JP2000004079A - Solder inspection equipment - Google Patents

Solder inspection equipment

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JP2000004079A
JP2000004079A JP16560398A JP16560398A JP2000004079A JP 2000004079 A JP2000004079 A JP 2000004079A JP 16560398 A JP16560398 A JP 16560398A JP 16560398 A JP16560398 A JP 16560398A JP 2000004079 A JP2000004079 A JP 2000004079A
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JP
Japan
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solder
inspection
image
data
printing
Prior art date
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Application number
JP16560398A
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Japanese (ja)
Inventor
Masato Ishibane
正人 石羽
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Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Omron Tateisi Electronics Co
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a solder inspection equipment in which an operator can confirm the conditions at a defective print part quickly and accurately by displaying the image at a defective print part along with the content of defect on an image display means based on the inspection results at a plurality of solder print parts. SOLUTION: The solder inspection equipment comprises a section 28 for storing an inspection result data from an inspecting section 26 when inspected. The inspection result data includes GO/NO-GO data of solder print conditions at each land, a data concerning to the content of defect, and the like. Inspection results stored at the inspection result memory section 28 is presented on a display 32 when an operator operates a keyboard 31. Print condition at a defective print part is displayed in units of part or land and the content of defect is displayed in detail by characters. Consequently, the operator can confirm the content of defect quickly and accurately.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品等を表面
実装するためにプリント基板上に印刷されたクリーム状
はんだの印刷状態の良否を検査するはんだ検査装置に関
し、特に検出した印刷不良箇所の状態を詳細に表示する
ことができるはんだ検査装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a solder inspection apparatus for inspecting the printing condition of creamy solder printed on a printed circuit board for surface mounting electronic parts and the like, and more particularly to a solder inspection apparatus for detecting a defective printing position. The present invention relates to a solder inspection apparatus capable of displaying a state in detail.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来から、プリント基板の所定位置にク
リーム状はんだを印刷し、その上に電子部品等を仮止め
してプリント基板をリフロー炉に通し、電子部品等のは
んだ付けを行う表面実装方式が用いられていた。
2. Description of the Related Art Conventionally, surface mounting is performed by printing creamy solder on a predetermined position of a printed circuit board, temporarily fixing electronic components and the like thereon, passing the printed circuit board through a reflow furnace, and soldering the electronic components and the like. The method was used.

【0003】この場合、生産ラインに組み込まれたはん
だ検査装置によって、クリームはんだ印刷機でプリント
基板に印刷したクリーム状はんだの各印刷箇所を、画像
処理技術を用いて検査し、印刷ずれ、印刷にじみ、印刷
かすれなどの印刷不良箇所を検出するようにしていた。
[0003] In this case, each printed portion of creamy solder printed on a printed circuit board by a cream solder printing machine is inspected by an image processing technique by a solder inspection device incorporated in a production line, and printing misregistration and printing bleeding are performed. In addition, defective printing such as blurred printing is detected.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】従来、はんだ検査装置
が印刷不良箇所を検出すると、オペレータははんだ印刷
工程ラインを停止し、不良と判定された被検査基板上の
はんだの印刷品質を確認し、クリームはんだ印刷機の調
整を行っていた。このとき、オペレータははんだ検査装
置から指示される被検査基板の不良箇所を目視で検査し
て不良内容を確認していた。
Conventionally, when the solder inspection apparatus detects a defective printing portion, the operator stops the solder printing process line and checks the printing quality of the solder on the inspection target board determined to be defective. The adjustment of the cream solder printing machine was being made. At this time, the operator visually inspected the defective portion of the substrate to be inspected, which is instructed by the solder inspection device, to confirm the details of the defect.

【0005】しかし、基板実装部品の微細化や高密度化
に伴って、クリーム状はんだの印刷箇所の面積が小さく
なり、目視で不良箇所を特定してその不良内容を確認す
るためには、かなりの時間と労力とを費やし、しかも場
合によっては正確にその不良箇所を特定することが困難
であるという不都合があった。
[0005] However, with the miniaturization and high density of the board mounted parts, the area of the printed portion of the creamy solder has become smaller, and it is quite difficult to identify the defective portion visually and confirm the content of the defect. However, there is an inconvenience that it takes time and labor, and in some cases, it is difficult to accurately specify the defective portion.

【0006】本発明は、このような従来の課題を解決す
るためになされたもので、クリーム状はんだが印刷され
たプリント基板の検査結果から、印刷不良箇所の印刷状
態および不良内容を詳細に表示することができるはんだ
検査装置を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned conventional problems, and displays the printing state and the details of a defective print portion in detail from the inspection result of a printed circuit board on which creamy solder is printed. It is an object of the present invention to provide a solder inspection apparatus capable of performing the above.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明による請求項1記
載のはんだ検査装置は、プリント基板を撮像して得られ
る画像データに基づきプリント基板に印刷されたはんだ
の印刷状態を検査するはんだ検査装置において、複数の
はんだ印刷箇所の検査結果に基づいて指定された印刷不
良箇所の印刷状態の画像および不良内容を表示する画像
表示手段を備えるものである。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a solder inspection apparatus for inspecting a printed state of solder printed on a printed circuit board based on image data obtained by imaging the printed circuit board. And an image display means for displaying an image of a printing state and a content of a failure at a printing failure location designated based on an inspection result of a plurality of solder printing locations.

