JPS62277506A - 部品実装検査装置 - Google Patents

部品実装検査装置

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JPS62277506A
JPS62277506A JP61121859A JP12185986A JPS62277506A JP S62277506 A JPS62277506 A JP S62277506A JP 61121859 A JP61121859 A JP 61121859A JP 12185986 A JP12185986 A JP 12185986A JP S62277506 A JPS62277506 A JP S62277506A
Authority
JP
Japan
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image
printed circuit
step width
circuit board
parts
Prior art date
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Pending
Application number
JP61121859A
Other languages
English (en)
Inventor
Motohiko Yoshida
元彦 吉田
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Alps Alpine Co Ltd
Original Assignee
Alps Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Alps Electric Co Ltd filed Critical Alps Electric Co Ltd
Priority to JP61121859A priority Critical patent/JPS62277506A/ja
Publication of JPS62277506A publication Critical patent/JPS62277506A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 3、発明の詳細な説明 (産業上の利用分野) 本発明は、プリント基板上に実装された部品が正しい位
置に配置されているか否かを高速で判別するための部品
実装検査装置に関するものである。
(従来の技術) 従来の部品実装検査装置のブロック回路図を第6図に示
す。第6図において、チップ部品1の実装されたプリン
ト基板2がX−Yテーブル3上に載置され、このX−Y
テーブル3が中央演算処理装置(以後CPUと称す)4
の信号に基づいてX−Yテーブルコントローラ5で位置
制御される。また、X−Yテーブル3の上方にはチップ
部品1を撮影するテレビカメラ6が設けられるとともに
、チップ部品1を斜め上方の異なる方向から照射する一
対のランプ7.8が設けられている。
そして、これらのランプ7.8は、CPU4に制御され
る照射用電源9で時間をずらして点灯され、それぞれの
点灯時にテレビカメラ6でチップ部品1のwL影が行わ
れる。さらに、テレビカメラ6の画像出力は、CPU4
を介して高速画像処理装置lOに与えられて適宜に処理
され、そのデータがCPU4に与えられる。また、CP
U4から画像出力がモニタテレビ11に与えられる。
かかる構成において、まずランプ7.8のいずれか一方
の点灯による一方からの照射によりテレビカメラ6は、
第7図のごとく、チップ部品1とその反対側にできる影
1aとをWL形する。次に、ランプ7.8の他方の点灯
による他方からの照射によりテレビカメラ6は、第8図
のごとく、チップ部品1とその反対側にできる影1bと
を撮影する。そして、これらの2画像出力が、第9図の
ごとく、高速画像処理装置10で合成され、影1a。
1bからチップ部品1の縦J21と横JZ2の寸法を推
測して部品の誤りおよびその実装位置が正確であるか否
かをCPU4で判別する。
(発明が解決しようとする問題点) ところで、上記′従来の部品実装検査装置は、目視によ
る部品実装検査を自動化できるという優れたものである
が、この部品実装検査装置では、テレビカメラ6による
