JPS63111404A - Inspecting method for substrate - Google Patents

Inspecting method for substrate

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Publication number
JPS63111404A
JPS63111404A JP61256991A JP25699186A JPS63111404A JP S63111404 A JPS63111404 A JP S63111404A JP 61256991 A JP61256991 A JP 61256991A JP 25699186 A JP25699186 A JP 25699186A JP S63111404 A JPS63111404 A JP S63111404A
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JP
Japan
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printed circuit
image
circuit board
board
inspected
Prior art date
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Pending
Application number
JP61256991A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shigeki Kobayashi
茂樹 小林
Toshio Yagawa
矢川 利夫
Hideaki Takahara
秀明 高原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Tateisi Electronics Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Omron Tateisi Electronics Co filed Critical Omron Tateisi Electronics Co
Priority to JP61256991A priority Critical patent/JPS63111404A/en
Publication of JPS63111404A publication Critical patent/JPS63111404A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To inspect the mounting state of parts on a substrate by coating the substrate to be inspected with preflux containing a daylight excited fluorescent agent, and then projecting visible homogeneous light and picking up an image. CONSTITUTION:An X-Y table part 14, a lighting part 12, an image pickup part 15, and a processing part 16 are provided and parameters (decision data) on respective parts 13a on a reference printed circuit board 10-1 which are obtained by picking up an image of the reference printed circuit board 10-1 are compared with parameters (data to be inspected) on respective parts 13b on the printed circuit board 10-2 to be inspected by picking up their image, thereby inspecting whether or not those respective parts 13 are mounted correctly. The printed circuit boards 10-1 and 10-2 are coated with the preflux containing the daylight excited fluorescent agent. Those printed circuit boards are picked up while irradiated with the visible homogeneous light and the light emission of a fluorescent layer 46 is decided by the processing part 16 to inspect the mounting state of the respective parts 13b.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、基板を撮像して得られたデータを処理して前
記基板上の部品実装状態を検査する基板の検査方法に関
する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a method for inspecting a board, which processes data obtained by imaging a board to inspect the state of component mounting on the board.

(従来の技術) プリント基板に抵抗器や半導体素子等の各種チップ部品
をマウントするときにおいて自動マウント装置を用いた
場合、マウントデータどうりに部品がマウントされてい
ないことがある。
(Prior Art) When an automatic mounting device is used to mount various chip components such as resistors and semiconductor elements on a printed circuit board, the components may not be mounted according to the mounting data.

このため、このような自動マウント装置等を用いる場合
には、マウント後にプリント基板をチェックして、この
マウント基板上の正規の位置に正当なチップ部品が正し
い姿勢(位置、方向)でマウントされているかどうか、
また脱落がないかどうかを検査する必要がある。
Therefore, when using such automatic mounting equipment, check the printed circuit board after mounting to ensure that the correct chip components are mounted in the correct position and orientation (position, direction) on the mounting board. Whether there is
It is also necessary to inspect whether or not it has fallen off.

しかしこのような検査を従来と同じように人手による目
視検査で行なっていたのでは、検査ミスの発生を完全に
無くすことができず、また検査速麿を高めることができ
ないという問題がある。
However, if such an inspection is performed by manual visual inspection as in the past, there are problems in that the occurrence of inspection errors cannot be completely eliminated and inspection speed cannot be increased.

そこで、近年、この種の検査を自動的に行なうことがで
きるプリント基板の自動検査装置が各メーカから種々提
案されている。
Therefore, in recent years, manufacturers have proposed various automatic inspection devices for printed circuit boards that can automatically perform this type of inspection.

第10図は、このような自動検査装置の一例を示づブロ
ック図である。
FIG. 10 is a block diagram showing an example of such an automatic inspection device.

この図に示す自動検査装置は、部品1が実装された被検
査プリント塁根2−2を撮像するTVカメラ3と、キー
ボード8から入力されたデータ、つまり第11図に示す
ように検査基準となる丼準プリントM板2−1の種類等
に関するf−タおよびこの基準プリント基板2−1上に
載っている各部品1の種類、配置位置、取付は姿勢、形
状等に関するデータ、およびこれら各部品1の検査処理
手順等に関する情報(データ)を記憶する記憶部4と、
この記憶部4に記憶されている情報と前記TVカメラ3
からの画像によって示される情報とを比較して前記被検
査プリント駐板2−2上に全ての部品1が有るかどうか
、またこれらの部品1が位置ずれ等を起こしていないか
どうかを判定する判定回路5と、この判定回路50判定
結果を表示したり、プリントアウトしたりするモニタ6
とを備えて構成されている。
The automatic inspection device shown in this figure includes a TV camera 3 that images the printed base 2-2 to be inspected on which the component 1 is mounted, and data input from the keyboard 8, that is, inspection standards as shown in FIG. Data regarding the type of the Narudon semi-printed M board 2-1, the type, arrangement position, mounting, posture, shape, etc. of each component 1 on this reference printed circuit board 2-1, and data regarding the posture, shape, etc. a storage unit 4 that stores information (data) regarding inspection processing procedures for the component 1;
The information stored in this storage unit 4 and the TV camera 3
It is determined whether all the parts 1 are present on the print board to be inspected 2-2 and whether these parts 1 are not misaligned or not by comparing the information shown by the image from A determination circuit 5 and a monitor 6 for displaying or printing out the determination results of this determination circuit 50.
It is composed of:

(発明が解決しようとする問題点) ところでこの種の自動検査装置によって検査される部品
1のなかには、基板の地色と似ているものがあり、この
ような部品1については部品部分の信号レベルと、背景
部分の信号レベルとがほぼ同じくなってしまい、この部
品1が脱落していても、また位置ずれ等を起していても
これを検出することができないという問題があった。
(Problem to be Solved by the Invention) By the way, some of the parts 1 inspected by this type of automatic inspection device have a color similar to the base color of the board, and for such parts 1, the signal level of the part The signal level of the background portion is almost the same, and there is a problem in that even if the component 1 has fallen off or is misaligned, it cannot be detected.

そこで、被検査プリント基板2−2のベース基板上に、
第12図(A>、(B)に示す如く紫外線励起蛍光剤入
りのレジスト50を塗布してレジストW152を形成し
、これを紫外線光源によって照明したとき、ベース基板
上にマウントされている部品1のシルエツト像が得られ
るようにしたものも既に開発されているが、このような
ものでは、第13図に示す如くランド51にレジスト層
52が形成されていないので、部品1の完全なシルエツ
ト像を得ることができないという問題があった。
Therefore, on the base board of the printed circuit board 2-2 to be inspected,
As shown in FIGS. 12A and 12B, a resist 50 containing an ultraviolet-excited fluorescent agent is applied to form a resist W152, and when this is illuminated with an ultraviolet light source, the parts mounted on the base substrate 1 A device that can obtain a silhouette image of the part 1 has already been developed, but in such a device, the resist layer 52 is not formed on the land 51 as shown in FIG. The problem was that I couldn't get it.

本発明は上記の事情に鑑み、部品の完全なシルエツト像
を得ることができ、これによって部品の色と、基板の地
色とが同じ場合や似ている場合でも、全部品について、
これらが脱落していないか、位置ずれ等を起していない
かどうかを検査することができるとともに、部品の極性
や基板マークが正しいかどうかを検査することができる
基板の検査方法を提供することを目的としている。
In view of the above circumstances, the present invention makes it possible to obtain a complete silhouette image of a component, and thereby, even when the color of the component and the background color of the board are the same or similar, for all components,
To provide a board inspection method capable of inspecting whether these components have fallen off, misaligned, etc., and also inspecting whether the polarity of components and board marks are correct. It is an object.