【0008】本発明による請求項2記載のはんだ検査装
置は、はんだが印刷されたプリント基板を撮像する撮像
手段と、撮像手段によって撮像したプリント基板の画像
から被検査データを作成する画像処理手段と、被検査デ
ータと予め入力した基準となる判定データとを比較して
各はんだ印刷箇所のはんだの印刷状態を検査する検査手
段と、検査手段で検査した検査結果データを記憶する検
査結果記憶手段と、検査結果記憶手段に記憶された検査
結果データに基づいて指定された印刷不良箇所の印刷状
態の画像および不良内容を表示する画像表示手段とを備
える。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a solder inspection apparatus, comprising: an image pickup unit for picking up an image of a printed circuit board on which solder is printed; and an image processing unit for generating inspection data from an image of the printed circuit board picked up by the image pickup unit. Inspection means for inspecting the solder printing state of each solder print location by comparing the inspected data with pre-input reference determination data; and an inspection result storage means for storing inspection result data inspected by the inspection means. Image display means for displaying an image of a print state of a print failure location designated based on the test result data stored in the test result storage means and the content of the failure.

【0009】本発明による請求項3記載のはんだ検査装
置は、請求項1または2記載の発明において、画像表示
手段は、指定された印刷不良箇所をはんだ印刷箇所毎に
ランド単位で、または複数のはんだ印刷箇所をまとめた
部品単位で表示する。
According to a third aspect of the present invention, there is provided a solder inspection apparatus according to the first or second aspect, wherein the image display means determines the designated defective printing location in units of land for each solder printing location or in a plurality of locations. Displays the solder print locations in parts.

【0010】本発明によれば、プリント基板上に印刷さ
れたクリーム状はんだの印刷状態を部品単位またはラン
ド単位で画像表示すると共に、不良内容の詳細を文字に
よって表示するので、オペレータが印刷不良箇所の状態
を迅速かつ正確に確認することができる。
According to the present invention, the printing state of the creamy solder printed on the printed circuit board is displayed as an image in component units or land units, and the details of the defect contents are displayed in characters, so that the operator can determine the defective printing position. Can be quickly and accurately checked.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】図1は本発明によるはんだ検査装
置の一実施の形態を示すブロック図である。このはんだ
検査装置は検査時の基準となるモデル基板P1を撮像し
て得られる検査領域のパラメータ(判定データ)と、被
検査基板P2を撮像して得られる被検査領域のパラメー
タ(被検査データ)とを比較し、被検査基板P2の各ラ
ンド上にクリーム状はんだが正しく印刷されているかを
検査するものである。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a solder inspection apparatus according to the present invention. In this solder inspection apparatus, parameters (judgment data) of an inspection area obtained by imaging a model substrate P1 serving as a reference at the time of inspection, and parameters (inspection data) of an inspection area obtained by imaging a substrate P2 to be inspected. To check whether the creamy solder is correctly printed on each land of the inspected substrate P2.

【0012】このはんだ検査装置は画像データ入力部1
および画像データ処理部2を備え、画像データ入力部1
は基板P1,P2に印刷されたクリーム状はんだを撮像
し、その撮像信号を画像データ処理部2に入力する。画
像データ処理部2は入力された撮像信号を画像データに
変換し、この画像データに基づいて判定データと被検査
データとを作成し、両データを比較して被検査基板P2
上のクリーム状はんだの印刷状態の良否を検査する。
This solder inspection apparatus is provided with an image data input unit 1
And an image data input unit 1
Captures an image of the cream solder printed on the substrates P1 and P2, and inputs the captured image signal to the image data processing unit 2. The image data processing unit 2 converts the input imaging signal into image data, creates judgment data and inspection data based on the image data, compares the two data, and compares the data with the inspection substrate P2.
Inspect the printed state of the creamy solder above.

【0013】(画像データ入力部)画像データ入力部1
は、モデル基板P1および被検査基板P2を載置するコ
ンベア11、このコンベア11をY方向(図の手前方
向)に移動させるY軸テーブル部12、コンベア11に
載置された基板P1,P2を照射する投光部13、基板
P1,P2を撮像する撮像部14をその構成として含ん
でいる。
(Image Data Input Unit) Image Data Input Unit 1
Is a conveyor 11 on which the model substrate P1 and the substrate to be inspected P2 are placed, a Y-axis table section 12 for moving the conveyor 11 in the Y direction (frontward in the drawing), and the substrates P1 and P2 placed on the conveyor 11 The light emitting unit 13 includes an illuminating unit 13 for irradiating, and an imaging unit 14 for imaging the substrates P1 and P2.