2回の撮影と、この2つの画像出力を合成して所定の演
算処理を行うための時間が必要であり、1つのチップ部
品1の検査に0.2〜0.3秒の検査時間が必要で検査
が遅いという問題点があった。また、上記検査時間とは
別に、次に検査すべきチップ部品1をテレビカメラ6で
撮影するための所定位置に移動すべくX−Yテーブル3
を移動させる移動時間が必要である。このため、例えば
100個のチップ部品1が実装された1枚のプリント基
板2の検査は、次に検査するチップ部品工を所定位置と
するのに0゜2秒、1つのチップ部品1を検査するのに
0.3秒とすれば、合計約50秒の時間が必要となる。
したがって、プリント基板2の1枚当りの検査が遅いと
いう問題点があった。さらに、チップ部品1の影1a、
lbよりチップ部品1の寸法と位置ずれを判別するので
、チップ部品1が黒色であれば、チップ部品1と影1a
、lbの区分ができず検査できないという問題点があっ
た。
本発明の目的は、上記従来の部品実装検査装置の問題点
を解決すべくなされたもので、検査時間の速い部品実装
検査装置を提供することにある。
(問題点を解決するための手段) かかる目的を達成するために、本発明の部品実装検査装
置は、部品が実装されたプリント基板がそれぞれに載置
される複数のX−Yテーブルおよび、これらのX−Yテ
ーブルにa置された前記プリント基板上に実装された部
品を撮影するテレビカメラとを含む複数の画像入力装置
と、前記X−Yテーブルを移動させて前記プリント基板
上の部品を順次所定位置に移動させる複数のX−Yテー
ブルコントローラと、前記画像入力装置の画像出力を多
数の画素に分割して濃淡レベルによる複数のステップ幅
で区分けする高速画像処理装置と、前記画像入力装置と
前記X−Yテーブルコントローラを制御するとともに、
前記プリント基板上の正確な位置に配置された部品の画
像出力を前記高速画像処理装置で濃淡レベルで区分けし
た各ステップ幅の画素数を予め基準値として記憶すると
ともに前記画像入力装置の画像出力を記憶し、かつ前記
プリント基板上に実装された部品を前記テレビカメラで
撮影した画像出力を前記高速画像処理装置で多数の画素
に分割して濃淡レベルによるn1記複数のステップ幅で
区分けした各ステップ幅の画素数を検査値として前記基
準値と前記ステップ幅毎に比較、演算して前記部品が正
しい位置に配、置されているか否かを判別する中央演算
処理装置と、を備え、前記X−Yテーブルコントローラ
で前記X−Yテーブルを移動させている間に、前記中央
演算処理装置で前記複数の画像入力装置の画像出力を演
算処理するように構成されている。
(作用) プリント基板上の正確な位置に配置された部品を撮影し
た画像出力を、多数の画素に分割して濃淡レベルによる
複数のステップ幅で区分けした各ステップ幅の画素数を
基準値とし、プリント基板上に実装された部品を撮影し
た画像出力の各ステップ幅の画素数を検査値として基準
値と各ステップ幅毎に比較するので、実装された部品が
正しい位置に配置されていなければ画像出力の変化によ
り各ステップ幅の検査値が基準値と相違し、実装された
部品を一度の撮影で正しい位置に配置されているか否か
を判別でき、従来に比較して高速に検査を行うことがで
きる。また、部品をテレビカメラで撮影する画像入力装
置を複数台備え、X−Yテーブルを移動させている間に
複数の画像入力装置の画像出力を中央演算処理装置で演
算処理するようにしたので、部品を所定位置に移動させ
る間に、複数の画像出力の演算処理が並行してなされ、
演算処理するための時間を格別に必要とせず、複数枚の
プリント基板を同時に高速で検査することができる。さ
らに、画像出力の濃淡に基づいて検査を行うので、部品
の色にかかわりなく検査することができる。そしてさら
に、色の異なる異種の部品の混入をも検出できる。
(実施例の説明) 以下、本発明の実施例を第1図ないし第5図を参照して
説明する。第1図は、本発明の部品実装検査装置の一実
施例のブロック回路図であり、第2図は、プリント基板
の正確な位置に配置されたチップ部品を撮影した画像出
力の一例であり、第3図は、位置がずれて配置されたチ
ップ部品を撮影した画像出力の一例であり、第4図は、
チップ部品の位置ずれによる各ステップ幅の画素数の変
化の比率の一例を示す図であり、第5図は、第1図の装