(問題点を解決するための手段) 上記問題点を解決するするために本発明による基板の検
査方法は、基板を撮像して1qられたデータを処理して
前記基板上の部品実装状態を検査する基板の検査方法に
おいて、昼光励起蛍光剤を含むプリフラックスが塗布さ
れた後、部品が実装された基板を可視単色光で照明しな
がら囮像し、この元画結果の蛍光部分と、非蛍光部分と
を区別して、前記基板上の部品実装状態を検査すること
を特徴としている。
(Means for Solving the Problems) In order to solve the above-mentioned problems, the board inspection method according to the present invention involves taking an image of the board, processing the obtained data, and inspecting the component mounting state on the board. In a method for inspecting boards, after a preflux containing a daylight-excited fluorescent agent is applied, a decoy image is taken of the board on which components are mounted while illuminating it with visible monochromatic light, and the fluorescent parts of this original image are compared with the non-fluorescent parts. The present invention is characterized in that the mounting state of components on the board is inspected by distinguishing between parts.

(実施例) 第1図は本発明による基板の検査方法の第1実施例を適
用した基板検査装置の一例を示すブロック図である。
(Embodiment) FIG. 1 is a block diagram showing an example of a substrate inspection apparatus to which a first embodiment of the substrate inspection method according to the present invention is applied.

この図に示す基板検査装置は、X−Yテーブル部14と
、照明部12と、!Iυ像部15と、処理部16とを備
えており、基準プリン1〜基板10−1をR@して得ら
れた前記基準プリント基板10−1上にある各部品13
aのパラメータ(判定データ)と、被検査プリント塞板
10−2を囮像して得られた前記被検査プリント基板1
0−2上にある各部品13bのパラメータ(被検査デー
タ)とを比較して、これらの各部品13bが正しくマウ
ントされているかどうかを検査する。
The board inspection apparatus shown in this figure includes an X-Y table section 14, an illumination section 12, and! It is equipped with an Iυ image unit 15 and a processing unit 16, and each component 13 on the reference printed circuit board 10-1 obtained by R@ the reference printed circuit board 1 to the board 10-1.
a parameter (judgment data) and the printed circuit board 1 to be inspected obtained by taking a decoy image of the printed board 10-2 to be inspected.
The parameters (data to be inspected) of each component 13b on 0-2 are compared with each other to check whether each of these components 13b is correctly mounted.

この場合、前記基準プリント基板10−1は次に述べる
ようにして作られている。
In this case, the reference printed circuit board 10-1 is manufactured as described below.

まず、両面(または片面)に銅箔が張られた生基板にエ
ツチング加工、レジスト加工、穴あけ加工等を施して第
2図(A)に示すような素基板11を作成する。次いで
、この素基板11の基板マークエリア55を除いた面上
に昼光励起蛍光剤(例えば、シンロイヒ株式会社製のF
Z−6013や、FZ−6011など)を含むプリフラ
ックス45を塗布して蛍光層46を形成した後、第2図
(B)に示す如くこの蛍光層46上の、部品13aがマ
ウントされる部分に、昼光励起蛍光剤を含む接着剤47
、または昼光励起蛍光剤を合むソルダーペースト48を
塗布する。そして第2図(C)に示す如く、この上に部
品13aをマウントしたちのが基準プリント基板10−
1となる。
First, a blank substrate 11 as shown in FIG. 2(A) is prepared by performing etching, resist processing, hole drilling, etc. on a raw substrate having copper foil covered on both sides (or one side). Next, a daylight-excited fluorescent agent (for example, F manufactured by Shinroihi Co., Ltd.
After forming a fluorescent layer 46 by applying a preflux 45 containing (Z-6013, FZ-6011, etc.), a portion of the fluorescent layer 46 where the component 13a is mounted is formed as shown in FIG. 2(B). , an adhesive 47 containing a daylight-excited fluorescent agent.
, or apply a solder paste 48 containing a daylight-excited fluorescent agent. As shown in FIG. 2(C), the reference printed circuit board 10- is mounted with the component 13a on top of it.
It becomes 1.

また、前記被検査プリント基板10−2も前記基準プリ
ント基板10−1と同様な手順で作られる。
Further, the printed circuit board 10-2 to be inspected is also manufactured in the same procedure as the reference printed circuit board 10-1.

またX−Yテーブル部14は、前記各プリント基板10
−1.10−2が装着すれ6X−Yテーブル19と、前
記処理部16からの制御信号に基づいて前記X−Yテー
ブル19を駆動する2つのパルスモータ17.18とを
備えており、X−Yテーブル19上にセットされた基準
プリント基板1O−1(または、被検査プリント基板1
O−2)は照明部12によって照明されながら撮像部1
5によって撮像される。
Further, the X-Y table section 14 includes each of the printed circuit boards 10
-1.10-2 is equipped with a 6X-Y table 19 and two pulse motors 17 and 18 that drive the X-Y table 19 based on control signals from the processing section 16, - Reference printed circuit board 1O-1 (or printed circuit board 1 to be inspected) set on Y table 19
O-2) is illuminated by the illumination unit 12 while the imaging unit 1
The image is taken by 5.

照明部12は、前記処理部16からの制御信号に基づい
てオン/オフ制御や調光制御される白色光源7と、この
白色光源7が発した白色光から可視単色光(この可視単
色光は前記昼光励起蛍光剤を励起する波長の光)だけを
選択的に透過させる励起光選択フィルタ9と、この励起
光選択フィルタ9によって選択された可視単色光をX−
Yテーブル部14側に反射して各プリント基板10−1
.10−2を照明するとともに、これら各プリント基板
10−1.10−2からの光を透過させるハーフミラ−
20とを備えており、このハーフミラ−20を透過した
光はl1fi像部15に供給される。
The illumination unit 12 includes a white light source 7 that is on/off controlled and dimmed based on a control signal from the processing unit 16, and a visible monochromatic light from the white light emitted by the white light source 7 (this visible monochromatic light is An excitation light selection filter 9 selectively transmits only the light having a wavelength that excites the daylight-excited fluorescent agent, and visible monochromatic light selected by the excitation light selection filter 9 is
Each printed circuit board 10-1 is reflected to the Y table section 14 side.
.. A half mirror that illuminates the printed circuit boards 10-2 and transmits light from each of the printed circuit boards 10-1 and 10-2.
20, and the light transmitted through this half mirror 20 is supplied to the l1fi image section 15.

撮像部15は、前記処理部16からの制御信号によって
制御されるカラーTVカメラ21を備えており、このカ
ラーTVカメラ21によって前配照明部12を介して供
給される前記各プリント基板10−1.10−2の光学
画像を電気信@(RlG、Bカラー信@)に変換して処
理部16へ供給する。
The imaging section 15 includes a color TV camera 21 that is controlled by a control signal from the processing section 16, and each of the printed circuit boards 10-1 supplied via the front illumination section 12 by the color TV camera 21. The optical image of .10-2 is converted into electric signal@(RlG, B color signal@) and supplied to the processing section 16.