【0014】また、投光部13は基板P1,P2に赤色
光、緑色光、青色光をそれぞれ異なる入射角で照射する
リング状の発光体13R,13G,13Bを備えてい
る。撮像部14はカラーテレビカメラ15、このカラー
テレビカメラ15をX方向(図の横方向)に移動させる
X軸テーブル部16を備えている。
The light projecting section 13 includes ring-shaped light emitting bodies 13R, 13G, and 13B for irradiating the substrates P1 and P2 with red light, green light, and blue light at different incident angles. The imaging unit 14 includes a color television camera 15 and an X-axis table 16 for moving the color television camera 15 in the X direction (horizontal direction in the drawing).

【0015】Y軸テーブル部12およびX軸テーブル部
16は、それぞれ画像データ処理部2からの制御信号に
基づいて動作するモータ(図示せず)を備え、これらモ
ータの駆動によってY軸テーブル部12がコンベア11
をY方向へ移動させ、X軸テーブル部16がカラーテレ
ビカメラ15をX方向へ移動させ、基板P1,P2の表
面全ての箇所をカラーテレビカメラ15で撮像すること
ができるように構成されている。
Each of the Y-axis table section 12 and the X-axis table section 16 includes a motor (not shown) that operates based on a control signal from the image data processing section 2, and the Y-axis table section 12 is driven by driving these motors. Is a conveyor 11
Is moved in the Y direction, the X-axis table 16 moves the color television camera 15 in the X direction, and the entire surface of the substrates P1 and P2 can be imaged by the color television camera 15. .

【0016】(画像データ処理部)画像データ処理部2
は、A/D変換部21、メモリ部22、撮像コントロー
ラ23、画像処理部24、XYテーブルコントローラ2
5、検査部26、ティーチング部27、検査結果記憶部
28を備え、これら各部はバスライン29を介して制御
部(CPU)30に接続されている。また、制御部30
はキーボード31、表示装置32、プリンタ33、通信
部34およびフロッピーディスク装置35に接続されて
いる。
(Image Data Processing Unit) Image Data Processing Unit 2
Is an A / D conversion unit 21, a memory unit 22, an imaging controller 23, an image processing unit 24, an XY table controller 2.
5, an inspection unit 26, a teaching unit 27, and an inspection result storage unit 28. These units are connected to a control unit (CPU) 30 via a bus line 29. The control unit 30
Are connected to a keyboard 31, a display device 32, a printer 33, a communication unit 34, and a floppy disk device 35.

【0017】A/D変換部21は撮像部14から供給さ
れるカラー信号R,G,Bをアナログ/ディジタル変換
して制御部30に画像データとして出力する。メモリ部
22はRAM(ランダム・アクセス・メモリ)を備え、
制御部30の作業エリアとして使用される。
The A / D converter 21 converts the color signals R, G, and B supplied from the imaging unit 14 from analog to digital, and outputs the converted data to the controller 30 as image data. The memory unit 22 includes a RAM (random access memory),
Used as a work area of the control unit 30.

【0018】撮像コントローラ23は制御部30と投光
部13および撮像部14との間を接続するインターフェ
イス等を備え、制御部30からの指示に基づき投光部1
3の各発光体13R,13G,13Bの光量の調整、撮
像部14のカラーテレビカメラ15の各色相光出力の相
互バランスの制御などを行う。
The imaging controller 23 includes an interface for connecting the control unit 30 to the light projecting unit 13 and the image sensing unit 14, and the like.
3, the light amount of each of the light emitters 13R, 13G, and 13B is adjusted, and the mutual balance of the hue light outputs of the color television camera 15 of the imaging unit 14 is controlled.

【0019】画像処理部24は制御部30を介して供給
される画像データを処理し、モデル基板P1による判定
データや被検査基板P2による被検査データを作成し制
御部30および検査部26へ供給する。
The image processing section 24 processes the image data supplied via the control section 30 to generate judgment data for the model substrate P1 and data for inspection on the substrate P2 to be inspected and supply them to the control section 30 and the inspection section 26. I do.

【0020】XYテーブルコントローラ25は制御部3
0とX軸テーブル部16およびY軸テーブル部12との
間を接続するインターフェイス等を備え、制御部30か
らの指示に基づきX軸テーブル部16およびY軸テーブ
ル部12を制御する。
The XY table controller 25 controls the control unit 3
An interface is provided for connecting 0 to the X-axis table section 16 and the Y-axis table section 12, and controls the X-axis table section 16 and the Y-axis table section 12 based on an instruction from the control section 30.

【0021】検査部26は検査モード時に制御部30か
ら供給された判定データと、画像処理部24から転送さ
れた被検査データとを比較し、被検査基板P2における
クリーム状はんだの印刷状態の良否を判定し、その結果
を制御部30へ出力する。
The inspection unit 26 compares the judgment data supplied from the control unit 30 in the inspection mode with the inspection data transferred from the image processing unit 24, and determines whether the printing condition of the creamy solder on the inspection substrate P2 is good or bad. And outputs the result to the control unit 30.

【0022】ティーチング部27はティーチングモード
時に制御部30から判定データが供給されたときにこれ
を記憶する。また、検査モード時に制御部30から転送
要求があったときに、この要求に応じて判定データを制
御部30および検査部26に供給する。
The teaching section 27 stores the judgment data when supplied from the control section 30 in the teaching mode. Further, when a transfer request is received from the control unit 30 in the inspection mode, the determination data is supplied to the control unit 30 and the inspection unit 26 in response to the request.

