントされないことがある
ため、マウント後にプリント基板をチェックして、適正
位置に所定のチップ部品が適正姿勢でマウントされてい
るかどうかや、チップ部品の脱落がないかどうかなどを
検査する必要がある。この種検査として、従来は人手に
よる目視検査が行われていたが、これでは検査ミスの発
生を完全になくすことができず、また検査速度を高める
ことも困難である。
<Prior Art> Conventionally, automatic mounting devices have been used to mount various chip components such as resistors and semiconductor elements on a printed circuit board. However, when using this type of device, the components may not be mounted according to the mounting data.Therefore, after mounting, check the printed circuit board to see if the specified chip components are mounted in the correct positions and in the correct position, It is necessary to inspect whether parts are missing. Conventionally, as this kind of inspection, a manual visual inspection has been performed. However, this does not completely eliminate the occurrence of inspection errors, and it is also difficult to increase the inspection speed.

そこで、近年、この種の検査を自動的に行うための自
動検査装置が種々提案されている。
Therefore, in recent years, various automatic inspection devices for automatically performing this kind of inspection have been proposed.

第13図は、従来の自動検査装置の一例を示すもので、
テレビカメラ3,記憶部4,判定回路5,モニタ6,キーボード
7などをその構成として含んでいる。テレビカメラ3は
部品1が実装された被検査プリント基板2Tを撮像するた
めのものであり、またキーボード7は第14図に示すよう
な検査基準となる基準プリント基板2Sの種類などに関す
るデータや、この基準プリント基板2S上に載っている各
部品1の種類,配置位置,取付け姿勢,形状などに関す
るデータ、さらにはこれら各部品1の検査処理手順など
に関する情報(データ)を入力するためのものである。
記憶部4はキーボード7から入力されたデータなどを記
憶し、判定回路5はこの記憶された情報と前記テレビカ
メラ3からの画像によって示される情報とを比較して前
記被検査プリント基板2T上に全ての部品1が存在するか
どうかや、これらの部品1が位置ずれなどを起こしてい
ないかどうかを判定する。モニタ6はこの判定回路5の
判定結果を表示したり、プリントアウトしたりする。
FIG. 13 shows an example of a conventional automatic inspection device.
It includes a television camera 3, a storage unit 4, a determination circuit 5, a monitor 6, a keyboard 7, and the like as its components. The television camera 3 is for imaging the printed circuit board 2T on which the component 1 is mounted, and the keyboard 7 is for data on the type of the reference printed circuit board 2S serving as an inspection standard as shown in FIG. This is for inputting data relating to the type, arrangement position, mounting posture, shape, etc. of each component 1 placed on the reference printed circuit board 2S, as well as information (data) relating to the inspection processing procedure of each component 1. is there.
The storage unit 4 stores data input from the keyboard 7 and the like, and the determination circuit 5 compares the stored information with information indicated by an image from the television camera 3 and stores the data on the printed circuit board 2T to be inspected. It is determined whether all the parts 1 are present and whether or not these parts 1 are out of position. The monitor 6 displays the judgment result of the judgment circuit 5 and prints out the result.

<発明が解決しようとする問題点> ところで検査対象である部品中には、プリント基板の
地色と似た色をもつものがある。このような部品を上記
自動検査装置により検査すると、部品部分についての信
号レベルと、背景部分についての信号レベルとがほぼ一
致するため、この部品の脱落や位置ずれなどを検出する
のが困難である。
<Problems to be Solved by the Invention> Incidentally, some components to be inspected have a color similar to the ground color of a printed circuit board. When such a component is inspected by the above-described automatic inspection device, the signal level of the component portion substantially coincides with the signal level of the background portion, so that it is difficult to detect dropout or displacement of the component. .

そこでプリント基板上の部品実装位置に紫外線螢光物
質を塗布して、その螢光物質上に部品が存在するか否か
を紫外線を照射して観測することにより検査する方法が
提案された(特開昭57−94672号)。この方法によると
き、プリント基板上の部品実装位置より部品が脱落して
いると、紫外線螢光物質が露出するため、紫外線の照射
でその螢光物質が強い螢光を発することになる。
Therefore, a method has been proposed in which an ultraviolet fluorescent substance is applied to a component mounting position on a printed circuit board, and the presence or absence of a component on the fluorescent substance is inspected by irradiating ultraviolet light and observing (particularly). No. 57-94672). In this method, if the component is dropped from the component mounting position on the printed circuit board, the ultraviolet fluorescent substance is exposed, and the fluorescent substance emits strong fluorescent light upon irradiation with ultraviolet light.

第15図は、上記の検査方法を示すもので、部品を実装
すべき一対のランド8,8間に紫外線螢光物質9が塗布さ
れている。第15図(A)はこの紫外線螢光物質9上に部
品が存在していないから、これは紫外線を照射すると、
強い螢光が発生する。これに対し、第15図(B)は紫外
線螢光物質9上に部品1が存在するから、紫外線螢光物
質10には紫外線が当たらず、螢光の発生は殆どない。
FIG. 15 shows the above inspection method, in which an ultraviolet fluorescent substance 9 is applied between a pair of lands 8, 8 on which components are to be mounted. FIG. 15 (A) shows that no parts are present on the ultraviolet fluorescent substance 9,
Strong fluorescence is generated. On the other hand, in FIG. 15 (B), since the component 1 is present on the ultraviolet fluorescent substance 9, the ultraviolet fluorescent substance 10 is not irradiated with ultraviolet rays, and the fluorescent light is hardly generated.

ところが上記の方法の場合、照射光が可視光でないた
め、基板をテレビカメラで観測しても照射光による部品
の反射像は得られず、その部品自体に関する情報、すな
わちその部品が何であるか、またその部品が抵抗であれ
ば抵抗値を示すカラーコードは何であるか、さらにその
部品がコンデンサであれば極性マークはどこにあるかな
どの情報が得られず、実装部品についてのより詳細な検
査を実施するなど困難であった。
However, in the case of the above method, since the irradiation light is not visible light, even if the substrate is observed with a television camera, a reflection image of the part due to the irradiation light is not obtained, and information on the part itself, that is, what the part is, In addition, if the component is a resistor, the color code indicating the resistance value is not obtained, and if the component is a capacitor, information such as the location of the polarity mark cannot be obtained. It was difficult to implement.

