JPS6122840B2 - - Google Patents

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JPS6122840B2
JPS6122840B2 JP15337080A JP15337080A JPS6122840B2 JP S6122840 B2 JPS6122840 B2 JP S6122840B2 JP 15337080 A JP15337080 A JP 15337080A JP 15337080 A JP15337080 A JP 15337080A JP S6122840 B2 JPS6122840 B2 JP S6122840B2
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JP
Japan
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speed
detection
calibration
distance
input
Prior art date
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Application number
JP15337080A
Other languages
English (en)
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JPS5776696A (en
Inventor
Akinobu Kitamura
Yutaka Kato
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Tateisi Electronics Co
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Publication date
Application filed by Omron Tateisi Electronics Co filed Critical Omron Tateisi Electronics Co
Priority to JP15337080A priority Critical patent/JPS5776696A/ja
Publication of JPS5776696A publication Critical patent/JPS5776696A/ja
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Description

【発明の詳細な説明】
発明の背景 この発明は、道路の所要長さの範囲にわたつて
かつ道路にそつて所要間隔をおいて設定された複
数の検知地点に対して、これらの各検知地点を俯
瞰する位置に配置されかつこれらの検知地点の車
両を検知する複数の受光素子を含む光学系を備
え、各検知地点に仮想された各検知距離の間を車
両が通過する時間にもとずいて車両の走行速度を
各検知地点ごとに計測する交通流計測装置におい
て、各検知地点の上記検知距離を校正する装置に
関する。 上記の各検知地点に設定される検知距離は、光
学系の俯角および光学系に含まれる受光素子の配
置間隔によつて決定される。光学系を実際に道路
上方に設置し固定する場合に、必らずしも設計し
た角度で正確に設置しうるとは限らないから、設
計した検知距離と実際の検知距離との間に若干の
相違が生じることは避けられない。そこで、光学
系の設置固定後に上記検知距離を補正する必要が
生じる。 発明の概要 この発明は、上記実情に鑑みてなされたもの
で、光学式交通流計測装置において、その検知距
離を正確にかつ容易に校正することのできる装置
を提供するものである。 この発明は、道路の所要長さの範囲にわたつて
かつ道路にそつて所要間隔をおいて設定された複
数の検知地点に対して、これらの各検知地点を俯
瞰する位置に配置されかつこれらの各検知地点の
車両を検知する複数の受光素子を含む光学系を備
え、各検知地点に仮想された各検知距離の間を車
両が通過する時間にもとずいて車両の走行速度を
各検知地点ごとに計測する交通流計測装置におい
て、全検知地点にわたつて既知の速度で試走車を
走行させたときに各検知地点の検知距離を校正す
るためのものであり、各検知地点ごとにそれらの
検知距離および測定速度を記憶するメモリ、校正
開始指令の入力手段、校正終了指令の入力手段、
試走車の走行速度を校正速度として入力するため
の手段、校正開始指令が入力されてから校正終了
指令が入力されるまでの間、メモリに記憶されて
いる検知距離を用いて、各検知地点を通過する試
走車の速度を測定し、測定速度をメモリに記憶す
る測定制御手段、および校正終了指令が入力され
かつ校正速度が入力されたときに、入力校正速度
の平均速度を基準速度として、この基準速度と各
検知地点での測定速度の平均値とにもとづいて、
メモリ内の各検知地点の検知距離を校正する校正
制御手段を備えていることを特徴とする。 この発明による校正装置を用いると、交通流計
測装置の光学系を所定位置に設置したのちに、複
数台の試走車を走行させることによつて交通流計
測装置のメモリに記憶されている検知距離を校正
することができる すなわち、試走車を走行させる前にまず校正開
始指令が入力される。そして、複数台の試走車を
順次走行させ、その後、校正終了指令が入力され
る、この間に、上記測定制御手段によつて試走車
の速度が測定されたメモリに記憶される。また、
試走車の速度メータ等で実測された速度が校正速
度として入力される。すると、上記の校正制御手
段によつて、入力校正速度の平均速度を基準速度
として、この基準速度と各検知地点での測定速度
の平均値とにもとずいて、メモリ内の各検知地点