【0023】検査結果記憶部28は検査時に検査部26
からの検査結果データを記憶するもので、検査結果デー
タとしては各はんだ印刷箇所に相当するランドの位置デ
ータ、各部品の位置データ、各ランドにおけるはんだ印
刷状態の良否データ、不良内容に関するデータ等であ
る。
The inspection result storage unit 28 stores the inspection unit 26 at the time of inspection.
The inspection result data includes the position data of the lands corresponding to each solder print location, the position data of each component, the data on the quality of the solder print on each land, the data on the content of defects, etc. is there.

【0024】この場合、検査結果を必要に応じてはんだ
印刷箇所毎にランド単位で出力し、または複数のはんだ
印刷箇所を1つの部品単位にまとめた部品単位で出力す
ることができるように、各ランドの位置データと各部品
の位置データとを関連性をもって記憶する。
In this case, the inspection results can be output in units of lands for each solder printing location as required, or a plurality of solder printing locations can be output in units of one component. The position data of the land and the position data of each component are stored in association with each other.

【0025】キーボード31は操作情報やモデル基板P
1に関するデータ、モデル基板P1上のランドおよび部
品に関するデータ等を入力するのに必要な各種のキーを
備えており、このキーボード31から入力されたデータ
は制御部30へ供給される。また、キーボード31は検
査結果記憶部28に記憶された検査結果データを表示装
置32に表示するための指示を行う。
The keyboard 31 is used for operating information and the model board P.
Various keys necessary for inputting data related to the data on the land 1 and the data on the land and the parts on the model board P1 are provided. The data input from the keyboard 31 is supplied to the control unit 30. The keyboard 31 gives an instruction to display the test result data stored in the test result storage unit 28 on the display device 32.

【0026】表示装置32はCRT(ブラウン管)また
はLCD(液晶表示装置)等からなる画像表示手段であ
り、制御部30から供給される画像データ、判定結果、
キー入力データなどを画面上に表示する。また、検査結
果記憶部28に記憶された検査結果データに基づいて被
検査基板P2の各はんだ印刷箇所の良否を示す基板画
像、特定の印刷不良箇所を拡大して示す個別画像および
不良内容等を画面上に表示する。
The display device 32 is an image display means such as a CRT (CRT) or an LCD (liquid crystal display device).
Display key input data on the screen. In addition, based on the inspection result data stored in the inspection result storage unit 28, a board image indicating the quality of each solder printed portion of the inspected board P2, an individual image indicating a specific defective printing portion in an enlarged manner, and a defect content are displayed. Display on the screen.

【0027】(ティーチングモード)次に、制御部30
の制御のもとにプリント基板に印刷されたクリーム状は
んだの印刷状態の良否を検査する動作について説明す
る。新たな被検査基板P2を検査するときは、制御部3
0はモデル基板P1を用いて検査時の基準となる判定デ
ータを作成するためにティーチングモードを実行する。
モデル基板P1は各ランドにクリーム状はんだが正しく
印刷された基準となる基板である。
(Teaching Mode) Next, the control unit 30
The operation for inspecting the print state of the creamy solder printed on the printed circuit board under the above control will be described. When inspecting a new substrate to be inspected P2, the control unit 3
0 executes the teaching mode in order to create determination data serving as a reference at the time of inspection using the model substrate P1.
The model board P1 is a board serving as a reference on which creamy solder is correctly printed on each land.

【0028】まず、装置各部を制御して投光部13や撮
像部14をオンし、撮像条件やデータの処理条件を整え
る。次に、Y軸テーブル部12上にモデル基板P1をセ
ットし、X軸テーブル部16およびY軸テーブル部12
を制御してモデル基板P1の各所定位置で撮像部14に
よってモデル基板P1を撮像する。
First, the respective parts of the apparatus are controlled to turn on the light projecting unit 13 and the image pickup unit 14, and the image pickup conditions and data processing conditions are adjusted. Next, the model substrate P1 is set on the Y-axis table section 12, and the X-axis table section 16 and the Y-axis table section 12 are set.
Is controlled, and the image pickup unit 14 takes an image of the model substrate P1 at each predetermined position on the model substrate P1.

【0029】モデル基板P1は投光部13からの照射光
を受けつつ撮像部14のカラーテレビカメラ15により
撮像される。すなわち、投光部13は撮像コントローラ
23からの制御信号に基づいて赤色光、緑色光、青色光
を異なる入射角で照射し、3原色光の混合した光により
モデル基板P1を投光する。撮像部14はその反射光像
をカラーテレビカメラ15で撮像して電気信号に変換す
る。
The model substrate P1 is picked up by the color television camera 15 of the image pickup unit 14 while receiving irradiation light from the light projecting unit 13. That is, the light projecting unit 13 irradiates red light, green light, and blue light at different incident angles based on a control signal from the imaging controller 23, and projects the model substrate P1 with mixed light of three primary color lights. The imaging unit 14 captures the reflected light image with a color television camera 15 and converts it into an electric signal.