置の動作を説明するタイムチャートである。第1図にお
いて、第6図と同一回路ブロックには同一符号を付して
重複する説明を省略する。
第1図において、部品実装検査装置には、第1の画像入
力装置20と第2の画像入力装置30とが設けられてい
る。これらの第1と第2の画像入力装置20. :]O
は、X−Yテーブル3の上方にチップ部品1を照明する
ために設けられたランプ7.8が照明用電源12で同時
に点灯され、テレビカメラ6でチップ部品1が撮影され
る。これらのX−Yテーブル3とテレビカメラ6および
ランプ7.8等は暗室13内に設けられている。
そして、テレビカメラ6.6の視野6a、6a内の画像
出力、すなわち第1と第2の画像入力装置20.30の
画像出力はともにCPU4に与えられ、CPU4の記憶
装置に記憶される。さらに、高速画像処理装置10に与
えられて多数の画素に分割され、これらの画素が濃淡レ
ベルに応じて複数のステップ幅で区分けされ、そのステ
ップ幅に区分けされた画素数のデータが再度CPU4に
与えられる。また、第1と第2の画像入力装置20.3
0のX−Yテーブル3.3に、それぞれ対応してX−Y
テーブルコントローラ5.5が設けられている。これら
のX−Yテーブルコントローラ5.5でCPU4の信号
に基づいてX−Yテーブル3゜3が位置制御される。さ
らに、第1と第2の画像入力装置20.30の照射用電
源12.12は、ともにCPU4により制御される。
かかる構成において、まずチップ部品1が正しい位置に
配置されているか否かの判別について説明する。例えば
、第2図のごとく、正しく配置されたチップ部品1を撮
影した画像出力は、チップ部品1の本体1cの茶色、端
子部1dの半田色、プリント基板2のパターン2aの銅
色、レジスト部2bの緑色等のある一定の面積比で構成
されている。そして、この画像出力が高速画像処理装置
10で、多数の画素に分割されて濃淡レベルにより複数
のステップ幅(例えば、濃淡レベル0〜255を10の
ステップ幅に分割)に区分けされると、ステップ幅毎の
画素数はある一定の値となる。この各ステップ幅に区分
けされた画素数を基準値としてCPU4に予め記憶する
そして、プリント基板2上に実装されたチップ部品1を
テレビカメラ6で撮影する。ここで、チップ部品1が、
第3図のごとく、位置ずれして配置されたとすれば、視
野6a内の画像出力は色(濃淡)の面積比が第2図の面
積比と相違する。
そして、この画像出力が多数の画素に分割されて濃淡レ
ベルにより複数のステップ幅毎に区分けされた画素数も
第2図の値と相違する。なお、色の異なる異種のチップ
部品でも画素数の値が相違する。
そこで、プリント基板2上に実装されたチップ部品1を
撮影した画像出力が各ステップ幅に区分けされた画素数
の検査値と予め記憶された基準値とをCPU4で比較演
算する。この比較演算としては、例えば、各ステップ幅
毎に基準値に対する基準値と検査値との差の比率を求め
る。そして、第4図のごとく、各ステップ幅毎の比率で
例えば±10%のしきい値を越えるステップ幅が存在す
れば、チップ部品1は正しい位置に配置されていないと
判別する。なお、色の異なる異種部品も正しい位置に配
置されていないと判別される。
ところで、チップ部品1が許容範囲内の正しい位置に配
置されていても、チップ部品1の色むらや反射率の違い
さらにはプリント基板2の色むら等によって、各ステッ
プ幅に区分けされる画素数が少しづつずれ易い。そして
、このようなずれに対して、基準値の小さいステップ幅
では、僅かな検査値の変化により、基準値に対する基準
値と検査値との差の比率が大きくなってチップ部品1が
正しい位置に配置されていないと判別されてしまう。そ
こで、基準値と検査値との差が、ある一定の画素数以下
、例えば画像全体の画素数をステップ幅の数で割フた値
の判別しきい値以下であれば、比率がしきい値を越えて
もこれを無視し1判別しきい値以上のものについてのみ
CPU4で濃淡分布のステップ幅毎の画素数を比較して
チップ部品1の位置ずれを判別させる。このように、判
別しきい値を設定することで、判定能力の向上を図り、
判定結果の安定度を向上させることができる。
次に、装置全体の動作につき説明する。第5図(A)の
ごとく、第1と第2の画像入力装置20゜30(7) 
X −Y テーブル3,3はX−Yテーブルコントロー