この場合、照明部12によって各プリント基板10−1
.10−2を照明すれば、各プリント基板10−1.1
0−2上の蛍光W346が蛍光(例えば、赤色の光)を
発するので、第3図(A)に示す如くプリント基板10
−1.10−2の地色が茶色で、かつこれら各プリント
基板10−1.10−2上にマウントされている各部品
13a。
In this case, each printed circuit board 10-1 is
.. 10-2, each printed circuit board 10-1.1
Since the fluorescent W346 on 0-2 emits fluorescent light (for example, red light), the printed circuit board 10 as shown in FIG. 3(A)
- Each component 13a whose ground color is brown and which is mounted on each of these printed circuit boards 10-1 and 10-2.

13bの色が茶色や黒色のときでも、第3図(B)、(
C)に示す如く泥像部15から出力されるR、G、Bカ
ラー信号のうちRカラー信号の走査ラインaに対応する
部分に着目すれば、部品13a、13b部分の信号レベ
ルよりその背景部分の信号レベルの方が高い。
Even when the color of 13b is brown or black, Fig. 3 (B), (
As shown in C), if we focus on the portion of the R, G, and B color signals output from the image section 15 that corresponds to the scanning line a of the R color signal, we can see that the signal level of the components 13a and 13b is higher than that of the background portion. signal level is higher.

したがってこのRカラー信号を閾値T l−11で2値
化するだけで、各部品13a、13b部分と、基板マー
クエリア55部分(第2図(C)参照)のシルエツト像
を得ることができる。
Therefore, by simply binarizing this R color signal using the threshold value Tl-11, a silhouette image of each component 13a, 13b and the board mark area 55 (see FIG. 2(C)) can be obtained.

またこのシルエツト像を用いて前記撮像部15の出力か
ら部品138.13b部分のG画像(または8画像)と
、基板マークエリア55部分のG画像(またはB111
j像)とを各々用いて閾値TH2で2fffi化すれば
、各部品13a、13bの電極83を識別して極性を判
別したり、基板マークの値を読んだりすることができる
Furthermore, using this silhouette image, a G image (or 8 images) of the part 138.13b and a G image (or B111) of the part 138.
By using each image (J image) and converting it into 2fffi with a threshold value TH2, it is possible to identify the electrodes 83 of each component 13a and 13b to determine the polarity or read the value of the board mark.

また処理部16は、A/D変換部23と、メ[す24と
、ティーチングテーブル25と、画像処理部26と、判
定部22と、X−Yステージコントローラ27と、搬像
コントローラ38と、CRT表示器28と、プリンタ2
つと、ギーボード30と、制御部(CPU)31とを備
えており、ディーチングモードのとき、前記躍像部15
から供給されるR、G、Bカラー信号(前記基準プリン
ト基板10−1のRSG、Bカラー信号)を処理して前
記基準プリント基板10−1上にある各部品13aや基
板マークエリア55の特徴パラメータを抽出して判定デ
ータファイルを作成し、また検査モードのとき、前記!
Ii像部15から供給されるR、G、Bカラー信号(前
記被検査プリント基板10−2のR,01B力ラー信号
)を処理して前記被検査プリント基根10−2上にある
各部品13bや基板マークエリア55の特徴パラメータ
を抽出して被検査データファイルを作成する。
The processing section 16 also includes an A/D conversion section 23, a computer 24, a teaching table 25, an image processing section 26, a determination section 22, an XY stage controller 27, an image transport controller 38, CRT display 28 and printer 2
1, a gee board 30, and a control unit (CPU) 31, and when in the feeding mode, the leaping unit 15
The characteristics of each component 13a and board mark area 55 on the reference printed circuit board 10-1 are determined by processing the R, G, and B color signals (RSG and B color signals of the reference printed circuit board 10-1) supplied from the reference printed circuit board 10-1. Extract the parameters and create a judgment data file, and when in inspection mode, the above!
The R, G, B color signals (R, 01B color signals of the printed circuit board 10-2 to be inspected) supplied from the image unit 15 are processed to detect each component on the printed circuit board 10-2 to be inspected. 13b and the characteristic parameters of the board mark area 55 are extracted to create a data file to be inspected.

そしで、この被検査データファイルと前記判定データフ
ァイルとを比較して、この比較結果から被検査プリント
基板10−2の基板マークの値や各部品13bの極性が
正しいかどうか、およびこれらの部品13bが、位置ず
れなしで全てマウントされているかどうかなどを検査す
る。
Then, this inspected data file is compared with the judgment data file, and based on the comparison result, it is determined whether the board mark value of the inspected printed circuit board 10-2 and the polarity of each component 13b are correct, and whether or not these components are correct. 13b are all mounted without any positional deviation.

A/D変換部23は前記1心像部15からR,G、B信
号を供給されたとぎに、これを△/D変換(アナログ・
ディジタル変換)シて、これを制御部31へ供給する。
When the A/D converter 23 is supplied with the R, G, and B signals from the one-center image unit 15, the A/D converter 23 converts them into Δ/D (analog
(digital conversion) and then supplies this to the control section 31.

またメモリ24は、I’(AM (ランダム・アクセス
・メモリ)等を備えており、前記制御部31の作業エリ
アとして使われる。
The memory 24 also includes I' (AM (Random Access Memory), etc., and is used as a work area for the control section 31.

また画像処理部26は前記υ制御部31を介してR,G
、Bii!ii像データを供給されたとき、このRlG
、8画像データを構成するR信号を閾値TH1で2値化
して各部品13a、13bや基板マーク55部分のシル
エット画像を作成したり、この画像領域の画像信号(R
およびG(またはB))の演算により各部品13a、1
3bの極性および基板マークを識別したり覆るように構
成されてJ3す、ここで1りられた各データは前記制御
部31や判定部22へ供給される。
Further, the image processing section 26 uses the R, G, and G signals via the υ control section 31.
, Bii! ii When the image data is supplied, this RlG
, 8 image data is binarized using a threshold value TH1 to create a silhouette image of each component 13a, 13b and the board mark 55, and the image signal (R
and G (or B)), each part 13a, 1
J3 is configured to identify or cover the polarity of J3 and the board mark of J3.The data obtained here is supplied to the control section 31 and determination section 22.

またティーチングテーブル25は、フロッピーディスク
装置等を備えており、ティーチング時において前記制御
部31から判定データファイル等を供給されたときに、
これを記憶し、また検査時において、前記制御部31が
転送要求を出力したとき、この要求に応じて判定データ
ファイル等を読み出して、これを制御部31や判定部2
2などへ供給する。
The teaching table 25 is equipped with a floppy disk device, etc., and when supplied with a judgment data file etc. from the control section 31 during teaching,
This is stored, and when the control section 31 outputs a transfer request during inspection, the judgment data file etc. is read out in response to this request and transferred to the control section 31 and the judgment section 2.
2 etc.

また判定部22は、検査時において前記制御部31から
判定データファイルを供給され、かつ前記画像処理部2
6から検査データファイルを転送されたとき、これらを
比較判定して、被検査プリント基板10−2の基板マー
クや部品13bの極性等が正しいかどうか、およびこれ
らの部品13bが位置ずれなしで全てマウントされてい
るかどうかなどを判定するように構成されており、この
判定結果は前記制御部31へ供給される。
Further, the determination unit 22 is supplied with a determination data file from the control unit 31 at the time of examination, and the determination unit 22
When the inspection data file is transferred from 6, it is compared and determined whether the board mark of the printed circuit board 10-2 to be inspected, the polarity of the components 13b, etc. are correct, and whether all of these components 13b are correct without any positional deviation. It is configured to determine whether or not it is mounted, and the result of this determination is supplied to the control section 31.