【0030】また、投光部13は、その照明下でモデル
基板P1上のクリーム状はんだの印刷状態を検出するこ
とを可能とするために、発光体13R,13G,13B
が発する各色相の光が混色されると、完全な白色光とな
るように撮像コントローラ23によって制御されてい
る。
The light projecting section 13 is provided with light-emitting bodies 13R, 13G, and 13B in order to detect the printing state of the creamy solder on the model board P1 under the illumination.
Is controlled by the imaging controller 23 so that when the lights of the respective hues emitted by the color mixing are mixed, a complete white light is obtained.

【0031】すなわち、発光体13R,13G,13B
は混色により白色光となるような対波長発光エネルギー
分布を有する赤色光スペクトル、緑色光スペクトル、青
色光スペクトルの光を発する発光体をもって構成すると
共に、各発光体から照射された赤色光、緑色光、青色光
が混色して白色光となるように各色相光の光量が調整さ
れている。
That is, the luminous bodies 13R, 13G, 13B
Is composed of red light, green light, and blue light spectrum light emitters having a wavelength-emission energy distribution such that white light is generated by color mixing, and red light and green light emitted from each light emitter. The light amount of each hue light is adjusted so that blue light is mixed to become white light.

【0032】撮像部14は、投光部13の上方に配置さ
れたカラーテレビカメラ15によってモデル基板P1か
らの反射光を3原色のカラー信号R,G,Bに変換して
画像データ処理部2へ供給する。
The image pickup unit 14 converts the reflected light from the model substrate P1 into color signals R, G, and B of three primary colors by a color television camera 15 arranged above the light projecting unit 13, and converts the reflected light into image data processing unit 2. Supply to

【0033】この撮像動作で得られた3原色のカラー信
号R,G,Bは、A/D変換部21で画像データに変換
され、メモリ部22にリアルタイムで記憶される。次い
で、制御部30はメモリ部22から各色相に対応する画
像データを画像処理部24へ転送する。画像処理部24
では各色相の画像データを各色相別の適当な閾値で2値
化するなどして、赤色、緑色、青色のパターンを抽出す
る。
The color signals R, G, and B of the three primary colors obtained by this imaging operation are converted into image data by the A / D converter 21 and stored in the memory 22 in real time. Next, the control unit 30 transfers the image data corresponding to each hue from the memory unit 22 to the image processing unit 24. Image processing unit 24
Then, red, green, and blue patterns are extracted by binarizing image data of each hue with an appropriate threshold value for each hue.

【0034】また、制御部30は画像処理部24を制御
して、各ランドの撮像パターンについて明度をチェック
するなどして各ランドの位置などを識別する。この後、
制御部30は各色相パターンとランド位置データとに基
づいて、被検査基板P2を検査するのに必要な判定デー
タを作成し、これをティーチング部27に記憶し、ティ
ーチングモードを終了する。
The control unit 30 controls the image processing unit 24 to identify the position of each land by checking the brightness of the imaging pattern of each land. After this,
The control unit 30 creates determination data necessary for inspecting the substrate P2 to be inspected based on each hue pattern and land position data, stores the determination data in the teaching unit 27, and ends the teaching mode.

【0035】(検査モード)次に、図2に示すフローチ
ャート図を参照しながら、被検査基板P2に印刷された
クリーム状はんだの印刷状態の良否を検査する動作につ
いて説明する。
(Inspection Mode) Next, the operation of inspecting the quality of the printed state of the cream solder printed on the substrate P2 to be inspected will be described with reference to the flowchart shown in FIG.

【0036】検査モードに移行すると、制御部30はテ
ィーチング部27やキーボード31からその日の日付デ
ータや被検査基板P2のIDナンバー(識別番号)など
を取り込むと共に、ティーチング部27から判定データ
を読み出し、これを検査部26に供給する(ステップS
1)。
When the mode is shifted to the inspection mode, the control unit 30 fetches the date data of the day and the ID number (identification number) of the substrate P2 to be inspected from the teaching unit 27 and the keyboard 31, and reads the judgment data from the teaching unit 27. This is supplied to the inspection unit 26 (step S
1).

【0037】次いで、制御部30は撮像条件やデータの
処理条件を整えた後、検査をスタートさせる(ステップ
S2)。被検査基板P2の供給があれば(ステップS
3)、Y軸テーブル部12上に被検査基板P2をセット
し(ステップS4)、ティーチングモード時と同様に画
像処理部24にて各色相パターンの検出を行い、各色相
パターンとランド位置データとに基づいて被検査データ
を作成する(ステップS5,S6)。
Next, the control unit 30 starts the inspection after setting the imaging conditions and the data processing conditions (step S2). If the substrate to be inspected P2 is supplied (Step S
3) The substrate P2 to be inspected is set on the Y-axis table section 12 (step S4), and each hue pattern is detected by the image processing section 24 in the same manner as in the teaching mode, and each hue pattern, land position data and Inspection data is created based on the data (steps S5 and S6).