この発明は、上記問題に着目してなされたものであっ
て、部品検査のための照射光として可視光の使用を可能
となすことにより、部品自体に関する情報をも入手し、
もって詳細な実装部品の検査を実現する基板の検査方法
および装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above-described problem, and obtains information on components themselves by enabling use of visible light as irradiation light for component inspection.
Accordingly, it is an object of the present invention to provide a board inspection method and apparatus that realize detailed inspection of mounted components.

<問題点を解決するための手段> 上記目的を達成するため、この発明では、基板を撮像
して得られたデータを処理して前記基板上の部品実装状
態を検査する基板の検査方法において、基板表面の部品
実装位置において部品が基板に接触する部分に高いカラ
ー信号値を与える塗料が塗布された後、部品が実装され
た基板に白色光を照射しながらこの基板を撮像し、前記
部品の実装位置からの反射光に基づき前記基板上の部品
実装状態を検査することを特徴としている。
<Means for Solving the Problems> In order to achieve the above object, according to the present invention, in a board inspection method for processing data obtained by imaging a board and inspecting a component mounting state on the board, After a paint that gives a high color signal value is applied to a portion where the component contacts the board at the component mounting position on the board surface, the board on which the component is mounted is imaged while irradiating white light to the board, and the component is mounted. The component mounting state on the substrate is inspected based on the reflected light from the mounting position.

また請求項2,3の発明では、移行中の基板につき部品
の実装状態を検査するために、部品実装基板に対する白
色光の照射を瞬間的に行うか、或いは部品実装基板の撮
像を瞬間的に行うことにしている。さらに請求項4の発
明では、基板を撮像して得られたデータを処理して前記
基板上の部品実装状態を検査する装置に、表面の部品実
装位置において部品が基板に接触する部分に高い反射光
の輝度信号値を与える塗料が塗布された基板に対し、可
視光を照射する光照射手段と、前記光照射手段により可
視光が照射された状態下の基板を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段により撮像された基板の画像上の部品実装
位置において、前記塗料の塗布による可視光の反射光情
報を検出する検出手段と、前記検出手段による検出結果
を用いて部品の実装状態を判定する判定手段とを具備さ
せている。
According to the inventions of claims 2 and 3, in order to inspect the component mounting state of the board being transferred, the component mounting board is irradiated with white light instantaneously or the component mounting board is imaged instantaneously. I'm going to do it. Further, according to the present invention, an apparatus for processing data obtained by imaging a substrate and inspecting a component mounting state on the substrate has a high reflection at a portion where the component contacts the substrate at a component mounting position on the surface. Light irradiating means for irradiating visible light to a substrate coated with a paint that gives a luminance signal value of light, and imaging means for imaging a substrate under a state where visible light is irradiated by the light irradiating means,
Detecting means for detecting reflected light information of visible light due to application of the paint at a component mounting position on an image of the board imaged by the imaging means, and determining a component mounting state using a detection result by the detecting means And determination means for performing the determination.

<作用> 部品実装位置において部品が基板に接触する部分に高
いカラー信号値を与える塗料を塗布した場合、部品が適
正位置に存在するときと、部品の脱落や位置ずれが生じ
ているときとでは、塗料塗布部分の露出状態に差異が生
じる。従って基板に白色光を照射することにより色彩反
射の状態を画像上で観測すれば、基板上の部品の有無や
位置ずれ状態を把握し得る。また基板へ照射する光は白
色光であるから、その反射像から部品に関する各種情報
を読み取ることができ、詳細な検査が可能である。
<Operation> When a paint that gives a high color signal value is applied to a part where the component contacts the board at the component mounting position, there is a difference between when the component is at an appropriate position and when the component is dropped or misaligned. Then, a difference occurs in the exposed state of the paint applied portion. Therefore, by observing the state of color reflection on an image by irradiating the substrate with white light, the presence or absence of components on the substrate and the state of displacement can be grasped. Further, since the light applied to the substrate is white light, it is possible to read various information on the component from the reflected image, and it is possible to perform a detailed inspection.

さらに白色光の照射を瞬間的に行うか、或いは部品実
装基板の撮像を瞬間的に行えば、移行中の基板について
も同様の検査が可能である。また請求項4の発明におい
て、部品が基板に接触する部分に高い反射光の輝度信号
値を与える塗料が塗布された基板に可視光を照射しつ
つ、この基板を撮像し、画像上の部品実装位置からの可
視光の反射光情報を用いて部品の実装状態を判定するこ
とにより、部品の実装状態および部品に関する各種情報
を詳細に判別可能な基板の検査装置を提供可能となる。
Further, if white light irradiation is performed instantaneously or an image of the component mounting board is captured instantaneously, the same inspection can be performed on the board that is in transition. Further, in the invention according to claim 4, while irradiating visible light to a substrate coated with a paint that gives a high luminance signal value of reflected light to a portion where the component contacts the substrate, this substrate is imaged, and the component mounting on the image is performed. By determining the mounting state of the component using the reflected light information of visible light from the position, it is possible to provide a board inspection apparatus capable of determining the mounting state of the component and various pieces of information on the component in detail.

<実施例> 第1図は、この発明にかかる基板の検査方法を実施す
るのに用いられる基板検査装置の一例を示している。
<Embodiment> FIG. 1 shows an example of a board inspection apparatus used for carrying out a board inspection method according to the present invention.

図示例の基板検査装置は、基準プリント基板10Sを撮
像して得られた前記基準プリント基板10S上にある各部
品13Sのパラメータ(判定データ)と、被検査プリント
基板10Tを撮像して得られた前記被検査プリント基板10T
上にある各部品13Tのパラメータ(被検査データ)とを
比較して、これらの各部品13Tが正しくマウントされて
いるかどうかを検査するためのものであって、X−Yテ
ーブル部14,照明部12,撮像部15,処理部16などをその構
成として含んでいる。
The board inspection apparatus in the illustrated example was obtained by imaging the parameter (determination data) of each component 13S on the reference printed circuit board 10S obtained by imaging the reference printed circuit board 10S and the printed circuit board 10T to be inspected. The inspected printed circuit board 10T
The X-Y table unit 14 and the illumination unit are used to inspect whether each of the components 13T is correctly mounted by comparing the parameters (data to be inspected) of each of the components 13T above. 12, an imaging unit 15, a processing unit 16, and the like are included as components.