またiaコントO−ラ38は、前記制御部31と、前記
照明部12や撮像部15とを接続するインターフェース
等を備えており、前記制御部31の出力に基づいて前記
照明部12と撮像部15とを制御する。
The ia controller 38 also includes an interface for connecting the control section 31 with the illumination section 12 and the imaging section 15, and based on the output of the control section 31, the illumination section 12 and the imaging section 15.

またX−Yステージコントローラ27は、前記制御部3
1と前記X−Yテーブル部14とを接続するインターフ
ェース等を備えており、前記制御部31の出力に基づい
て前記X−Yテーブル部14を制御する。
Further, the X-Y stage controller 27 includes the control section 3
1 and the X-Y table section 14, and controls the X-Y table section 14 based on the output of the control section 31.

またCRT表示器28は、ブラrクン管(CRT)を備
えており、前記制御部31から画像データ、判定結果、
キー人力データ等を供給されたとき、これを画面上に表
示させる。
The CRT display 28 is equipped with a Braken tube (CRT), and receives image data from the control section 31, judgment results, and
When key human power data etc. are supplied, this is displayed on the screen.

またプリンタ29は、前記制御部31から判定結果等を
供給されたとき、これを予め決められた書式(フォーマ
ット)でプリントアウトする。
Further, when the printer 29 is supplied with the determination result etc. from the control section 31, it prints it out in a predetermined format.

またキーボード30は、操作情報や前記基準プリント基
板10−1に関するデータ、この基準プリント基板10
−1上にある部品13aに関するデータ等を入力するの
に必要な各種キーを備えており、このキーボード30か
ら入力された情報やデータ等は制御部31へ供給される
Further, the keyboard 30 is used to store operation information, data regarding the reference printed circuit board 10-1, and the like.
The keyboard 30 is equipped with various keys necessary for inputting data, etc. regarding the component 13a on the keyboard 30, and information, data, etc. input from the keyboard 30 are supplied to the control section 31.

制御部31は、マイクロプロセツサ等を備えており、次
に述べるように動作する。
The control section 31 includes a microprocessor and the like, and operates as described below.

まず、新たな被検査プリント基板10−2を検査するど
きには、制御部31は、第4図(A)に示す如くメイン
フローチャートのステップST1で第4図(B)のティ
ーチングルーチン32を呼び出し、このルーチン32の
ステップST2で装置各部を制御して照明部12や躍像
部15をオンさせたり、搬像条件やデータの処理条件を
整えたりした後、ステップST3でX−Yテーブル部1
4上に基準プリント基板10−1がセットされたかどう
かをチェックする。2 そして、X−Yテーブル部14上に塁準プリント基板1
0−1がセットされれば、制御部31はステップST3
からステップST4へ分岐し、ここでX−Yテーブル部
14を制御して%Qプリント基板10−1を位置出しし
た後、撮像部15に基準プリント基板10−1を搬像さ
せるとともに、この陽像動作によって得られたRSG、
Bカラー信号をA/D変換部23でA/D変換させなが
ら、この△/D変換結果を(R,G、8画像データ)を
メモリ24にリアルタイムで記憶させる。
First, when inspecting a new printed circuit board 10-2 to be inspected, the control unit 31 calls the teaching routine 32 of FIG. 4(B) in step ST1 of the main flowchart as shown in FIG. 4(A). In step ST2 of this routine 32, each part of the apparatus is controlled to turn on the illumination part 12 and the image movement part 15, and the image transport conditions and data processing conditions are set, and then in step ST3 the X-Y table part 1 is turned on.
It is checked whether the reference printed circuit board 10-1 is set on the board 4. 2 Then, place the standard printed circuit board 1 on the X-Y table section 14.
If 0-1 is set, the control section 31 proceeds to step ST3.
Then, the process branches to step ST4, where the X-Y table section 14 is controlled to position the %Q printed circuit board 10-1, and then the reference printed circuit board 10-1 is imaged by the imaging section 15, and this positive RSG obtained by image motion,
While the B color signal is A/D converted by the A/D converter 23, the Δ/D conversion result (R, G, 8 image data) is stored in the memory 24 in real time.

次いで制御部31は、ステップST5で前記メモリ24
に記憶されているR、G、f3iiTii4/JAデー
タを画像処理部26へ転送させて、この画像処理部26
に前記R,G、[3画像データのRj!j像データを間
rfiT H1で2値化させ、各部品13aおよび基板
マークエリア55のシルエット画像を抽出させるととも
に、ステップST6でこのシルエット画像を用いて前記
R1G、B画像データから各部品13aおよび基板マー
クエリア55の0画像を1山出させる。
Next, the control unit 31 stores the memory 24 in step ST5.
The R, G, f3iiTii4/JA data stored in the image processing unit 26 is transferred to the image processing unit 26.
The above R, G, [Rj of the 3 image data! J image data is binarized using RFIT H1 to extract silhouette images of each component 13a and board mark area 55, and in step ST6, each component 13a and board mark area 55 is extracted from the R1G and B image data using this silhouette image. One pile of 0 images in the mark area 55 is displayed.

次いで制御部31は、ステップST7で画像処理部26
を制御し、前記各部品13aおよび基板マークエリア5
5の0画像を各部分(電極など)の領域に分割した後、
各部品の3原色明度を求めて各部品13aの電極極性お
よび基準プリント基板10−1の基板マークを識別させ
る。
Next, the control unit 31 controls the image processing unit 26 in step ST7.
and control each component 13a and board mark area 5.
After dividing the 0 image of 5 into regions of each part (electrode, etc.),
The brightness of the three primary colors of each component is determined to identify the electrode polarity of each component 13a and the board mark of the reference printed circuit board 10-1.

この後制御部31は、ステップST8で前記シルエット
画像と、前記識別結果とに基づいて、被検査プリント基
板10−2を検査するのに必要な判定データファイルを
作成し、これをティーチングテーブル25に記憶させた
後、このティーチングルーチン32を終了する。
After that, in step ST8, the control unit 31 creates a determination data file necessary for inspecting the printed circuit board 10-2 to be inspected based on the silhouette image and the identification result, and stores this on the teaching table 25. After storing, this teaching routine 32 is ended.

また、このティーチングルーチン32が終了して、検査
モードにされれば、制御部31はメインフローチャート
のステップST9で第4図(C)のフローチャートで示
される検査ルーチン34を呼び出し、この検査ルーチン
34のステップ5T10でティーチングテーブル25や
キーボード30からその日の日付データや、被検査プリ
ント基板10−2のIDナンバ(rA別番号)を取り込
むとともに、ティーチングテーブル25から判定データ
ファイルを読み出して、これを判定部22に供給する。
Further, when this teaching routine 32 is finished and the test mode is set, the control section 31 calls the test routine 34 shown in the flowchart of FIG. 4(C) in step ST9 of the main flowchart, In step 5T10, the date data of the day and the ID number (rA separate number) of the printed circuit board to be inspected 10-2 are read from the teaching table 25 and the keyboard 30, and the judgment data file is read from the teaching table 25 and sent to the judgment unit. 22.