【0038】次いで、制御部30は被検査データを検査
部26に転送し、この被検査データと判定データとを比
較し、被検査基板P2上の各ランドにつきはんだ印刷状
態の良否を判定する(ステップS7)。
Next, the control unit 30 transfers the data to be inspected to the inspection unit 26, compares the data to be inspected with the determination data, and determines the quality of the solder printing state for each land on the substrate to be inspected P2 ( Step S7).

【0039】判定結果が良であれば、検査結果記憶部2
8に検査結果を記憶し(ステップS8)、その被検査基
板P2を搬出する(ステップS9)。判定結果が不良で
あれば、判定結果を表示装置32やプリンタ33に供給
して表示およびプリントアウトし(ステップS10,S
11)、その後に検査結果記憶部28に検査結果を記憶
して(ステップS8)、被検査基板P2を搬出する(ス
テップS9)。表示およびプリントアウトする内容とし
ては、被検査基板P2上の不良箇所の位置、部品名称、
不良内容等である。
If the judgment result is good, the inspection result storage unit 2
The inspection result is stored in step S8 (step S8), and the inspection target substrate P2 is unloaded (step S9). If the judgment result is bad, the judgment result is supplied to the display device 32 or the printer 33 to be displayed and printed out (Steps S10 and S10).
11) After that, the inspection result is stored in the inspection result storage unit 28 (Step S8), and the inspection target substrate P2 is unloaded (Step S9). The contents to be displayed and printed out include the position of a defective portion on the substrate to be inspected P2, the component name,
The content is defective.

【0040】この一連の処理(ステップS3〜S11)
を被検査基板P2の供給が続く限り繰り返し、被検査基
板P2の供給が途切れると、被検査基板P2の検査が終
了したか判定し(ステップS12)、終了していなけれ
ばステップS3以降の処理を繰り返す。終了していれば
検査モードを終了する。
This series of processing (steps S3 to S11)
Is repeated as long as the supply of the substrate to be inspected P2 continues. If the supply of the substrate to be inspected P2 is interrupted, it is determined whether or not the inspection of the substrate to be inspected P2 has been completed (Step S12). repeat. If it has been completed, the inspection mode ends.

【0041】(検査結果の表示)こうして検査結果記憶
部28に記憶された検査結果は、オペレータがキーボー
ド31を操作することによって表示装置32に表示する
ことができる。図3は、検査結果記憶部28に記憶され
た検査結果を、表示装置32に部品単位で表示する場合
の一例を示す図である。
(Display of Inspection Results) The inspection results thus stored in the inspection result storage unit 28 can be displayed on the display device 32 by operating the keyboard 31 by the operator. FIG. 3 is a diagram illustrating an example of a case where the inspection result stored in the inspection result storage unit 28 is displayed on the display device 32 in units of parts.

【0042】同図において、図(a)は被検査基板P2
の各はんだ印刷箇所の良否を示す基板画像図であり、図
(b)はその中のある部品のはんだ印刷箇所の良否を示
す部品画像図であり、図(c)は図(b)に表示された
部品の部品名称および不良内容を説明する表示図であ
る。
FIG. 3A shows a substrate P2 to be inspected.
(B) is a component image diagram showing the quality of a solder printed portion of a certain component in the printed portion, and FIG. (C) is displayed in FIG. (B). FIG. 7 is a display diagram for explaining a component name and a defect content of a selected component.

【0043】図(a)の基板画像は斜線で示すランドL
Aに印刷されたクリーム状はんだの印刷状態が不良であ
ること、斜線で示されていないランドLAに印刷された
クリーム状はんだの印刷状態は良好であることを示して
いる。
The substrate image shown in FIG.
This indicates that the printing state of the cream-like solder printed on A is poor, and that the printing state of the cream-like solder printed on the land LA, which is not indicated by oblique lines, is good.

【0044】そして、部品単位に複数のランドLAを破
線で区切って示しており、2つのランドLAからなる角
チップ系部品、3つのランドLAからなるトランジスタ
系部品、8つのランドLAからなるIC系部品をそれぞ
れ示している。
A plurality of lands LA are indicated by broken lines in units of parts, and a square chip system component including two lands LA, a transistor system component including three lands LA, and an IC system including eight lands LA. Each part is shown.

【0045】ところで、図(a)の基板画像は不良箇所
を特定できるが、不良内容を特定することはできない。
そこで、オペレータがキーボード31を操作して画面上
で所望の部品、例えばトランジスタを指定すると、図
(b)に示すように、指定したトランジスタの3つのラ
ンドLA1〜LA3の画像が拡大して表示される。
By the way, in the board image shown in FIG. 3A, a defective portion can be specified, but the content of the defect cannot be specified.
Then, when the operator operates the keyboard 31 to specify a desired part, for example, a transistor on the screen, as shown in FIG. 3B, the images of the three lands LA1 to LA3 of the specified transistor are enlarged and displayed. You.