前記基準プリント基板10Sは、第2図に示す各工程を
実施して製作されるもので、まず両面(または片面)に
銅箔が張られた生基板にエッチング加工,レジスト加
工,穴あけ加工などを施して、第2図(A)に示す素基
板11を形成する。ついでこの素基板11上の各部品実装位
置に、第2図(B)に示す如く、高明度または高彩度の
高いカラー信号値を与える塗料(例えば、太陽インキ製
造株式会社製の黄5Gや橙3Hなどの塗料やインク)33をシ
ルクスクリーン印刷により塗布して定形の彩色領域34を
形成した後、その彩色領域34上に、第2図(C)に示す
如く、所定の部品13Sをマウントして、基準プリント基
板10Sが形成される。
The reference printed circuit board 10S is manufactured by performing the steps shown in FIG. 2. First, an etching process, a resist process, a drilling process, etc. are performed on a raw substrate having copper foil on both sides (or one side). Then, the elementary substrate 11 shown in FIG. 2A is formed. Next, as shown in FIG. 2 (B), a paint (for example, yellow 5G or orange 3H manufactured by Taiyo Ink Manufacturing Co., Ltd.) which gives a high color signal value with high brightness or high saturation is provided at each component mounting position on the substrate 11 as shown in FIG. (Paints or inks) 33 are applied by silk screen printing to form a fixed colored area 34, and a predetermined part 13S is mounted on the colored area 34 as shown in FIG. Then, the reference printed circuit board 10S is formed.

第3図(A)は、矩形状をなす同一形状のランド35,3
6間に、実装部品13Sの幅と一致する幅を有しかつランド
間隔に相当する長さを有する矩形状の彩色領域34(図
中、斜線で示す)を形成したもので、この彩色領域34上
に正しく部品を載ると、第4図に示す如く、部品13S下
に彩色領域34が完全に重なって隠れるよう構成されてい
る。
FIG. 3 (A) shows rectangular lands 35, 3 having the same shape.
6, a rectangular colored region 34 (shown by oblique lines in the figure) having a width corresponding to the width of the mounted component 13S and having a length corresponding to the land interval is formed. When the component is correctly placed on the upper side, as shown in FIG. 4, the coloring region 34 is completely overlapped and hidden under the component 13S.

なお被検査プリント基板10Tも基準プリント基板10Sと
同様な手順で製作されるもので、ここではその説明を省
略する。
The printed circuit board 10T to be inspected is also manufactured in the same procedure as the reference printed circuit board 10S, and the description thereof is omitted here.

第1図に戻ってX−Yテーブル部14は、上面に各プリ
ント基板10S,10Tが固定されるX−Yテーブル19と、前
記処理部16からの制御信号に基づいて前記X−Yテーブ
ル19を駆動する2つのパルスモータ17,18とを備えてお
り、X−Yテーブル19上にチャック機構20により固定さ
れたプリント基板10Sまたは10Tは照明部12により照射さ
れながら撮像部15によって撮像される。
Returning to FIG. 1, the XY table section 14 includes an XY table 19 on which the printed circuit boards 10S and 10T are fixed, and an XY table 19 based on a control signal from the processing section 16. And two pulse motors 17 and 18 for driving the printed circuit board. The printed circuit board 10S or 10T fixed on the XY table 19 by the chuck mechanism 20 is imaged by the imaging unit 15 while being illuminated by the illumination unit 12. .

照明部12は、前記処理部16からの制御信号に基づいて
オン/オフ制御または調光制御されるリング状の白色光
源52を備えており、この白色光源52による白色光が前記
彩色領域34に当たると、彩色領域34より高いカラー信号
値の反射光が生成されてその光が撮像部15に取り込ま
れ、一方前記白色光が部品13Sまたは13Tに当たると、そ
の部品の色彩の強さに応じた反射光が撮像部15に取り込
まれることになる。
The illumination unit 12 includes a ring-shaped white light source 52 that is turned on / off or light-controlled based on a control signal from the processing unit 16, and the white light from the white light source 52 hits the coloring region 34. Then, reflected light having a higher color signal value than the coloring area 34 is generated and the light is captured by the imaging unit 15, while the white light impinges on the component 13S or 13T, the reflection according to the color intensity of the component. The light is taken into the imaging unit 15.

撮像部15は、前記照明部12の上方に位置させたカラー
テレビカメラ21を備えており、前記プリント基板10Sま
たは10Tからの光はこのカラーテレビカメラ21によって
三原色のカラー信号R,G,Bに変換されて処理部16へ供給
される。
The imaging unit 15 includes a color television camera 21 positioned above the illumination unit 12, and light from the printed circuit board 10S or 10T is converted into three primary color signals R, G, and B by the color television camera 21. The data is converted and supplied to the processing unit 16.

この場合、照明部12により各プリント基板10S,10Tを
照明して白色光が彩色領域34に当たると、彩色領域34が
色彩反射により強い反射光(ここでは例えば赤色の光)
を生成するので、プリント基板10S,10Tの地色が茶色
で、かつこれら各プリント基板10S,10T上にマウントさ
れている各部品13S,13Tの色が茶色や黒色のときでも、
第3図(C)に示す如く撮像部15から出力されるカラー
信号R,G,Bのうち赤色のカラー信号Rの走査ラインaに
対応する部分に着目すれば、彩色領域34の信号レベルは
その他の部分の信号レベルよりも高いものとなる。
In this case, when each of the printed circuit boards 10S and 10T is illuminated by the illumination unit 12 and the white light hits the colored area 34, the colored area 34 is reflected strongly by chromatic reflection (here, for example, red light).
Therefore, even when the ground color of the printed circuit boards 10S, 10T is brown, and the color of each of the components 13S, 13T mounted on these printed circuit boards 10S, 10T is brown or black,
Focusing on the portion of the color signals R, G, and B output from the imaging unit 15 corresponding to the scanning line a of the red color signal R as shown in FIG. The signal level is higher than the signal levels of other parts.

もし第4図(A)のように、彩色領域34上に重なって
部品13S,13Tが正しく実装された場合は、彩色領域34は
部品下に隠れて白色光は当たらないから、この部分での
強い色彩反射はなく、従って赤色カラー信号Rの信号レ
ベルは、第4図(C)に示す如く、部品13Sまたは13Tの
赤色カラー信号Rの信号レベルまで低下することにな
る。
If the components 13S and 13T are correctly mounted on the coloring region 34 as shown in FIG. 4 (A), the coloring region 34 is hidden under the component and does not receive white light. There is no strong color reflection, so that the signal level of the red color signal R drops to the signal level of the red color signal R of the component 13S or 13T as shown in FIG. 4 (C).