この後、制御部31は、搬像条件やデータの処理条件を
整えた後、ステップST11でX−Yテーブル部14上
に被検査プリント基板10−2がセットされたかどうか
をチェックする。
Thereafter, the control unit 31, after setting image transport conditions and data processing conditions, checks whether the printed circuit board 10-2 to be inspected is set on the XY table unit 14 in step ST11.

そして、これがセットされれば、制御部31はステップ
ST11からステップST12へ分岐し、ここでX−Y
テーブル部14を制御して被検査プリント基板10−2
を位置出しする。この後、制御部31は画像部15に被
検査プリント基板10=1を画像させるとともに、この
ram動作によって得られたR、G、r3信号をA/D
変換部23でA/D変換させながら、この△/D変換結
果(RlG、8画像データ)をメモリ24にリアルタイ
ムで記憶させる。
If this is set, the control section 31 branches from step ST11 to step ST12, where X-Y
By controlling the table section 14, the printed circuit board 10-2 to be inspected
position. After that, the control unit 31 causes the image unit 15 to image the printed circuit board 10=1 to be inspected, and converts the R, G, and r3 signals obtained by this RAM operation into an A/D converter.
While performing A/D conversion in the converting section 23, this Δ/D conversion result (RlG, 8 image data) is stored in the memory 24 in real time.

次いで、制御部31は、ステップ5T13で前記メモリ
24からR,G、8画像データを読み出し、これを画像
処理部26に供給してこの画像データのRii!j像デ
ータを閾値Tl−11で21直化させ、各部品13bお
よび基板マークエリア55のシルエット画像を抽出させ
るとともに、ステップ5T14でこのシルエット画像を
用いて前記R,G、8画像データから各部品13bおよ
び基板マークエリア55のGnfflを特定さける。
Next, in step 5T13, the control section 31 reads R, G, 8 image data from the memory 24, supplies this to the image processing section 26, and processes the Rii! of this image data. J image data is normalized by 21 with a threshold Tl-11 to extract silhouette images of each component 13b and board mark area 55, and in step 5T14, each component is extracted from the R, G, 8 image data using this silhouette image. 13b and Gnffl of the board mark area 55.

次いで制御部31は、ステップ5T15で画像処理部2
6を制御し、前記0画像のティーチングによる各パラメ
ータを用いて各部品13bの電極極性や、被検査プリン
ト基板10−2の基板マークを識別させる。
Next, the control unit 31 controls the image processing unit 2 in step 5T15.
6, and the electrode polarity of each component 13b and the board mark of the printed circuit board 10-2 to be inspected are identified using each parameter obtained by the teaching of the 0 image.

この後制御部31は、ステップ5T16で前記シルエッ
ト画像と、前記識別結果とに基づいて被検査データファ
イルを作成した後、ステップ5T17で前記被検査デー
タファイルを判定部22に転送させて、この被検査デー
タファイルと前記判定データファイルを各々比較させて
、被検査プリント基板10−2上の部品13bが位置ず
れなしで全てマウントされているかどうか、これら各部
品13bの電極極性や基板マークが正しいかどうかなど
を判定させるとともに、ステップ5T18でこの判定結
果をCR7表示器28やプリンタ29に供給して、これ
らを表示させたり、プリントアウトさせたりする。
Thereafter, the control unit 31 creates a data file to be inspected based on the silhouette image and the identification result in step 5T16, and then transfers the data file to be inspected to the determination unit 22 in step 5T17. The inspection data file and the judgment data file are each compared to determine whether all the components 13b on the printed circuit board 10-2 to be inspected are mounted without positional deviation, and whether the electrode polarity and board mark of each component 13b are correct. At step 5T18, the judgment results are supplied to the CR7 display 28 and printer 29 to be displayed or printed out.

このようにこの実施例においては、部品13a(または
、部品13b)をマウントする前の未実装基板上に昼光
励起蛍光剤を含むプリフラックス45を塗布したので、
プリント基板の地色と、各部品13a、13bの色とが
同じ場合でも、これら各部品13a、13bの正確なシ
ルエラt−eを得ることができるとともに、これににつ
て各部品13bの位置ずれ、脱落等に関する検査精度を
大幅に向上させることができる。
As described above, in this embodiment, the preflux 45 containing the daylight-excited fluorescent agent was applied to the unmounted board before the component 13a (or component 13b) was mounted.
Even when the base color of the printed circuit board and the color of each component 13a, 13b are the same, it is possible to obtain accurate sill error t-e of each of these components 13a, 13b, and also to avoid positional deviation of each component 13b. , it is possible to significantly improve the inspection accuracy regarding falling off, etc.

またこの実施例においては、各プリント基板10−1.
10−2を可視単色光ににって照I!II L、このと
き各プリント基板10−2の基板マークエリア55 t
jよびこれら各プリント基板10−1.10−2上にマ
ウントされている各部品13a。
Further, in this embodiment, each printed circuit board 10-1.
Illuminate 10-2 with visible monochromatic light! II L, at this time, the board mark area 55 t of each printed circuit board 10-2
j and each component 13a mounted on each of these printed circuit boards 10-1 and 10-2.

13bからの反射光を閾flu T l−(2で2餡化
して各プリント基板10−1.10−2の基板マークお
よび各部品13a、13bの電極極性等を検知するよう
にしているので、プリント基板の種類を間違ったり、各
プリント基板10−L 10−2上に間違った部品がマ
ウントされていたり、またマウント方向く例えば、電極
の向き〉が間違っていたりした場合に、これを検知する
ことができる。
The reflected light from 13b is divided into two by the threshold flu T l-(2) to detect the board mark of each printed circuit board 10-1, 10-2 and the electrode polarity of each component 13a, 13b. Detects when the type of printed circuit board is wrong, the wrong component is mounted on each printed circuit board 10-L 10-2, or the mounting direction (for example, the direction of the electrode) is wrong. be able to.

第5図は本発明による基板の検査方法の第2実施例を適
用した基板検査装置の一例を示ずブロック図である。な
おこの図において、第1図の各部と対応する部分、には
同一な符号が付しである。
FIG. 5 is a block diagram showing an example of a substrate inspection apparatus to which the second embodiment of the substrate inspection method according to the present invention is applied. In this figure, parts corresponding to those in FIG. 1 are given the same reference numerals.

この図に示す基板検査装置が第1図に示すものと異なる
点は、照明部12を介して供給されるプリント基板10
−1.10−2からの光を2つに分ける光分配器44と
、この光分配器44から出射される一方の光からプリン
ト1110−1.10−2が発する蛍光を抽出する蛍光
選択フィルタ49aと、この蛍光選択フィルタ49aに
よって選択された蛍光画像を電気信号に変換するモノク
ロTVカメラ42aと、前記光分配器44から出射され
る他方の光から照明部12内にある励起光選択フィルタ
9と同じ波長の光を抽出する反射光透過フィルタ49b
と、この反射光透過フィルタ49bによって選択された
反射光画像を電気信号に変換するモノクロTVカメラ4
2bとによって撮像部15−2を構成し、各モノクロT
Vカメラ42a、42bによって得られる蛍光画像と、
反射光画像とを処理部16に供給して処理するようにし
たことである。
The board inspection apparatus shown in this figure is different from the one shown in FIG.
- A light splitter 44 that divides the light from the light splitter 44 into two, and a fluorescence selection filter that extracts the fluorescence emitted by the print 1110-1.10-2 from one of the lights emitted from the light splitter 44. 49a, a monochrome TV camera 42a that converts the fluorescence image selected by the fluorescence selection filter 49a into an electrical signal, and an excitation light selection filter 9 in the illumination unit 12 that selects the other light emitted from the light distributor 44. reflected light transmission filter 49b that extracts light of the same wavelength as
and a monochrome TV camera 4 that converts the reflected light image selected by the reflected light transmission filter 49b into an electrical signal.
2b constitutes an imaging unit 15-2, and each monochrome T
Fluorescent images obtained by V cameras 42a and 42b,
The reflected light image is supplied to the processing unit 16 for processing.