【0046】この例では、パッド1のランドLA1とパ
ッド3のランドLA3に対するクリーム状はんだの印刷
状態が不良であり、パッド2のランドLA2に対するク
リーム状はんだの印刷状態が良好であることを示してい
る。すなわち、ランドLA1のクリーム状はんだSD1
は左上に位置ずれしており、ランドLA3のクリーム状
はんだSD3は不足気味になっていることを示してい
る。
This example shows that the printed state of the creamy solder on the land LA1 of the pad 1 and the land LA3 of the pad 3 is poor, and the printed state of the creamy solder on the land LA2 of the pad 2 is good. I have. That is, the creamy solder SD1 of the land LA1
Is shifted to the upper left, which indicates that the creamy solder SD3 on the land LA3 is running short.

【0047】このトランジスタの部品名称「TR10
0」と不良内容「パッド1−ずれ、パッド3−はんだ
少」とは、図(c)に示すように文字で表示される。図
(c)の表示は図(b)の表示と同一画面に表示しても
よい。
The component name of this transistor "TR10
"0" and the defect content "pad 1-shift, pad 3-low solder" are displayed by characters as shown in FIG. The display in FIG. (C) may be displayed on the same screen as the display in FIG.

【0048】図4は、検査結果記憶部28に記憶された
検査結果を、表示装置32にランド(マスク)単位で表
示する場合の一例を示す図である。同図において、図
(a)は被検査基板P2中の不良箇所の位置を示す基板
画像図であり、図(b)はその中のあるランドのはんだ
印刷箇所の良否を示すランド画像図であり、図(c)は
図(b)に表示されたランドの不良内容を説明する表示
図である。
FIG. 4 is a diagram showing an example of a case where the inspection results stored in the inspection result storage section 28 are displayed on the display device 32 in units of lands (masks). In the same figure, FIG. 7A is a board image diagram showing a position of a defective portion in the inspected board P2, and FIG. 7B is a land image diagram showing the quality of a solder printed portion of a certain land therein. And (c) is a display diagram for explaining the defect content of the land displayed in (b).

【0049】図4と同様に、図(a)の基板画像は斜線
で示すランドLAに印刷されたクリーム状はんだの印刷
状態が不良であること、斜線で示されていないランドL
Aに印刷されたクリーム状はんだの印刷状態は良好であ
ることを示している。
Similarly to FIG. 4, the board image shown in FIG. 4A indicates that the cream solder printed on the lands LA indicated by diagonal lines has a bad printing state, and the land L not indicated by diagonal lines indicates
The printed state of the cream solder printed on A is good.

【0050】しかし、図(a)の基板画像は不良箇所を
特定することはできるが、不良内容を特定することはで
きない。そこで、オペレータがキーボード31を操作し
て画面上で所望のランドを指定すると、図(b)に示す
ように、その指定したランドLAの画像が拡大して表示
される。
However, in the board image shown in FIG. 5A, a defective portion can be specified, but the content of the defect cannot be specified. Therefore, when the operator operates the keyboard 31 to specify a desired land on the screen, the image of the specified land LA is enlarged and displayed as shown in FIG.

【0051】この例では、ランドLAのクリーム状はん
だSDが左上に位置ずれしていることを示している。図
(c)は、指定されたランドの不良内容が「ずれ」であ
ることを表示している。図(b)の表示と図(c)の表
示とは同一画面に表示してもよい。
This example shows that the cream solder SD of the land LA is displaced to the upper left. FIG. 9C shows that the defect content of the designated land is “shift”. The display of FIG. (B) and the display of FIG. (C) may be displayed on the same screen.

【0052】以上のように、本実施の形態においては、
モデル基板P1についての3原色カラー信号を画像処理
部24で処理し、印刷状態が良好な各はんだ印刷箇所に
ついて赤色、緑色、青色の各色相パターンを検出し、判
定データを作成する。
As described above, in the present embodiment,
The three primary color signals for the model substrate P1 are processed by the image processing unit 24, and red, green, and blue hue patterns are detected for each solder printed portion having a good printing state, and determination data is created.

【0053】次いで、被検査基板P2についての3原色
カラー信号を画像処理部24で処理し、被検査基板P2
上のはんだ印刷箇所について同様の各色相パターンを検
出して被検査データを作成する。
Next, the three primary color signals for the substrate to be inspected P2 are processed by the image processing section 24, and
The same hue pattern is detected for the upper solder print portion to create inspection data.

【0054】そして、この被検査データと判定データと
を検査部26で比較し、この比較結果から被検査基板P
2の各はんだ印刷箇所について印刷状態の良否を判定
し、検査結果データを検査結果記憶部28に記憶する。
Then, the inspection data and the judgment data are compared in the inspection section 26, and based on the comparison result, the inspection target substrate P
The quality of the printed state is determined for each solder printed portion of No. 2 and the inspection result data is stored in the inspection result storage unit 28.

【0055】オペレータは検査結果記憶部28に記憶さ
れた検査結果データを読み出し、不良と判定されたはん
だ印刷箇所の印刷状態の画像および不良内容を表示装置
32に表示することで、不良内容を迅速かつ正確に確認
することができる。
The operator reads out the inspection result data stored in the inspection result storage unit 28 and displays the image of the printing state of the solder printing portion determined to be defective and the details of the defect on the display device 32, so that the details of the defect can be promptly determined. And it can be confirmed accurately.

