JPS61235068A - 多足電子部品の半田付け部検査装置 - Google Patents

多足電子部品の半田付け部検査装置

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JPS61235068A
JPS61235068A JP7696985A JP7696985A JPS61235068A JP S61235068 A JPS61235068 A JP S61235068A JP 7696985 A JP7696985 A JP 7696985A JP 7696985 A JP7696985 A JP 7696985A JP S61235068 A JPS61235068 A JP S61235068A
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JP
Japan
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electronic component
soldering
image
photographing
command
Prior art date
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Pending
Application number
JP7696985A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshinori Bessho
別所 芳則
Shigeru Suzuki
茂 鈴木
Kazunori Irie
入江 一典
Atsushi Shibata
淳 柴田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Brother Industries Ltd
Original Assignee
Brother Industries Ltd
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Publication date
Application filed by Brother Industries Ltd filed Critical Brother Industries Ltd
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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Closed-Circuit Television Systems (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 本発明は、画像処理を用いた自動的な多足電子部品の半
田付は部検査装置に関する。
「従来の技術」 従来、電子装置の半田付は部の検査は作業者による目視
検査で行なわれていた。しかし、IC等の多足電子部品
を用いる電子装置においては、半田付は部の数が多く、
また各半田付は部の形状も小さいので、検査のために非
常に時間がかかり、かつ作業者の主観によって検査結果
にばらつきを生じる問題があった。
「発明が解決しようとする問題点J 本発明は、上記の問題を解決するためになされたもので
あり、半田付は部のjIII沓を短酔閉で日っ正確に行
なうことを目的とする。
[問題点を解決するための手段」 しかして、本発明によれば、多足電子部品の端子が設け
られている各辺毎にその端子の半田付は部を照明する複
数の照明装置と、その半田付は部の輪郭形状を撮影する
撮影装置と、前記多足電子部品、または撮影装置と照明
装置とを撮影位置に相対的に移動する移動手段と、前記
撮影手段により撮影した映像信号を画像処理して二次元
パターン化した画像にするとともに、その画像とメモリ
内に予め記憶された標準画像とを重ね介せ比較して半田
付は部の良否を判定する判定手段と、前記移動手段によ
る移動および前記照明装置の照明の切換えを制御する制
御手段とを備え、前記多足電子部品の検査すべき辺の照
明装置のみを作動するように切換える多足電子部品の半
田付は部検査装置が提供される。
「作用」 上記構成によれば、撮影装置および照明装置を適切な位
置に設置し、これから得られた画像の)(ターンを予め
解析し記憶された標準画像と比較する判定手段により、
半田付は部の良・不良を短時間で且つ正確に判別できる
。また、照明装置が複数個であることにより、照明装置
が1個である場合に必要な多足電子部品の回転移動を不
要とし、複数個の照明装置の照明を切換制御することに
よって二方向の移動のみにより検査を行なうことができ
る。
「実施例」 次に、本発明の検査装置の一実施例を図面について説明
する。
第1図から第3図は一実施例の構成を示す図であり、第
1図は機械構成の全体を示す斜視図、第2図は電気構成
を含む平面図、第3図は側面図である。
電子装置の基板1はxyテーブル2の上に載せられてお
り、このテーブル2はX紬モータおよびy輸モータによ
りX輪および1輪方向に2次元的に移動可能にされてい
る。テーブル2の上方には、撮影装置をなす工業用テレ
ビカメラ3が設置されている。また、カメラ3の直下に
移動されるところの、多足電子部品をなす半導体集積回
路(I C)4をX゛輸お上り1輪の両側面から照明可
能なように、照明装置をなすライト5が4個設置されて
いる。各ライト5は内部にランプおよび光学レンズなど
を適宜に設けられたものであり、各ライト5の前面には
所定の命令により開閉可能なシャッター6が備えられて
いる。また、各ライト5は、IC4の半田付は部を適切
に照明できるように、基板1との間に成る角度θを持つ
ように配置されている。さらに1.カメラ3は判定手段
をなす制御部7に接続されており、ライト5はライト切
換器8を介して制御部7に接続されでいる。制御部7は
半田付は部の標準画像等の記憶されたメモリ7aと共に
マイクロコンビエータをもって構成されており、検査物
であるIC4のどの足が半田付不良4h 4L  ! 
 J++?h  V  j  &n  7−  m  
!  −b  17%  M  −T−1ノ V  h
÷i!lB 匂−1llQを備えている。なお、制御部
7はxyテーブル2の移動なども制御するものである。
「作動」 上記構成による作動−を第4図から第16図を用いて説
明する。
第4図は、この実施例の作動の全体システムを示す、電
源がオンされると、モードを何にするかが端末fi9の
画面により開かれるので、その端末機9のキーを操作す
ることによりティーチングモードを選択すると、ライト
5の方向、角度および位置決めデータを作成することが
できる0校正モードを選択すると、画面上における1i
il素に対応するxyテーブル2の移動量、すなわちX
軸モータおよびy輸モータに送られるパルス数を求め、
メモリ7aに記憶する。基板選択モードでは、検査をす
る基板1を選択し、その基板1の種類に対応するデータ
をメモリ7aに読み込む。自動モードに切換えると、以
上の状態で、記憶された画面上における1画素当りのx
lmおよびy粕モータのパルス数、および基板1の種類
で自動的に検査が行なわれる。
第5図にティーチングモードの70−チャートを示す、
第6図において基板1には多数(この例では5個)のI
C4が取付けられでおり、IC4には4側面に足を持つ
ものと、2個面にだけ足を持つものとがある。tlc7
図には第6図のtI&1番目のIC4己ついてのにyテ
ーブル2の移動順序が示されており、JO−JOの順序
で各点を位置決めするようにxyテーブル2が移動され
るものとし、A。
B、C,D  のすべての4側面についでxyテーブル
2は移動される。
第5図によるごとく、ティーチングモードがスタートす
ると、命令501では第1番目のIC4の角を第8図の