第5図は、彩色領域34に対する部品の実装状態の具体
例を示している。第5図(A)は部品13Sまたは13Tが彩
色領域34上に重なった適正な実装状態を示すのに対し、
第5図(B)(C)(D)は部品13Sまたは13Tがいずれ
か方向に位置ずれして、彩色領域34の一部が露出してい
る状態を示している。従って第5図(B)(C)(D)
の状態にある部品13Sまたは13Tに対して白色光を照射す
ると、彩色領域34の露出部分で強い色彩反射が起こって
高レベルの赤色のカラー信号Rが検出される。よってこ
の信号の発生領域の位置,形状,数,面積などを検出す
ることによって、実装不良の性質(横ずれ,縦ずれ,回
転など)やその程度を、定性的かつ定量的に自動検出で
きる。
FIG. 5 shows a specific example of a component mounting state in the coloring area 34. FIG. 5A shows a proper mounting state in which the component 13S or 13T is overlaid on the coloring area 34,
FIGS. 5B, 5C, and 5D show a state in which the component 13S or 13T is displaced in either direction, and a part of the coloring area 34 is exposed. Therefore, FIG. 5 (B) (C) (D)
When the component 13S or 13T in the state is irradiated with white light, strong color reflection occurs in the exposed portion of the coloring area 34, and a high-level red color signal R is detected. Therefore, by detecting the position, shape, number, area, and the like of the region where the signal is generated, the nature (horizontal displacement, vertical displacement, rotation, and the like) of the mounting failure and its degree can be qualitatively and quantitatively automatically detected.

第6図は、矩形状をなす3個のランド37,38,39間に部
品13S,13Tの平面形状に対応させた彩色領域34を形成し
た例を示しており、第6図(A)は適正な部品実装状態
を、また第6図(B)(C)は位置ずれが生じた不適正
な部品実装状態を、それぞれ示している。
FIG. 6 shows an example in which a coloring area 34 corresponding to the planar shape of the parts 13S, 13T is formed between three rectangular lands 37, 38, 39. FIG. 6 (B) and 6 (C) show an improper component mounting state in which a positional shift has occurred, respectively.

第7図および第8図は彩色領域34が部品13S,13Tの平
面形状より大きく設定された例を示しており、第7図
(A)および第8図(A)は適正な部品実装状態を、ま
た第7図(B)(C)(D)および第8図(B)(C)
は位置ずれが生じた不適正な部品実装状態を、それぞれ
示している。この場合も前例と同様、高レベルの赤色カ
ラー信号Rを検出することにより、実装不良の性質など
を定性的かつ定量的に自動識別できる。
7 and 8 show an example in which the coloring area 34 is set to be larger than the planar shape of the components 13S and 13T. FIGS. 7 (A) and 8 (A) show an appropriate component mounting state. 7 (B) (C) (D) and FIGS. 8 (B) (C)
Indicates an improper component mounting state in which displacement has occurred. Also in this case, as in the previous example, by detecting the high-level red color signal R, the nature of the mounting failure can be qualitatively and quantitatively automatically identified.

また撮像部15から出力されるカラー信号R,G,Bのう
ち、他の色のカラー信号(ここでは例えば緑色のカラー
信号G)に着目すると、ランド35,36や部品13S(13T)
の信号レベルは、第4図(B)に示す如く、基板からの
反射光の緑色強度に応じた値をとる。第4図(A)中、
40,41は金属光沢をもつ部品の電極を、また42は白色の
極性マークを、それぞれ示しており、第4図(B)に示
す緑色カラー信号Gの信号レベルは、ランド35,36、電
極40,41、部品13S(13T)、極性マーク42の各色に応じ
て異なった値をとり、その信号波形は凹凸形状となる。
なお第3図(B)は、彩色領域34についての緑色カラー
信号Gの信号レベルを示しており、この領域の信号レベ
ルはランド35,36の信号レベルより低くなっている。
When focusing on the color signals of other colors (here, for example, a green color signal G) among the color signals R, G, and B output from the imaging unit 15, the lands 35 and 36 and the component 13S (13T)
Has a value corresponding to the green intensity of the reflected light from the substrate, as shown in FIG. 4 (B). In FIG. 4 (A),
Reference numerals 40 and 41 denote electrodes of a component having a metallic luster, and reference numeral 42 denotes a white polarity mark. The signal level of the green color signal G shown in FIG. 40, 41, the component 13S (13T), and the polarity mark 42 have different values according to the respective colors, and the signal waveform has an uneven shape.
FIG. 3B shows the signal level of the green color signal G for the coloring area 34, and the signal level in this area is lower than the signal levels of the lands 35 and 36.

このような赤色カラー信号Rの信号レベルをチェック
すれば部品の実装不良(脱落や位置ずれ)を検出でき、
また緑色カラー信号Gの信号レベルをチェックすれば部
品の種類,電極や極性マークの位置などを読み取ること
ができる。
By checking the signal level of such a red color signal R, it is possible to detect a component mounting defect (dropout or displacement),
If the signal level of the green color signal G is checked, the type of the component, the position of the electrode and the polarity mark, etc. can be read.

なお、上記の各実施例は、部品13S(13T)が角型部品
であって、彩色領域34の形状が矩形に設定された例のみ
を示しているが、この発明は角型部品以外の部品にも適
用できることは勿論であり、また彩色領域34の形状も矩
形以外の任意の形状に設定することも可能である。
In each of the above embodiments, only the example in which the component 13S (13T) is a square component and the shape of the coloring area 34 is set to a rectangle is shown. Needless to say, the shape of the coloring area 34 can be set to an arbitrary shape other than a rectangle.