勿論この場合においても、これら各プリント基板10−
1.10−2上に昼光励起蛍光剤を含むプリフラックス
45を塗布して蛍光層46を形成しているので、各プリ
ント基板10−1.10−2の地色と、各部品13a、
13bの色とが似ている場合でも、部品13a、13b
の正確なシルエツト像を得ることができる。
Of course, in this case as well, each of these printed circuit boards 10-
1.10-2 is coated with preflux 45 containing a daylight-excited fluorescent agent to form a fluorescent layer 46, so that the base color of each printed circuit board 10-1, 10-2 and each component 13a,
Even if the color of parts 13a and 13b is similar,
Accurate silhouette images can be obtained.

またこの場合、各モノクロTVカメラ42a。In this case, each monochrome TV camera 42a.

42bが、各々、相異なった色の両・像を電気信号に変
換するので、これらモノクロTVカメラ42a、42b
によって得られた各画像間に演綿を施して各画素の色を
判別させることにより、各部品13a、13bの電極極
性や、各プリント基板10−1.10−2の基板マーク
等を識別させることができる。
These monochrome TV cameras 42a, 42b convert the images of different colors into electrical signals, respectively.
The electrode polarity of each component 13a, 13b, the board mark of each printed circuit board 10-1, 10-2, etc. can be identified by applying cotton drawing between each image obtained by the method to distinguish the color of each pixel. be able to.

第6図は本発明による基板の検査方法の第3実施例を適
用した基板検査装置の一例を示すブロック図である。な
おこの図において、第1図の各部と対応する部分には同
一な符号が付しである。
FIG. 6 is a block diagram showing an example of a substrate inspection apparatus to which the third embodiment of the substrate inspection method according to the present invention is applied. In this figure, parts corresponding to those in FIG. 1 are given the same reference numerals.

この図に示す基板検査装置が第1図に示すのと異なる点
は、モノクロTVカメラ60と、各プリント基板10−
1.10−2の光学画像から蛍光画像を抽出する蛍光選
択フィルタ61aと、前記各プリント基板10−1.1
0−2の光学画像から反射光画像を抽出する反射光選択
フィルタ61bと、これら蛍光選択フィルタ61a、反
射光選択フィルタ61bのいずれか一方を前記モノクロ
TVカメラ60のレンズ前面に配置させる駆動回路59
とによって撮像部15−3を構成し、照明部12を介し
て供給される各プリント基板1〇−1,10−2の光学
画像から各プリント基板10−1.10−2の蛍光画像
と、反射光画像とを順次、抽出して電気信号に変換し、
これらを処理部16に、順次、供給して処理させるよう
にしたことである。
The board inspection apparatus shown in this figure is different from the one shown in FIG.
1. A fluorescence selection filter 61a for extracting a fluorescence image from the optical image of 10-2, and each of the printed circuit boards 10-1.1.
A reflected light selection filter 61b that extracts a reflected light image from the optical image of 0-2, and a drive circuit 59 that arranges either the fluorescence selection filter 61a or the reflected light selection filter 61b in front of the lens of the monochrome TV camera 60.
An imaging unit 15-3 is configured by the above, and a fluorescence image of each printed circuit board 10-1, 10-2 is obtained from an optical image of each printed circuit board 10-1, 10-2 supplied via the illumination unit 12, The reflected light images are sequentially extracted and converted into electrical signals,
These are sequentially supplied to the processing section 16 for processing.

勿論この場合においても、これら各プリント基板10−
1.10−2上には昼光励起蛍光剤を含むプリフラック
ス45が塗布されているので、各プリント基板10−1
.10−2の地色と、各部品13a、13bの色とが似
ている場合にも、各部品13a、13bの正確なシルエ
ラ1へ像を117ることができるとともに、このシルエ
ット画像を用いてモノクロTVカメラ60によって得ら
れるカラー画l!E4(蛍光と同色)と、反射光カラー
画像との間に演算を施して各画素の色を判別させること
により、各部品13a、13bの電極の極性や各プリン
ト基板10−1.10−2の基板マーク等を識別させる
ことができる。
Of course, in this case as well, each of these printed circuit boards 10-
1. Since preflux 45 containing a daylight-excited fluorescent agent is applied on 10-2, each printed circuit board 10-1
.. Even if the ground color of 10-2 and the color of each part 13a, 13b are similar, it is possible to accurately image each part 13a, 13b to Silera 1, and use this silhouette image. Color images obtained by the monochrome TV camera 60! By performing calculations between E4 (same color as fluorescence) and the reflected light color image to determine the color of each pixel, the polarity of the electrodes of each component 13a, 13b and each printed circuit board 10-1, 10-2 are determined. board marks etc. can be identified.

第7図は本発明による基板の検査方法の第4実施例を適
用した基板検査装置の一例を示すブロック図である。な
おこの図において、第1図の各部と対応する部分には同
一な符号が付しである。
FIG. 7 is a block diagram showing an example of a substrate inspection apparatus to which the fourth embodiment of the substrate inspection method according to the present invention is applied. In this figure, parts corresponding to those in FIG. 1 are given the same reference numerals.

この図に示す基板検査Vi置が第1図に示すものと異な
る点は、処理部16−4内にベルトコントローラ35を
設けるとともに、このベルトコントローラ35によって
制御されるベルトコンベア部64の搬送ベルト65上に
各プリント基板10−1.10−2を載冒して、これら
を搬送しながら撮像部15−4によって撮像するように
したことである。
The board inspection apparatus shown in this figure is different from the one shown in FIG. The printed circuit boards 10-1 and 10-2 are placed on top of the board, and images are taken by the imaging unit 15-4 while being transported.

この場合、曜像部15−4は、前記照明部12を介して
供給されるプリント基板10−1.10−2からの光学
画像を2つに分ける光分配器58と、この光分配器58
から出射される一方の光学画像から各プリント基板10
−1.10−2の蛍光画像を抽出する蛍光選択フィルタ
668と、この蛍光選択フィルタ66aによって抽出さ
れた蛍光画像を電気信号に変換するライセンサ67aと
、前記光分配器58から出射される他方の光学画像から
前記反射光画像を抽出する反射光選択フィルタ66bと
、この反射光選択フィルタ66bによって抽出された反
射光画像を電気信号に変換するラインセンサ67bとを
備えており、各ラインセンサ67a、67bによって各
プリント基板10−1.10−2の画像を連続的に取り
込み、これによって得られた各プリント基板10−1.
10−2の蛍光画像と、反射光画像とを処理部16−4
に供給して処理させる。
In this case, the day image section 15-4 includes a light distributor 58 that divides the optical image from the printed circuit board 10-1 and 10-2 supplied through the illumination section 12 into two;
From one optical image emitted from each printed circuit board 10
-1. A fluorescence selection filter 668 that extracts the fluorescence image of 10-2, a licensor 67a that converts the fluorescence image extracted by the fluorescence selection filter 66a into an electrical signal, and a It includes a reflected light selection filter 66b that extracts the reflected light image from the optical image, and a line sensor 67b that converts the reflected light image extracted by the reflected light selection filter 66b into an electrical signal, and each line sensor 67a, 67b successively captures images of each printed circuit board 10-1.
The fluorescence image of 10-2 and the reflected light image are processed by a processing unit 16-4.
supply and process it.