様に画面の中央に移動させる。命令502ではこの時の
にyテーブル2の座標(CORNERx*C0RNER
y)をメモリ7aに記憶する。
命令503では、ライト5の方向および角度θを選択し
記憶する。ここで、ライト5の方向というのは、4個の
ライト5の何れを選択して作動させるかという意味であ
る。命令504では、IC4の足A1の先端の中心を第
9図に示されるようにカメラ3の画面の中央に移動させ
る。命令505では、この時のxyテーブル2の座11
(X^LF^1)をメモリ7aに記憶する。命令506
では、IC4の次の足An(この場合はA5)の先端の
中央を画面の中央に移動させ、命令507ではこの時の
xyテーブル2の座標(xAn*yAn)をメモリ7a
に記憶する。命令508では、命令505および命令5
07でメモリ7aに記憶した座標の差(ΔX、Δy)を
求める。命令509においては、引続いて第1θ図に示
される様な移動データJNを隅角の座11[(CONE
Rx、C0NERy)−足A1の座標(X^lty^1
)および座標の差(Δ×、Δy)等から求め、第1番目
のIC4の1つの側面Aについての移動データJNが求
められる。命令510においては、第1番目のIC4の
他の側面B、C,Dについても操作Aと同様に移動デー
タJNを求める。命令511では第2番目から第5番目
のIC4についでも第1番目の操作と同様な操作を行な
うことにより基板1全体の移動データを作成し、第11
図に示される状態で移動データをメモリ7aに格納する
ことができ、命令512でxyテーブルを原点に戻すこ
とによりティーチングモードが終了する。
ティーチングモードは、その特定の基板用のデータを作
るモードであるから、一度行うだけで良い。また、この
データは、基板I、If、![・・・というように数種
類の基板別にメモリ7aに格納できるので、検査基板1
が■→■→■と変っても基板選択モードでその選択され
た基板に対応するデータを読み込めば、改めて特定の基
板Iをティーチングすることな(自動的に半田付は部の
検査を行なうことができる。
そして、第12図に示されるように自動モードがスター
トされると、命令601では4つのライト5についてそ
れぞれ照度を調整する。この照度の調整に当ってはテレ
ビ付燈末機9上で表示された画像信号に基づいた濃度分
布のヒストグラムを作成して、最適の照度が選択される
。命令602でl十−千ノー千ンゲモーーの合4503
で′J4沢したライト5だけのシャッター6が開かれ、
他の3つは閉じられる。その命令602ではライト5の
角度θのIll整も行なわれる。命令603ではティー
チングモードで得られた移動データJOを用い第1番目
のIC4の隅角(CORNERx、C0RNERy)が
テレヒ付端末1’19の画面上に設定されたウィンドウ
W内に映るように113図のごと<xyテーブルが移動
される。命令604では隅角の座t!IA(モニタ座標
)と画面中央の座標との差ΔX1.ΔY1が第13図に
示されるように求められる。命令605では、その差Δ
x1tΔY1をxyテーブルの移動量Δx1.Δy1に
変換する。命令606においては、114図に示すよう
にティーチングモードで求めた移動データJ1に座標の
差ΔxLΔy1を加え、基板1の位置決めセツティング
等による位置ずれを補正して足A2に移動するデータJ
l’ を作り正しい位置に基板1を移動する。命令60
7では、IC4の足の数、および足の間隔に介せて、W
&15図に示されるように最高3つのウィンドウW1.
W2.W3を設定する。命令608では、ウィンドウW
l。
W2.W3  内をそれぞれ予め決められたしきい値に
基いて二次元パターン化した2値画像に変換し、半田付
は部の明るい部分とその他の暗い部分とを分離する。命
令609においては、これらの2値画像が第16図に示
されたどのパターン画像であるかを、メモリ7a内に予
め記憶された標準画像と重ね合せ比較することにより判
定し、良・不良を決定する。同様にして、IC4のB辺
を検査する際には第15図に示すウィンドウWl、W2
゜W3を縦長に設定すればよい。第16図(a)〜(c
)は半田付けの状態とその時の画面上の2値画像を示し
ており、第16図(a)は過剰半田の状態を示し、端末
機9のテレビ画面にはライト5が当てられた半田付は部
分が明るい部分として長(表わされる。過剰半田の状態
は半田の消費量が多く、また他の部品にも障害を与え易
いので良くない、第16図(b)は半田不足の状態を示
し、テレビ画面に表われる「明」の部分が少ない、この
半田不足の状態は、半田付は強度が弱いので良くない。
第16図(e)は良い半田付けの状態を示しており、I
Cの足の#1面に過不足なく半田が付けられている。こ
の第16図(c)の状態が標準画像である。
なお、光の入射角度θはカメラ3により最大輝度で半田
付は部が撮影できるようにllI整されでいる。
これらの2値画像を重ね合せて比較すると、過剰半田の
場合は第16図(、)に示されたような長円形の「明」
の画像の中間を暗となる標準画像で欠かした形状の「明
」の画像が残り、半田不足の場合は第16図(0)に図
示された標準画像の左端部を半田不足の画像で欠かした
形状の「明」の1像が残るが、良い半田の場合は、テレ
ビ画面の全体が「暗」になる、従って、「明」の画像が
残るか否かにより、IC4の足ごとに半田付は部の良・
不良が一目瞭然に判別できる。
「その他の実施例」 なお、上記の実施例においてはライト5をX紬および1
輪方向の両側面に設けてそのライト5の数を461にし
でいるが、基板1上に取り付けられた各IC4が全て二
側面にだけ足を有する場合などは、ライト5は相対面す
る2個にすることもできる。さらに、テレビ付端末fi
9の画面には、半田付は部の良・不良を表示するように
してもよい。
また、ランプの点燈により半田付は不良を表示すること
も可能である。
「効果」 以上述べたように、本発明の検査装置は上記の構成を有
するものであり、照明装置および撮影装置を適切な位置
に設置し、これから得られる画像のパターンを解析する
判定手段を備えるものであるから、半田付は部の良・不
良を正確に検査できると共に、検査速度が上昇し、また
、照明装置を多足電子部品の端子を有する各辺毎にWk
置して切換制御するから、照明装置が1つの場合に必要
であった検査物を回転移動させるという操作をなくすこ
とができ、移動手段の構成を簡潔にできるなどの数々の
優れた効果がある。
第1図から第3図は本発明の検査装置の一実施例の構成
を示す図であり、第1図は機械構成の全体を示す斜視図
、第2図は電気構成を含む平面図、第3図は側面図であ
る。第4図から第16図は作動を示す図で島9、第4図
は全体システムを示すシステム図、第5図はティーチン
グモードの70−チャート、第6図は検査物の例を示す
平面図、第7図はx−yテーブルの移動順序を示すグラ
フ、第81!Iおよび第9図はその要部の拡大図、第1
0図はΔX、Δyの求め方を示すグラフ、第11図は移
動データの格納状態を示す慎弐図、第12図は自動モー
ドの70−チャート、第13図は移動データJOがx−
yテーブルの移動により変化した時のテレビ画面を示す
正面図、第14図は補正した移動データを作る状態を示
すグラフ、第15図はウィンドウを設定した状態を示す
テレビ画面の正面図、第16図は半田付けの状態とその
時の2値画像を示す図である。
1・・・基板、2・・・x−yテーブル、3・・・工業
用テレビカメラ、A 、、、 8♀雷早蝋1話(T (
”、 )−ζ・・・ライト、6・・・シャッター、7・
・・制御部、7a・・・メモリ、8・・・ライト切換器
、9・・・テレビ付端末機。
11(、・1.・44− 第112 莞30 第4図 第5U2 第60 第 7図 1718回 第10図 第11図 第12図 第13e21 第14図 第15図 第16r2