第1図に戻って処理部16は、A/D変換部23,メモリ24,
ティーチングテーブル25,画像処理部26,判定部22,X−Y
ステージコントローラ27,撮像コントローラ32,CRT表示
部28,プリンタ29,キーボード30,制御部(CPU)31などか
ら構成されるもので、ティーチングモードのとき、基準
プリント基板10Sについてのカラー信号R,G,Bを処理し基
板上の各部分13Sや彩色領域34の特徴パラメータを抽出
して判定データファイルを作成し、また検査モードのと
き、被検査プリント基板10Tについてのカラー信号R,G,B
を処理し基板上の各部品13Tや彩色領域34の特徴パラメ
ータを抽出して被検査データファイルを作成する。そし
てこの被検査データファイルと前記判定データファイル
とを比較して、この比較結果から被検査プリント基板10
T上に所定の部品13Tが脱落や位置ずれすることなく実装
されているかどうかを検査する。
Returning to FIG. 1, the processing unit 16 includes an A / D conversion unit 23, a memory 24,
Teaching table 25, image processing unit 26, judgment unit 22, XY
It comprises a stage controller 27, an imaging controller 32, a CRT display unit 28, a printer 29, a keyboard 30, a control unit (CPU) 31, and the like. In a teaching mode, color signals R, G, B is processed to extract the characteristic parameters of each part 13S and the coloring area 34 on the board to create a judgment data file.In the inspection mode, the color signals R, G, B for the inspected printed circuit board 10T
To extract the characteristic parameters of each component 13T and the coloring area 34 on the board to create a data file to be inspected. Then, the inspected data file is compared with the judgment data file, and based on the comparison result, the inspected printed circuit board 10 is inspected.
It is inspected whether or not the predetermined component 13T is mounted on the T without being dropped or displaced.

A/D変換部23は前記撮像部15からカラー信号R,G,Bが供
給されたときに、これをアナログ・ディジタル変換して
制御部31へ出力する。メモリ24はRAMなどを備え、制御
部31の作業エリアとして使われる。画像処理部26は制御
部31を介して供給された画像データを画像処理して前記
被検査データファイルや判定データファイルを作成し、
これらを制御部31や判定部22へ供給する。
When the color signals R, G, and B are supplied from the imaging unit 15, the A / D conversion unit 23 converts the color signals into digital signals and outputs the analog signals to the control unit 31. The memory 24 includes a RAM and the like, and is used as a work area of the control unit 31. The image processing unit 26 performs image processing on the image data supplied via the control unit 31 to create the inspection target data file and the determination data file,
These are supplied to the control unit 31 and the determination unit 22.

ティーチングテーブル25はフロッピーディスク装置な
どを備えており、ティーチング時に制御部31から判定デ
ータファイルが供給されたとき、これを記憶し、また検
査時に制御部31が転送要求を出力したとき、この要求に
応じて判定データファイルを読み出して、これを制御部
や判定部22などへ供給する。
The teaching table 25 is provided with a floppy disk device and the like.When the teaching data file is supplied from the control unit 31 during teaching, it is stored.When the control unit 31 outputs a transfer request during inspection, the The determination data file is read out accordingly and supplied to the control unit, the determination unit 22, and the like.

判定部22は、検査時に制御部31から供給された判定デ
ータファイルと、前記画像処理部26から転送された被検
査データファイルとを比較して、その被検査プリント基
板10Tにつき部品実装状態の良否を判定し、その判定結
果を制御部31へ出力する。
The determination unit 22 compares the determination data file supplied from the control unit 31 at the time of inspection with the data file to be inspected transferred from the image processing unit 26, and determines whether the component mounting state of the inspected printed circuit board 10T is good. And outputs the result of the determination to the control unit 31.

撮像コントローラ32は、制御部31と照明部12および撮
像部15とを接続するインターフェースなどを備え、制御
部31の出力に基づき照明部12と撮像部15とを制御する。
X−Yステージコントローラ27は制御部31と前記X−Y
テーブル部14とを接続するインターフェースなどを備
え、制御部31の出力に基づきX−Yテーブル部14を制御
する。
The imaging controller 32 includes an interface for connecting the control unit 31, the illumination unit 12, and the imaging unit 15, and the like, and controls the illumination unit 12 and the imaging unit 15 based on the output of the control unit 31.
The XY stage controller 27 includes a control unit 31 and the XY stage.
An interface for connecting to the table unit 14 is provided, and the XY table unit 14 is controlled based on the output of the control unit 31.

CRT表示部28はブラウン管(CRT)を備え、制御部31か
ら画像データ、判定結果、キー入力データなどが供給さ
れたとき、これを画面上に表示する。プリンタ29は制御
部31から判定結果などが供給されたとき、これを予め決
められた書式(フォーマット)でプリントアウトする。
キーボード30は操作情報や基準プリント基板10Sに関す
るデータ、この基準プリント基板10S上の部品13Sに関す
るデータなどを入力するのに必要な各種キーを備えてお
り、このキーボード30から入力された情報やデータなど
は制御部31へ供給される。
The CRT display unit 28 includes a cathode ray tube (CRT), and when image data, a determination result, key input data, and the like are supplied from the control unit 31, these are displayed on a screen. When the determination result or the like is supplied from the control unit 31, the printer 29 prints out the determination result in a predetermined format.
The keyboard 30 has various keys necessary for inputting operation information, data relating to the reference printed circuit board 10S, data relating to the components 13S on the reference printed circuit board 10S, and information and data input from the keyboard 30. Is supplied to the control unit 31.

制御部31は、マイクロプロセッサなどを備えており、
第9図に示す手順に沿って動作する。
The control unit 31 includes a microprocessor and the like,
It operates according to the procedure shown in FIG.

まず新たな被検査プリント基板10Tを検査するときに
は、制御部31は、第9図(A)に示すメインフローチャ
ートのステップ1(図中、「ST1」で示す)において第
9図(B)に示すティーチングルーチンを呼び出す。つ
いでこのルーチンのステップ2で装置各部を制御して照
明部12や撮像部15をオンし、また撮像条件やデータの処
理条件を整えた後、ステップ3でX−Yテーブル部14上
に基準プリント基板10Sがセットされたかどうかをチェ
ックする。
First, when inspecting a new printed circuit board 10T to be inspected, the control unit 31 performs the operation shown in FIG. 9 (B) in step 1 (indicated by “ST1” in the figure) of the main flowchart shown in FIG. 9 (A). Call the teaching routine. Then, in step 2 of this routine, the respective sections of the apparatus are controlled to turn on the illumination section 12 and the imaging section 15 and the imaging conditions and data processing conditions are adjusted. In step 3, the reference print is performed on the XY table section 14. Check whether the substrate 10S is set.