の検知距離が校正される。 交通流の混雑または渋滞時以外の時間帯に試走
車を走行させれば、試走車は全検知地点にわたつ
てほぼ一定の速度で走行することができるので、
試走車の走行速度を基準速度として全検知地点に
適用することが可能であり、複数の検知地点にお
ける検知距離の校正を一挙に行なうことができ
る。したがつて、光学系を設置したときにその固
定角度が設計されたものと若干異なつていたとし
ても、検知距離の校正後は正確な走行速度測定が
可能となる。このことにより、走行速度のみなら
ず、走行速度にもとずいて算出される渋滞度など
の交通流情報も正確なものが得られるようにな
る。 実施例の説明 以下、図面を参照してこの発明の実施例につい
て詳細に説明する。 第1図は、光学式交通流計測装置のカメラの設
置の様子を示している。カメラ1は、支柱3など
により道路L上方の所要高さ位置(たとえば
6m)に、道路Lの長さ方向の所要範囲(たとえ
ば100m)を俯瞰するように設置されている。カ
メラ1内には、第4図に示すように、多数の受光
素子とレンズ5とを含む光学系4が備えられてい
る。この例では、カメラ1の視野内には6つの検
知地点P1〜P6がある。カメラ1内の光学系4の結
像面上であつてこれらの検知地点に対応する箇所
に、各1対ずつの受光素子dS1,DR1〜dS6,dR6
が配置されている。これらの受光素子は、たとえ
ばフオト・ダイオードからなる。各検知地点(P
で代表する)には第2図に示すように、セツト域
Sとリセツト域Rとが所要の検知距離lをおいて
設定されている。1対の受光素子(dS,dRで代
表する)はこれらの各域S,Rにそれぞれ対応し
ている。 車両が検知地点Pをセツト域Sからリセツト域
Rに向けて通過すると、第3図に示すように、受
光素子dSおよびdRから時間tだけずれた車両検
知信号(映像信号)が出力される。ここでは、各
受光素子dS,dRの出力信号の立上りを検出し
て、両信号の立上りの差を検知時間tとしてい
る。この検知時間tは、車両がセツト域Sとリセ
ツト域Rとの間(検知距離l)を走行するのに要
する時間であるから、この車両の走行速度Vは次
式で求められる。ただしKは比例定数である。 V=K・(l/t) …(1) 検知距離lは通常、路面より所要高さだけ上方
の位置に仮想された検知面上における両域S,R
間の距離である。 セツト域Sおよびリセツト域Rを検知する受光
素子dS,dRの出力信号の立上り時間差ではな
く、これらの立上りが所要レベルに達したときの
時間差にもとずいて車両の走行速度を算出するよ
うにしてもよい。 走行する車両の走行速度測定、渋滞度検出など
の各種の交通流計測処理および後述する校正処理
は、処理装置2で行なわれる。第4図を参照し
て、カメラ1内の各受光素子dS,dRの出力信号
は自動利得制御機能を備えた増幅器6で増幅され
たのち、マルチプレクサ・チヤンネル装置7に送
られ、ここで12個の受光素子の各出力が順次切換
えられてA/D変換器8に送られるA/D変換器
8は、所定のサンプリング周期で、入力する受光
素子の出力信号をAD変換し、その結果を中央処
理装置(CPUという)11に送る。CPU11
は、A/D変換器8から送られるデータにもとず
いて、各種の交通流情報計測処理および検知距離
の校正処理を実行するとともに、マルチプレク
サ・チヤンネル装置7やA/D変換器8を制御す
る。CPU11は実行プログラムを格納したプロ
グラム・メモリ(図示略)の他に、各種のデータ
を記憶するデータ・メモリ12を備えている。処
理装置2にはカメラ1から入力する信号の低周波
成分を除去するフイルタ回路や増幅器が設けられ
るが、簡略化のために図示が省略されている。 ところで、各検知地点の検知距離lは、カメラ
1を支柱3に固定する俯角をあらかじめ定めてお
いて、設計段階で決定される。この設計段階で定
められた検知距離をl0とする。ところが、実際に
カメラ1を支柱に設置、固定した場合のカメラの
俯角は、あらかじめ定められた俯角と丁度一致す
るとは限らず、若干の違いが生じる。その様子が
第5図に示されている。この図において、破線は
設計された配置を、実線は実際に設置された場合
の配置の一例をそれぞれ示している。カメラ1の
設置角度が微小角度だけ異なつても検知距離は大
きく変つてしまう。そして、検知距離の誤差は、
俯角が小さいほど、すなわちカメラ1から遠く離
れた地点P6に行くほど大きくなる。 そこで、カメラ1の設置後、次のようにして検
知距離が校正される。すなわち、カメラ1の光学
系4の検知範囲にわたつて試走車を一定速度Wで
走行させる。このときの交通流計測装置の測定速
度をVとすれば、校正後の検知距離lは次式で与
えられる。 l=(W/V)・l0 …(2) 1回の試走では精度のよい校正が行なわれない
ので試走車を多数台(たとえば50〜100台、これ
をN台とする)試走させ、その平均速度をとす
る。また、測定速度の平均値をVとする。 この平均速度V、Wを用いると、第(2)式は次の
よつうに表わされる。 l=(/V)・l …(5) 各検知地点P1〜P6の添数字1〜6をi(i=1
〜6)で表わせば、各検知地点P1の校正後の検知
距離liは次式で表わされる。ただし、各検知地
点における設計した検知距離をl0i、試走車の速
度をWi、測定速度をVi、各速度の平均値をi
i、試走車の走行台数をNiでそれぞれ表わす。 交通流の混雑または渋滞時以外の時間帯に試走
車を走行させれば、走行車は全検知地点にわたつ
てほぼ一定の速度で走行することがかきるので、
次式が成立する。 この平均速度0を用いて第(7)式を書きなおす
と、次式が得られる。 カメラ1の設置箇所に最も近い検知地点P1にお
いては、設計された検知距離l01と実際の検知距
離l1との違いが小さく、したがつて測定速度の誤