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  多足電子部品の端子が設けられている各辺毎にその端
    子の半田付け部を照明する複数の照明装置と、 その半田付け部の輪郭形状を撮影する撮影装置と、 前記多足電子部品、または撮影装置と照明装置とを撮影
    位置に相対的に移動する移動手段と、前記撮影手段によ
    り撮影した映像信号を画像処理して二次元パターン化し
    た画像にするとともに、その画像とメモリ内に予め記憶
    された標準画像とを重ね合せ比較して半田付け部の良否
    を判定する判定手段と、 前記移動手段による移動および前記照明装置の照明の切
    換えを制御する制御手段とを備え、前記多足電子部品の
    検査すべき辺の照明装置のみを作動するように切換える
    多足電子部品の半田付け部検査装置。
JP7696985A 1985-04-11 1985-04-11 多足電子部品の半田付け部検査装置 Pending JPS61235068A (ja)

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JPS61235068A true JPS61235068A (ja) 1986-10-20

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ID=13620610

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JP (1) JPS61235068A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63179241A (ja) * 1987-01-19 1988-07-23 Toyota Motor Corp はんだ付品質検査装置
JPH01305304A (ja) * 1988-06-03 1989-12-08 Ono Sokki Co Ltd 二次元位置測定方法および装置
JP2012154707A (ja) * 2011-01-25 2012-08-16 Stanley Electric Co Ltd リード端子の異物検査装置
JP2012169575A (ja) * 2011-02-17 2012-09-06 Panasonic Corp 電子部品およびその製造方法

Cited By (4)

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