勿論この場合においても、これら各プリント基板10−
1.10−2上には昼光励起蛍光剤を含むプリフラック
ス45が塗布されているので、各プリント基板10−1
.10−2の地色と、各部品13a、13bの色とが似
ている場合にも、各部品13a、13bの正確なシルエ
ツト像を得ることができるとともに、このシルエット画
像と、ラインセンサG7a、67bによって得られる蛍
光画像と、反射光画像との間に演算を施して各画素の色
を判別させることにより、各部品13a。
Of course, in this case as well, each of these printed circuit boards 10-
1. Since preflux 45 containing a daylight-excited fluorescent agent is applied on 10-2, each printed circuit board 10-1
.. Even when the ground color of 10-2 and the color of each component 13a, 13b are similar, an accurate silhouette image of each component 13a, 13b can be obtained, and this silhouette image and line sensor G7a, 67b and the reflected light image to determine the color of each pixel, each component 13a.

13bの電極の極性や、各プリント基板10−1.10
−2の基板マーク等を識別させることができる。
13b electrode polarity, each printed circuit board 10-1.10
-2 board mark etc. can be identified.

第8図は本発明による基板の検査方法の第5実施例を適
用した基板検査装置の一例を示すブロック図である。な
おこの図において、第1図の各部と対応する部分には同
一な符号が付しである。
FIG. 8 is a block diagram showing an example of a board inspection apparatus to which the fifth embodiment of the board inspection method according to the present invention is applied. In this figure, parts corresponding to those in FIG. 1 are given the same reference numerals.

この図に示す基板検査装置が第1図に示すものと異なる
点は、可視中色光源(例えば、半導体レーザー素子)と
、この可視単色光源が発する光をビーム光にしてX−Y
方向に撮らせる光学系とを備えた可視単色ビーム光源7
0によってX−Yデープル部14にセットされたプリン
ト基板1〇−1,10−2をスポット照明しながら躍像
部15−5によってこれら各プリント基板10−1.1
0−2からの光を電気信号に変換り°るようにしたこと
である。
The board inspection device shown in this figure is different from the one shown in FIG.
Visible monochromatic beam light source 7 equipped with an optical system for photographing in the direction
While spot illuminating the printed circuit boards 10-1 and 10-2 set in the X-Y lap section 14 by the imager section 15-5, each of the printed circuit boards 10-1.1
The light from 0-2 is converted into an electrical signal.

この場合、戯像部15−5は、前記プリント基板10−
1.10−2からの光を2つに分ける光分配器71と、
この光分配器71から出射される一方の光から各プリン
ト基板10−1.10−2が発する蛍光を抽出する蛍光
選択フィルタ72aと、この蛍光選択フィルタ72aに
よって選択された蛍光を電気信号に変換するフォトトラ
ンジスタ(または、光電子増倍管またはフォトダイオー
ドなど)73aと、前記光分配器71から出射される他
方の光から前記可視単色ビーム光源70が出射するビー
ム光の波長と同じ波長の光を抽出する反射光選択フィル
タ72bと、この反射光選択フィルタ72bによって選
択された反射光を電気信号に変換するフォトトランジス
タ(または、光電子増倍管またはフォトダイオードなど
)73bとを備えており、各フォトトランジスタ73a
In this case, the phantom part 15-5 is connected to the printed circuit board 10-
1. A light splitter 71 that divides the light from 10-2 into two,
A fluorescence selection filter 72a extracts fluorescence emitted from each printed circuit board 10-1, 10-2 from one of the lights emitted from the light distributor 71, and converts the fluorescence selected by the fluorescence selection filter 72a into an electrical signal. A phototransistor (or photomultiplier tube, photodiode, etc.) 73a that outputs light of the same wavelength as the beam light emitted by the visible monochromatic beam light source 70 from the other light emitted from the light splitter 71. It includes a reflected light selection filter 72b to extract, and a phototransistor (or photomultiplier tube, photodiode, etc.) 73b to convert the reflected light selected by the reflected light selection filter 72b into an electrical signal. Transistor 73a
.

73bににつてプリント基板10−1.10−2からの
光を電気信号に変換し、これによって1qられた各プリ
ント基板10−1.10−2の蛍光画像を示す画素信号
と、反(ト)画像を示す画素信号とを処理部16に供給
して処理させる。
73b converts the light from the printed circuit boards 10-1. ) A pixel signal representing an image is supplied to the processing unit 16 for processing.

勿論この場合におていも、これら各プリント基板10−
1.10−2上には昼光励起蛍光剤を含むプリフラック
ス45が塗布されているので、プリント基板の地色と、
各部品13a、13bの色とが似ている場合にも、各部
品13a、13bの正確なシルエツト像を得ることがで
きるととらに、このシルエツト像と、各フォトトランジ
スタ73a、73bによって得られる蛍光画像の画素信
号と、反射光画像の画素信号との間に演算を施して各画
素の色を判別させることにより、各部品13a、131
)の電極極性や、各プリント基板10−1.10−2の
基板マーク等を識別させることができる。
Of course, in this case, each of these printed circuit boards 10-
1. Preflux 45 containing a daylight-excited fluorescent agent is applied on 10-2, so the background color of the printed circuit board and
Even when the parts 13a and 13b are similar in color, accurate silhouette images of the parts 13a and 13b can be obtained, and this silhouette image and the fluorescence obtained by the phototransistors 73a and 73b can be By performing calculations between the pixel signal of the image and the pixel signal of the reflected light image to determine the color of each pixel, each part 13a, 131
), the board marks of each printed circuit board 10-1, 10-2, etc. can be identified.

第9図は本発明による基板の検査方法の第6の実施例を
適用した基板検査装置の一例を示すブロック図である。
FIG. 9 is a block diagram showing an example of a substrate inspection apparatus to which the sixth embodiment of the substrate inspection method according to the present invention is applied.

なおこの図において、第1図の各部と対応する部分には
同一な符号が付しである。
In this figure, parts corresponding to those in FIG. 1 are given the same reference numerals.

この図に示す基板検査装置が第1図に示すものと異なる
点は、可視単色ビーム光源85からX−Y方向にスキャ
ンする可視単色ビーム光を出射させてX−Yテーブル部
14にセットされたプリン1− Lt板10−1.10
−2をスポット照明しながら1111部15−6によっ
て、これら各プリント基板10−1.10−2からの光
を電気信号に変換するようにしたことである。
The board inspection device shown in this figure is different from the one shown in FIG. Pudding 1- Lt plate 10-1.10
1111 section 15-6 converts the light from each of these printed circuit boards 10-1 and 10-2 into electrical signals while spot illuminating the printed circuit boards 10-1 and 10-2.