ラ5.5で同時に位置制御されて、時間tl、例えば0
.2秒で次に検査するチップ部品1.1を所定位置に移
動させる。そして、チップ部品1.1が所定位置に位置
決めされると、第5図(B)のごとく、照明用電源12
.12が駆動されるとともにテレビカメラ6.6がチッ
プ部品1゜1を撮影し、第1と第2の画像入力装置20
. :IQから同時に画像出力がCPU4に与えられて
記憶される。このテレビカメラ6.6によるチップ部品
1.1の撮影および画像出力のCPU4による記憶は、
時間t2.例えば0.033秒で行われる。さらに、次
に検査するチップ部品1.1を所定位置に移動させるべ
く x−yテーブル3.3が制御されている間に、まず
第5図(C)のごとく、CPU4に記憶されている第1
の画像入力装置20の画像出力を時間t1の1/2時間
t3.例えば0.1秒で高速画像処理装置【0により濃
淡レベルに応じたステップ幅の画素数の検査値に変換す
るとともにこの検査値と基準値をCPU4で演算処理し
て、第1の画像入力装置20で検査されるチップ部品1
が正しい位置に配置されているか否かを判別する。つづ
いて、第5図(D)のごとくCPU4に記憶されている
第2の画像入力装置30の画像出力をX−Yテーブル3
,3が制御されている残りの間に、時間t3で同様に演
算処理して第2の画像入力装置30で検査されるチップ
部品1が正しい位置に配置されているか否かを判別する
。したがって、例えば1枚に100個のチップ部品1が
それぞれ実装される2枚のプリント基板2.2の検査を
、画像出力を演算処理するための格別な時間を必要とせ
ずに、X−Yテーブル3゜3の移動時間と画像入力装置
の入力時間の合計の23.5秒で行うことができ、10
0個のチップ部品1が実装されるプリント基板2の1枚
当りの検査時間を12秒弱と高速で行うことができる。
なお、上記実施例では、X−Yテーブル3.3を位置制
御する移動時間tl内にCPU4で演算処理できる画像
出力が2つであるために、第1と第2の2つの画像入力
装置20.30を設けたが、これに限られず、X−Yテ
ーブル3,3を位置制御する移動時間tl内にCPU4
で演算処理できる画像出力の数だけの複数の画像入力装
置を設けることができる。また、上記実施例では、暗室
13゜13内でチップ部品1.1をテレビカメラ6.6
で撮影する構成としたが、これに限られず、テレビカメ
ラ6.6の絞りを適宜に調整することで暗室13、13
以外の場所でチップ部品1.1を撮影するようにしても
良い。さらに、検査される部品は、チップ部品1に限ら
れず、トランジスタやIC等の電子部品に通用しても良
いことは勿論である。
(発明の効果) 以上説明したように、本発明の部品実装検査装置によれ
ば、プリント基板上の正確な位置に配置された部品をW
i影した画像出力を、多数の画素に分割して濃淡レベル
による複数のステップ幅で区分けした各ステップ幅の画
素数を基準値とし、プリント基板上に実装された部品を
Wi影した画像出力の各ステップ幅の画素数を検査値と
して基準値と各ステップ幅毎に比較するので、実装され
た部品か正しい位置に配置されていなければ画像出力の
変化により各ステップ幅の検査値が基準値と相違し、実
装された部品を一度の撮影で正しい位置に配置されてい
るか否かを判別でき、従来に比較して高速に検査を行う
ことができる。また、部品をテレビカメラで撮影する画
像入力装置を複数台備え、X−Yテーブルを移動させて
いる間に複数の画像入力装置の画像出力を中央演算処理
装置で演算処理するようにしたので、部品を所定位置に
移動させる間に、複数の画像出力の演算処理が並行して
なされ、演算処理するための時間を格別に必要とせず、
複数枚のプリント基板を同時に高速で検査することがで
きる。さらに、画像出力の濃淡に基づいて検査を行うの
で、部品の色にかかわりなく検査することができる。そ
してさらに、色の異なる異種の部品の混入をも検出でき
るという優れた効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の部品実装検査装置の一実施例のブロ
ック回路図であり、第2図は、プリント基板の正確な位
置に配置されたチップ部品をi影した画像出力の一例で
あり、第3図は、位置がずわて配置されたチップ部品を