もしX−Yテーブル部14上に基準プリント基板10Sが
セットされていれば、ステップ4へ進み、制御部31はX
−Yテーブル部14を制御して基準プリント基板10Sを位
置出しした後、撮像部15に基準プリント基板10Sを撮像
させる。この撮像動作で得られた三原色のカラー信号R,
G,BはA/D変換部23でA/D変換され、その変換結果はメモ
リ24にリアルタイムで記憶される。
If the reference printed circuit board 10S is set on the XY table section 14, the process proceeds to step 4, where the control section 31
After controlling the Y table section 14 to position the reference printed circuit board 10S, the image pickup section 15 causes the reference printed circuit board 10S to image. The three primary color signals R,
G and B are A / D converted by the A / D converter 23, and the conversion result is stored in the memory 24 in real time.

次いで制御部31は、ステップ5で前記メモリ24より赤
色の画像データを画像処理部26へ転送させ、この画像処
理部26にて赤色の画像データを適当なしきい値で2値化
するなどして、まず彩色領域34のシルエット画像を抽出
させる。この場合、もし彩色領域34が部品下に完全に隠
れておれば、シルエット画像は抽出されない。つぎにス
テップ6では画像処理部26へメモリ24より緑色の画像デ
ータが転送され、この緑色の画像データを用いて各部品
13Sの画像が抽出される。つぎのステップ7で制御部31
は、画像処理部26を制御し、各部品13Sの緑色画像につ
き各部分(電極など)の明度をチェックするなどして各
部品13Sの電極40の位置や極性マーク42の位置などを識
別させる。なお必要に応じて赤,緑,青の各画像データ
を用いて三原色の明度を求めるなどすれば、より詳しい
情報を得ることもできる。
Next, the control unit 31 transfers the red image data from the memory 24 to the image processing unit 26 in step 5, and the image processing unit 26 binarizes the red image data with an appropriate threshold. First, a silhouette image of the coloring area 34 is extracted. In this case, if the coloring area 34 is completely hidden under the part, no silhouette image is extracted. Next, in step 6, green image data is transferred from the memory 24 to the image processing unit 26, and each component is used by using the green image data.
The 13S image is extracted. In the next step 7, the control unit 31
Controls the image processing unit 26 to identify the position of the electrode 40 and the position of the polarity mark 42 of each part 13S by checking the brightness of each part (such as an electrode) of the green image of each part 13S. If necessary, the brightness of the three primary colors can be obtained by using the red, green, and blue image data to obtain more detailed information.

この後のステップ8で制御部31は、前記シルエット画
像とステップ7の識別結果とに基づいて、被検査プリン
ト基板10Tを検査するのに必要な判定データファイルを
作成し、これをティーチングテーブル25に記憶させた
後、このティーチングルーチンを終了する。
In step 8 thereafter, the control unit 31 creates a determination data file necessary for inspecting the inspected printed circuit board 10T based on the silhouette image and the identification result in step 7, and stores this in the teaching table 25. After the storage, the teaching routine is terminated.

つぎに検査モードに移行すると、制御部31はメインフ
ローチャートのステップ9において第9図(C)に示す
検査ルーチンを呼び出す。ついでこの検査ルーチンのス
テップ10でティーチングテーブル25やキーボード30から
その日の日付データや、被検査プリント基板10TのIDナ
ンバ(識別番号)を取り込むとともに、ティーチングテ
ーブル25から判定データファイルを読み出して、これを
判定部22に供給する。
Next, when the mode is shifted to the inspection mode, the control unit 31 calls the inspection routine shown in FIG. 9C in step 9 of the main flowchart. Next, in step 10 of this inspection routine, the date data of the day and the ID number (identification number) of the printed circuit board 10T to be inspected are taken in from the teaching table 25 and the keyboard 30, and the judgment data file is read out from the teaching table 25, and this is read. It is supplied to the determination unit 22.

この後、制御部31は、撮像条件やデータの処理条件を
整えた後、ステップ11でX−Yテーブル部14上に被検査
プリント基板10Tがセットされたかどうかをチェックす
る。
Thereafter, the control unit 31 prepares the imaging conditions and the data processing conditions, and then checks in step 11 whether the printed circuit board 10T to be inspected is set on the XY table unit 14.

もしステップ11が“YES"であれば、制御部31はステッ
プ12〜15において、前記と同様、画像処理部26にて彩色
領域34のシルエット画像の抽出、各部品13Tの緑色画像
の抽出,電極や極性マークの識別を順次行わせた後、ス
テップ16でシルエット画像とステップ15の識別結果とに
基づき被検査データファイルを作成する。ついでステッ
プ17で制御部31は、前記被検査データファイルを判定部
22に転送させ、この被検査データファイルと前記判定デ
ータファイルとを比較させて、被検査プリント基板10T
上に所定の部品13Tが脱落や位置ずれなしに、しかも適
正な向きで全てマウントされているかどうかなどを判定
させると共に、つぎのステップ18でこの判定結果をCRT
表示部28やプリント29に供給して、これらを表示させ、
またプリントアウトさせる。
If step 11 is "YES", the control unit 31 extracts the silhouette image of the coloring area 34, the extraction of the green image of each component 13T, the After the identification of the polarity marks is sequentially performed, a data file to be inspected is created in step 16 based on the silhouette image and the identification result in step 15. Next, in step 17, the control unit 31 determines the inspection data file as a determination unit.
Then, the inspection data file is compared with the judgment data file, and the inspection printed circuit board 10T is
It is determined whether or not all of the predetermined components 13T are mounted without dropping or displacement, and in a proper orientation.
Supply them to the display unit 28 and print 29 to display them,
Also print out.

第10図は、この発明を実施するのに用いられる基板検
査装置の他の実施例を示している。
FIG. 10 shows another embodiment of the substrate inspection apparatus used to carry out the present invention.

同図の装置例は、ベルトコンベヤ部43上に基準プリン
ト基板10Sや被検査プリント基板10Tを供給し、これら基
板が照明部12および撮像部15の下方位置に搬送されてき
たときに基板の検査が実施されるものである。なおベル
トコンベヤ部43の動作はコンベヤコントローラ44により
制御される。
The apparatus example shown in the figure supplies a reference printed circuit board 10S and a printed circuit board 10T to be inspected on a belt conveyor section 43, and inspects the boards when these boards are conveyed to a position below the illumination section 12 and the imaging section 15. Is implemented. The operation of the belt conveyor unit 43 is controlled by a conveyor controller 44.