この場合、比像部15−6は、フォトトランジスタ(ま
たは、光電子増倍管なと)80と、各プリン1〜基板1
0−1.10−2からの光から蛍光を抽出する蛍光選択
フィルタ81aと、前記各プリント基板10−1.10
−2からの光から反射光を抽出する反射光選択フィルタ
81bと、これら蛍光選択フィルタ81a、反射光選択
フィルタ81bのいずれか一方を前記フォトトランジス
タ80のレンズ前面に配置させる駆動回路82とを備え
ており、蛍光選択フィルタ81aと反射光選択フィルタ
81bとを順次用いて各プリント基板10−1,10−
2からの光をフォトトランジスタ80で電気信号に変換
し、これによって得られた各プリント基板10−1.1
0−2の蛍光画像を示す画素信号と、反射画像を示す画
素信号とを処理部16に供給して処理させる。
In this case, the ratio imager 15-6 includes a phototransistor (or photomultiplier tube) 80 and each of the printers 1 to substrate 1.
a fluorescence selection filter 81a for extracting fluorescence from light from 0-1.10-2; and each printed circuit board 10-1.10.
- a reflected light selection filter 81b for extracting reflected light from light from the light source 2; and a drive circuit 82 for disposing either one of the fluorescence selection filter 81a and the reflected light selection filter 81b in front of the lens of the phototransistor 80. The fluorescence selection filter 81a and the reflected light selection filter 81b are sequentially used to
The light from 2 is converted into an electric signal by the phototransistor 80, and each printed circuit board 10-1.1 obtained thereby
A pixel signal indicating the fluorescence image of 0-2 and a pixel signal indicating the reflection image are supplied to the processing unit 16 for processing.

勿論この場合においても、これら各プリント基板10−
1.10−2上には昼光励起蛍光剤を含むプリフラック
ス45が塗布されているので、プリント基板の地色と、
各部品13a、13bの色とが似ている場合にも、各部
品13a、13bの正確なシルエツト像を得ることがで
きるとともに、このシルエツト像と、フォトトランジス
タ80によって得られる蛍光画像の画素信号と、反射光
画像の画素信号との間に演算を施して各画素の色を判別
さけることにより、各部品13a、13bの電極の極性
や、各プリント基板10−1.10−2の基板マーク等
を識別させることができる。
Of course, in this case as well, each of these printed circuit boards 10-
1. Preflux 45 containing a daylight-excited fluorescent agent is applied on 10-2, so the background color of the printed circuit board and
Even when the parts 13a and 13b are similar in color, accurate silhouette images of the parts 13a and 13b can be obtained, and this silhouette image and the pixel signals of the fluorescent image obtained by the phototransistor 80 can be , and the pixel signal of the reflected light image to determine the color of each pixel, the polarity of the electrodes of each component 13a, 13b, the board mark of each printed circuit board 10-1, 10-2, etc. can be identified.

(発明の効果) 以上説明したように本発明によれば、部品の完全なシル
エット画像を得ることができ、これににって部品の色と
、基板の地色とが同じ場合や似ている場合でも、全部品
について、これらが脱落していないか、位置ずれ等を起
こしていないかどうかを検査することができるとともに
、部品の極性や基板マークが正しいかどうかをも検査す
ることができる。
(Effects of the Invention) As explained above, according to the present invention, it is possible to obtain a complete silhouette image of a component, and it is possible to obtain a complete silhouette image of a component. Even in the case of a computer, all parts can be inspected to see if they have fallen off or misaligned, and it can also be inspected to see if the polarity of the parts and board marks are correct.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の第1実施例を示すブロック図、第2図
(A)〜(C)は各々この第1実施例にJ3けるプリン
ト基板の作成工程を示す斜視図、第3図(Δ)はこの第
1実施例における部品の一例を示す平面図、第3図(B
)、(C)は各々第3図(A)のラインaにおける搬像
信号例を示す波形図、第4図(A)〜(C)は各々この
第1実施例の動作例を示すフローチャート、第5図は本
発明の第2実施例を示すブロック図、第6図は本発明の
第3実施例を示すブロック図、第7図は本発明の第4実
施例を示すブロック図、第8図は本発明の第5実施例を
示すブロック図、第9図は本発明の第6実施例を示すブ
ロック図、第10図は従来の自動検査菰買の一例を示す
ブロック図、第11図はこの装置で用いられる基準プリ
ント基板の−例を示す正面図、第12図(A)、(r3
)は各々従来の自動検査装置の他の例を説明するための
プリント基板作成工程図、第13図は第12図(B)の
部分拡大平面図である。 10−1・・・基準プリント基板、1,0−2・・・被
検査プリント基板、12・・・照明部、14・・・X−
Yテーブル部、15・・・撮像部、16・・・処理部、
46・・・蛍光層。 代理人 弁理士 岩0百二(他1名) 第3図
FIG. 1 is a block diagram showing the first embodiment of the present invention, FIGS. Δ) is a plan view showing an example of parts in this first embodiment, and FIG.
) and (C) are waveform diagrams each showing an example of the carrier signal on line a in FIG. FIG. 5 is a block diagram showing a second embodiment of the invention, FIG. 6 is a block diagram showing a third embodiment of the invention, FIG. 7 is a block diagram showing a fourth embodiment of the invention, and FIG. 8 is a block diagram showing a fourth embodiment of the invention. The figure is a block diagram showing a fifth embodiment of the present invention, FIG. 9 is a block diagram showing a sixth embodiment of the present invention, FIG. 10 is a block diagram showing an example of conventional automatic inspection purchasing, and FIG. 11 is a block diagram showing a sixth embodiment of the present invention. is a front view showing an example of a reference printed circuit board used in this device, FIG. 12(A), (r3
) are printed circuit board manufacturing process diagrams for explaining other examples of conventional automatic inspection equipment, and FIG. 13 is a partially enlarged plan view of FIG. 12(B). 10-1... Reference printed circuit board, 1, 0-2... Printed circuit board to be inspected, 12... Lighting part, 14... X-
Y table unit, 15...imaging unit, 16...processing unit,
46... Fluorescent layer. Agent Patent attorney Iwa 012 (1 other person) Figure 3

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims]  基板を撮像して得られたデータを処理して前記基板上
の部品実装状態を検査する基板の検査方法において、昼
光励起蛍光剤を含むプリフラックスが塗布された後、部
品が実装された基板を可視単色光で照明しながら撮像し
、この撮像結果の蛍光部分と、非蛍光部分とを区別して
、前記基板上の部品実装状態を検査することを特徴とす
る基板の検査方法。
In a board inspection method that processes data obtained by imaging a board to inspect the component mounting state on the board, the board on which the components are mounted is coated with a preflux containing a daylight-excited fluorescent agent. 1. A method for inspecting a board, comprising: taking an image while illuminating it with visible monochromatic light, and distinguishing between a fluorescent part and a non-fluorescent part of the imaging result to inspect a component mounting state on the board.
JP61256991A 1986-10-30 1986-10-30 Inspecting method for substrate Pending JPS63111404A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6187417B1 (en) 1998-02-18 2001-02-13 International Business Machines Corporation Substrate having high optical contrast and method of making same

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6187417B1 (en) 1998-02-18 2001-02-13 International Business Machines Corporation Substrate having high optical contrast and method of making same

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