撮影した画像出力の一例であり、第4図は、チップ部品
の位置ずれによる各ステップ幅の画素数の変化の比率の
一例を示す図であり、第5図は、第1図の装置の動作を
説明するタイムチャートであり、第6図は、従来の部品
実装検査装置のブロック回路図であり、第7図および第
8図は、それぞれ第6図で撮影される2つの画像出力の
説明図であり、第9図は、第7図と第8図の2つの画像
出力が合成された説明図である。 1:チップ部品、   2ニブリント基板、3:X−Y
テーブル、4 : CPU、6:テレビカメラ、  6
a :視野、IO・高速画像処理装置、 20:第1の画像入力装置、 30、第2の画像入力装置。 第1図 ン

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  部品が実装されたプリント基板がそれぞれに載置され
    る複数のX−Yテーブルおよび、これらのX−Yテーブ
    ルに載置された前記プリント基板上に実装された部品を
    撮影するテレビカメラとを含む複数の画像入力装置と、
    前記X−Yテーブルを移動させて前記プリント基板上の
    部品を順次所定位置に移動させる複数のX−Yテーブル
    コントローラと、前記画像入力装置の画像出力を多数の
    画素に分割して濃淡レベルによる複数のステップ幅で区
    分けする高速画像処理装置と、前記画像入力装置と前記
    X−Yテーブルコントローラを制御するとともに、前記
    プリント基板上の正確な位置に配置された部品の画像出
    力を前記高速画像処理装置で濃淡レベルで区分けした各
    ステップ幅の画素数を予め基準値として記憶するととも
    に前記画像入力装置の画像出力を記憶し、かつ前記プリ
    ント基板上に実装された部品を前記テレビカメラで撮影
    した画像出力を前記高速画像処理装置で多数の画素に分
    割して濃淡レベルによる前記複数のステップ幅で区分け
    した各ステップ幅の画素数を検査値として前記基準値と
    前記ステップ幅毎に比較演算して前記部品が正しい位置
    に配置されているか否かを判別する中央演算処理装置と
    、を備え、前記X−Yテーブルコントローラで前記X−
    Yテーブルを移動させている間に、前記中央演算処理装
    置で前記複数の画像入力装置の画像出力を演算処理する
    ように構成したことを特徴とする部品実装検査装置。
JP61121859A 1986-05-27 1986-05-27 部品実装検査装置 Pending JPS62277506A (ja)

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JP61121859A JPS62277506A (ja) 1986-05-27 1986-05-27 部品実装検査装置

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JPS62277506A true JPS62277506A (ja) 1987-12-02

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JP (1) JPS62277506A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102749033A (zh) * 2012-07-22 2012-10-24 湖北磁创电子科技有限公司 表面贴装型电子元器件引脚自动检测机
CN103575226A (zh) * 2013-11-22 2014-02-12 昆山视杰维光电科技有限公司 一种检测usb接口的引脚的系统
JP2018124075A (ja) * 2017-01-30 2018-08-09 名古屋電機工業株式会社 検査情報表示装置、検査情報表示方法および検査情報表示プログラム

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CN102749033A (zh) * 2012-07-22 2012-10-24 湖北磁创电子科技有限公司 表面贴装型电子元器件引脚自动检测机
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