撮像部15は、プリント基板10S,10Tからの光を3つに
分ける光分配器45と、この光分配器45より出た光をフィ
ルタリングするための赤色,緑色,青色の各フィルタ46
a,46b,46cと、各フィルタからの光を受光して電気信号
に変換するための3台のラインセンサ47a,47b,47cとか
ら構成され、各ラインセンサの出力は処理部16のA/D変
換部23へ与えられる。
The imaging unit 15 includes a light distributor 45 for dividing light from the printed circuit boards 10S and 10T into three light beams, and red, green, and blue filters 46 for filtering light emitted from the light distributor 45.
a, 46b, and 46c, and three line sensors 47a, 47b, and 47c for receiving light from each filter and converting the light into an electric signal. The output of each line sensor is This is provided to the D conversion unit 23.

この実施例は、撮像部15下方の基板検査位置へ被検査
プリント基板10Tをベルトコンベヤ部43にて次々に供給
して高速検査するためのもので、このような高速処理の
要求に対応するための撮像部15として3台のラインセン
サ47a,47b,47cを用いている。なお第10図中、上記以外
の各構成は、第1図の第1実施例と同様であり、ここで
は対応する構成に同一符号を付することでその説明を省
略する。
This embodiment is for supplying the inspected printed circuit boards 10T to the substrate inspection position below the imaging unit 15 one after another by the belt conveyor unit 43 for high-speed inspection, and in order to respond to such a demand for high-speed processing. Three line sensors 47a, 47b, and 47c are used as the imaging unit 15. In FIG. 10, each configuration other than the above is the same as that of the first embodiment of FIG. 1, and the corresponding components are denoted by the same reference numerals and description thereof will be omitted.

第11図は、この発明を実施するための基板検査装置の
さらに他の実施例を示している。
FIG. 11 shows still another embodiment of the substrate inspection apparatus for carrying out the present invention.

この実施例での撮像部15は、プリント基板10S,10Tか
らの光を3つに分ける光分配器48と、この光分配器48よ
り出た光をフィルタリングするための赤色,緑色,青色
の各フィルタ46a,46b,46cと、各フィルタからの光を受
光して電気信号に変換するための3台のモノクロテレビ
カメラ50a,50b,50cとで構成されたもので、この実施例
の場合は、第1実施例におけるカラーテレビカメラ21を
これらモノクロテレビカメラ50a,50b,50cに置き換える
ことにより、装置の製作コストを低減している。なお第
11図中、上記以外の各構成は、第1図の第1実施例と同
様であり、ここでも対応する構成に同一符号を付するこ
とでその説明を省略する。
In this embodiment, the imaging unit 15 includes a light distributor 48 for dividing light from the printed circuit boards 10S and 10T into three light beams, and red, green, and blue light for filtering light emitted from the light distributor 48. It is composed of filters 46a, 46b, 46c, and three monochrome television cameras 50a, 50b, 50c for receiving light from each filter and converting them into electric signals. In the case of this embodiment, By replacing the color television camera 21 in the first embodiment with these monochrome television cameras 50a, 50b, 50c, the manufacturing cost of the apparatus is reduced. Note that
In FIG. 11, each configuration other than the above is the same as that of the first embodiment in FIG. 1, and the corresponding components are denoted by the same reference numerals and description thereof will be omitted.

なお第1および第3の各実施例では、XYテーブル部14
をX,Yの両方向に駆動してプリント基板10S,10Tの位置出
しを行っているが、例えばテーブル部はY方向へ移動可
能となし、照明部12および撮像部15はX方向へ移動可能
となしたり、テーブル部は固定テーブルとなし、照明部
12および撮像部15をX,Yの両方向へ移動可能となすな
ど、適宜設計変更が可能である。
In the first and third embodiments, the XY table 14
Are driven in both the X and Y directions to position the printed circuit boards 10S and 10T.For example, the table unit is not movable in the Y direction, and the illumination unit 12 and the imaging unit 15 are movable in the X direction. None, table part is fixed table and none, lighting part
The design can be changed as appropriate, for example, by making the imaging unit 12 and the imaging unit 15 movable in both X and Y directions.

第12図は、この発明を実施するための基板検査装置の
さらに他の実施例を示している。
FIG. 12 shows still another embodiment of the substrate inspection apparatus for carrying out the present invention.

同図の装置例は、第2実施例と同様、ベルトコンベヤ
部43上に基準プリント基板10Sや被検査プリント基板10T
を供給し、これら基板が照明部12および撮像部15の下方
位置に搬送されてきたときに基板の検査を実施する方式
のものである。
In the example of the apparatus shown in the figure, the reference printed circuit board 10S and the inspected printed circuit board 10T
And inspects the board when the board is conveyed to a position below the illumination unit 12 and the imaging unit 15.

この実施例の場合、照明部12として白色光を瞬間的に
発生させるリング状のストロボ光源51が用いてあり、こ
のストロボ照明下で撮像部15が移動中のプリント基板10
S,10Tを撮像して静止画像を生成するよう構成してあ
る。
In the case of this embodiment, a ring-shaped strobe light source 51 that instantaneously generates white light is used as the illumination unit 12, and the printed circuit board 10 on which the imaging unit 15 is moving under the strobe illumination.
It is configured to capture S and 10T to generate a still image.

なお移動中のプリント基板10S,10Tを検査するのに、
上記のストロボ照明による方式に限らず、例えば撮像部
15としてシャッタ機能付きのカラーテレビカメラを用い
ることにより、移動中のプリント基板10S,10Tを撮像
し、瞬時瞬時の静止画像を生成するよう構成してもよ
い。
In addition, to inspect the moving printed circuit boards 10S, 10T,
Not limited to the above strobe lighting method, for example, an imaging unit
By using a color television camera with a shutter function as 15, the moving printed circuit boards 10 </ b> S and 10 </ b> T may be imaged to generate an instantaneous still image.

なお第12図の実施例についても、他の構成は前記の各
実施例と同様であり、対応する構成に同一の符号を付し
て、その説明を省略する。
In the embodiment of FIG. 12, the other components are the same as those of the above-described embodiments, and the corresponding components are denoted by the same reference numerals and description thereof will be omitted.