【0056】[0056]

【発明の効果】本発明によれば、プリント基板上に印刷
されたクリーム状はんだの印刷状態を部品単位またはラ
ンド単位で画像によって表示すると共に、不良内容の詳
細を文字によって表示するので、オペレータが不良箇所
の状況を容易かつ正確に確認すすることができ、さらに
は印刷不良箇所の正確な情報をクリームはんだ印刷機に
フィードバックすることができるという有利な効果が得
られる。
According to the present invention, the printing state of the creamy solder printed on the printed circuit board is displayed as an image in component units or land units, and the details of the defect contents are displayed in characters, so that the operator can use it. The advantageous effect that the status of the defective portion can be easily and accurately confirmed, and the accurate information of the defective portion can be fed back to the cream solder printing machine can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明によるはんだ検査装置の一実施の形態を
示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of a solder inspection apparatus according to the present invention.

【図2】本発明によるはんだ検査装置の検査手順を示す
フローチャート図である。
FIG. 2 is a flowchart showing an inspection procedure of the solder inspection apparatus according to the present invention.

【図3】検査結果を部品単位で表示する場合の一例を示
す図である。
FIG. 3 is a diagram illustrating an example of a case where an inspection result is displayed in units of parts;

【図4】検査結果をランド単位で表示する場合の一例を
示す図である。
FIG. 4 is a diagram illustrating an example of a case where an inspection result is displayed in units of lands.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 画像データ入力部 2 画像データ処理部 11 コンベア 12 Y軸テーブル部 13 投光部 13R,13G,13B 発光体 14 撮像部 15 カラーテレビカメラ 16 X軸テーブル部 21 A/D変換部 22 メモリ部 23 撮像コントローラ 24 画像処理部 25 XYテーブルコントローラ 26 検査部 27 ティーチング部 28 検査結果記憶部 29 バスライン 30 制御部(CPU) 31 キーボード 32 表示装置 33 プリンタ 34 通信部 35 フロッピーディスク装置 LA,LA1〜LA3 ランド P1 モデル基板 P2 被検査基板 SD,SD1〜SD3 はんだ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Image data input part 2 Image data processing part 11 Conveyor 12 Y-axis table part 13 Light emitting part 13R, 13G, 13B Light-emitting body 14 Imaging part 15 Color television camera 16 X-axis table part 21 A / D conversion part 22 Memory part 23 Imaging controller 24 Image processing unit 25 XY table controller 26 Inspection unit 27 Teaching unit 28 Inspection result storage unit 29 Bus line 30 Control unit (CPU) 31 Keyboard 32 Display device 33 Printer 34 Communication unit 35 Floppy disk device LA, LA1 to LA3 Land P1 Model board P2 Inspection board SD, SD1-SD3 Solder

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 プリント基板を撮像して得られる画像デ
ータに基づき前記プリント基板に印刷されたはんだの印
刷状態を検査するはんだ検査装置において、 複数のはんだ印刷箇所の検査結果に基づいた指定された
印刷不良箇所の印刷状態の画像および不良内容を表示す
る画像表示手段を備えることを特徴とするはんだ検査装
置。
1. A solder inspection apparatus for inspecting a printing state of solder printed on a printed circuit board based on image data obtained by imaging a printed circuit board, wherein the solder inspection apparatus is configured to specify a designated state based on an inspection result of a plurality of solder printing locations. A solder inspection apparatus, comprising: an image display unit that displays an image of a printing state of a printing failure location and details of the failure.
【請求項2】 はんだが印刷されたプリント基板を撮像
する撮像手段と、 前記撮像手段によって撮像した前記プリント基板の画像
から被検査データを作成する画像処理手段と、 前記被検査データと予め入力した基準となる判定データ
とを比較して各はんだ印刷箇所のはんだの印刷状態を検
査する検査手段と、 前記検査手段で検査した検査結果データを記憶する検査
結果記憶手段と、 前記検査結果記憶手段に記憶された検査結果データに基
づいて指定された印刷不良箇所の印刷状態の画像および
不良内容を表示する画像表示手段と、を備えることを特
徴とするはんだ検査装置。
2. An image pickup means for picking up an image of a printed circuit board on which solder is printed, an image processing means for creating data to be inspected from an image of the printed circuit board picked up by the image pickup means, and inputting the data to be inspected in advance. Inspection means for comparing the printed state of the solder at each solder print location by comparing with reference determination data, inspection result storage means for storing inspection result data inspected by the inspection means, and the inspection result storage means A solder inspection apparatus, comprising: an image display unit that displays an image of a printing state of a printing failure point designated based on the stored inspection result data and details of the failure.
【請求項3】 前記画像表示手段は、指定された印刷不
良箇所をはんだ印刷箇所毎にランド単位で、または複数
のはんだ印刷箇所をまとめた部品単位で表示することを
特徴とする請求項1または2記載のはんだ検査装置。
3. The image display means according to claim 1, wherein the designated defective printing portion is displayed in units of lands for each solder printing portion, or in units of components in which a plurality of solder printing portions are put together. 2. The solder inspection device according to 2.
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