差も小さいので、この検知地点P1における測定速
を基準速度とすることもできる。この合に
は、第(7)式または第9式のiまたは0に代え
を代入する。 このよつあな検知距離校正処理はCPU11に
より実行される。そのためにメモリ12には、各
検知地点における検知距離l0i(またはli)を記
憶するエリヤ、各検知地点における検知時間tij
測定速度Vij及び測定速度の積算値
【式】 を記憶するエリヤ、ならびに試走車台数Niを記
憶するエリヤが設けられている。またCPU11
には、校正開始指令および校正終了指令が入力さ
れるとともに、試走車の平均速度(校正速度)W
iが入力される。検知距離の校正処理は、カメラ
1の設置直後に実施するのみならず、校正後の任
意のときに再校正を行なうようにしてもよい。 第6図はCPU11による検知距離校正処理の
概要の手順を示している。校正開始指令が入力す
ると、割込によつて、通常の交通流計測処理から
この検知距離校正処理に移る。遠方から試走車が
走行してくると、最も遠い地点P6の処理から開始
する。この地点P6の検知距離間を試走車が通過す
る検知時間t6を測定して(ステツプ21)、この
検知時間t6にもとづいて速度V6を算出する(ステ
ツプ22)。そして、1台目の試走車の場合には
この測定速度V6を記憶し、2台目以降であれば
同一地点ごとに測定速度を積算する(ステツプ2
3)。試走車台数を計数(ステツプ24)したの
ち、P6〜P1までの全地点について上記の処理を終
えたかどうかをみて(ステツプ25)、終了して
いなければステツプ21に戻り、次の地点につい
て同様な処理を行なう。そして、1台の試走車に
対して全地点についての処理が終えると、校正終
了指令が入力したかどうかをみて(ステツプ2
6)、終了指令がなければ次の試走車についての
計測処理を再開するために(ステツプ27)、ス
テツプ21に戻る。 適当台数の試走車を走行させると係員は校正終
了指令を入力るので、ステツプ26からステツプ
28に移り、校正速度iが入力されたかどうか
をみて、この速度iが入力されていれば、第(7)
式または第(9)式にもとづいて各地点についての検
知距離を算出する(ステツプ29)。校正速度Wi
が入力されていない場合には、地点Piにおける
測定速度を基準にして第(10)式にもとづいて検知距
離を算出する(ステツプ30)。そして算出した
検知距離によつて設計された検知距離またはこれ
までの検知距離を更新する(ステツプ31)。
【図面の簡単な説明】
第1図は交通流計測装置のカメラの設置状態を
示す図、第2図は検知地点の拡大図、第3図は車
両検知信号を示す波形図、第4図は上記カメラの
内部および処理装置を示す構成およびブロツク
図、第5図は設計された検知距離とカメラ設置後
の検知距離のちがいを示す説明図、第6図は
CPUによつて実行される検知距離の校正処理手
順を示すフロー・チヤートである。 1……交通流計測装置のカメラ、2……処理装
置、4……光学系、11……CPU、12……メ
モリ、dS1,dR1〜dS6,dR6……受光素子、P1
P6……検知地点、l、l0……検知距離。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 道路の所要長さの範囲にわたつてかつ道路に
    そつて所要間隔をおいて設定された複数の検知地
    点に対して、これらの各検知地点を俯瞰する位置
    に配置されかつこれらの各検知地点の車両を検知
    する複数の受光素子を含む光学系を備え、各検知
    地点に仮想された各検知距離の間を車両が通過す
    る時間にもとずいて車両の走行速度を各検知地点
    ごとに計測する交通流計測装置において、全検知
    地点にわたつて既知の速度で試走車を走行させた
    ときに各検知地点の検知距離を校正するためのも
    のであり、 各検知地点ごとにそれらの検知距離および測定
    速度を記憶するメモリ、 校正開始指令の入力手段、 校正終了指令の入力手段、 試走車の走行速度の校正速度として入力するた
    めの手段、 校正開始指令が入力されてから校正終了指令が
    入力されるまでの間、メモリに記憶されている検
    知距離を用いて、各検知地点を通過する試走車の
    速度を測定し、測定速度をメモリに記憶する測定
    制御手段、および 校正終了指令が入力されかつ校正速度が入力さ
    れたときに、入力校正速度の平均速度を基準速度
    として、この基準速度と各検知地点での測定速度
    の平均値とにもとずいて、メモリ内の各検知地点
    の検知距離を校正する校正制御手段、 を備えている交通流計測装置における検知距離
    校正装置。
JP15337080A 1980-10-30 1980-10-30 Method of correcting in traffic stream measuring device Granted JPS5776696A (en)

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JPS5776696A JPS5776696A (en) 1982-05-13
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JPS63140490U (ja) * 1987-03-09 1988-09-16

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JPH04111814U (ja) * 1991-03-15 1992-09-29 福岡機械株式会社 鉄筋架設台
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