<発明の効果> この発明は上記の如く、基板表面の部品実装位置にお
いて部品が基板に接触する部分に高いカラー信号値を与
える塗料が塗布された後、部品が実装された基板に白色
光を照射しながらこの基板を撮像し、前記部品の実装位
置からの反射光に基づき前記基板上の部品実装状態を検
査するから、基板上の部品の有無や位置ずれ状態を確実
に検査でき、しかも基板に対する照射光は白色光である
から、その反射光から部品に関する各種情報を読み取っ
て、より詳しい検査を実施することが可能である。さら
にこの発明では、白色光の照射を瞬間的に行うか、或い
は部品実装位置の撮像を瞬間的に行うようにしたから、
移行中の基板についても同様の検査が可能となる。また
請求項4の発明において、部品が基板に接触する部分に
高い反射光の輝度信号値を与える塗料が塗布された基板
に可視光を照射しつつ、この基板を撮像し、画像上の部
品実装位置からの可視光の反射光情報を用いて部品の実
装状態を判定することにより、部品の実装状態および部
品に関する各種情報を詳細に判別可能な基板の検査装置
を提供することができる。
<Effect of the Invention> As described above, the present invention applies white light to a board on which a component is mounted after a paint that gives a high color signal value is applied to a portion where the component contacts the board at the component mounting position on the board surface. This board is imaged while being illuminated, and the component mounting state on the board is inspected based on the reflected light from the component mounting position. Is irradiated with white light, so that it is possible to read out various information on the component from the reflected light and perform a more detailed inspection. Further, according to the present invention, the white light is emitted instantaneously or the component mounting position is imaged instantaneously.
The same inspection can be performed on the board during the transfer. Further, in the invention according to claim 4, while irradiating visible light to a substrate coated with a paint that gives a high luminance signal value of reflected light to a portion where the component contacts the substrate, this substrate is imaged, and the component mounting on the image is performed. By determining the mounting state of the component using the reflected light information of the visible light from the position, it is possible to provide a board inspection apparatus capable of determining the mounting state of the component and various pieces of information on the component in detail.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図はこの発明を実施するための基板検査装置を示す
説明図、第2図はプリント基板の製作工程を示す斜面
図、第3図は彩色領域とそのカラー信号の信号波形との
関係を示す説明図、第4図は彩色領域上の部品とそのカ
ラー信号の信号波形との関係を示す説明図、第5図およ
び第6図は彩色領域に対する部品実装状態を示す平面
図、第7図および第8図は他の実施例の彩色領域に対す
る部品実装状態を示す平面図、第9図は基板検査装置の
動作手順を示すフローチャート、第10図〜第12図は基板
検査装置の他の実施例を示す説明図、第13図は従来の基
板検査装置を示す説明図、第14図は基準プリント基板を
示す正面図、第15図は紫外線螢光物質を用いた従来の基
板の検査方法を示す平面図である。 10S,10T……プリント基板 13S,13T……部品 12……照明部 15……撮像部 16……処理部 34……彩色領域
FIG. 1 is an explanatory view showing a board inspection apparatus for carrying out the present invention, FIG. 2 is a perspective view showing a manufacturing process of a printed board, and FIG. 3 is a diagram showing a relationship between a colored region and a signal waveform of a color signal. FIG. 4 is an explanatory diagram showing the relationship between components on a colored region and the signal waveform of the color signal. FIGS. 5 and 6 are plan views showing the component mounting state in the colored region, and FIG. And FIG. 8 is a plan view showing a component mounting state with respect to a colored area of another embodiment, FIG. 9 is a flowchart showing an operation procedure of the board inspection apparatus, and FIGS. 10 to 12 are other embodiments of the board inspection apparatus. FIG. 13 is an explanatory view showing an example of a conventional board inspection apparatus, FIG. 14 is a front view showing a reference printed board, and FIG. 15 is a conventional board inspection method using an ultraviolet fluorescent substance. FIG. 10S, 10T Printed circuit board 13S, 13T Parts 12 Illumination unit 15 Imaging unit 16 Processing unit 34 Colored area

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】基板を撮像して得られたデータを処理して
前記基板上の部品実装状態を検査する基板の検査方法に
おいて、 基板表面の部品実装位置において部品が基板に接触する
部分に高いカラー信号値を与える塗料が塗布された後、
部品が実装された基板に白色光を照射しながらこの基板
を撮像し、前記部品の実装位置からの反射光に基づき前
記基板上の部品実装状態を検査することを特徴とする基
板の検査方法。
1. A board inspection method for processing data obtained by capturing an image of a board and inspecting a component mounting state on the board, the method comprising: After the paint giving the color signal value is applied,
A board inspection method, wherein a board on which components are mounted is imaged while irradiating the substrate with white light, and a component mounting state on the board is inspected based on reflected light from a mounting position of the components.
【請求項2】部品実装基板に対する白色光の照射を瞬間
的に行うことを特徴とする請求項1に記載の基板の検査
方法。
2. The method according to claim 1, wherein the irradiation of the component mounting board with white light is performed instantaneously.
【請求項3】部品実装基板の撮像を瞬間的に行うことを
特徴とする請求項1に記載の基板の検査方法。
3. The board inspection method according to claim 1, wherein the imaging of the component mounting board is performed instantaneously.
【請求項4】基板を撮像して得られたデータを処理して
前記基板上の部品実装状態を検査する装置において、 表面の部品実装位置において部品が基板に接触する部分
の高い反射光の輝度信号値を与える塗料が塗布された基
板に対し、可視光を照射する光照射手段と、 前記光照射手段により可視光が照射された状態下の基板
を撮像する撮像手段と、 前記撮像手段により撮像された基板の画像上の部品実装
位置において、前記塗料の塗布による可視光の反射光情
報を検出する検出手段と、 前記検出手段による検出結果を用いて部品の実装状態を
判定する判定手段とを備えて成る基板の検査装置。
4. An apparatus for processing data obtained by imaging a substrate and inspecting a component mounting state on the substrate, wherein a high luminance of reflected light at a portion where the component contacts the substrate at a component mounting position on the surface. Light irradiating means for irradiating visible light to a substrate coated with a paint giving a signal value; imaging means for imaging a substrate under a state where visible light is irradiated by the light irradiating means; and imaging by the imaging means Detecting means for detecting reflected light information of visible light due to application of the coating material at a component mounting position on the image of the board, and determining means for determining a component mounting state using a detection result by the detecting means. Substrate inspection device provided.
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